JPS6235099B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

本発明はシヤツタ先幕の後端あるいはシヤツタ
後幕の先端が撮影画面内の所定の位置範囲を通過
する状態を受光素子の光電変換出力として検出
し、この出力波形に基づいて所望の測定を行なう
カメラのシヤツタ試験機に関する。 フオーカルプレーンシヤツタのシヤツタ試験機
にはカメラ内に平行光を入射させるタイプのも
の、及び拡散光を撮影レンズを介してカメラ内に
入射させるタイプのものがある。そしてある種の
カメラ、例えばTTL測光方式で絞り優先シヤツ
タ制御の自動露出カメラには後者のタイプのシヤ
ツタ試験機が用いられる。 まずこの後者のタイプに属する従来のシヤツタ
試験機について第１図を用いて説明する。同図に
おいて１はシヤツタ試験機、２はこの試験機１に
設けられた拡散板、３は光源、１０１はTTL測
光方式の絞り優先シヤツタ制御モードで作動する
自動露出カメラ、１０２は撮影レンズ、１０３は
カメラ内に設けられた横走りの（図中左から右へ
走る）フオーカルプレーンシヤツタ、４は試験機
１内の受光素子、５は受光素子４前面に密着して
配置されたスリツト板である。 従来装置はこのような構成であり拡散板２を通
過してきた光はレンズ１０２を介してカメラ内の
測光装置（不図示）へ導かれ、適正なシヤツタス
ピードが決定される。そしてシヤツタボタン（不
図示）を押すとミラー（不図示）がアツプし、レ
ンズ１０２を通過してきた拡散光がシヤツタ幕１
０３の面上に導かれるようになる。その後第１
図、第２図において右方へシヤツタ先幕１０３ａ
及び後幕１０３ｂが順次走行すると、先幕１０３
ａの後端と後幕１０３ｂの先端とにより形成され
るスリツト１０３ｃがスリツト板５上を移動する
ことになる（第２図ａ，ｂ，ｃ参照）。ここで受
光素子４及びスリツト板５をシヤツタ幕１０３
ａ，１０３ｂの走行する面に接触させれば、スリ
ツト板５のスリツト５ａとシヤツタ幕のスリツト
１０３ｃとが対向した時に得られる受光素子４の
光電変換出力は、第３図に破線で示す如くほぼ台
形となり、理想的な出力となるわけである。そし
て各シヤツタ幕が撮影画面内の所定の位置範囲を
通過する状態を正確に検出できる。しかし実際に
はシヤツタ幕１０３ａ，１０３ｂの走行を害する
ことがないよう受光素子４及びスリツト板５とシ
ヤツタ幕１０３ａ，１０３ｂとの間に所定の間隔
ｄを設けなければならず、またシヤツタ幕のスリ
ツト１０３ｃからは第２図の如く撮影レンズ１０
２を透過した拡散光が出射する為に受光素子４は
第３図実線で示すような出力を得ることになる。
すなわち図から明らかなように傾斜部分１０，１
１がゆるやかになり波形がゆがんでしまう。従来
第３図に示す理想的な出力波形の最大出力Vaの
1/2（図中Veで示す）になる時点をシヤツタ幕１
０３ａ，１０３ｂが所定の位置を通過したことの
検出時点t₁，t₂と定めている。しかし上述のよう
に波形が変形するとシヤツタ幕１０３ａ，１０３
ｂが撮影画面内の所定の位置範囲を通過する状態
を正確に検出できず、よつてシヤツタ幕１０３
ａ，１０３ｂの所定位置の通過時点も正確に検出
できない。 さらに従来試験機は第２図に示すようにスリツ
ト１０３ｃが大きいうちはスリツト１０３ｃを通
過する全ての光を受光素子４に受光できる範囲ｆ
があるわけであるが、だんだんスリツト１０３ｃ
の間隔が小さくなるとその拡散光を全て受光素子
４上に受光することはできなくなる（第４図参
照）。したがつて受光素子４のピーク出力は非常
に小さくなつてしまう。第５図はこの状態を示し
ており、走行するスリツト１０３ｃが小さくなる
と受光素子４の出力電圧の波形は２１，２２，２
３，２４と移動し、第４図の状態に到ると受光素
子４の受光量が低下して第５図２５の如く受光素
子４のピーク出力電圧が検出電圧Ve以下になつ
てしまう。よつてシヤツタ幕が撮影画面内の所定
位置を通過したことを検出できなくなる。スリツ
ト１０３ｃが小さくなるということは、いわゆる
「シヤツタスピードが速くなる」ことを意味する
ものであるから、シヤツタスピードが速くなる
と、シヤツタ幕１０３ａ，１０３ｂの所定位置の
通過を検出できなくなるということである。この
原因はスリツト１０３ｃから出射される光が上述
したような拡散光であり、またスリツト１０３ｃ
とスリツト５ａとの間に所定の間隙ｄを設けなけ
ればならない点にある。 本発明の目的は上述のような受光素子の出力波
形がゆがむことによる検出誤差をとり除き、また
高速シヤツタスピードのシヤツタ試験をも可能な
シヤツタ試験機を提供することにある。 以下本発明の実施例を添付図面に基づいて説明
する。第６図は本発明に係る装置を横から見た概
略図である。同図において、５１〜５３，１０１
〜１０３は第１図の従来装置と同様に構成されて
いるので説明を省略する。５４はシヤツタ幕１０
３の後方からこの幕に斜めに光を照射する光源、
５５は受光素子、５６は受光素子５５の前面に密
着した状態で配置されたスリツト板である。受光
素子には光電池や一次元イメージセンサ等が用い
られてもよい。ただし一次元イメージセンサの場
合には受光面が小さいのでスリツト板は不要であ
る。このスリツト板５６は非常に板厚の小さいも
のである。このスリツト板５６のスリツト孔５６
ａは第６図右上から左下に向かつて形成されてい
る。５７はスリツト板５６とシヤツタ幕１０３と
の間に配設された結像光学系で、シヤツタ幕１０
３の裏面で反射された光源５４からの光をスリツ
ト板５６を介して受光素子５５の面上に結像す
る。もちろん光源５３からの光がシヤツタ幕１０
３のスリツト１０３ｃを通過した後受光素子５５
の面上に導かれることがないように受光素子５５
をその光路からはなして配置するとか、受光素子
５５のまわりに遮光部材をおくとかするのが好ま
しい。第７図において６０は撮影画面を示してお
り、この図はシヤツタ先幕１０３ａがその画面６
０を覆つた状態である。この状態で光源５４から
の光はシヤツタ先幕１０３ａ裏面の一部分６１を
照射しており、先幕１０３ａで反射された光のう
ち正反射光及びその近傍の光は結像光学系５７を
介してスリツト板５６上に導かれる。尚、撮影画
面内にあるシヤツタ幕全面に光を照射し、部分６
１に対応する反射光を５７を介してスリツト板５
６上に導いてもよい。第８図はスリツト板５６上
にシヤツタ先幕１０３ａから反射された光が結像
された状態を示している。Ａは反射光の届いた部
分（明るい部分）、Ｂは光の届かない部分（暗い
部分…斜線図示）をそれぞれ示している。この状
態ではスリツト孔５６ａの全面に光が入射してい
るのでその後方にある受光素子５５は最も高い出
力電圧を発している。 一方シヤツタ先幕１０３ａ後端及び後幕１０３
ｂ先端の形成するスリツト１０３ｃが照射範囲６
１内にある時には光源５４の光はスリツト１０３
ｃを抜けてカメラ内に進入してしまう。したがつ
てスリツト１０３ｃの存在する部分だけスリツト
板５６上に光が到達せず、シヤツタ幕１０３ａ，
１０３ｂの像が第９図に示す如く受光素子５５上
に形成される。第１０図はこの状態を理解しやす
いように示したものであり、スリツト板５６上に
シヤツタ幕間のスリツト１０３ｃの像Ｃが暗い像
として投影されている。シヤツタ幕１０３ｃのス
リツト像Ｃによつてスリツト板５６のスリツト孔
５６ａが覆われると受光素子５５に入射する光量
が落ち出力電圧も落ちる。 したがつて第７図の状態からシヤツタをレリー
ズするとまず先幕１０３ａが走行し、次いで後幕
１０３ｂが走行するが、しばらくの間光源５４の
照射範囲６１から反射されてくる光量は第８図に
示す状態で変化せず受光素子５５の出力は
Va′（第１１図t₀〜t₁時点）である。そして第１
０図に示すようにスリツト板５６上に再現された
シヤツタ先幕１０３ａ後端及びシヤツタ後幕１０
３ｂ先端が形成するスリツト像Ｃがスリツト孔５
６ａに進入すると、受光素子５５の出力は低下を
始め（第１１図t₁〜t₂時点）、スリツト像Ｃがスリ
ツト孔５６ａを全部覆うと（第１１図t₂〜t₃時
点）、受光素子５５の出力は“０”となる。さら
にシヤツタ幕の走行が進んでスリツトの像Ｃがス
リツト孔５６ａから退避するようになると再び受
光素子５５の出力は上昇し（第１１図t₃〜t₄時
点）、そして後幕１０３ｂの像がスリツト孔５６
ａを覆うと（第１１図t₄時点以後）後幕での反射
光がスリツト孔に導かれ再び受光素子５５は最大
出力Vaを発する。 このように本発明装置はシヤツタ幕後方から撮
影画面内のある部分（全体でもよい）に光を照射
し、この照射部分を被写体像としスリツト孔５６
ａを介して受光素子５５の面上に結像させてい
る。よつてあたかもシヤツタ幕の走行面上に受光
素子５５の受光面が位置するがの如く、受光素子
の出力波形（第１１図参照）は第３図の破線で示
したような台形にほとんど一致することになり、
このたわみのない出力波形を用いればシヤツタ幕
端部（いずれか一方のシヤツタ幕端部でもよい
し、両シヤツタ幕の端部でもよい）が撮影画面内
の所定位置を通過するのを正確に検出できる。 またシヤツタスピードが速くなり、シヤツタ幕
間のスリツト１０３ｃが小さくなると、受光素子
５５の出力波形は第１２図に示す如く７１〜７６
へ変化する。三角形の出力波形７４は第１０図に
示すスリツト板のスリツト孔５６ａの幅ｈと、受
光素子面上に結像されるシヤツタ幕スリツト像Ｃ
の幅ｉとが一致する場合であり、ｈよりｉが小さ
くなると出力変化（第１１図ｋ）が小さくなる。
しかしながら本発明では結像光学系５７による像
拡大率を大きくしてやれば受光素子面上の像を大
きくすることができ、よつてｉをｈより常に大き
くなるよう設定してやれる。すなわち常に７１〜
７４のような波形を得ることができる。したがつ
てシヤツタ幕の所定位置の通過を検出できなくな
ることもない。 尚、前述の実施例では撮影レンズに拡散光を入
射させる場合について述べたが、撮影レンズに拡
散光を入射させようとさせまいと、本発明装置は
シヤツタ幕の走行を正確に検出できることはいう
までもない。したがつて撮影レンズに拡散光を入
射させないものであつても本発明から逸脱するも
のではない。 また実施例では受光素子５５の前にスリツト板
５６を配したが、受光素子の受光面をスリツト板
のスリツト孔５６ａと同一の形状にすればわざわ
ざスリツト板を設ける必要はない。その場合受光
素子自身がスリツト板の役目を兼ね備えているの
であつて本発明を逸脱していることにはならな
い。受光素子として一次元イメージセンサを使用
した場合も同様である。 次に、本発明の別の実施例を第１３図乃至第１
５図を参照して説明する。まず第１３図に示す如
く、上述した一連の要素５４〜５７と同じものを
さらに２組８１〜８４；９１〜９４設け、そのう
ち一つの光源５４は撮影画面６０の中央の範囲６
１を、もう一つの光源８１は撮影画面６０内の左
端に位置する範囲６２を、さらにもう一つの光源
９１は右端に位置する範囲６３をそれぞれ照射す
るよう構成した装置における所望の測定値を表示
する為の処理回路について述べる。なお、本実施
例では各要素を３組設けたが、光源５４，８１，
９１を１つの光源としこの光源が撮影画面全体を
照明するようにしてもよいし、また光学系５７，
８２，９２を１つの光学系で構成しシヤツタ幕上
の各範囲６１，６２，６３の反射光を各受光素子
５５，８４，９４上に導いてもよい。 第１４図は本発明によるシヤツタ試験装置の処
理回路の実施例であり、また第１５図は処理回路
のタイミングチヤートである。 光電変換素子８４，５５，９４の光電出力をそ
れぞれ入力とする前処理回路１２０〜１２２はこ
の光電出力を増幅する等の前処理を行い、次段の
比較回路１２３〜１２５にそれぞれ出力２００〜
２０２を印加する。この出力の最大値は前述した
第１１図のVa′に相当し、最小値は“０”に相当
する。比較回路１２３〜１２５は前述の第１１図
Ve′に相当する基準出力と光電出力とを比較し、
光電出力が基準出力以下のときにＨレベルの信号
（以下、単にＨという。）を、又以上になるとＬレ
ベルの信号（以下単にＬという。）を発生する。 Ｘ接点の開閉を検出する第１の検出回路１２６
はＸ接点が閉成されるとＨを出力し、開放される
とＬを出力する。FP接点の開閉を検出する第２
の検出回路１２７は、FP接点が閉成されるとＨ
を出力し、開放されるとＬを出力する。 選択回路１２８は、比較回路１２３〜１２５の
出力２０３〜２０５、比較回路１２３〜１２５の
出力を反転するためのインバータ１２９〜１３１
の出力２０６〜２０８、及び第１、第２の検出回
路１２６，１２７の出力２０９，２１０を入力と
する。選択回路１２８はスイツチ群SW₁〜SW₈の
作動によつて出力２０３〜２１０のうち所定の組
合せの出力を端子Ｓ，Ｒに選択的に出力する。こ
の組合せは下表の通りである。

【表】 ここでスイツチSW₁〜SW₈の作動によつて得ら
れる測定結果として；SW₁…範囲６２のシヤツタ
スピード（ST₁）、SW₂…範囲６１のシヤツタス
ピード（ST₂）、SW₃…範囲６３のシヤツタスピ
ード（ST₃）、SW₄…シヤツタ先幕走行時間、
SW₅…シヤツタ後幕走行時間、SW₆…Ｘ接点遅延
時間、SW₇…FP接点遅延時間、SW₈…シヤツタ
全開時間がそれぞれ得られる。 さて、フリツプフロツプ回路１３２はＳ、Ｒ端
子の出力を受け、Ｓ端子のＨ出力によつてセツト
状態になつてＨを出力しゲート回路１３３のゲー
トを開き、Ｒ端子のＨ出力によつてリセツト状態
となつてＬを出力しゲート回路１３３のゲートを
閉じる。パルス発生器１３４は一定周期のパルス
を発生し、ゲート回路１３３に印加している。従
つて、ゲート回路１３３のゲートが開いている間
パルス発生器１３４からのパルス数はカウンタ１
３５によつて計数される。この計数値は表示回路
１３６によつて表示される。 以下、第１５図のタイミングチヤートを参考に
しつつ動作を説明する。 ○イ スイツチSW₁がオンするとフリツプフロツプ
１３２は、時刻t₁₁で発生した比較回路１２３
のＨ出力によつてセツト状態になり、ゲート回
路１３３のゲートを開き、時刻t₂₁で発生した
インバータ１２９のＨ出力によつてリセツト状
態になる。この時刻t₁₁，t₂₁の間にカウンタ１
３５によつて計数されたパルス数が範囲６２の
シヤツタスピード（ST₁）に対応する。 ○ロ スイツチSW₂をオンすると、フリツプフロツ
プ１３２は、時刻t₁₂で発生した比較回路１２
４のＨ出力によつてセツト状態になり、ゲート
回路１３３のゲートを開き、時刻t₂₂で発生し
たインバータ１３０のＨ出力によつてリセツト
状態になつてゲート回路１３３のゲートを閉じ
る。この時刻t₁₂，t₂₂の間にカウンタ１３５で
計数されたパルス数が範囲６１のシヤツタスピ
ード（ST₂）に対応する。 ○ハ スイツチSW₃をオンすると、前述同様にして
時刻t₁₃でゲート回路１３３のゲートが開き、
時刻t₂₃でゲート回路１３３のゲートが閉じ
る。この時刻t₁₃，t₂₃の間にカウンタ１３５に
よつて計数されたパルス数が範囲６３のシヤツ
タスピード（ST₃）に対応する。 ○ニ スイツチSW₄をオンすると、時刻t₁₁でゲー
ト回路１３３のゲートが開き時刻t₁₃でゲート
が閉じる。この間にカウンタ１３５によつて計
数されたパルス数がシヤツタ先幕の撮影画面６
０を走行し始めてから終るまでの走行時間に対
応する。 ○ホ スイツチSW₅をオンにすると、時刻t₂₁とt₂₃
との間だけゲート回路１３３はゲートを開き、
この間にカウンタ１３５によつて計数されたパ
ルス数はシヤツタ後幕走行時間に対応する。 ○ヘ スイツチSW₆をオンにすると、時刻t₁₃に発
生した比較回路１２５のＨ出力でフリツプフロ
ツプ１３２はゲート回路１３３のゲートを開
け、時刻t₁₄で発生した第１の検出回路１２６
のＨ出力によつてゲートを閉じる。この時刻
t₁₃とt₁₄との間にカウンタ１３５によつて計数
されたパルス数がＸ接点遅延時間に対応する。
因みに、Ｘ接点遅延時間とはアパーチユアが全
開してからＸ接点が閉じるまでの時間のことで
ある。 ○ト スイツチSW₇をオンにすると、時刻t₁₀で発
生した第２の検出回路１２７のＨ出力によつて
フリツプフロツプ１３２はゲートを開き、時刻
t₁₁で発生した比較回路１２３のＨ出力によつ
てゲートを閉じる。この時t₁₀とt₁₁の間のカウ
ンタ１３５の計数値はFP接点遅延時間に対応
する。因みに、FP接点遅延時間とはFP接点が
閉じてからシヤツタ先幕が走行開始するまでの
時間である。 ○チ スイツチSW₈をオンにすると、時刻t₁₃と時
刻t₂₁の間にカウンタ１３５によつてパルスが
計数され、この計数値がシヤツタ先幕が走行終
了してから、シヤツタ後幕が走行開始するまで
のシヤツタ全開時間に対応する。 このようにして前述した受光素子の出力波形に
基づいて各種の測定が行なわれる。 以上詳述した如く本発明によれば、シヤツタ幕
が撮影画面内の所定の位置を通過するのを従来よ
りも正確に検出できる。また結像光学系の設定倍
率によつて高速シヤツタ試験も可能となる。さら
に撮影レンズに拡散光を入射して試験を行なう場
合でも上述した効果を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第５図は従来装置を説明する図で
あり、第１図は従来装置を上から見た概略図、第
２図及び第４図はシヤツタ幕間のスリツトが出射
する光と受光素子との関係を概念的に示した図、
第３図は受光素子の出力波形を示す図、第５図は
シヤツタスピードによつて変位する受光素子の出
力波形を示す図、第６図ないし第１５図は本発明
を説明するための図であり、第６図は本発明装置
を横から見た概略図、第７図は撮影画面、シヤツ
タ幕間スリツト、及び光源からの光の照射範囲等
の関係を示す図、第８図及び第１０図はスリツト
板上の状態を示す図、第９図はシヤツタ幕間スリ
ツト、結像光学系、及び受光素子等の関係を示す
図、第１１図は受光素子の出力波形を示す図、第
１２図はシヤツタスピードによつて変位する受光
素子の出力波形を示す図、第１３図は各種測定を
可能にした実施例の概略的斜視図、第１４図は各
種測定値を得るための回路例を示すブロツク図、
第１５図は第１４図の回路のタイミングチヤート
である。 〔主要部分の符号の説明〕、５４，８１，９１
……光源；５５，８４，９４……受光素子；５
６，８３，９３……スリツト板；５７，８２，９
２……結像光学系；６０……撮影画面、１０３ａ
……シヤツタ先幕；１０３ｂ……シヤツタ後幕。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ シヤツタ先幕の後端あるいはシヤツタ後幕の
   先端が撮影画面内の所定の位置範囲を通過する状
   態を受光手段の光電変換出力として検出し、この
   出力波形に基づいて所望の測定を行うカメラのシ
   ヤツタ試験機において、撮影画面内を走行する前
   記シヤツタ幕の後方から該幕に斜めに光を照射す
   る光源と、前記シヤツタ幕の走行方向と直角な方
   向に伸びたスリツト状の光を受光する前記受光手
   段と、前記シヤツタ幕で反射された光を前記受光
   手段の受光面上に結像する光学系とを有すること
   を特徴とする試験機。 ２ 特許請求の範囲第１項記載のシヤツタ試験機
   において、 前記受光手段は３つあり、前記光源は少なくと
   も前記撮影画面内のシヤツタ幕の両端及び中央を
   照明するものであり、前記結像光学系は前記シヤ
   ツタ幕上の各照明部分で反射された光をそれぞれ
   に対応する前記受光手段の受光面上に結像するこ
   とを特徴とする試験機。