JPS623681A - 電離箱型ｘ線検出器 - Google Patents
電離箱型ｘ線検出器Info
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- JPS623681A JPS623681A JP14223785A JP14223785A JPS623681A JP S623681 A JPS623681 A JP S623681A JP 14223785 A JP14223785 A JP 14223785A JP 14223785 A JP14223785 A JP 14223785A JP S623681 A JPS623681 A JP S623681A
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- Japan
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- ray
- thin film
- conductive thin
- chamber type
- ionization chamber
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 claims description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 abstract description 11
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 abstract description 7
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 235000010210 aluminium Nutrition 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、コンピュータ断層撮影装置用の電離箱型Ｘ線
検出器に関し、更に詳しくは、Ｘ線入射窓と電極板整列
体の間に、Ｘ線透過性の良い導電性薄膜を前記Ｘ線入射
窓と間隙を形成して、対向設置し、該導電性薄膜を所定
の電位に保持するようにした電離箱型Ｘ線検出器に関す
る。
検出器に関し、更に詳しくは、Ｘ線入射窓と電極板整列
体の間に、Ｘ線透過性の良い導電性薄膜を前記Ｘ線入射
窓と間隙を形成して、対向設置し、該導電性薄膜を所定
の電位に保持するようにした電離箱型Ｘ線検出器に関す
る。
（従来の技術）
周知のように、コンピュータ断層撮影装置の電離箱型Ｘ
線検出器は、第２図に示す構成となっている。図におい
て、Ｘ線検出器は、キセノンガス等が封入された密封ケ
ース１内に信号電極板２（以下、アノードと言う）とバ
イアス電極板３（以下、カソードと言う）を入射Ｘ線に
略平行させ、かつ、交互に設置される電極板整列体を備
えている。密封ケース１の前面部４は、Ｘ線透過性の良
い物質、例えば、アルミニウム薄膜で構成され、Ｘ線入
射窓となっている（Ｘ線は矢印５から入射する）。又、
密封ケース１は、Ｘ線入射窓４を内側にしたアーチ形を
している。
線検出器は、第２図に示す構成となっている。図におい
て、Ｘ線検出器は、キセノンガス等が封入された密封ケ
ース１内に信号電極板２（以下、アノードと言う）とバ
イアス電極板３（以下、カソードと言う）を入射Ｘ線に
略平行させ、かつ、交互に設置される電極板整列体を備
えている。密封ケース１の前面部４は、Ｘ線透過性の良
い物質、例えば、アルミニウム薄膜で構成され、Ｘ線入
射窓となっている（Ｘ線は矢印５から入射する）。又、
密封ケース１は、Ｘ線入射窓４を内側にしたアーチ形を
している。
一方、アノード２は、個々に電流検出回路（図示せず）
に、又、カソード３は、全て共通にして直流電圧源（図
示せず）の出力端に夫々接続されている。
に、又、カソード３は、全て共通にして直流電圧源（図
示せず）の出力端に夫々接続されている。
尚、通常、Ｘ線入射窓４は、電流検出回路や直流電圧源
の基準電位点く接地電位）に接続されている。
の基準電位点く接地電位）に接続されている。
従来、この種の電離箱型Ｘ線検出器において、アノード
２及びカソード３から成る電極板整列体は、第３図に示
すように（第３図はｆｆｌｌｌｌ箱型Ｘ線検出器の縦断
面図である）、その前縁３ＡをＸ線入射窓４から約１＃
Ｉ離して（間隙ａを形成して）２個のセラミック製絶縁
体サポート（サブストレート）６に固定されているく電
極板整列体は、紙面に略垂直な方向でアノードとカソー
ドが所定間隔で交互に設置されている）。
２及びカソード３から成る電極板整列体は、第３図に示
すように（第３図はｆｆｌｌｌｌ箱型Ｘ線検出器の縦断
面図である）、その前縁３ＡをＸ線入射窓４から約１＃
Ｉ離して（間隙ａを形成して）２個のセラミック製絶縁
体サポート（サブストレート）６に固定されているく電
極板整列体は、紙面に略垂直な方向でアノードとカソー
ドが所定間隔で交互に設置されている）。
以上の構成において、密封ケース１内には、アノード・
カソード間に印加する直流電圧に基づく電界が形成され
る。そして、Ｘ線入射窓４から入射するＸ線によってキ
セノンガスが電離され、その電離電流が電界ラインに沿
って流れ電流検出回路に検出される。これにより、人！
ＩＩ）Ｊ Ｘ線エネルギー量を知ることができる。
カソード間に印加する直流電圧に基づく電界が形成され
る。そして、Ｘ線入射窓４から入射するＸ線によってキ
セノンガスが電離され、その電離電流が電界ラインに沿
って流れ電流検出回路に検出される。これにより、人！
ＩＩ）Ｊ Ｘ線エネルギー量を知ることができる。
ところで、電極板整列体の構成を安定に保持することは
、密封ケース内の電界分布、電界強度等を安定にして検
出感度を安定させる点で重要な意味をもつ。従って、通
常、電極板整列体の固定に注意を払うと共に、密封ケー
スに充分な機械的強度をもたせである。
、密封ケース内の電界分布、電界強度等を安定にして検
出感度を安定させる点で重要な意味をもつ。従って、通
常、電極板整列体の固定に注意を払うと共に、密封ケー
スに充分な機械的強度をもたせである。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、従来の電離箱型Ｘ線検出器にあっては、温度変
化等によって、Ｘ線入射窓が撓んだとき、Ｘ線入射窓と
電極板整列体の前縁間における電界分布が乱れたり、電
界強度が変化するため、検出感度が変動するという問題
があった。特に、Ｘ線入射窓の撓みの変化が細かく〈高
周期の変化）、隣接するチャネルにおける間隙ａが異な
ると感度変化が顕著に現れるという問題があった（撓み
の変化が緩かな場合、感度への影響は小さい）。
化等によって、Ｘ線入射窓が撓んだとき、Ｘ線入射窓と
電極板整列体の前縁間における電界分布が乱れたり、電
界強度が変化するため、検出感度が変動するという問題
があった。特に、Ｘ線入射窓の撓みの変化が細かく〈高
周期の変化）、隣接するチャネルにおける間隙ａが異な
ると感度変化が顕著に現れるという問題があった（撓み
の変化が緩かな場合、感度への影響は小さい）。
（問題点を解決するための手段）
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的
は、Ｘ線入射窓の細かい（高周期）撓みによる感度変化
を生じない電離箱型Ｘ線検出器を提供するにある。
は、Ｘ線入射窓の細かい（高周期）撓みによる感度変化
を生じない電離箱型Ｘ線検出器を提供するにある。
上記目的を達成する本発明の電離箱型Ｘ線検出器は、Ｘ
線入射窓と電極板整列体の間に、Ｘ線透過性の良い導電
性薄膜を前記Ｘ線入射窓と間隙を形成して、対向設置し
、該導電性薄膜を所定の電位に保持する構成となってい
る。
線入射窓と電極板整列体の間に、Ｘ線透過性の良い導電
性薄膜を前記Ｘ線入射窓と間隙を形成して、対向設置し
、該導電性薄膜を所定の電位に保持する構成となってい
る。
（実施例）
以下、図面を参照し本発明について詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例による電離箱型Ｘ線検出器
の要部を示す構成図（電離箱型Ｘ線検出器の縦断面図）
である。第１図において、第３図と同一符号は同一意味
で用いられているので、ここでの説明を省略する。この
実施例の特徴は、絶縁体サポート６夫々と一体化され、
かつ、接地電位に保持される導電性ベース７とＸ線入射
窓４と間隙すを形成して導電性ベース７に固定される厚
さ約０．１ｍのアルミニウム製薄膜（導電性薄膜）とを
備えた点にある。
の要部を示す構成図（電離箱型Ｘ線検出器の縦断面図）
である。第１図において、第３図と同一符号は同一意味
で用いられているので、ここでの説明を省略する。この
実施例の特徴は、絶縁体サポート６夫々と一体化され、
かつ、接地電位に保持される導電性ベース７とＸ線入射
窓４と間隙すを形成して導電性ベース７に固定される厚
さ約０．１ｍのアルミニウム製薄膜（導電性薄膜）とを
備えた点にある。
以上の構成において、カソード３とアノード２との間に
印加する直流電圧による電界ラインは、カソード３、ア
ノード２及び導電性薄膜８の相対的位置関係によって決
まる。
印加する直流電圧による電界ラインは、カソード３、ア
ノード２及び導電性薄膜８の相対的位置関係によって決
まる。
一方、密封ケース１の撓みによりＸ線入射窓４が撓んで
も、導電性薄膜８になんら影響を及ぼさない。即ち、Ｘ
線入射窓４が撓んでも電界分布を乱したり、電界強度を
変化させたりすることがない。
も、導電性薄膜８になんら影響を及ぼさない。即ち、Ｘ
線入射窓４が撓んでも電界分布を乱したり、電界強度を
変化させたりすることがない。
尚、本発明は、上記実施例に限定するものではなく、導
電性薄膜はＸ線入射窓側に絶縁体を被覆すると共に、カ
ソード３と同電位、即ち、バイアス電位を保持する構成
であってもよい。又、電極板の整列は、所定の間隔で設
置されるカソード同士の中間に、絶縁板の両面に電極部
を形成したアノードを設置する、いわゆる両面独立型信
号板方式のものであってもよい。
電性薄膜はＸ線入射窓側に絶縁体を被覆すると共に、カ
ソード３と同電位、即ち、バイアス電位を保持する構成
であってもよい。又、電極板の整列は、所定の間隔で設
置されるカソード同士の中間に、絶縁板の両面に電極部
を形成したアノードを設置する、いわゆる両面独立型信
号板方式のものであってもよい。
（発明の効果）
以上、説明の通り゛、本発明の電離箱型Ｘ線検出器によ
れば、Ｘ線入射窓と電橿板整列体の間に、Ｘ線透過性の
良い導電性７ａ膜を前記Ｘ線入射窓と間隙を形成して、
対向設置し、該導電性Ｆａ膜を所定の電位に保持するた
め、Ｘ線入射窓の細かい撓みによる感度変化を生じるこ
とがない。
れば、Ｘ線入射窓と電橿板整列体の間に、Ｘ線透過性の
良い導電性７ａ膜を前記Ｘ線入射窓と間隙を形成して、
対向設置し、該導電性Ｆａ膜を所定の電位に保持するた
め、Ｘ線入射窓の細かい撓みによる感度変化を生じるこ
とがない。
第１図は、本発明の一実施例による電離箱型Ｘ線検出器
の要部を示す構成図、第２図は、電離箱型Ｘ線検出器を
示す構成図、第３図は、従来の電離箱型Ｘ線検出器の要
部を示す構成図である。 １・・・密封ケース、２・・・アノード、３・・・カソ
ード、４・・・Ｘ線入射窓、７・・・導電性ベース、６
・・・絶縁体サポート、８・・・Ｘ線透過性の良いＶＪ
電性薄膜。
の要部を示す構成図、第２図は、電離箱型Ｘ線検出器を
示す構成図、第３図は、従来の電離箱型Ｘ線検出器の要
部を示す構成図である。 １・・・密封ケース、２・・・アノード、３・・・カソ
ード、４・・・Ｘ線入射窓、７・・・導電性ベース、６
・・・絶縁体サポート、８・・・Ｘ線透過性の良いＶＪ
電性薄膜。
Claims (3)
- （１）Ｘ線入射窓から入射するＸ線と略平行な方向で設
置される多数の信号電極板及びバイアス電極板から成る
電極板整列体を備える電離箱型Ｘ線検出器において、 前記Ｘ線入射窓と前記電極板整列体の間に、Ｘ線透過性
の良い導電性薄膜を前記Ｘ線入射窓と間隙を形成して対
向設置し、該導電性薄膜を所定の電位に保持することを
特徴とする電離箱型Ｘ線検出器。 - （２）前記導電性薄膜を接地電位に保持することを特徴
とする特許請求の範囲第１項の電離箱型Ｘ線検出器。 - （３）前記導電性薄膜のＸ線入射窓側を絶縁体で被覆す
ると共に、該導電性薄膜自体をバイアス電位に保持する
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項の電離箱型Ｘ線
検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14223785A JPS623681A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 電離箱型ｘ線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14223785A JPS623681A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 電離箱型ｘ線検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS623681A true JPS623681A (ja) | 1987-01-09 |
| JPH056875B2 JPH056875B2 (ja) | 1993-01-27 |
Family
ID=15310619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14223785A Granted JPS623681A (ja) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | 電離箱型ｘ線検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS623681A (ja) |
-
1985
- 1985-06-28 JP JP14223785A patent/JPS623681A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH056875B2 (ja) | 1993-01-27 |
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