JPS6232520B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は、コイン識別装置、特にコインの額面
と真贋性を決定し疑似コインを拒絶する方法に関
する。 本明細書を通じて、用語“コイン”は真のコイ
ン、疑似コイン、スラグ、ワツシヤー等のコイン
操作装置に用いられる可能性のある全てを意味す
る。用語「許容コイン」とはその装置で受け入れ
ることのできる額面についての真のコインのこと
である。 本発明の目的は、コインの額面と真贋性につい
て精度よく信頼性をもつて決定することができ、
特に数多くの額面に対しても比較的簡単な構成に
おいてそのような決定をなしうるコイン識別方法
を提供することにある。 本発明に従う複数の額面に関し被検査コインの
額面と真贋性を識別する方法は、 被検査コインについての第１の測定を行い第１
の測定結果を表わす第１の値を発生し；発生され
た第１の値が、複数の額面のうちのどの額面に関
して、第１の測定についての所定の許容誤差内に
あるかを決定してその額面を認定し；額面ごとに
第１の測定と固有の数値関係にあるところの第２
の測定を被検査コインについて行い第２の測定結
果を表わす第２の値を発生し；そして発生された
第２の値が、発生された第１の値に対し固有の数
値関係についての所定の許容誤差内で認定された
額面についての固有の数値関係にあるかを決定す
ることからなる。 額面が第１の測定によつて設定されると、固有
の数値関係がその認定された額面について決定さ
れる。次の段階として、第１と第２の測定値が調
べられるがそれはその２つの測定値が比較的小さ
な許容誤差内で先に決定された固有の数値関係に
あるかどうかが調べられるのである。その際の許
容誤差は、第１と第２の測定値の個々別々の試験
の場合の許容誤差より小さい。換言すれば、固有
の数値関係が決定されると、第１の測定値をその
固有の数値関係で数学的に処理することにより第
２の測定値が予測される。それから、実測された
第２の測定値が予測された第２の測処理と小さな
許容誤差において比較され得るのである。 本発明の１つの実施例では、コインが磁界の影
響を受けた後にコインの属性としてのコイン直径
（又は弦長）とコインの受容比にそれぞれ異なる
関係において依存した２つの計測値を得て、コイ
ルの額面と真贋性を決定している。ここで“受容
比”とはコインの密度に対する導電率の比のこと
である。導電性コインが装置に投入されると、コ
インはそれと相対的な移動をする磁界の影響を受
ける。磁界中でのコインの相対的運動はコイン中
に渦電流を誘起させる。この渦電流は副次的に磁
界をつくり、この副次的磁界がコインに作用した
磁界と相互作用してコインに力を作用せしめる。
導電性の非磁性コインが静止磁界を通過する場
合、コインの受容比に依存した大きさでコインの
移動速度に減速力が与えられる。コイン推進器に
よるような移動磁界はコインに加速化を与える。
磁界通過後のコインの速度はコインの額面と真贋
性決定尺度となる。コイン速度を得る１つの方法
は、コインのある１つの縁がコイン移動通過路上
の離間した２つの点を通過するに要した時間を計
測することである。移動するコインの直径（又は
弧長）を得る１つの方法は、コイン移動通過路上
の１点にコインの前縁が到来してコインの後縁が
通過してしまう迄に要した時間を計測することで
ある。このようにコインに加速力又は減速力を与
えた後のコインの移動速度及び寸法をコイン移動
路上の点の通過時間を計測値として得ているが、
静止コインと交流磁界との作用度を例えば交流磁
界を発生させる発振器の周波数変化等を計測値と
することもできる。 本発明の実施例で得られる２つの計測値の一方
はコインの弦長とその移動速度とに依存した時間
期間についてのもの（第１の計測値）であり、他
方はコインの移動速度に依存した時間期間につい
てのもの（第２の計測値）である。第１の計測値
は、その時間期間においてある定つた周期のクロ
ツクパルスをカウンターがアツプカウントモード
で計数した計数値として得られる。幾つかの額面
の真のコイン、即ち許容コインについての第１の
計測値は夫々決まつた基準値をもつている。得ら
れた第１の計測値はこの基準値と比較され、ある
額面のその基準値と所与の許容誤差範囲内で一致
したら被検コインの額面について仮決定がされ
る。実施例の１つにおいては、この仮決定された
額面に基いた計数方法でカウンターは第２の計測
値の時間期間中にクロツクパルスをダウンカウン
トモードで計数する。第１の計測値と第２の計測
値とが幾つかの額面夫々について固有な相対値を
有するよう第１と第２の計測値は選ばれており、
仮決定された額面に基いた計数方法は仮決定され
た額面に固有な相対値に依存している。例えば仮
決定された額面についての固有な相対値が16：21
ならば、第２の計測時での計数方法は第１の計数
方法の16／21の割合でクロツクパルスをカウンタ
ーが受け入れるようにするものである。従つても
し、仮決定された範囲についての被検コインが真
のものならば、第１の計測時にアツプカウントさ
れたカウンターの内容は第２の計測時にダウンカ
ウントされてその内容はゼロになるはずである。
もしカウンターの内容が第２の計測後ゼロとなつ
たら第１と第２の計測値の相対値が仮決定された
額面の真のコインのものと一致するので、被検コ
インは額面と真贋性についての最終決定がなされ
る。 以下本発明の実施例についてより具体的説明を
する。 第１の実施例 コイン識別装置１０には入口スロツトがありコ
インはそこから投入されてコイン通路１５の底を
形成するトラツク１６の一端に落下する。コイン
通路１５の係止ピン１８はコイン２０がコイン通
路１５に沿つて移動することを妨げている。 コイン存否センサー２１が係止ピン１８の近傍
に位置し、その係止ピン１８によつて係留されて
いるコインの存否を検知している。適当なコイン
存否センサー２１としてはコイン通路をはさんで
向い合う側壁に取付けられた光源と受光器の対か
らなる装置である。センサー２１が遮蔽されたか
否かを示すセンサー２１からの電気信号はスター
ト制御装置４２に伝達される。センサー２１から
の信号がコインの存在していることを示した時、
スタート制御装置４２は係止ピン１８をコイン２
０の移動路から退出させるよう作用するソレノイ
ド（不図示）を付勢する。同時に信号はスタート
制御装置４２からリード１７４を介してカウンタ
１６０へ送られそれをスタート状態にリセツトす
る。 本実施例では、トラツク１６は約５゜だけ係止
ピン１８のある一端から下方へ向つて傾いてい
る。係止ピン１８がわきへ引込められた時、コイ
ンは重力に従い導電性で非磁性のトラツク１６上
を下方へと移動していく。磁石２３が係止ピン１
８より下流のコイン通路１５の位置にあり、コイ
ン通路１５を横切るような磁界をつくつている。
コイン２０が磁石２３による磁界中を通過する
と、磁界は導電性コイン中に渦電流を生じさせ、
その渦電流は磁界を発生する。コイン２０と磁石
２３との間の磁気的相互作用はコインの移動速度
を減ずるように作用し、その作用の大きさはコイ
ンの受容比に依存する。係止ピン１８の係留解除
によつて移動開始したあるコイン２０の磁石２３
の作用後の速度は主にコインの受容比に依存して
いる。 コインの真贋性と額面を決定するため、本実施
例は時間に関係した２つの計測をする。それは２
つの計測値に関しそのデータの相関をとることそ
して許容コインを示すデータとの比較をすること
の測定である。本実施例では時間の計測は既知の
固定周期のパルスを計数することによつてなされ
ている。 コインの受容比と直径（又は弦長）が、本実施
例で測定される物質量である時間に依存する２つ
のコインの特性である。磁石２３を通過した許容
コインの速度は受容比に依存している。時間測定
は、コインが磁石２３の磁界の作用を受けた後の
位置即ち磁石２３より下流の位置に所定間隔で配
置された２つの第１と第２のコイン存否センサー
６６と６７とにより行なわれる。２つの第１と第
２のコイン存否センサー６６と６７の間隔は固定
され既知のものであり、第１のセンサー６６をコ
インが遮蔽したときから第２のセンサー６７を遮
蔽する迄の時間はコインの平均移動速度に依存
し、従つてコインの受容比の関数である。本実施
例では、第１と第２のセンサー６６と６７との間
の間隔は、許容コインのうち最少の寸法のものの
通過時にもセンサー６６と６７とが同時に遮蔽さ
れ得るように選らばれている。受容比に依存した
計測は、センサーのいずれか一方が遮蔽されてい
るが他方は遮蔽されていない時間（Ｂ又はＡ
）を測定することにより行なわれる。コインの
受容比と弦長寸法の両方に依存した計測は、(1)セ
ンサーのいずれか一方が遮蔽されている総時間
（又は）又は(2)センサーの両方が遮蔽されて
いる総時間（）を測定することにより行なわ
れる。未知数は２つ（弦長と速度）であるから、
これら３つの計測値のいずれか２つがコインの特
性を決定するためのデータを与え得る。本実施例
では、両センサーが遮蔽されている総時間と
第２のセンサー６７が遮蔽され第１のセンサー６
６が遮蔽されていない時間Ａについての計測が
行なわれている。 第１と第２のセンサー６６と６７はトラツク１
６から同じ高さｈにあるとする。そしてセンサー
６６と６７との間の距離間隔をＳ、被検コインの
高さｈでの水平方向の弦長をＣそして被検コイン
の平均速度をＶとすると、時間と時間Ａは
次式となる。 ＝Ｃ−Ｓ／Ｖ、Ａ＝Ｓ／Ｖ 第２図において、トラツク１６上をセンサー６
６と６７を通過して図面において右方向に移動す
るコインが点線で示されている。第１のコイン外
形１は時間期間の初まる時点でのコインを示
し、第２の外形２は時間期間の終わる時点
（それは同時に時間期間Ａの初まる時点でもあ
る）でのコインを示しそして第３の外形３は時間
期間Ａの終わる時点でのコインを示している。 第１のテスト、即ちの計測が完了した時、
この第１の計測値に基いてコインの額面と真贋性
についての仮決定がなされる。その後、２のテス
ト即ちＡの計測値による被検コインの真贋性と
額面についての検証はこの仮決定された額面につ
いてに限定される。 所与の額面コインの真贋性はある数値例えば第
１のテスト結果及び第２のテスト結果の比で示さ
れる。本実施例では、２の数次のベき乗のいずれ
かにおいてカウントダウンすることのできるアツ
プ・ダウンカウンターが用いられている。第１の
計測時間期間の間、カウンターは２の所定の
固定されたべき乗で入力したクロツクパルスによ
りアツプカウントする。それから第２の計測時間
期間Ａの間にカウンターはアツプカウントされ
た計数値から入力したクロツクパルスによりカウ
ントダウンしていく。このカウントダウンの際、
クロツクパルスは２のべき乗の特定の循環で入力
されている。２のべき乗の特定の循環は、第１の
計測結果によつて仮決定された額面に従つて選ば
れる。 センサー６６と６７の間隔Ｓを16U（Ｕは所定
のスケール単位）、３つの額面のコインの弦長Ｃ
を夫々32U、37U及び45Uとすると、第１の計測
時間値と第２の計測時間値Ａとの比 ＡＢ／ＡＢ＝（Ｃ−Ｓ）／Ｖ／Ｓ／Ｖ＝Ｃ−
Ｓ／Ｓ は夫々Ｂの額面Ｂついて16／16＝１、21／16及び
29／16となる。即ち、第１の計測値と第２の計測
値とは額面の各々について固有な相対値（比）を
有する。もし、第１の計測時間値の間所定の
単位時間毎にカウンターが2⁴＝16だけカウントア
ツプしたとすると、その所定の単位時間の間のカ
ウントダウンの２のべき乗の循環は以下のように
なる。

【表】 被検コインが第１のテスト結果として額面Ｘの
ものであると仮決定された時、第２のテストでは
クロツクパルスは全て2²の重みづけで計数され
る。即ち所定の単位時間毎に16をカウントダウン
する。一方、額面Ｙが仮決定されると、クロツク
パルスは2³、2²、2³、2⁰の重みづけで計数され所
定の単位時間で21をカウントダウンする。例えば
額面Ｙの真のコインについて第１と第２の計測時
間値の比は／Ａ＝21／16であるが、１クロ
ツクパルスについてのカウント比率は16／21であ
るから、カウント時間即ち入力されるクロツクパ
ルス数は異つてもカウントアツプ計数値とカウン
トダウン計数値とは等しくなりカウンターの内容
はゼロになる。額面Ｘ、Ｚについてももし被検コ
インが真ならば常にカウンタの内容は第２のテス
ト後にゼロになる。即ち第１のテスト結果によつ
て仮決定された額面についてのカウント重み付け
に従つて第２のテストによるカウント・ダウンす
れば、真のコインの時はカウンターの内容は常に
ゼロとなる。このカウンター内容がゼロになるこ
とにより仮決定額面についてその被検コインが第
１と第２の計測値の比として正しい値をもつかど
うかが調べられる。 第１図と第３ａ図を参照するに、センサー６６
と６７の両方が遮蔽されていない時又はセンサー
６６のみが遮蔽されていない時、ANDゲート３
３と３４は出力を発生しない。しかし、センサー
６６と６７の両方が遮蔽されるとインバータ３１
と３２とから信号がANDゲート３３の両入方に
印加されANDゲート３３は出力信号（以後これ
をと称す）を出力する。この出力がANDゲー
ト３５の一方の入力に印加され、クロツク発生器
４０からのクロツクパルスがANDゲート３５の
他方の入力に印加される。リード４５上のAND
ゲート３５の出力はクロツクパルス列であり、
と称する。このパルス列はセンサー６６と
６７とが共に遮蔽されている全期間継続してい
る。パルス列abは論理回路１２０内のORゲート
１３２（第３ａ図）を経由して２進アツプ・ダウ
ンカウンター１６０の2²ステージ１６３に印加さ
れる。信号は同時にカウンター１６０のアツ
プカウント入力リード１７５に印加され、センサ
ー６６と６７の両方が遮蔽されている期間各クロ
ツクパルスは2²の重みづけでカウントアツプする
（１クロツクパルスが入るとカウンター１６０は
2²＝４つだけカウントアツプ）。 カウンター１６０の上位ステージ１６６〜１７
１の各々はデコーダ１８０と１９０とに接続され
ている。第１のデコーダ１８０は両センサー６６
と６７との遮蔽期間の計測との関連において用い
られる。カウンター１６０の上位ステージ１６６
〜１７１内の計数値が額面Ｘ，Ｙ又はＺのコイン
の基準値と所与の許容範囲で等しくなると、フリ
ツプフロツプ１８２，１８４又は１８６がセツト
される。しかし、これらのフリツプフロツプに対
応して接続されているフリツプフロツプ１８３，
１８５又は１８７はANDゲート３３からの信号
がそれらのリセツト入力から除去されないと
フリツプフロツプ１８２，１８４又は１８６から
の出力信号があつてもセツトされない。フリツプ
フロツプ１８３，１８５又は１８７の１つのセツ
ト入力に信号が与えられている間に信号がそ
のリセツト入力から除去された時、そのフリツプ
フロツプはセツトされ被検コインがそのフリツプ
フロツプに対応する額面に関し第１のテストを満
足したことを記録する。 センサー６６が遮蔽されなくなると、ANDゲ
ート３３はもはや付勢されず、信号ABとabは発
生しなくなる。同時に、ANDゲート３４はセン
サー６６からの信号とセンサー６７からの信号の
反転されたものを入力して付勢される。ANDゲ
ート３４からの出力信号ABとクロツク発生器４
０からのクロツクパルスがANDゲート３６の入
力に印加され、センサー６６が遮蔽されずそして
センサー６７が遮蔽されている全期間クロツクパ
ルス列abをリード４６に生ずる。 ANDゲート３６からのクロツクパルス列abは
２ビツトカウンター１００の入力に印加される。
２ビツトカウンター１００はクロツクパルス列
abの個々のパルスを４つの出力リード１１１，
１１２，１１３及び１１４の各々に連続的にふり
わける。これらのリード１１１〜１１４は論理回
路１２０に接続されている。フリツプフロツプ１
８３，１８５及び１８７の出力は又リード１８
１，１８８及び１８９で論理回路１２０に接続さ
れている。論理回路１２０はANDとORゲートの
組合せから構成され、２ビツトカウンターからの
クロツクパルスの個々をカウンタ１６０の下位ス
テージ１６１〜１６５のいずれかにふりわけてい
る。このクロツクパルスのふりわけ法は、第１の
テストにより仮決定された額面Ｘ，Ｙ，Ｚを示す
フリツプフロツプ１８３，１８５又は１８７から
論理回路１２０に与えられる信号に依存するよう
になつている。論理回路１２０の詳細は後述され
る。 信号ABが論理回路１２０からのパルスと同時
にカウンター１６０のダウン・カウント入力リー
ド１７６に印加される。その結果、論理回路１２
０からのクロツクパルスはカウンター１６０内の
計数値を減少させる。論理回路１２０は次の動作
を行うよう構成されている。被検コインが第１の
テスト結果によつてセツトされたフリツプフロツ
プ１８３，１８５及び１８７のいずれか１つの出
力により指示された額面の許容コインである場
合、第２のテストによりカウントダウンされたカ
ウンター１６０の残余がゼロになるようになつて
いる。デコーダ１９０はカウンター１６０の上位
ステージ１６６〜１７１の出力の全てが０又は１
の時に出力信号を発生する。この実施例ではカウ
ンター１６０の下位ステージ１６１〜１６５の出
力はデコーダ１９０により調べられていない。即
ちクロツクパルス2⁵−１＝31個分は切り捨てら
れ、テストにおける容認誤差とされる。これは同
一額面の真のコインでも多少特性（寸法、受容
比）にバラツキがあるので、適当な許容誤差範囲
を考えておくことが必要であるからである。カウ
ンター１６０と第２のデコーダ１９０の出力の間
に適当なゲートを設けることにより、中間的な許
容誤差をとることが可能である。同様な手段が、
異なる額面のコインに関し異なる許容誤差範囲に
するためフリツプフロツプ１８３，１８５及び１
８７からの出力信号との関係で設けられ得る。 デコーダ１９０がANDゲート１９２，１９４
及び１９６の入力に信号を与えるフリツプフロツ
プ１９１をセツトする出力信号を発生した時、こ
れらのゲートのいずれか１つがそれに接続された
フリツプフロツプ１８３，１８５又は１８７から
信号を受信する。そのANDゲートはその時出力
信号を発生するだろう。ANDゲート１９２，１
９４及び１９６の出力は夫々フリツプフロツプ１
９３，１９５及び１９７のセツト入力に接続され
ている。これらのフリツプフロツプのリセツト入
力は、センサー６６は遮蔽されていないがセンサ
ー６７は遮蔽されている時間の間信号ABを出力
しているANDゲート３４の出力に接続されてい
る。これらのフリツプフロツプ１９３，１９５及
び１９７の１つがそれに接続されたANDゲート
１９２，１９４又は１９６からのセツト入力信号
を受けとつた時にもし信号ABがフリツプフロツ
プ１９３，１９５及び１９７のリセツト入力に印
加されていると、フリツプフロツプ１９３，１９
５、及び１９７はセツトされないだろう。しか
し、セツト入力信号が与えられている時に信号
ABがそのリセツト入力に印加されていないなら
ば、フリツプフロツプ１９３，１９５及び１９７
はセツトされ、被検コインがそのフリツプフロツ
プに関連した額面のコインとして両方のテストに
合格したことを意味する。 フリツプフロツプ１９３，１９５及び１９７の
出力は累算器２００を作動させ、累算器２００は
被検コインの額を計算しそして投入コインの合計
額が所定値になつた時コイン動作装置２１０を作
動させる。 第３ａ図は２ビツトカウンター１００と論理回
路１２０の詳細を示している。２ビツトカウンタ
ーは第２のテスト時はフリツプフロツプ１０１の
入力においてANDゲート３６からリード４６上
のクロツクパルス列ａを受けとる。フリツプフ
ロツプ１０１がリセツトされてしまつた後に第１
番目のクロツクパルスが入力されると、パルスが
フリツプフロツプ１０２及びANDゲート１０５
と１０６の入力とに接続されている出力端子に発
生する。同様に、フリツプフロツプ１０２は
ANDゲート１０６に接続されている出力端子に
パルスを発生する。ANDゲート１０６の２つの
入力へのパルスが同時に存在することによりその
ゲートは付勢され、リード１１４上にパルスが出
力される。フリツプフロツプ１０１により受信さ
れた次の第２番目のクロツクパルスはANDゲー
ト１０３と１０４とに接続された他の出力端子に
パルスを生じさせる。フリツプフロツプ１０２は
セツトされたままであり、パルスが２つの入力に
同時に印加されるのはANDゲート１０４であ
り、従つてリード１１２にパルスが出力される。
第３番目のクロツクパルスはフリツプフロツプ１
０１の第１番目のクロツクパルスと同じ出力端子
に再びパルスを生じさせる。フリツプフロツプ１
０２はそれによりANDゲート１０５と１０３と
に接続された出力端子に出力を生じさせる。
ANDゲート１０５の２つの入力に同時的にパル
スが存在するので、そのゲートは付勢され、リー
ド１１３にパルスが出力される。第４番目のクロ
ツクパルスの場合は、ANDゲート１０３が付勢
されリード１１１上にパルスが出力される。第５
番目のクロツクパルスの場合は第１番目のクロツ
クパルスの場合と同様にしてリード１１４にパル
スを生じさせる。即ち４つのクロツクパルス毎に
１サイクルが形成される。こうして２ビツトカウ
ンター１００に入力したクロツクパルス列の個々
のパルスは順次リード１１４，１１２，１１３そ
して１１１へとふりわけられ、これがくり返えさ
れる。 論理回路１２０は、第１のテストの際はリード
４５上のパルスをORゲート１３２を介してリー
ド１３７へ出力し、カウンター１６０の2²ステー
ジ１６３にクロツクパルスを与え４つのクロツク
パルスで16＝2²＋2²＋2²＋2²だけアツプカウント
する。そして第２のテストの際２ビツトカウンタ
ー１００からのパルスをアツプ・ダウンカウンタ
ー１６０の異なるステージにふりわけることによ
り第２のテストでの計測時間の際のパルスに重み
づけを行う。リード１８１，１８８そして１８９
にはフリツプフロツプ１８３，１８５及び１８７
から仮決定された額面を指示する信号が印加され
ている。例えば、リード１８９に信号が現われる
とすると、ANDゲート１２６，１２７，１２８
及び１２９が２ビツトカウンター１００のAND
ゲート１０６，１０４，１０５及び１０３から到
来するパルスを通過させる。ANDゲート１２
６，１２７，１２８及び１２９はORゲート１３
４，１３０，１３３及び１３２に夫々接続されて
おり、２ビツトカウンター１００への４つのクロ
ツクパルスの期間にカウンター１６０の内容を29
だけ減少させる。それは次の理由による。リード
１１４上のパルスの入力させるANDゲート１２
６の出力はORゲート１３４の入力に接続され、
ORゲート１３４からのパルスはカウンタ１６０
の2⁴ステージ１６５に接続されている。同様にし
てリード１１２上のパルスはカウンター１６０の
2⁰ステージ１６１に、リード１１３上のパルスは
カウンター１６０の2³ステージ１６４、そしてリ
ード１１１上のパルスはカウンター１６０の2²ス
テージ１６３に入力される。即ち４つのクロツク
パルスに対しカウンター１６０は2⁴、2⁰、2³、2²
をカウントダウンモードで計数し29＝2⁴＋2⁰＋2³
＋2²だけ減少する。これは前述の表で示された額
面Ｚの場合のサイクルステツプである。 同様に、リード１８８上に信号がある時、即ち
額面Ｙと仮決定された場合はクロツクパルスはカ
ウンター１６６の2³ステージ１６４、2²ステージ
１６３、2³ステージ１６４及び2⁰ステージ１６１
に順次入力され、４つのクロツクパルスにより21
＝2³＋2²＋2³＋2⁰だけカウンター１６０はその内
容が減少される。第１のテストで額面Ｘと仮決定
されリード１８１上に信号がある時は、ANDゲ
ート２１が付勢されリード４６からのクロツクパ
ルスを通過し、ORゲートの出力リード１３７上
に出力パルスを生じさせる。リード１３７はカウ
ンター１６０の2²ステージ１６３に接続されてい
る。従つて、この場合全てのクロツクパルスは2²
ステージ１６３に入力され、カウンター１６０は
４つのクロツクパルスで16＝2²＋2²＋2²＋2²をカ
ウントダウンされる。 カウンター１６０の下位ステージ１６１，１６
２，１６３及び１６４の一部の詳細が第３ｂ図に
示されている。初め、ここに示されるフリツプフ
ロツプ４１１，４２１，４３１及び４４１の全て
がゼロ状態にリセツトされていると仮定する。即
ち、リード４１７，４２７，４３７、及び４４７
各々はハイルベルにある。カウンターの内容は
0000である。リード１７５がハイレベルに維持さ
れ同時にパルスが論理回路からのリード１３５に
生じている時、フリツプフロツプ４１１の状態は
１に変り、それからその出力信号がリード４１６
に現われる。ANDゲート４２２，４３２及び４
４２のいずれも又はANDゲート４２３，４３３
及び４４３のいずれも付勢されていないから、他
のフリツプフロツプ４２１，４３１及び４４１は
付勢されずトリガーされない。ANDゲート４２
２への入力であるリード１７５と４１６からの信
号が同時に存在するとANDゲート４３２への信
号は伝達される。又、その信号はORゲート４２
４を経て次段のカウンターステージ１６２のフリ
ツプフロツプ４２１の付勢ゲートへと伝達され
る。もし、それから別なパルスがリード１３５に
生ずると、それはフリツプフロツプ４１１を直接
トリガーしそしてORゲート４２０を経由してフ
リツプフロツプ４２１をトリガーすることができ
る。ANDゲート４２２はもはや付勢されず、従
つてフリツプフロツプ４２１はリード１３５上の
その後到来するパルスによつてトリガーされるこ
とはない。アツプカウントの際は上位のステージ
各々はゲート４２２，４３２及び４４２のグルー
プのANDゲートで付勢され全ての下位ステージ
は１状態にある時次のパルスでトリガーされ、ダ
ウンカウントの際はリード１７６のダウンカウン
ト信号、ANDゲート４２３，４３３及び４３３
そしてフリツプフロツプ出力リード４１７，４２
７及び４３７を用いて類似の方法で動作すること
が理解されよう。 第２の実施例（第４図と第５図） 第４図に示す本発明の第２の実施例であるコイ
ン識別装置３００は、第１の実施例であるコイン
識別装置１０と似た構成であり、同一の構成部分
には同一の符号が付されている。 センサー６６と６７の両方が遮蔽されていない
場合又はセンサー６６だけが遮蔽されていない場
合、ANDゲート３３と３４とはいかなる信号も
出力しない。センサー６６と６７の両方が遮蔽さ
れるとANDゲート３３の両入力に信号が印加さ
れリード３７上に信号ABを出力する。センサー
６６が遮蔽されなくなると直ちに信号ABは終端
する。それと同時に、ANDゲート３４は信号AB
をリード３８上に出力する。信号ABはセンサー
６６に続いてセンサー６７も遮蔽されなくなつた
時終端する。 コインテスト期間中クロツクパルスは所定の周
期でクロツクパルス発生器３４０からリード３４
１を経由して分周器３１０へと与えられる。第５
図に見られるように、分周器３１０はフリツプフ
ロツプ３２１，３２２，３２３，３２４及び３２
５を連鎖状に構成したものである。リード３４１
からのクロツクパルスは第１のフリツプフロツプ
３２１の入力に印加され、その２つの出力に交互
にパルスを出力する。フリツプフロツプ３２１の
一方の出力は分周器出力リード３１１に接続さ
れ、他はフリツプフロツプ３２２の入力に接続さ
れている。同様に、フリツプフロツプ３２２Ｂの
一方の出力は出力リード３１２にそして他はフリ
ツプフロツプ３２３の入力へと接続されている。
フリツプフロツプ３２３の一方の出力は出力リー
ド３１３へそして他はフリツプフロツプ３２４の
入力へと接続されている。フリツプフロツプ３２
４の一方の出力は出力リード３１４へそして他は
フリツプフロツプ３２５の入力に接続されてい
る。フリツプフロツプ３２５の一方の出力は出力
リード３１５へ接続されそして他の使用されてい
ない。結果として、フリツプフロツプ３１１の入
力に印加された2⁵パルス毎に分周器リード３１
１，３１２，３１３，３１４及び３１５に2⁴、
2³、2²、2¹そして2⁰の時間的にずれたパルスが生
ずる。 リード３７上の出力信号は論理回路３２０
のORゲート３５０の入力に印加される。論理回
路３２０のANDゲート３３１〜３３８は信号が
ORゲート３５０の出力、リード１８８又はリー
ド１８９で受信された時に分周器３１０からのパ
ルスをゲートするためのマトリツクスからなる。
ANDゲート３３１〜３３８の出力は全てORゲー
ト３５５の入力に接続されている。 ORゲート３５０の出力での信号はANDゲート
３３１の一方の入力に印加され、分周器出力リー
ド３１１からのパルスはANDゲートの他方の入
力に印加されている。ANDゲート３３１の出力
は、信号ABの期間において2⁵個のクロツクパル
ス毎に2⁴個のパルスの列である（2⁵を２で分周し
たもの）。後述するようにリード１８８と１８９
には信号はないから、ORゲート３５５からの論
理回路出力リード３５６上のパルスはANDゲー
ト３３１からのパルスと同じ割合で現われる。こ
れらのパルスは２進アツプ・ダウンカウンター３
６０のパルス入力に直接印加される。信号ABが
同時にカウンター３６０のアツプカウント入力リ
ード１７５に印加される。その結果、両センサー
６６と６７とが遮蔽されている期間に2⁵クロツク
パルス毎にカウンターは2⁴だけアツプカウントさ
れる。 カウンターの上位ステージ３６６〜３７１の
各々はデコーダ１８０と１９０の両方に接続され
ている。第１のデコーダ１８０は両センサー６６
と６７の遮蔽される期間の測定との関連で用いら
れる。カウンター３６０の上位ステージ３６６〜
３７１に蓄積された計数値が所定の許容誤差範囲
で所与の額面Ｘ，Ｙ又はＺの許容コインについて
のものと等しくなると、フリツプフロツプ１８
２，１８４又は１８６がセツトされる。しかし、
対応しているフリツプフロツプ１８３，１８５又
は１８７は、その関連のフリツプフロツプ１８
２，１８４又は１８６が出力信号を出している間
にANDゲート３３からの信号ABがフリツプフロ
ツプ１８３，１８５、そして１８７のリセツト入
力から除去されていないならばセツトされない。
信号がフリツプフロツプ１８３，１８５及び
１８７のいずれか１つのセツト入力に信号が与え
られている間にそれらのフリツプフロツプのリセ
ツト入力から除去された時、そのフリツプフロツ
プはセツトされ被検コインが指示された額面につ
いてのコインとして第１のテストに合格したこと
を記録する。 ANDゲート３４がセンサー６６からの信号及
びセンサー６７からインバータ３２で反転された
信号をその両入力に受けた時、リード３８上の出
力信号Ａがリード１７６を介してアツプ・ダウ
ンカウンター３６０のダウンカウント端子に印加
され、カウンター３６０は論理回路３２０からリ
ード３５６上のその後のクロツクパルス列をカウ
ントダウンする。 コイン額面Ｘ，Ｙ又はＺのいずれか１つについ
て第１の計測値で許容できる場合、リード１８
１，１８８又は１８９の１により関連する額面に
ついてその被検コインが許容され得る可能性があ
ることを示す信号を論理回路３２０に印加する。 リード１８１，１８８及び１８９の各々の信号
はANDゲート３３１〜３３８のいずれかに接続
される。ただしリード１８８と１８９の場合は直
接にそしてリード１８１の場合はORゲート３５
０を介して関接的にである。マトリツクスにおけ
るANDゲートの位置は、第１の計測時間の際の
単位時間当りのパルス数対第２の計測時間の際の
単位時間当りのパルス数の所望の比を得るよう選
ばれている。コイン額面Ｘを示す信号がリード１
８１に生ずると、ANDゲート３３１は付勢され
2⁵クロツクパルスを意味する単位時間毎に2⁴パル
ス（16パルス）がその出力に現らわれ、そして
ORゲート３５５及びリード３５６を経由してア
ツプ・ダウンカウンター３６０のパルス入力に向
けられる。コイン額面Ｙを示す信号がリード１８
８に生ずると、ANDゲート３３２，３３３及び
３３４が付勢され、単位時間当り2⁴、2²そして2⁰
の割合で時間的にずれたパルスを通過させて単位
時間毎に21個のパルスをカウンター３６０に与え
る。コイン額面Ｚを示す信号がリード１８９に生
ずると、ANDゲート３３５，３３６，３３７及
び３３８が付勢され、単位時間毎に2⁴、2³、2²及
び2⁰の割合で時間的にずれたパルスを通過させて
単位時間毎に29個のパルスをカウンター３６０に
与える。信号ABの期間中にリード１８１，１８
８及び１８９のいずれにも信号がない場合、即ち
被検コインが第１のテストによつて額面Ｘ，Ｙ又
はＺのいずれのものでもないということが決定さ
れたことを意味する場合、この期間中論理回路３
２０によりカウンター３６０にはパルスは与えら
れない。 論理回路３２０は、第１のテスト後のカウンタ
ー３６０の計数値内容が第２のテスト後には所定
の許容誤差範囲においてある固定値この例ではゼ
ロになるよう構成されている。デコーダ１９０の
働きは第１の実施例の場合と同じである。 第３の実施例 本発明のコイン識別装置では、コインセンサー
はコイン加速器又は減速器中又はコイン移動方向
についてその下流に置かれる。第３の実施例では
リニアモータ又は推進器４８０を用いている。推
進器４８０は本装置で用いられる非磁性で電気的
導電性のコインを加速するために使用される。推
進器４８０は通常の環状構造のモータのステータ
を直線構状にしたものである。第６図に例示され
ているように、推進器４８０は２つの直列接続コ
イル対からなり、第１の直列接続コイル対はコイ
ル４８２と４８４そして第２の直列接続コイル対
はコイル４８６と４８８とからなる。コイルはコ
ア４９０の極片４９２〜４９５の周りに巻かれて
いる。低リラクタンス磁気部材４９８がコイント
ラツク４９９に関し推進器４８０と反対側に置か
れ、コイン通路を横切る均一な磁界を発生させて
いる。 移動磁界を発生させるためには、隣接磁界が位
相シフトしていることが必要である。第６図は、
隣接コア間の位相が90゜シフトさせているよう回
路を例示する。コイル４８２と４８４の第１の直
列接続において、コイル４８２と４８４は逆極性
の磁界を発生する巻回方向に巻かれている。第２
の直列接続も同様である。 第１と第２の直列接続コイル対はANDゲート
５０２と５０４を介して周期的に変化する電流例
えばチヨツプされたD.C.又は単一位相交流電流
源５００に接続されている。ANDゲート５０２
と５０４とは開始制御回路５０６からの信号で制
御されている。キヤパシター５０８は２つの直列
接続コイル対の間に90゜の位相シフトを与えるた
めのものである。これにより移動磁界が発生され
ることが理解されよう。 一定のコイン・テストを行うため、推進器４８
０は推進器電流波形の同じ固定点で付勢すること
が望ましい。このようにすれば加速作用はコイン
が推進器の磁界に最初さらされた時点がいいかに
かかわらない。ゼロ交差検出器５０９は推進器電
流が所定の方向にゼロを横切る点を検出する。検
出器５０９はコイル付勢時点を決めるのに用いら
れる。 第７図には、リニアーモータタイプの推進器４
８０を用いた特に導電性で非磁性体コインに適し
たコイン識別装置を示す。入口スロツト５１２か
らこの装置に入つたコインは垂直に入口曲路部５
１４に落下してその速度のほとんどを失う。コイ
ルが到来センサー５１６を通過すると、コインの
到来が検出され増幅器５１８を介して開始制御装
置５２０が付勢される。装置５２０は少しの時間
遅延後に推進器４８０を励磁する。到来センサー
５１６を通過後、コインはコイン支持トラツク上
に落下する。支持トラツクは約0.5゜〜5.0゜の傾
きを有する短い頭部分５２４とそれに続く同様の
傾きをもつた長い主部分があるよう設計されてい
る。コインは頭部分５２４上に落下し傾きによつ
て後方（図面では左方向）へ転動し壁５２８によ
つて停止されそこで静止する。推進器は投入コイ
ンが静止してしまうに十分な時間だけその付勢が
遅延されるようにされている。推進器が付勢され
ると、もしコインが導電性で且つ非強磁性体であ
るならばトラツク５２２に沿つて移動し傾いた頭
部分５２４を転動して登りそれから主部分５２６
に転り落ちる。コインへの移動力はコインに誘起
された渦電流によつて生ずる。その渦電流は関連
する磁界を発生する。コインへの加速力そしてそ
の速度はコインの受容比によつて決定される。 コインが推進器を通り抜ける位置にセンサーを
配置することも可能であるが、本実施例ではセン
サーは推進器４８０の加速領域内に置かれてい
る。２つの離間した光感知装置５３２と５３３が
センサーとして用いられている。センサー５３２
と５３３は回路５５０に接続されている。この回
路は先の実施例においてセンサー６６，６７に接
続されている回路であることができる。 この実施例では先の２つの実施例と同じ検出そ
して計数技術と装置を用いているが、加速又は減
速場内にセンサー５３２と５３３とが位置してい
る時は先の実施例に関して述べられた簡単な数式
は適用できない。故に、最適なセンサー位置と第
１と第２のテストでの計数値との間の比は経験的
に決められる。 推進器のようなコインを加速する手段を用いた
装置の変形としたただ一つのセンサーを用いて構
成することもできる。推進器は既知の位置例えば
第７図の壁５２８とトラツク５２２と同様のトラ
ツク上の壁による静止位置での既知の速度（例え
ばゼロ）からコインの特性に依存する方法でコイ
ンを加速する。コインはトラツクに沿つて移動し
例えばセンサー５３２又はセンサー５３３の位置
にするセンサーを通過する。出発点とセンサーと
の間のコインの平均速度に依存した時間期間と弦
長と速度の関数に依存した時間期間が計測され
る。静止コインの加速開始からセンサーの遮蔽迄
の時間期間そしてセンサーを遮蔽している時間期
間がこの目的のために特に適当である。 第４実施例 本発明の第４の実施例としてのコイン識別装置
６００が第８図に示されている。先の実施例と同
じ回路構成部には同じ符号が付されている。 コイン・テストを通してクロツクは所定の固定
された周期、例えば3MHzでクロツク発生器６４
０からリード６４１を経て６ビツトカウンター６
１０へと送られる。このカウンターは10進法で64
の計数に等価な６ビツトの容量を有する。カウン
ター６１０の容量が満たされるとそこからの出力
がアツプ・ダウンカウンター６６０の２゜入力ス
テージ６６１に印加される。 アツプ・ダウンカウンター６６０がカウントア
ツプしている時間の間、６ビツトカウンター６１
０は論理回路６２０により所定の数値例えば30に
プリセツトされる。従つて34個のクロツクパルス
がくると６ビツトカウンター６１０はその容量が
満杯となり出力パルスを発生する。出力パルス即
ちオーバフロー信号はアツプ・ダウンカウンター
６６０に入力される。オーバフローで６ビツトカ
ウンター６１０は自動的にクリアーされ論理回路
６２０からのリード６１１〜６１６上の信号によ
り30にプリセツトされ更に計数し続ける。従つ
て、カウントアツプ期間の終りでのアツプ・ダウ
ンカウンター６６０の内容は６ビツトカウンター
６１０に供給される3MHzパルスの総数の1/34に
なるであろう。 カウントアツプ期間の終了時点でのアツプ・ダ
ウンカウンター６６０の計数値内容により被検コ
インについて仮決定を行い、それにより第１の時
間期間T₁（カウントアツプ）に対する第２の時
間期間T₂（カウントダウン）の予測比を設定す
る。被検コインについてのこの予測比は６ビツト
カウンター６１０がプリセツトされる数値を決定
する。例えば、もし所与のコイン額面に関する
T₁の値が0.68秒でT₂が0.90秒でありそしてアツプ
カウント時のプリセツト値は30であるとすると、
その額面での予測比はT₁／T₂＝34／45である。
アツプカウントとダウンカウント期間にカウンタ
ー６２０に与えられるパルス数は同じくなるよう
にするには、６ビツトカウンターのプリセツト値
は２つの期間においてクロツク装置６４０により
与えられるパルス数の差を補償するように決めら
れなければならない。アツプカウント期間におけ
るプリセツト値は64−34＝30であるからダウンカ
ウント期間のプリセツト値は64−45＝19であるべ
きである。被検コインの真贋性と額面は、もしア
ツプ・ダウンカウンター６６０の内容がゼロにな
つたら決定される。 アツプ・ダウンカウンター６６０をクリアする
信号そしてアツプカウント期間とダウンカウント
期間を規定する信号はリード３７，１７８及び３
８，１７６によりアツプ・ダウンカウンター６６
０に与えられる。リード３７ａは信号を論理回路
６２０に与え、第１の時間期間の際６ビツトカウ
ンター６１０のプリセツトが所望のプリセツト値
例えば32になるようにしている。第２の時間期間
の際、リード１８１，１８８又は１８９のいずれ
か１つの信号はその期間について６ビツトカウン
ターを所望のプリセツト値となるようにする。リ
ード１８１，１８８又は１８９のどれに信号が生
ずるかは第１の時間期間の終了時における仮決定
に依存する。 各カウント期間の終了時にアツプ・ダウンカウ
ンター６６０の内容はデコーダ１８０と１９０と
に伝達され、記憶された標準値と比較される。デ
コーダ１８０と１９０及び後続の回路の構成・動
作は第１図と第４図に関連して先に説明したもの
と同様の回路である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例であるコイン識
別装置の回路構成を示すブロツク図、第２図は、
第１の実施例の装置におけるトラツクとセンサー
配置を幾つかのコインの外形と共に示す図、第３
ａ図は、第１の実施例の装置における２ビツトカ
ウンターと論理回路の詳細を示す回路図、第３ｂ
図は、第１の実施例の装置におけるアツプ・ダウ
ンカウンターの下位ステージの詳細を示す回路
図、第４図は、本発明の第２の実施例であるコイ
ン識別装置の回路構成を示すブロツク図、第５図
は、第２の実施例の装置の分周器と論理回路の詳
細を示す回路図、第６図は、本発明の第３の実施
例のコイン識別装置で用いられるリニアーモータ
コイン推進器の構成を例示する図、第７図は、第
３の実施例としてのコイン識別装置のセンサー配
置、電気回路及びコイン推進器を示す構成図、及
び第８図は、本発明の第４の実施例であるコイン
識別装置の構成を示すブロツク図である。 〔主要部分の符号の説明〕、第１の計測値を得
る手段……６６，６７，３３，１６０、仮決定す
る手段……１８０，１８３，１８５，１８７、第
２の計測値を得る手段……６６，６７，３４，１
２０，１６０、最終決定を行う手段……１９０。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 複数の額面に関し被検査コインの額面と真贋
   性を識別する方法であつて、 被検査コインについての第１の測定を行い該第
   １の測定結果を表わす第１の値を発生し、 該発生された第１の値が、該複数の額面のうち
   のどの額面に関して、該第１の測定についての所
   定の許容誤差内にあるかを決定してその額面を認
   定し、 額面ごとに該第１の測定と固有の数値関係にあ
   るところの第２の測定を該被検査コインについて
   行い該第２の測定結果を表わす第２の値を発生
   し、 該発生された第２の値が、該発生された第１の
   値に対し該固有の数値関係についての所定の許容
   誤差内で該認定された額面についての該固有の数
   値関係にあるかを決定することからなるコイン識
   別方法。