JPS6230577B2 - - Google Patents

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JPS6230577B2
JPS6230577B2 JP56126126A JP12612681A JPS6230577B2 JP S6230577 B2 JPS6230577 B2 JP S6230577B2 JP 56126126 A JP56126126 A JP 56126126A JP 12612681 A JP12612681 A JP 12612681A JP S6230577 B2 JPS6230577 B2 JP S6230577B2
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JP
Japan
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photoconductive
voltage
photoconductive elements
photoelectric conversion
circuit
Prior art date
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Application number
JP56126126A
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Japanese (ja)
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JPS5827028A (en
Inventor
Kazumi Komya
Minoru Kanzaki
Akitsugu Yamada
Kunihiko Inoe
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP56126126A priority Critical patent/JPS5827028A/en
Publication of JPS5827028A publication Critical patent/JPS5827028A/en
Publication of JPS6230577B2 publication Critical patent/JPS6230577B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/63Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current

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  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、一次元に配列された複数のcds等の
光導電素子を有してなる光電変換装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a photoelectric conversion device having a plurality of photoconductive elements such as CDS arranged one-dimensionally.

第1図はこの種の光電変換装置の原理的な構成
を示す。1はイメージセンサであり、1列に配列
されたN個の光導電素子A1〜ANを有してなる。
前記光導電素子A1〜ANには、それぞれ抵抗R1
Nが直列に接続されており、各光導電素子A1
Nと抵抗R1〜RNとの接続点は、それぞれスイ
ツチS1〜SNを介して増幅器2の入力に接続され
ている。
FIG. 1 shows the basic configuration of this type of photoelectric conversion device. Reference numeral 1 denotes an image sensor, which includes N photoconductive elements A 1 to A N arranged in one row.
The photoconductive elements A 1 to A N have resistors R 1 to A N, respectively.
R N are connected in series, each photoconductive element A 1 ~
The connection points between A N and the resistors R 1 to RN are connected to the inputs of the amplifier 2 via switches S 1 to SN , respectively.

そして、定電圧電源3から各光導電素子A1
Nおよび抵抗R1〜RNに共通な一定電圧を印加
すると、光導電素子A1〜ANの抵抗値はそれらに
入射する光量によつて変化するので、各光導電素
子A1〜ANと抵抗R1〜RNとの接続点の電圧は、
各光導電素子A1〜ANに入射する光量に応じた値
となる。
Then, each photoconductive element A 1 ~
When a common constant voltage is applied to A N and resistors R 1 to R N , the resistance value of each photoconductive element A 1 to A N changes depending on the amount of light incident on them. The voltage at the connection point between N and resistors R 1 to R N is
The value corresponds to the amount of light incident on each of the photoconductive elements A 1 to A N .

したがつて、スイツチS1〜SNを順次選択的に
オンすれば、光導電素子A1〜ANに入射する光の
パターンに対応した時系列の電気信号を増幅器2
の出力から得ることができる。
Therefore, by sequentially selectively turning on the switches S 1 to SN , time-series electrical signals corresponding to the pattern of light incident on the photoconductive elements A 1 to A N are sent to the amplifier 2.
can be obtained from the output of

しかし、実際のこの種の光電変換装置では、光
導電素子の総数Nが1000〜2000になるもので、前
記第1図の回路のように各光導電素子A1〜AN
にトランジスタ等からなるスイツチS1〜SNを設
けることは、実装上、不可能であるため、従来の
この種の光電変換装置では、第2図のような回路
構成がとられていた。
However, in an actual photoelectric conversion device of this type, the total number N of photoconductive elements is 1000 to 2000 , and as in the circuit shown in FIG. Since it is impossible to provide the switches S 1 to S N in terms of implementation, conventional photoelectric conversion devices of this type have a circuit configuration as shown in FIG. 2.

すなわち、第2図において、1はイメージセン
サであり、m×m個の光導電素子A1〜Anoと、
これらの光導電素子A1〜Anoにそれぞれ直列に
接続されたダイオードD1〜Dnoとを有してなる。
前記光導電素子A1〜Anoは、n個の光導電素子
を1ブロツクとし、m個のブロツクに分割されて
いる。
That is, in FIG. 2, 1 is an image sensor, and m×m photoconductive elements A 1 to A no ,
It has diodes D1 to Dno connected in series to these photoconductive elements A1 to Ano , respectively.
The photoconductive elements A 1 to A no are divided into m blocks, with n photoconductive elements forming one block.

前記光導電素子A1〜Anoの一端は、ダイオー
ドD1〜Dnoを介して、それぞれ前記各ブロツク毎
に共通側端子l1〜lnにまとめて接続されてい
る。また、前記光導電素子A1〜Anoの他端は、
前記ブロツクにおいて対応する位置にあるもの毎
にまとめられて、個別側出力端子P1〜Poに接続
されている。
One ends of the photoconductive elements A 1 to A no are collectively connected to common side terminals l 1 to l n for each of the blocks, respectively, via diodes D 1 to D no . Further, the other end of the photoconductive elements A 1 to A no is
Those located at corresponding positions in the block are grouped together and connected to individual side output terminals P 1 to P o .

前記共通側端子l1〜lnは、それぞれスイツチ
a1〜Sanおよび抵抗Rを介して定電圧電源3の
+極に接続されている。この定電圧電源3の一極
は接地されている。また、前記共通側端子l1〜l
nと接地との間には、抵抗Ra1〜Ranが接続され
ている。前記別個側出力端子P1〜Poは、それぞ
れスイツチSb1〜Sboを介して増幅器2の入力に
接続されるとともに、抵抗Rb1〜Rboを介して接
地されている。
The common terminals l 1 to l n are connected to the positive pole of the constant voltage power supply 3 via switches S a1 to S an and a resistor R, respectively. One pole of this constant voltage power supply 3 is grounded. Further, the common side terminals l 1 to l
Resistors R a1 to R an are connected between n and ground. The separate output terminals P 1 -P o are connected to the inputs of the amplifier 2 via switches S b1 -S bo , respectively, and are grounded via resistors R b1 -R bo .

この従来装置においては、第3図のタイミング
チヤートに示すように、スイツチSa1〜Sanが順
次オンされることにより、定電圧電源3から各ブ
ロツク毎に光導電素子A1〜Anoに一定電圧が印
加される。そして、前記のようにスイツチSa1
anがそれぞれオンされている期間毎に、スイツ
チSb1〜Sboが順次オンされることにより、まず
第1番目のブロツクの光導電素子A1〜Aoの出力
電圧が個別側出力端子P1およびスイツチSb1を介
して順次増幅器2に入力され、次に第2番目のブ
ロツクの光導電素子Ao+1〜A2oの出力電圧が個
別側出力端子P2およびスイツチSb2を介して順次
増幅器2に入力され、以下、残りのブロツクにつ
いても同様の動作が行われる。
In this conventional device, as shown in the timing chart of FIG. 3, by sequentially turning on the switches S a1 to S an , a constant voltage of photoconductive elements A 1 to A no is supplied to each block from the constant voltage power supply 3. A voltage is applied. Then, as mentioned above, the switch S a1 ~
By sequentially turning on the switches S b1 to S bo during each period in which S an is turned on, the output voltage of the photoconductive elements A 1 to A o of the first block changes to the individual side output terminal P. 1 and the switch S b1 , and then the output voltage of the photoconductive elements A o+1 to A 2 o of the second block is inputted to the amplifier 2 via the individual side output terminal P 2 and the switch S b2 . The signals are sequentially input to the amplifier 2, and the same operation is performed for the remaining blocks.

この結果、各光導電素子A1〜Anoに入射する
光のパターンに対応する時系列の電気信号k(以
下、光電変換信号という)を光電変換信号出力端
子4から得ることができる。
As a result, a time-series electrical signal k (hereinafter referred to as a photoelectric conversion signal) corresponding to the pattern of light incident on each of the photoconductive elements A 1 to A no can be obtained from the photoelectric conversion signal output terminal 4 .

ところが、各光導電素子A1〜Anoの光導電特
性にはばらつきがあり、このばらつきを補正しな
いと、光電変換信号出力端子4から得られる光電
変換信号kの各ビツトの基準レベルにばらつきが
生じてしまう。
However, there are variations in the photoconductive characteristics of each of the photoconductive elements A1 to Ano , and if this variation is not corrected, there will be variations in the reference level of each bit of the photoelectric conversion signal k obtained from the photoelectric conversion signal output terminal 4. It will happen.

そこで、第2図の従来装置では、光導電素子ア
レイの製造工程上、光導電素子A1〜Anoのうち
でも互いに近い位置にある素子間のばらつきが、
互いに遠い位置にある素子間のばらつきよりは、
小さいことを利用して、各ブロツク毎に前記補正
を行つていた。すなわち、抵抗Ra1〜Ranの値を
調整し、電源3の電圧Eが抵抗RとRa1〜Ran
によつて分圧される比を変え、各ブロツクの光導
電素子の平均出力が同一になるようにすることに
より、前記補正を行つていた。
Therefore, in the conventional device shown in FIG. 2, due to the manufacturing process of the photoconductive element array, variations among the photoconductive elements A 1 to A no that are located close to each other,
Rather than variations between elements located far from each other,
Taking advantage of the small size, the above correction was performed for each block. That is, by adjusting the values of the resistors R a1 to R an and changing the ratio at which the voltage E of the power source 3 is divided by the resistors R and R a1 to R an , the average output of the photoconductive elements of each block is adjusted. The above correction was performed by making them the same.

第3図において、k1は、各光導電素子A1〜An
に一様な光量を入射させ、かつ低抗Ra1=Ra2
……=Ranとした場合の1ラインの前記光電変換
信号kを示す。また、k2は抵抗Ra1〜Ranを調整
し、前記補正を行つた場合の1ラインの前記光導
変換信号kを示す。同図から分るように、k1のば
らつきE1より、k2のばらつきE2は小さくなる。
In FIG. 3, k 1 represents each photoconductive element A 1 to A n
A uniform amount of light is incident on o , and low resistance R a1 =R a2 =
The photoelectric conversion signal k of one line is shown when . . . =R an . Further, k2 indicates the light guide conversion signal k of one line when the resistances R a1 to R an are adjusted and the correction is performed. As can be seen from the figure, the variation E 2 in k 2 is smaller than the variation E 1 in k 1 .

なお、vは前記の場合において、共通側端子l1
〜lnに印加される電圧を示し、具体的にはk1
場合における各ブロツクの光導電素子の出力の平
均値の逆数に比例した電圧となつている。
Note that in the above case, v is the common side terminal l 1
.about.ln , specifically, the voltage is proportional to the reciprocal of the average value of the output of the photoconductive elements of each block in the case of k1 .

しかし、このような従来装置では、各ブロツク
内における光導電素子の特性のばらつきに対して
は全く補正を行うことができないのみならず、前
記のように光導電素子の総数m×nは2000にも達
するので、光導電素子のブロツク数mは50〜100
にもなり、これらのブロツクにそれぞれ接続され
る抵抗Ra1〜Ranの値を1つ1つ調整・設定する
には、多大な労力と作業時間を必要とし、量産は
事実上不可能であるという欠点があつた。
However, with such a conventional device, not only is it impossible to compensate for variations in the characteristics of photoconductive elements within each block, but also the total number of photoconductive elements (m×n) is 2000 as described above. Therefore, the number of blocks of the photoconductive element is 50 to 100 m.
Therefore, adjusting and setting the values of the resistors R a1 to R an connected to each of these blocks one by one requires a great deal of effort and work time, making mass production virtually impossible. There was a drawback.

本発明は、前記従来の欠点を解消するべくなさ
れたもので、各光導電素子の光導電特性のばらつ
きに対する補正を極めて容易に行うことができる
光電変換装置を提供することを目的とする。
The present invention was made to eliminate the above-mentioned conventional drawbacks, and an object of the present invention is to provide a photoelectric conversion device that can extremely easily correct variations in photoconductive characteristics of each photoconductive element.

すなわち、本発明による光電変換装置は、一次
元に配列された複数の光導電素子と、前記各光導
電素子に対し設定された電圧を順次出力する電圧
発生回路と、この電圧発生回路から順次出力され
る前記電圧を、対応する前記光導電素子および該
光導電素子に直列に接続される抵抗に印加するス
イツチング回路と、このスイツチング回路による
前記電圧の印加によつて、前記各光導電素子と前
記抵抗との接続点に生じた電圧を時間的に合成す
る手段とを有してなるものである。
That is, the photoelectric conversion device according to the present invention includes a plurality of photoconductive elements arranged one-dimensionally, a voltage generation circuit that sequentially outputs voltages set for each of the photoconductive elements, and a voltage generating circuit that sequentially outputs voltages set for each of the photoconductive elements. a switching circuit that applies the voltage to the corresponding photoconductive element and a resistor connected in series to the photoconductive element, and application of the voltage by this switching circuit to the respective photoconductive element and the and means for temporally synthesizing the voltages generated at the connection points with the resistors.

以下本発明を図面に基づいてさらに詳細に説明
する。
The present invention will be explained in more detail below based on the drawings.

第4図は本発明の一実施例を示し、第5および
第6図はこの実施例におけるタイミングチヤート
を示す(第6図ロは同図イの一部を拡大した図で
ある)。第4図において1はイメージセンサであ
り、第2図の場合と同一の構成とされている。5
はマスタクロツクcを発生するマスタクロツク発
生回路である。
FIG. 4 shows an embodiment of the present invention, and FIGS. 5 and 6 show timing charts in this embodiment (FIG. 6B is a partially enlarged view of FIG. 6A). In FIG. 4, reference numeral 1 denotes an image sensor, which has the same configuration as in FIG. 2. 5
is a master clock generation circuit that generates master clock c.

6は多段の分周回路からなる走査アドレス発生
部であり、マスタクロツク発生回路5から入力す
るクロツクcを分周した各段の出力をアドレス信
号aおよびbとして出力する。第5図は、アドレ
ス信号aおよびbを2進化波形とした例を示し、
アドレス信号bはアドレス信号aをさらに分周し
たものとなつている。
Reference numeral 6 denotes a scanning address generating section consisting of a multi-stage frequency dividing circuit, which divides the frequency of the clock c inputted from the master clock generating circuit 5 and outputs the output of each stage as address signals a and b. FIG. 5 shows an example in which the address signals a and b are binary waveforms,
The address signal b is obtained by further dividing the frequency of the address signal a.

7はROMからなるメモリ回路であり、後で詳
しく説明するように、光導電素子A1〜Anoの光
導電特性のばらつきを補正するためにあらかじめ
求められた各光導電素子A1〜Anoに対する補正
データdを書き込まれており、アドレス信号a,
bをアドレス入力として、この補正データdを読
み出される。
7 is a memory circuit consisting of a ROM, and as will be explained in detail later, each of the photoconductive elements A 1 to A no has been determined in advance in order to correct variations in the photoconductive characteristics of the photoconductive elements A 1 to A no. The correction data d for the address signals a,
This correction data d is read by using b as an address input.

8はメモリ回路7から読み出される補正データ
dをD/A変換するD/A変換器、9は一極を接
地された定電圧電源である。10は増幅器であ
り、その入力を切り換えスイツチ11を介して
D/A変換器8の出力eまたは定電圧電源9の+
極に接続されるようになつている。
8 is a D/A converter for D/A converting the correction data d read out from the memory circuit 7, and 9 is a constant voltage power supply having one pole grounded. Reference numeral 10 denotes an amplifier, and its input is changed over via a switch 11 to output e of the D/A converter 8 or + of the constant voltage power supply 9.
It is designed to be connected to a pole.

前記増幅器10の出力は、それぞれトランジス
タF1〜Fnを介してイメージセンサの共通側端子
l1〜lnに接続されている。また、イメージセン
サ1の個別側出力端子P1〜PoはトランジスタG1
〜Goを介してそれぞれ共通の抵抗Rcの一端に接
続され、この抵抗Rcの他端は接地されている。
前記トランジスタG1〜Goと抵抗Rcとの接続点は
増幅器2の入力に接続され、この増幅器2の出力
は光電変換信号出力端子4に接続されている。
The output of the amplifier 10 is connected to the common side terminal of the image sensor via transistors F1 to Fn , respectively.
It is connected to l 1 to l n . In addition, the individual side output terminals P 1 to P o of the image sensor 1 are transistors G 1
~G o to one end of a common resistor R c , and the other end of this resistor R c is grounded.
The connection point between the transistors G 1 to G o and the resistor R c is connected to the input of an amplifier 2 , and the output of this amplifier 2 is connected to a photoelectric conversion signal output terminal 4 .

12はアドレス信号bを入力とするmビツトパ
ラレル出力デコーダであり、このデコーダ12の
mビツトの出力f1〜fnによりトランジスタS1
oのオン・オフがそれぞれ制御される。
Reference numeral 12 denotes an m-bit parallel output decoder which receives the address signal b as an input, and the m-bit outputs f 1 to f n of this decoder 12 cause the transistors S 1 to
The on/off state of S o is controlled respectively.

13はアドレス信号aを入力とするnビツトパ
ラレル出力デコーダであり、このデコーダ13の
nビツトの出力g1〜goによりトランジスタG1
oのオン・オフがそれぞれ制御される。
Reference numeral 13 denotes an n-bit parallel output decoder which receives the address signal a, and the n-bit outputs g 1 to go of this decoder 13 cause the transistors G 1 to
The on/off of G o is controlled respectively.

次に、第5および第6図に示すタイミングチヤ
ートおよび電圧波形図に基づいて本実施例の動作
を説明する。
Next, the operation of this embodiment will be explained based on the timing charts and voltage waveform diagrams shown in FIGS. 5 and 6.

まず、切り換えスイツチ11により増幅器10
の入力に定電圧電源9を接続するとともに、各光
導電素子A1〜Anoに一様な光量を入射させる。
First, the changeover switch 11 switches the amplifier 10
A constant voltage power supply 9 is connected to the input of the photoconductive elements A 1 to A no, and a uniform amount of light is made incident on each of the photoconductive elements A 1 to A no .

この状態において、デコーダ12に走査アドレ
ス発生部6からアドレス信号bが順次入力される
と、同デコーダ12の出力f1〜foは、順次1つ
ずつハイレベル(以下、“H”と略記する)とな
り、これに伴つてトランジスタF1〜Fnが順次オ
ンされる。
In this state, when the address signal b is sequentially input from the scanning address generator 6 to the decoder 12, the outputs f 1 to f o of the decoder 12 are sequentially set to high level (hereinafter abbreviated as "H") one by one. ), and accordingly, transistors F 1 to F n are sequentially turned on.

また、この間、走査アドレス発生部6からアド
レス信号aがデコーダ13に入力されることによ
り、トランジスタF1〜Fnがそれぞれオンされて
いる期間毎に、デコーダ13の出力g1〜goが順
次1つずつ“H”となり、これに伴つてトランジ
スタG1〜Goが順次オンされる。
Also, during this period, the address signal a is input from the scanning address generator 6 to the decoder 13, so that the outputs g 1 to go of the decoder 13 are sequentially output for each period in which the transistors F 1 to F n are turned on . The level becomes "H" one by one, and the transistors G 1 to G o are sequentially turned on accordingly.

これにより、抵抗Rcを直列に接続された状態
で、各光導電素子A1〜Anoに増幅器10の出力
電圧(一定電圧)がダイオードD1〜Dnoを介して
順次印加される。そして、前記増幅器10の出力
電圧の印加により生じた光導電素子A1〜Ano
出力電圧が増幅器2に順次入力されるので、光電
変換信号出力端子4から第6図イのk1に示すよう
な各光導電素子A1〜Anoの光導電特性のばらつ
きに対応した時系列の光電変換信号が得られる。
As a result, the output voltage (constant voltage) of the amplifier 10 is sequentially applied to each of the photoconductive elements A 1 to A no via the diodes D 1 to D no with the resistor R c connected in series. The output voltages of the photoconductive elements A 1 to A no generated by the application of the output voltage of the amplifier 10 are sequentially input to the amplifier 2, so that the output voltages from the photoelectric conversion signal output terminal 4 as shown in k 1 in FIG. Time-series photoelectric conversion signals corresponding to such variations in photoconductive properties of each of the photoconductive elements A 1 to A no can be obtained.

本実施例では、各光導電素子A1〜Anoに対す
る前記光電変換信号k1の電圧値の逆数に比例した
値を2進数に符号化し、これを補正データdとし
てメモリ回路7の対応するアドレスに書き込む
(このメモリ回路7への書き込み作業は、本回路
とは別の回路治具等で行う。
In this embodiment, a value proportional to the reciprocal of the voltage value of the photoelectric conversion signal k 1 for each photoconductive element A 1 to A no is encoded into a binary number, and this is used as correction data d to be stored at the corresponding address of the memory circuit 7. (This writing operation to the memory circuit 7 is performed using a circuit jig or the like that is separate from the main circuit.

そして、実際の光情報を光導電素子A1〜Ano
に読み取らせる場合には、切り換えスイツチ11
を切り換えて、増幅器10の入力にD/A変換器
8の出力eを接続する。この状態において、走査
アドレス発生部6からアドレス信号aおよびbが
メモリ回路7に入力されると、同アドレス信号
a,bによつて指定されるアドレスの補正データ
dがメモリ回路7から順次読み出される。
Then, the actual optical information is transferred to the photoconductive elements A 1 to A no
If you want to read it, press the switch 11.
and connects the output e of the D/A converter 8 to the input of the amplifier 10. In this state, when address signals a and b are input from the scanning address generating section 6 to the memory circuit 7, correction data d of the addresses specified by the address signals a and b are sequentially read out from the memory circuit 7. .

この順次読み出された補正データdがD/A変
換器8によりD/A変換され、同D/A変換器8
の出力eが増幅器10により増幅されるので、増
幅器10からは、各光導電素子A1〜Anoに対す
る補正データdに対応する値の電圧が順次出力さ
れる。
This sequentially read correction data d is D/A converted by the D/A converter 8, and the D/A converter 8
Since the output e is amplified by the amplifier 10, the amplifier 10 sequentially outputs a voltage having a value corresponding to the correction data d for each of the photoconductive elements A1 to Ano .

一方、この間、デコーダ12,13にもアドレ
ス信号a,bがそれぞれ入力されているので、ト
ランジスタF1〜FoおよびG1〜Goが前記同様のタ
イミングで順次オンされている。このため、前記
順次出力される増幅器10の出力電圧が、対応す
る光導電素子A1〜Anoおよび抵抗RCに印加され
る。そして、このときの各光導電素子A1〜Ano
の出力が増幅器2で増幅されることにより、光導
電素子A1〜Anoに入射した一次元的な光のパタ
ーンに対応する時系列の光電変換信号kが光電変
換信号出力端子4に得られる。
On the other hand, during this time, since the address signals a and b are also input to the decoders 12 and 13, respectively, the transistors F 1 to F o and G 1 to G o are sequentially turned on at the same timing as described above. Therefore, the output voltages of the amplifier 10, which are sequentially output, are applied to the corresponding photoconductive elements A1 to Ano and the resistor Rc . At this time, each photoconductive element A 1 to A no
By amplifying the output in the amplifier 2, a time-series photoelectric conversion signal k corresponding to the one-dimensional light pattern incident on the photoconductive elements A1 to Ano is obtained at the photoelectric conversion signal output terminal 4. .

ここで、光導電素子A1〜Anoの出力hは、増
幅器10の出力電圧を光導電素子A1〜Anoの抵
抗と抵抗Rcとで分割した値となるが、この場合
には、各光導電素子A1〜Anoに対して印加され
る増幅器10の出力電圧が共通でなく、当該光導
電素子A1〜Anoに対する前記補正データdに対
応する値となつているため、前記光電変換信号k
は各光導電素子A1〜Ano間の光導電特性のばら
つきを補正されたものとなつている。
Here, the output h of the photoconductive elements A 1 to A no is a value obtained by dividing the output voltage of the amplifier 10 by the resistance of the photoconductive elements A 1 to A no and the resistance R c , but in this case, Since the output voltage of the amplifier 10 applied to each of the photoconductive elements A 1 to A no is not common and has a value corresponding to the correction data d for the photoconductive elements A 1 to A no , photoelectric conversion signal k
has been corrected for variations in photoconductive characteristics among the photoconductive elements A 1 to A no .

第6図のk2は、各光導電素子A1〜Anoに一様
な光量が入射されたときに、前記補正が行われた
場合の光電変換信号kを示し、各光導電素子A1
〜Anoの特性のばらつきを補正されることによ
り、1ラインに渡つて一様な値となつている。
k 2 in FIG. 6 indicates the photoelectric conversion signal k when the above correction is performed when a uniform amount of light is incident on each photoconductive element A 1 to A no ;
By correcting the variation in the characteristics of ~A no , the value becomes uniform over one line.

このように本実施例によれば、光導電素子A1
〜Anoの1つ1つの特性のばらつきを完全に補正
することができるが、互いに近い位置にある光導
電素子間のばらつきは実用上無視できる程度であ
り、ブロツク間の光導電素子のばらつきが問題に
なるような場合には、各ブロツク毎に補正データ
dを設定することにより、各ブロツク毎に前記補
正を行うことも可能である。そして、その場合に
はメモリ回路7はアドレス信号a,bのうちの上
位の信号bのみを使用する小容量のメモリ回路と
することができる。
As described above, according to this embodiment, the photoconductive element A 1
~A no It is possible to completely correct the variations in the characteristics of each individual photoconductive element, but the variation between photoconductive elements located close to each other is practically negligible, and the variation in photoconductive elements between blocks is If this is a problem, it is also possible to perform the above correction for each block by setting the correction data d for each block. In that case, the memory circuit 7 can be a small-capacity memory circuit that uses only the higher-order signal b of the address signals a and b.

なお、各光導電素子A1〜Anoに印加する電圧
は一定とし、増幅器2の増幅率を各光導電素子
A1〜Anoの光導電特性のばらつきに応じて順次
変化させても、前記ばらつきに対する補正を行う
ことが可能であるが、この場合には微小信号を取
り扱うという不利が生じる。しかるに、本装置の
ように各光導電素子A1〜Anoのばらつきに対応
して各光導電素子A1〜Anoに印加する電圧を変
化させる場合には、そのような不利を生じない。
Note that the voltage applied to each photoconductive element A 1 to A no is constant, and the amplification factor of amplifier 2 is set to
Although it is possible to correct the variations by sequentially changing A 1 to A no in accordance with variations in the photoconductive properties, this case has the disadvantage of handling minute signals. However, when the voltages applied to each of the photoconductive elements A 1 to A no are changed in response to variations in each of the photoconductive elements A 1 to A no as in the present device, such disadvantages do not occur.

以上のように本発明による光電変換装置は、各
光導電素子に対して設定された電圧を順次出力す
る電圧発生回路と、前記電圧を対応する光導電素
子およびこれに直列に接続される抵抗に印加する
スイツチング回路とを有してなることにより、各
光導電素子の光導電特性のばらつきに対する補正
を従来のように面倒な多数の抵抗値の調整・設定
作業を必要とすることなく、極めて容易に行うこ
とができる等の優れた効果を得られるものであ
る。
As described above, the photoelectric conversion device according to the present invention includes a voltage generation circuit that sequentially outputs a voltage set to each photoconductive element, and a voltage generating circuit that outputs the voltage set to each photoconductive element, and a resistor connected in series to the corresponding photoconductive element. By having a switching circuit for applying voltage, it is extremely easy to correct for variations in the photoconductive characteristics of each photoconductive element without the need for the troublesome adjustment and setting of a large number of resistance values as in the past. It is possible to obtain excellent effects such as being able to perform

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は一次元に配列された光導電素子を備え
た光導変換装置の原理的な構成を示す回路図、第
2図は従来の光変換装置を示す回路図、第3図は
前記従来装置のタイミングチヤート、第4図は本
発明による光電変換装置の一実施例を示す回路
図、第5図は前記実施例のタイミングチヤート、
第6図イは前記実施例における光電変換信号およ
びD/A変換器の出力の電圧波形図、第6図ロは
前記第6図イの拡大図である。 2……増幅器、4……光電変換信号出力端子、
6……走査アドレス発生部、7……メモリ回路、
8……D/A変換器、10……増幅器、12……
mビツトパラレル出力デコーダ、13……nビツ
トパラレル出力デコーダ、A1〜Ano……光導電
素子、F1〜Fo,G1〜Go……トランジスタ、d…
…補正データ、h……光導電素子出力。
FIG. 1 is a circuit diagram showing the basic configuration of a light guide conversion device equipped with photoconductive elements arranged one-dimensionally, FIG. 2 is a circuit diagram showing a conventional light conversion device, and FIG. 3 is a circuit diagram showing the conventional device. FIG. 4 is a circuit diagram showing an embodiment of the photoelectric conversion device according to the present invention, FIG. 5 is a timing chart of the embodiment,
FIG. 6A is a voltage waveform diagram of the photoelectric conversion signal and the output of the D/A converter in the embodiment, and FIG. 6B is an enlarged view of FIG. 6A. 2...Amplifier, 4...Photoelectric conversion signal output terminal,
6...Scanning address generation section, 7...Memory circuit,
8...D/A converter, 10...amplifier, 12...
m-bit parallel output decoder, 13... n-bit parallel output decoder, A 1 to A no ... photoconductive element, F 1 to F o , G 1 to G o ... transistor, d...
...Correction data, h...Photoconductive element output.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 一次元に配列された複数の光導電素子と、こ
の各光導電素子毎に設定された電圧を順次出力す
る電圧発生回路と、この電圧発生回路から順次出
力される前記電圧を対応する前記光導電素子およ
び該光導電素子に直列接続される抵抗に印加する
スイツチング回路と、このスイツチング回路によ
る前記電圧の印加によつて前記各導電素子と前記
抵抗との接続点に生じた電圧を時間的に合成する
手段とを有してなる光電変換装置。 2 電圧発生回路は、各光導電素子に対する補正
データを書き込まれるメモリ回路と、このメモリ
回路から順次読み出される前記データに基づい
て、前記各光導電素子に対する電圧を順次出力す
る電圧出力回路とを有してなる特許請求の範囲第
1項記載の光電変換装置。
[Scope of Claims] 1. A plurality of photoconductive elements arranged one-dimensionally, a voltage generating circuit that sequentially outputs a voltage set for each of the photoconductive elements, and a voltage generating circuit that sequentially outputs a voltage set for each of the photoconductive elements, and a switching circuit that applies a voltage to the corresponding photoconductive element and a resistor connected in series to the photoconductive element; and a switching circuit that applies a voltage to the corresponding photoconductive element and a resistor connected in series to the photoconductive element; 1. A photoelectric conversion device comprising means for temporally synthesizing voltages obtained by 2. The voltage generation circuit includes a memory circuit in which correction data for each photoconductive element is written, and a voltage output circuit that sequentially outputs a voltage for each photoconductive element based on the data sequentially read from the memory circuit. A photoelectric conversion device according to claim 1.
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