JPS6233300Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6233300Y2 JPS6233300Y2 JP12617780U JP12617780U JPS6233300Y2 JP S6233300 Y2 JPS6233300 Y2 JP S6233300Y2 JP 12617780 U JP12617780 U JP 12617780U JP 12617780 U JP12617780 U JP 12617780U JP S6233300 Y2 JPS6233300 Y2 JP S6233300Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silver
- capacitor
- porcelain
- mask
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 48
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 48
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 48
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 27
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 claims description 21
- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 claims description 6
- 101100269850 Caenorhabditis elegans mask-1 gene Proteins 0.000 description 6
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 6
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 229910015902 Bi 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 1
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、銀電極を備えた磁器コンデンサに関
し、更に詳細には、銀の使用量を低減することが
可能な磁器コンデンサに関するものである。
し、更に詳細には、銀の使用量を低減することが
可能な磁器コンデンサに関するものである。
磁器コンデンサの電極を銀塗布焼付電極とすれ
ば、電気的特性の優れた磁器コンデンサを作るこ
とが出来る。ところが、貴金属である銀を使用す
るために、必然的にコスト高になる。このため、
(a)銀の含有率を低下させた銀電極を形成するこ
と、(b)銀ペーストに低コストの金属を含有させて
電極を形成すること、(c)電極の膜厚を薄くするこ
と、(d)低コストの金属粒子を銀メツキ層で被覆し
たもので電極を形成すること、等が検討されてい
るが、しかし、リード線の半田付け性が悪くな
る、電極の結着強度が低くなる、容量及びtanδ
等の電気的特性が悪くなる等のいずれかの欠点が
生じ、実用化されていない。
ば、電気的特性の優れた磁器コンデンサを作るこ
とが出来る。ところが、貴金属である銀を使用す
るために、必然的にコスト高になる。このため、
(a)銀の含有率を低下させた銀電極を形成するこ
と、(b)銀ペーストに低コストの金属を含有させて
電極を形成すること、(c)電極の膜厚を薄くするこ
と、(d)低コストの金属粒子を銀メツキ層で被覆し
たもので電極を形成すること、等が検討されてい
るが、しかし、リード線の半田付け性が悪くな
る、電極の結着強度が低くなる、容量及びtanδ
等の電気的特性が悪くなる等のいずれかの欠点が
生じ、実用化されていない。
そこで、本考案の目的は、半田付け性、結着強
度、電気的特性等の低下を殆んど伴なわず銀の使
用量を低減することが可能な磁器コンデンサを提
供することにある。
度、電気的特性等の低下を殆んど伴なわず銀の使
用量を低減することが可能な磁器コンデンサを提
供することにある。
上記目的を達成するための本考案は、磁器素体
の表面に波状の凹凸を有する銀電極を設けたこと
を特徴とする磁器コンデンサに係わるものであ
る。
の表面に波状の凹凸を有する銀電極を設けたこと
を特徴とする磁器コンデンサに係わるものであ
る。
上記本考案によれば、銀電極を波状凹凸面が生
じるように形成したので、凹部に相当する分だけ
銀電極材料を節約することが出来る。そして、凹
凸を有する電極としても、磁器素体の電極形成面
の全部に銀電極が形成されているので、電気的特
性の低下は極めて少ないか又は殆んど発生しな
い。また、リード部材の半田付け性の低下も実質
的に発生せず、波状凹凸を有するので半田付け性
が向上する。また凹凸が何んらかの影響をもたら
して電極の引張強度(結着強度)が向上する。
じるように形成したので、凹部に相当する分だけ
銀電極材料を節約することが出来る。そして、凹
凸を有する電極としても、磁器素体の電極形成面
の全部に銀電極が形成されているので、電気的特
性の低下は極めて少ないか又は殆んど発生しな
い。また、リード部材の半田付け性の低下も実質
的に発生せず、波状凹凸を有するので半田付け性
が向上する。また凹凸が何んらかの影響をもたら
して電極の引張強度(結着強度)が向上する。
以下、図面を参照して本考案の実施例について
述べる。
述べる。
実施例 1
まず第1図に説明的に示すスクリーンマスク1
を用意する。このスクリーンマスク1は従来のス
クリーンのように全体に細かい網目を有さず部分
的に銀ペースト塗布領域を得るために小網目部分
2を部分的に有する。そしてこの銀ペースト塗布
領域となる小網目部分2の中に点在した状態に銀
ペーストの非塗布領域となるマスク部分3が乳剤
膜で形成されている。従つてマスク部分3と小網
目部分2とによつて大きな網目が形成され、全体
として二重網目状構造となつている。尚銀ペース
ト塗布領域となる小網目部分2の網の目の大きさ
は、200メツシユであり、またマスク部分3の横
幅Aは約0.5mm、その縦幅Bは約0.5mmであり、ま
たマスク部分3の相互間の横方向の間隔Xは約
0.5mm、その縦方向の間隔Yは約0.5mmである。
を用意する。このスクリーンマスク1は従来のス
クリーンのように全体に細かい網目を有さず部分
的に銀ペースト塗布領域を得るために小網目部分
2を部分的に有する。そしてこの銀ペースト塗布
領域となる小網目部分2の中に点在した状態に銀
ペーストの非塗布領域となるマスク部分3が乳剤
膜で形成されている。従つてマスク部分3と小網
目部分2とによつて大きな網目が形成され、全体
として二重網目状構造となつている。尚銀ペース
ト塗布領域となる小網目部分2の網の目の大きさ
は、200メツシユであり、またマスク部分3の横
幅Aは約0.5mm、その縦幅Bは約0.5mmであり、ま
たマスク部分3の相互間の横方向の間隔Xは約
0.5mm、その縦方向の間隔Yは約0.5mmである。
次に直径11.45mm、厚さ0.37mmであつて例えば
SrTiO3とGeOとNb2O5とBi2O3とPbOとB2O3とか
ら成る半導体系の円板状磁器素体4の上にスクリ
ーンマスク1を第2図に示すように置き、粘度約
300±50ポイズで銀を75%含む銀ペースト5をス
クリーン印刷法で第3図に示す如く塗布し、スク
リーンマスク1を取り除く。ところで、銀ペース
ト5は流動性を有するので、マスク1を覆せた状
態に於いてもマスク部分3の下に銀ペースト5が
少し入り込み、マスク1を取り除いた後には更に
流動して第4図に示すようにマスク部分3でマス
クされていた領域も銀ペースト5で覆われ、凹部
6と凸部7とを有する波状凹凸表面が得られる。
SrTiO3とGeOとNb2O5とBi2O3とPbOとB2O3とか
ら成る半導体系の円板状磁器素体4の上にスクリ
ーンマスク1を第2図に示すように置き、粘度約
300±50ポイズで銀を75%含む銀ペースト5をス
クリーン印刷法で第3図に示す如く塗布し、スク
リーンマスク1を取り除く。ところで、銀ペース
ト5は流動性を有するので、マスク1を覆せた状
態に於いてもマスク部分3の下に銀ペースト5が
少し入り込み、マスク1を取り除いた後には更に
流動して第4図に示すようにマスク部分3でマス
クされていた領域も銀ペースト5で覆われ、凹部
6と凸部7とを有する波状凹凸表面が得られる。
次に、銀ペースト5の焼付けを行い、第5図に
示すように銀電極8を形成する。焼付けを行うこ
とによつて第5図に示す銀ペースト5の凹凸状態
は固定され、焼付後の銀電極8にも凹部6と凸部
7とが生じる。第6図は銀電極8を拡大図示した
ものであり、凸部7の素体4からの高さt1は約3
〜8μm、素体4から凹部6の底までの高さt2は
約0.5〜2μmとなる。しかる後、磁器素体4の
両主面に形成したコンデンサ電極としての一対の
銀電極8に、リード部材9を半田10によつて固
着し、コンデンサを完成させる。
示すように銀電極8を形成する。焼付けを行うこ
とによつて第5図に示す銀ペースト5の凹凸状態
は固定され、焼付後の銀電極8にも凹部6と凸部
7とが生じる。第6図は銀電極8を拡大図示した
ものであり、凸部7の素体4からの高さt1は約3
〜8μm、素体4から凹部6の底までの高さt2は
約0.5〜2μmとなる。しかる後、磁器素体4の
両主面に形成したコンデンサ電極としての一対の
銀電極8に、リード部材9を半田10によつて固
着し、コンデンサを完成させる。
上述の如く形成した本実施例に係わる磁器コン
デンサの特性を調べるために、マスク部分3を設
けない他は、上記方法と全く同じ方法で従来のコ
ンデンサを作り、本実施例に係わるコンデンサと
従来のコンデンサとの特性測定を行つたところ、
次の結果が得られた。
デンサの特性を調べるために、マスク部分3を設
けない他は、上記方法と全く同じ方法で従来のコ
ンデンサを作り、本実施例に係わるコンデンサと
従来のコンデンサとの特性測定を行つたところ、
次の結果が得られた。
本実施例に係わる磁器コンデンサの比誘電率ε
rは45000、tanδは0.3×10-2、抵抗率は1×1011
Ω・cm、破壊電圧は1000V/mm、引張強度は1.77
Kg/cm2であり、従来の磁器コンデンサの比誘電率
εrは45000、tanδは0.3×10-2、抵抗率は1×
1011Ω・cm、破壊電圧は1000V/mm、引張強度は
1.74Kg/cm2であつた。即ち、本願考案に係わるコ
ンデンサの電気的特性及び機械的特性は従来のコ
ンデンサと実質的に同一であり、引張強度につい
ては従来のコンデンサよりも本実施例のコンデン
サの方が高くなつた。またリード部材9の半田付
け性は本実施例と従来例とで殆んど変りがなかつ
た。また銀削減率を求めたところ、本実施例の磁
器コンデンサの銀の量は、従来のコンデンサの銀
の量よりも13.6%少なかつた。
rは45000、tanδは0.3×10-2、抵抗率は1×1011
Ω・cm、破壊電圧は1000V/mm、引張強度は1.77
Kg/cm2であり、従来の磁器コンデンサの比誘電率
εrは45000、tanδは0.3×10-2、抵抗率は1×
1011Ω・cm、破壊電圧は1000V/mm、引張強度は
1.74Kg/cm2であつた。即ち、本願考案に係わるコ
ンデンサの電気的特性及び機械的特性は従来のコ
ンデンサと実質的に同一であり、引張強度につい
ては従来のコンデンサよりも本実施例のコンデン
サの方が高くなつた。またリード部材9の半田付
け性は本実施例と従来例とで殆んど変りがなかつ
た。また銀削減率を求めたところ、本実施例の磁
器コンデンサの銀の量は、従来のコンデンサの銀
の量よりも13.6%少なかつた。
また、マスク部分3の比率を変えて、銀削減
率、比誘電率εr、tanδの変化を調べたところ
第7図の線A,B,Cとなつた。
率、比誘電率εr、tanδの変化を調べたところ
第7図の線A,B,Cとなつた。
実施例 2
磁器素体4の材料をTiO2−Bi2O3−SrTiO3−
CaTiO3の低誘電率系磁器とし、且つ磁器素体4
の直径を11.6mm、厚さを0.24mmとし、且つ銀ペー
スト5の銀の含有率を70%にした点を除いては実
施例1と全く同一とした磁器コンデンサを作り、
特性を測定した。また比較のために、マスク部分
3を設けない点を除いてはこの実施例2と同一と
した従来の磁器コンデンサを作り、特性を測定し
た。この結果、本実施例のεrは219、tanδは
0.067×10-2、抵抗率は2×1013Ω・cm、破壊電圧
は8000V/mm、引張強度は1.70Kg/cm2であり、従
来のコンデンサのεrは220、tanδは0.071×
10-2、抵抗率は2×1013Ω・cm、破壊電圧は
8000V/mm、引張強度は1.73Kg/cm2であつた。ま
た本実施例2のコンデンサの銀の削減率は21.2%
であつた。また半田付け性は本実施例と従来例で
殆んど変りなかつた。このように実施例2に於い
ても、電気的及び機械的特性を実質的に損わずに
銀を節約することが出来る。
CaTiO3の低誘電率系磁器とし、且つ磁器素体4
の直径を11.6mm、厚さを0.24mmとし、且つ銀ペー
スト5の銀の含有率を70%にした点を除いては実
施例1と全く同一とした磁器コンデンサを作り、
特性を測定した。また比較のために、マスク部分
3を設けない点を除いてはこの実施例2と同一と
した従来の磁器コンデンサを作り、特性を測定し
た。この結果、本実施例のεrは219、tanδは
0.067×10-2、抵抗率は2×1013Ω・cm、破壊電圧
は8000V/mm、引張強度は1.70Kg/cm2であり、従
来のコンデンサのεrは220、tanδは0.071×
10-2、抵抗率は2×1013Ω・cm、破壊電圧は
8000V/mm、引張強度は1.73Kg/cm2であつた。ま
た本実施例2のコンデンサの銀の削減率は21.2%
であつた。また半田付け性は本実施例と従来例で
殆んど変りなかつた。このように実施例2に於い
ても、電気的及び機械的特性を実質的に損わずに
銀を節約することが出来る。
実施例 3
磁器素体4の材料をBaTiO3−CaZrO3−SrZrO3
の高誘電率系磁器とし、且つ磁器素体4の直径を
12.20mm、厚さを0.16mmとし、且つ銀ペースト5
の銀の含有率を70%とした点を除いては実施例1
と同一とした磁器コンデンサを作り、特性を測定
した。また比較のためにマスク部分3を設けない
点を除いてはこの実施例3と同一とした従来の磁
器コンデンサを作り、特性を測定した。この結
果、本実施例のεrは13000、tanδは0.7×
10-2、抵抗率は1×1011Ω・cm、破壊電圧は
6000V/mm、引張強度は1.83Kg/cm2であり、従来
のコンデンサのεrは13000、tanδは0.7×
10-2、抵抗率は1×1011Ω・cm、破壊電圧は
6000V/mm、引張強度は1.61Kg/cm2であつた。ま
た本実施例のコンデンサの銀の削減率は21.5%で
あつた。また半田付け性は本実施例3と従来例と
に殆んど差がなかつた。
の高誘電率系磁器とし、且つ磁器素体4の直径を
12.20mm、厚さを0.16mmとし、且つ銀ペースト5
の銀の含有率を70%とした点を除いては実施例1
と同一とした磁器コンデンサを作り、特性を測定
した。また比較のためにマスク部分3を設けない
点を除いてはこの実施例3と同一とした従来の磁
器コンデンサを作り、特性を測定した。この結
果、本実施例のεrは13000、tanδは0.7×
10-2、抵抗率は1×1011Ω・cm、破壊電圧は
6000V/mm、引張強度は1.83Kg/cm2であり、従来
のコンデンサのεrは13000、tanδは0.7×
10-2、抵抗率は1×1011Ω・cm、破壊電圧は
6000V/mm、引張強度は1.61Kg/cm2であつた。ま
た本実施例のコンデンサの銀の削減率は21.5%で
あつた。また半田付け性は本実施例3と従来例と
に殆んど差がなかつた。
以上、本考案の実施例について述べたが、本考
案は上記実施例に限定されるものではなく、本考
案の要旨から逸脱しない範囲で変形可能なもので
ある。例えば、マスク部分3を四角とせずに例え
ば丸形にしてもよい。またマスク部分3を島状に
点在させずに、格子状即ちスリツト状に配置して
もよい。また小網目部分2を網目のない開口にし
てもよい。
案は上記実施例に限定されるものではなく、本考
案の要旨から逸脱しない範囲で変形可能なもので
ある。例えば、マスク部分3を四角とせずに例え
ば丸形にしてもよい。またマスク部分3を島状に
点在させずに、格子状即ちスリツト状に配置して
もよい。また小網目部分2を網目のない開口にし
てもよい。
第1図は本考案の実施例に係わるスクリーンマ
スクを示す平面図、第2図は第1図の−線に
相当する部分をメツシユを省いて概略的に示す断
面図、第3図は銀ペーストを塗布した状態をメツ
シユを省いて概略的に示す断面図、第4図はスク
リーンマスクを取り外した状態の断面図、第5図
はリード部材を半田付けした状態の断面図、第6
図は銀電極部分の拡大断面図、第7図はマスク部
分の比率と銀削減率、tanδ、εrとの関係を示
すグラフである。 尚図面に用いられている符号に於いて、1はス
クリーンマスク、2は小網目部分、3はマスク部
分、4は磁器素体、5は銀ペースト、6は凹部、
7は凸部、8は銀電極である。
スクを示す平面図、第2図は第1図の−線に
相当する部分をメツシユを省いて概略的に示す断
面図、第3図は銀ペーストを塗布した状態をメツ
シユを省いて概略的に示す断面図、第4図はスク
リーンマスクを取り外した状態の断面図、第5図
はリード部材を半田付けした状態の断面図、第6
図は銀電極部分の拡大断面図、第7図はマスク部
分の比率と銀削減率、tanδ、εrとの関係を示
すグラフである。 尚図面に用いられている符号に於いて、1はス
クリーンマスク、2は小網目部分、3はマスク部
分、4は磁器素体、5は銀ペースト、6は凹部、
7は凸部、8は銀電極である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 磁器素体の表面に波状の凹凸を有する銀電極
を設けたことを特徴とする磁器コンデンサ。 (2) 前記銀電極は、マスク部が点在しているスク
リーンマスクを使用して銀ペーストを塗布して
焼付けたものである実用新案登録請求の範囲第
1項記載の磁器コンデンサ。 (3) 前記銀電極の波状の凹凸の最も高い部分の厚
さが3〜8μmであり最も低い部分の厚さが
0.5〜2μmである実用新案登録請求の範囲第
1項又は第2項記載の磁器コンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12617780U JPS6233300Y2 (ja) | 1980-09-05 | 1980-09-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12617780U JPS6233300Y2 (ja) | 1980-09-05 | 1980-09-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5748614U JPS5748614U (ja) | 1982-03-18 |
| JPS6233300Y2 true JPS6233300Y2 (ja) | 1987-08-26 |
Family
ID=29486612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12617780U Expired JPS6233300Y2 (ja) | 1980-09-05 | 1980-09-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6233300Y2 (ja) |
-
1980
- 1980-09-05 JP JP12617780U patent/JPS6233300Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5748614U (ja) | 1982-03-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102899078B1 (ko) | 적층형 커패시터 | |
| US12400794B2 (en) | Ceramic electronic component | |
| KR102169905B1 (ko) | 적층 세라믹 전자부품 | |
| KR20220060347A (ko) | 적층형 커패시터 | |
| KR102880994B1 (ko) | 적층형 커패시터 | |
| US6134098A (en) | High voltage multilayer capacitor | |
| US9343235B2 (en) | Multilayer ceramic capacitor and assembly board having the same | |
| CN112151273B (zh) | 多层陶瓷电子组件 | |
| JP7505679B2 (ja) | 積層型キャパシタ | |
| US3277354A (en) | Glass capacitors having a chrome oxide layer on the electrodes | |
| JPS6233300Y2 (ja) | ||
| JP2023118067A (ja) | 積層型電子部品 | |
| US4942496A (en) | Ceramic capacitor and manufacturing method thereof | |
| JPH0322883Y2 (ja) | ||
| US3398338A (en) | Mica disc capacitor | |
| US20250218670A1 (en) | Multilayer electronic component | |
| JP2025104257A (ja) | 積層型電子部品 | |
| JPS629204B2 (ja) | ||
| JPS6311699Y2 (ja) | ||
| JPS6225870Y2 (ja) | ||
| JPS6032338B2 (ja) | 導電性塗料焼付電極を有する磁器コンデンサ | |
| JPS5858717A (ja) | 電子部品 | |
| JP2025160968A (ja) | 積層セラミック電子部品 | |
| JPH0229712Y2 (ja) | ||
| JP2025105516A (ja) | 積層型電子部品 |