JPS6029087B2 - 焦点位置検出方式 - Google Patents

焦点位置検出方式

Info

Publication number
JPS6029087B2
JPS6029087B2 JP51047446A JP4744676A JPS6029087B2 JP S6029087 B2 JPS6029087 B2 JP S6029087B2 JP 51047446 A JP51047446 A JP 51047446A JP 4744676 A JP4744676 A JP 4744676A JP S6029087 B2 JPS6029087 B2 JP S6029087B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
peak position
grating
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP51047446A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS52130338A (en
Inventor
雅人 中島
勝美 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP51047446A priority Critical patent/JPS6029087B2/ja
Publication of JPS52130338A publication Critical patent/JPS52130338A/ja
Publication of JPS6029087B2 publication Critical patent/JPS6029087B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光走査面での光ビームの焦点位置の変動を検出
する焦点位置検出方式に関するものである。
光ビームで走査面上を走査する光走査装置は、プリンタ
、ディスプレイ等のパターン描画装置や物体表面検査、
文字読取等に広く利用されている。
この光走査装置では、光源からの光を微小光スポットに
絞り、径を一定に保つたまま面上に走査するものである
から、走査面の変動はスポット径に顕著に影響し、この
種の装置の性能を著しく阻害する。
従来、この種の焦点位置の検出のため、空間的に複数個
の光検出器を配置するものや、スリット・ピンホールを
用いるもの等が提案されているが、いずれも構成が複雑
であったり、可動部を必要とするため検出精度が良好で
ないという欠点があった。
本発明は上述の如き従来の欠点を改善する新規な発明で
あり、その目的は構成が簡単で且つ検出精度が高い焦点
位置検出方式を提供することにある。
その目的を達成するため、本発明焦点位置検出方式は、
光が走査される光走査面に対し、所定角度傾けて設けら
れた格子板と、前記格子板からの光を検出する光検出器
とを設け、前記光検出器の出力波形の振幅パターンの最
大値の位置から焦点位置を得ることに特徴とするもので
あり、以下実施例について詳細に説明する。
第1図は本発明方式を用いた光走査装置の説明図、第2
図は本発明の格子板配置図を示し、図中、1はしーザー
光源、2は反射鏡、3はビーム拡大レンズ、4は平行レ
ンズ、5は走査鏡、6は走査レンズ、7はハーフミラー
、8は走査面、9は仮調走査面、1川ま格子板、11‘
ま光検知器を示す。
レーザー光源1からのレーザー光は反射鏡2で9び回転
され、ビーム拡大レンズ3で拡大され、平行レンズ4で
平行光線にされ、走査鏡5を介し走査レンズ6を通し走
査面8で集東する。
そして走査鏡5の回転により走査面8上で光スポットを
移動させて走査線を描せる。これとともにハーフミラー
7を介し、同じ光スポットにより仮想走査面9上を走査
させる。この仮想走査面9に対し所定角8傾けられた格
子板10が設けられ、格子板10からの透過光が光検知
器11で受光される。ここでは、走査と同時に焦点位置
を検出できるように仮想走査面9に格子板10を設けた
が、走査面8に格子板10を設け、ハーフミラー7を取
り除き、光検知器11を走査面8の後方に設けてものよ
い。格子板10は格子パターンがビーム径とほぼ同一の
大きさの間隔で設けられている。
ここで、本発明の原理について説明する。
走査面8上を走査しているビームスポット径を2a(エ
ネルギー値1/e2で定義)、格子板10の格子間隔を
b、走査面8(又は9)と格子板10のX軸を回転軸と
した回転角を8とする。
そして、ビーム径2aの値と格子間隔bの値とを、光検
出信号波形のピーク値が最も鋭敏となる様に選択する。
光ビームの分布がガウス状で、文、yを座標軸に関する
ビーム径の係数、cを定数とすると、光量分布Uoは下
記の如く表わされる。
U。
(X、y、a)=C(e)X2毒y2)‐‐‐‐‐‐‐
‐‐m従って、これを格子板10‘こ投影した際のスリ
ットを通る透過光量uは、1つのスリットについてx方
向に十1/沙から−1/沙までの範囲と、y方向に−の
から十のまでの範囲を積分して、これを全スリットにつ
いて加算したものであり、下記の如く表わされる。Nu
(x、y、a)=c2(1十(一1)n)n==0/十
のノをごミ旨e−2×2芋腕y…■ (但し、nは格子板の格子数に関する関数とする)又、
ビーム径2aは焦点深度方向、即ちZ軸方向への関数と
なっており、篤v点‘こおけるビーム半径をaoとする
と、焦点からZ軸方向にz隔たった点のビーム半径aは
下記の如き表わされる。
a=ao〔1十(^zm.ao2)2〕★ ....
.....【3,(但し、zはビーム焦点からの距離、
入は光の波長である。)第糊式から明らかな如く、走査
面から離れる程ビーム径は大きくなり、−z、十zのい
ずれの方向でも、ビーム径の変化率は同様である。
又、第‘2)式において、格子板10面上の光ビームを
走査するとすれば、Y軸の積分領域が時間と共に変化し
、しかも積分範囲がピッチbで繰返されるので、透過光
量は走査ピッチb進む毎に振動的変化を示す。
即ち、正弦波状の振動波形となる。そこで、格子板10
をX軸を中心として回転角8だけ回転すると、焦点は、
Z軸方向へ1・smoだけずれを生ずる。
但し1は格子板10上の原点0から焦点までの距離とす
る。この時のビーム径は第糊式にz=1・sin8を代
入することにより、光スポットをy方向に走査した際に
格子板10の走査位置に応じた光スポット径が得られる
この光スポット径を第{2)式に代入することにより、
傾斜した格子板10面での透過光量u(x、y、a)が
求まる。この場合、xの積分範囲はy方向のみの走査の
時には払うことが出来る。
従って、u(x、y、a)はexp(一y2ノa2)の
函数となる。即ち、第3図に示す如く、焦点が格子板1
0の位置Bにある場合には、格子板10の位置A,C,
Dのビーム径は図の如くなり、光スポットが格子板10
をy方向に走査すると第4図に示す如くの光検出信号が
得られる。正規の焦点位置からずれた点A,Cではビー
ム径は拡大し、従って格子板を走査したときスリットを
通過して来る光量の変化は大きくなく、振幅は小さい。
一方、焦点位置Bではビーム径は小さく絞られており、
従ってスリットを通過して来る光量の変化は大きく、振
幅が大きくなる。襖言すれぱ、ビームスポット径が最小
の位置において光検出信号の振中は最大となり、その他
の位置のものはexp(一y2/a2)に応じて減衰す
る。本発明はこの原理を利用して、倉馬点位置の検出を
行なうものである。すなわち、焦点位置がA又はCにず
れた場合、光検出信号は各々第5図a,bに示した如く
なる。
図においてa図は位置Aが焦点となった場合、b図は位
置cが焦点となった場合を示す。そして正規の焦点位置
からの各々の.篤点位置の変位量△a、△cは、Bから
懐けられた格子板10上のずれを各々la、lcとすれ
ば下記の如く表わされる。△a=lasin8
”””…【41△c=lcsin8
………【51従って、オシロス
コープ等により表示されたこれら波形から、la、lc
を測定し、△a、△cを求め、焦点位置と走査面とのず
れ量を得、走査面の位置又は走査レンズの位置を修正す
ればよい。
更に、本発明は焦点位置の変動の観測を容易にするため
、la、lcを自動的に求める方式について述べる。す
なわち、格子板の格子間隔bによりla、lcを表わせ
ばよい。
このため、原点0からlaもしくはlc間に含まれる波
数を計測することにより走査面上での焦点位置ずれ量△
a、△cを求める。即ち、△a、△cは次式で表わされ
る。△a(又は△c) =〔la(又はlc)に含まれる波数〕×b・smo.
・・.・・.・・‘61第6図は前述の焦点位置ずれ量
を自動的に得るためのブロック図であり、20‘ま微分
回路、21はピーク位置検出回路、22,23はホール
ド回路、24は比較回路、25はカウンタ回路、26は
正規ピーク位置信号発生回路、27は演算回路を各々示
す。
この動作を説明すると、光検知器11からの信号は微分
回路20で微分され、微分出力はピーク位置検出回路2
1へ入力される。
ピーク位置検出回路21は微分出力が0である時(即ち
、ピーク位置)、検出信号を発生する。この検出信号は
ホールド回路22,23のセット信号となり、ホ−ルド
回路22は検出信号発生のタイミングで、光検知器1
1の信号をホールドし、ホールド回路23は、ホールド
回路22から移された信号をホールドする。比較回路2
4は両ホールド回路22,23のホールド値を比較し、
ホールド回路22のホ−ルド値がホールド回路23のホ
ールド値より大の時正の出力を、逆の時負の出力を発生
する。一方、カウンタ回路25にはピーク位置検出回路
21の検出出力が入力されており、比較回路24の出力
が正の時、この検出信号を計数し、出力が負になると、
計数を停止する。つまり最大ピーク位置の座標を計数す
ることになる。このカウンタ回路25の計数値は正規の
最大ピーク位置座標を発生する正規ピーク位置信号発生
回路26からの値と演算回路27で比較演算され、ずれ
量が算出される。
この正規の最大ピーク位置座標の設定には、格子板の中
心に焦点があるはずとすれば、格子数の半分の数とすれ
ばよく、又実際に走査鏡を回転させて格子板を走査し、
検出ピーク数の半分の数とすれば良い。
この算出されたずれ量が正であれば、第3図のAに、負
であればC方向にずれていることがわかる。
又、実際Z軸方向のずれ量は、格子間隔bとsin・ひ
とをこの算出されたずれ量に秦算して得ればよい。これ
ら信号は光学系の焦点位置調整信号としてフィードバッ
クされ、レンズの位置の調整が行なわれるとともに表示
信号として表示器へ与えられる。
以上の様に、本発明によれば、格子板を預けるといった
簡単な構成で焦点位置の検出が可能となり、又、検出精
度もピークパルスを計数するため極めて高い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方式を用いた光走査装置説明図、第2図
は本発明の一実施例格子板配置図、第3図は本発明の原
理説明図、第4図、第5a,b図は光検出信号波形図、
第6図は焦点位置ずれ量の検出ブロック図を示し、図中
、1はしーザー光源、2は反射鏡、3は拡大レンズ、4
は平行レンズ、5は走査鏡、6は走査レンズ、7はハー
フミラー、8は走査面、9は伍素想走査面、10‘ま格
子板、1 1は光検知器、2川ま微分回路、21はピー
ク位置検出回路、22,23はホールド回路、24は比
較回路、25はカウンタ回路、26は正規ピーク位置信
号発生回路、27は演算回路を各々示す。 第/図 第2図 第3図 第4図 第S図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 光ビームにより走査される光走査面に対し、所定角
    度傾けて設けられた格子板と、前記格子板からの光を検
    出する光検出器と、該光検出器からの出力を微分する微
    分回路と、該微分回路の出力が“0”のとき検出信号を
    発生するピーク位置検出回路と、現在光が通過している
    格子の1つ前の格子からの光信号のピーク値をホールド
    する第1のホールド回路と、現在光が通過している格子
    からの光信号のピーク値をホールドする第2のホールド
    回路と、該第1、第2のホールド回路の出力を比較し第
    1のホールド回路の出力が第2のホールド回路の出力よ
    り大なるとき出力を発生する比較回路と、該比較回路か
    ら出力が発生している間前記ピーク位置検出回路からの
    出力をカウントするカウント回路と、正規の最大ピーク
    位置座標に対応ずる信号を発生する正規ピーク位置信号
    発生回路と、前記カウント回路のカウント値と前記正規
    ピーク位置信号発生回路からの値とのずれを計算する演
    算回路とを設けたことを特徴とする焦点位置検出方式。
JP51047446A 1976-04-26 1976-04-26 焦点位置検出方式 Expired JPS6029087B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP51047446A JPS6029087B2 (ja) 1976-04-26 1976-04-26 焦点位置検出方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP51047446A JPS6029087B2 (ja) 1976-04-26 1976-04-26 焦点位置検出方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS52130338A JPS52130338A (en) 1977-11-01
JPS6029087B2 true JPS6029087B2 (ja) 1985-07-09

Family

ID=12775361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP51047446A Expired JPS6029087B2 (ja) 1976-04-26 1976-04-26 焦点位置検出方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6029087B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55127527A (en) * 1979-03-27 1980-10-02 Fuji Photo Optical Co Ltd Automatic focus detector
JPS59162514A (ja) * 1983-03-08 1984-09-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 画像走査記録装置における焦点調整方法
JP2692889B2 (ja) * 1988-09-08 1997-12-17 キヤノン株式会社 走査光学装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS52130338A (en) 1977-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4112309A (en) Apparatus for measuring the line width of a pattern
US3989385A (en) Part locating, mask alignment and mask alignment verification system
US4897536A (en) Optical axis displacement sensor with cylindrical lens means
US4168126A (en) Electro-optical measuring system using precision light translator
US4139304A (en) Methods and apparatus for measuring variations in distance to a surface
US3879988A (en) Optical comparator for measuring vibration on a rotating object
JPH0652170B2 (ja) 光結像式非接触位置測定装置
JPS6249562B2 (ja)
JPH048724B2 (ja)
EP0222907A1 (en) A laser based gaging system and method of using same
JPS6029087B2 (ja) 焦点位置検出方式
US4110042A (en) Method and apparatus for photoelectrically determining the position of at least one focal plane of an image
CN106969717A (zh) 对称光桥式自稳激光测径系统及其标定方法、测量方法
JPH0226164B2 (ja)
JPS603529A (ja) 光ビ−ム径の測定方法
JP2671667B2 (ja) レーザドップラ速度計
JPS5826325Y2 (ja) 位置検出装置
EP0239946A2 (en) Readout apparatus for a ring laser angular rate sensor
JPS61242779A (ja) レ−ザ加工装置におけるレ−ザ光の傾斜及び焦点を検出する方法
JPH035845Y2 (ja)
JP3085341B2 (ja) 外形測定装置及びその被測定物配置方法
JP2787928B2 (ja) 画像信号処理方法
JPH0233186Y2 (ja)
JP2675051B2 (ja) 光学式非接触位置測定装置
JPH0331367B2 (ja)