JPS6229219A - Sampling circuit for analog signal - Google Patents

Sampling circuit for analog signal

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JPS6229219A
JPS6229219A JP16726685A JP16726685A JPS6229219A JP S6229219 A JPS6229219 A JP S6229219A JP 16726685 A JP16726685 A JP 16726685A JP 16726685 A JP16726685 A JP 16726685A JP S6229219 A JPS6229219 A JP S6229219A
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JP
Japan
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frequency
sampling
filter
circuit
signal
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JP16726685A
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Japanese (ja)
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Minoru Takeda
稔 竹田
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Nippon Precision Circuits Inc
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Nippon Precision Circuits Inc
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Abstract

PURPOSE:To improve the group delay distortion in a low pass filter by providing an A/D conversion circuit applying sampling at a specific sampling frequency, a digital filter of specific linear phase and a thinning circuit. CONSTITUTION:The sampling frequency in the A/D conversion circuit 2 is set to a frequency 2fs, being n-time, e.g., twice of a sampling frequency fs desired to be obtained finally and its output is fed to a digital filter 3. The filter 3 has no group delay distortion, acts like a low pass filter function only and has a steep cut-off characteristic at fs/2 at a band of frequencies 0-fs. Thus, the output has a component below the frequency fs/2 and a foldoner component at + or -fs/2 of a frequency being an integral number of times of the frequency 2fs. The digital signal is fed to a thinning circuit 4 and switched by the frequency fs, then the signal is thinned by n-1=1 every n+2 and the foldoner component is given at locations being an integral number of multiple of the frequency fs. Thus, the group delay distortion is improved remarkably.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は音響信号等を標本化するアナログ信号の標本化
回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an analog signal sampling circuit for sampling acoustic signals and the like.

[従来の技術] 従来、コンパクトディスク等のディジタルオーディオに
おける音響信号の標本化に際しては、標本化に伴う折返
し歪みを発生させないために、標本化周波数fs(一般
には44.1KHz)の半分以下の遮断周波数を持つア
ナログ低域フィルタ6(第7図示)を通すことによりf
 s / 2以上の高周波数成分を除去している。そし
て同期信号発生回路8からの周波数fsの同期信号によ
って標本化周波数fsで標本化し、この標本値をA/D
変換回路7によってディジタル信号に変換している。
[Prior Art] Conventionally, when sampling audio signals in digital audio such as compact discs, in order to prevent aliasing distortion caused by sampling, a cutoff of less than half of the sampling frequency fs (generally 44.1 KHz) has been used. By passing through an analog low-pass filter 6 (shown in Figure 7) having a frequency f
High frequency components of s/2 or higher are removed. Then, it is sampled at the sampling frequency fs by the synchronization signal of frequency fs from the synchronization signal generation circuit 8, and this sample value is transferred to the A/D.
A conversion circuit 7 converts it into a digital signal.

第8図Aは入力端子pに供給される音響信号の周波数ス
ペクトルを示し、第8図Bはアナログ低域フィルタ6の
減衰特性を示し、第8図Cはアナログ低域フィルタ6の
出力信号の周波数スペクトルを示し、第8図りはA/D
変換回路7からのディジタル信号の周波数スペクトルを
示している。
8A shows the frequency spectrum of the acoustic signal supplied to the input terminal p, FIG. 8B shows the attenuation characteristic of the analog low-pass filter 6, and FIG. 8C shows the output signal of the analog low-pass filter 6. The frequency spectrum is shown, and the eighth diagram shows the A/D
The frequency spectrum of the digital signal from the conversion circuit 7 is shown.

C発明が解決しようとする問題点コ 一般に、入力されるアナログ信号の帯域は20KHz以
下として扱うため、標本化定理を満足するように標本化
周波数は44.1KHzあるいは48KHz等に設定し
ている。そのためアナログ低域フィルタの遮断周波数は
20KHz付近となり、しかも折返し雑音を完全に除去
するために急峻な減衰特性を有する高次のもの(例えば
、9次〜13次のアクティブフィルタなど)が要求され
る。
Problems to be Solved by the Invention C In general, the band of the input analog signal is treated as 20 KHz or less, so the sampling frequency is set to 44.1 KHz or 48 KHz so as to satisfy the sampling theorem. Therefore, the cutoff frequency of the analog low-pass filter is around 20 KHz, and in order to completely remove aliasing noise, a high-order filter with steep attenuation characteristics (for example, a 9th to 13th order active filter) is required. .

ところがこうした高次のアナログフィルタは、遮断周波
数付近の通過帯域の位相特性が非線形となり、いわゆる
群遅延歪みを生じる欠点がある。
However, such high-order analog filters have the disadvantage that the phase characteristics of the passband near the cutoff frequency are nonlinear, resulting in so-called group delay distortion.

すなわち、第10図のように急峻な減衰特性を有するア
ナログ低域フィルタではその遮断周波数f s / 2
付近において第9図のように群遅延時間が急激に大きく
なってしまう。この歪みによって、A/D変換後のディ
ジタル信号が歪みをもったまま記録媒体に記録されるこ
とになり、再生時にこの歪みもそのまま再生され、音質
低下の原因となるものであった。
That is, in the case of an analog low-pass filter having a steep attenuation characteristic as shown in FIG. 10, its cutoff frequency f s / 2
In the vicinity, the group delay time suddenly increases as shown in FIG. Due to this distortion, the digital signal after A/D conversion is recorded on the recording medium while being distorted, and this distortion is also reproduced as it is during playback, causing deterioration in sound quality.

本発明は低域フィルタにおける群遅延歪みを大幅に改善
することを目的とするものである。
The present invention aims to significantly improve group delay distortion in a low-pass filter.

[問題点を解決するための手段] 本発明は、標本化周波数fsのディジタル信号を得る標
本化回路において、上記標本化周波数fsのn(n;整
数)倍の標本化周波数n*fsで標本化を行うA/D変
換回路を用い、この出力信号を入力とし標本化周波数が
n−fsで遮断周波数がf s / 2以下の直線位相
ディジタルフィルタを設け、このディジタルフィルタの
出力データをn個ごとに(n−1)個間引く間引き回路
を設けたものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a sampling circuit that obtains a digital signal with a sampling frequency fs. Using an A/D conversion circuit that converts the output signal into an input signal, a linear phase digital filter with a sampling frequency of n-fs and a cutoff frequency of fs/2 or less is provided, and the output data of this digital filter is divided into n pieces. A decimation circuit is provided to decimate (n-1) numbers for each time.

[実施例〕 第1図において、1はアナログ低域フィルタで、その入
力端子pには第2図Aのような比較的広域の周波数スペ
クトルのアナログ信号が供給される。
[Embodiment] In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an analog low-pass filter, and its input terminal p is supplied with an analog signal having a relatively wide frequency spectrum as shown in FIG. 2A.

またアナログ低域フィルタ1の遮断周波数は標本化周波
数fs以下で、しかもその減衰特性は第2図Bのように
極めて緩やかなものを用いている。
Further, the cutoff frequency of the analog low-pass filter 1 is lower than the sampling frequency fs, and its attenuation characteristic is extremely gentle as shown in FIG. 2B.

この減衰特性が緩やかなために群遅延歪みを改善できる
ものであるが、このように減衰特性を緩やかにしつる理
由については以下の説明によって明らかになるであろう
Since this attenuation characteristic is gentle, group delay distortion can be improved, and the reason why the attenuation characteristic is made so gentle will become clear from the following explanation.

2は標本化周波数2fsのA/D変換回路、3は標本化
周波数が2fsで遮断周波数がf s / 2の低域の
直線位相ディジタルフィルタで、その減衰特性を第2図
Eに示す。4は間引き回路で、ディジタルフィルタ3か
らの出力データを一つおきに間引くものである。5は周
波数fsおよび2fSのクロックパルスを生じる同期信
号発生回路である。
2 is an A/D converter circuit with a sampling frequency of 2 fs, and 3 is a low-pass linear phase digital filter with a sampling frequency of 2 fs and a cutoff frequency of f s / 2, the attenuation characteristics of which are shown in FIG. 2E. Reference numeral 4 denotes a thinning circuit that thins out every other piece of output data from the digital filter 3. 5 is a synchronization signal generation circuit that generates clock pulses of frequencies fs and 2fS.

第3図にはディジタルフィルタ3および間引き回路4の
具体的な構成の一例を示しである。同図において、T−
Tは時間T(T−1/2fs)の遅延要素、a t −
a Nはフィルタ係数a、  (i −1〜N)との乗
算器、Aは加算器である。間引き回路4は周波数fsの
クロックパルスによって開閉されるスイッチSからなる
FIG. 3 shows an example of a specific configuration of the digital filter 3 and the thinning circuit 4. In the same figure, T-
T is a delay element of time T (T-1/2fs), a t −
a N is a multiplier with filter coefficient a, (i −1 to N), and A is an adder. The decimation circuit 4 consists of a switch S that is opened and closed by a clock pulse of frequency fs.

つぎに動作について説明する。本例では、A/D変換回
路2における標本化周波数を、最終的に得たい標本化周
波数fsの2倍の周波数2fsに設定してあり、この点
が本発明の特徴となるものである。すなわち、A/D変
換回路2への入力信号の帯域は、標本化定理によって周
波数fs以下に制限すればよいことがわかる。しかも、
最終的に残したいアナログ信号はfs/2以下であるの
で、アナログ低域フィルタ1の遮断特性としては第2図
Bに示すように周波数f s / 2とfsの間の広い
帯域において緩やかに減衰するものを用いることができ
、従来のように急峻な遮断特性が不要になる。したがっ
て、f s / 2付近での群遅延歪みを改善すること
ができるのである。
Next, the operation will be explained. In this example, the sampling frequency in the A/D conversion circuit 2 is set to a frequency 2fs, which is twice the sampling frequency fs that is desired to be finally obtained, and this point is a feature of the present invention. That is, it can be seen that the band of the input signal to the A/D conversion circuit 2 should be limited to the frequency fs or less based on the sampling theorem. Moreover,
Since the analog signal we ultimately want to retain is less than fs/2, the cutoff characteristic of analog low-pass filter 1 is to attenuate gently in a wide band between frequencies fs/2 and fs, as shown in Figure 2B. This eliminates the need for steep cutoff characteristics as in the past. Therefore, group delay distortion near f s /2 can be improved.

さて、A/D変換回路2からの出力は以下のようにして
標本化周波数fsのディジタル信号に変換される。まず
、アナログ低域フィルタ1から生じる出力の周波数スペ
クトルは第2図Cのようになり、A/D変換回路2から
の出力の周波数スペクトルは第2図りのように、周波数
2fsの整数倍のところで折返し成分を含む形となって
いる。
Now, the output from the A/D conversion circuit 2 is converted into a digital signal of sampling frequency fs as follows. First, the frequency spectrum of the output from the analog low-pass filter 1 is as shown in Figure 2C, and the frequency spectrum of the output from the A/D conversion circuit 2 is at an integer multiple of the frequency 2fs, as shown in Figure 2. It has a shape that includes folded components.

このA/D変換回路2からの周期1 / 2 f sの
ディジタル信号はディジタルフィルタ3に供給され、第
3図の構成によって、全てのディジタル信号が演算され
て、第2図Eの減衰特性にしたがってフィルタリングさ
れる。このディジタルフィルタ3は、直線位相の有限イ
ンパルス応答形のものであるため、全く群遅延歪みを持
たず、低域フィルタの機能のみを果たす。このディジタ
ルフィルタ3の特性は、第2図Eに示すように、周波数
0〜fsの帯域においてf s / 2で急峻な遮断特
性を有している。そのため、ディジタルフィルタ3の出
力には、第2図Fに示すように、周波数fs/2以下の
成分と周波数2fsの整数倍の周波数の前後f s /
 2に折返し成分を持つディジタル信号となる。
The digital signal with a period of 1/2 fs from this A/D conversion circuit 2 is supplied to the digital filter 3, and all the digital signals are calculated by the configuration shown in FIG. Therefore, it is filtered. Since this digital filter 3 is of a linear phase finite impulse response type, it has no group delay distortion at all and only functions as a low-pass filter. As shown in FIG. 2E, the digital filter 3 has a sharp cutoff characteristic at fs/2 in the frequency band from 0 to fs. Therefore, as shown in FIG. 2F, the output of the digital filter 3 contains components with frequencies below fs/2 and frequencies fs/2 before and after frequencies that are integral multiples of the frequency 2fs.
It becomes a digital signal with a aliasing component at 2.

このディジタル信号は間引き回路4に供給され、間引き
回路4は第3図に示すように周波数fsでスイッチング
されるため、その出力からは上記ディジタル信号が一つ
おきに間引かれて、周波数fsのディジタル信号が発生
する。つまり、最終的に所望する周波数fsでサンプリ
ングされたディジタル信号が得られるのである。このデ
ィジタル信号の周波数スペクトルを示したのが第2図G
である。これかられかるように、このディジタル信号に
は、周波数fsの整数倍の位置に折返し成分を有する形
になっており、このことは、折返し歪みを持たないで周
波1ifsで標本化されたことを示している。
This digital signal is supplied to the decimation circuit 4, and since the decimation circuit 4 is switched at the frequency fs as shown in FIG. A digital signal is generated. In other words, a digital signal sampled at the desired frequency fs is finally obtained. Figure 2G shows the frequency spectrum of this digital signal.
It is. As we will see, this digital signal has aliasing components at integral multiples of the frequency fs, which indicates that it was sampled at a frequency of 1ifs without aliasing distortion. ing.

以上のように、低域フィルタとして遮断特性が緩慢なも
のを用いることができるため、群遅延歪みを大幅に改善
できるものである。すなわち、従来の第10図のような
急峻な遮断特性のものに代えて第6図のように緩かな遮
断特性のものを用いることができ、これによって第5図
のように群遅延特性が周波数f s / 2以下で平坦
になり、群遅延歪みが改善されるのである。
As described above, since a low-pass filter having a slow cutoff characteristic can be used, group delay distortion can be significantly improved. In other words, instead of the conventional one with a steep cutoff characteristic as shown in FIG. 10, one with a gentle cutoff characteristic as shown in FIG. It becomes flat at f s / 2 or less, and group delay distortion is improved.

なお上記の実施例においては、A/D変換回路からの周
波数2fsのディジタル信号をディジタルフィルタにお
いて全て演算した後、一つおきに間引くようにしたが、
実際には、間引かれるディジタル信号については演算す
る必要はない。そこで、間引き動作と演算とを同時に行
い、無駄な演算動作を省略した例を示したのが第4図で
ある。
In the above embodiment, after all the digital signals with a frequency of 2 fs from the A/D conversion circuit are calculated in the digital filter, they are thinned out every other signal.
Actually, there is no need to perform calculations on the digital signals to be thinned out. Therefore, FIG. 4 shows an example in which the thinning operation and calculation are performed simultaneously, and unnecessary calculation operations are omitted.

同図においては、ディジタルフィルタ内にスイッチング
回路S−8を有し、これが時間1 / 2 f sごと
に開閉される。したがって各遅延要素Tのディジタル信
号は時間1/fsごとに乗算され1、その加算結果が出
力されることになる。この加算結果としては、先の実施
例における間引き回路の出力と同じものが得られる。
In the figure, the digital filter has a switching circuit S-8, which is opened and closed every 1/2 fs. Therefore, the digital signal of each delay element T is multiplied by 1 every time 1/fs, and the addition result is output. The result of this addition is the same as the output of the thinning circuit in the previous embodiment.

この例においては、乗算回数が先の例の半分ですむもの
である。
In this example, the number of multiplications is half that of the previous example.

なお」二足の各実施例では、A/D変換回路およびディ
ジタルフィルタにおける標本化周波数を、最終的に必要
とする標本化周波数の2倍に設定したが、これは2倍以
上の整数倍であれば、何倍に設定してもよい。n倍に設
定した場合は、ディジタルフィルタからのディジタル信
号をn個ごとに(n −1)個間引くものである。
Note that in each of the two examples, the sampling frequency in the A/D conversion circuit and digital filter was set to twice the final required sampling frequency, but this is an integer multiple of twice or more. If so, you can set it to any number of times. When set to n times, the digital signals from the digital filter are thinned out every n (n-1).

[発明の効果] 本発明によれば、A/D変換回路前段のアナログ低域フ
ィルタに急峻な遮断特性が要求されないため、緩慢な遮
断特性のものを使用でき、群遅延歪みを大幅に改善する
ことができる。しかも上記アナログ低域フィルタの次数
を低減できるため、例えばアクティブフィルタではオペ
アンプの段数をすくなくできるため、構成的に簡素化す
ることができる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, since the analog low-pass filter before the A/D conversion circuit is not required to have a steep cutoff characteristic, it is possible to use one with a slow cutoff characteristic, and the group delay distortion is significantly improved. be able to. Furthermore, since the order of the analog low-pass filter can be reduced, for example, in an active filter, the number of stages of operational amplifiers can be reduced, so that the configuration can be simplified.

さらに、最終的に決まる帯域制限特性は、ディジタルフ
ィルタに依っているため、素子の温度特性、経年変化等
による特性変化を生じない。
Furthermore, since the finally determined band-limiting characteristics depend on the digital filter, the characteristics do not change due to the temperature characteristics of the element, aging, etc.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示したブロック図、第2図
は第1図各部の特性および周波数スペクトルを示した説
明図、第3図は第1図要部の具体例を示した回路図、第
4図は他の例の要部を示した回路図、第5図は本発明に
よる群遅延特性を示した特性図、第6図は本発明による
アナログ低域フィルタの遮断特性の一例を示した特性図
、第7図は従来構成の一例を示したブロック図、第8図
は第7図の各部における特性および周波数スペクトルを
示した説明図、第9図は従来構成における群遅延特性を
示した特性図、第10図は従来のアナログ低域フィルタ
の遮断特性を示した特性図である。 1・・・アナログ低域フィルタ 2・・・A/D変換回路 3・・・ディジタルフィルタ 4・・・間引き回路 T−T・・・遅延要素 a1〜aN・・・乗算器 A・・・加算器 S・・・スイッチング回路 第1図 Φ 第3FI!J 第2図 fs/2    fs     t5fs    2f
s    2.5fsずs/2fs1.5fs2fs2
.5fsfs/2     fs     1.5fs
    2fs    2.5fs第4図 第7図
Figure 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, Figure 2 is an explanatory diagram showing the characteristics and frequency spectrum of each part in Figure 1, and Figure 3 is a specific example of the main parts in Figure 1. 4 is a circuit diagram showing the main parts of another example, FIG. 5 is a characteristic diagram showing the group delay characteristics according to the present invention, and FIG. 6 is a diagram showing the cutoff characteristics of the analog low-pass filter according to the present invention. A characteristic diagram showing an example, Fig. 7 is a block diagram showing an example of a conventional configuration, Fig. 8 is an explanatory diagram showing the characteristics and frequency spectrum of each part of Fig. 7, and Fig. 9 is a group delay in the conventional configuration. FIG. 10 is a characteristic diagram showing the cutoff characteristics of a conventional analog low-pass filter. 1... Analog low-pass filter 2... A/D conversion circuit 3... Digital filter 4... Thinning circuit T-T... Delay elements a1 to aN... Multiplier A... Addition Device S...Switching circuit Figure 1 Φ 3rd FI! J Fig. 2 fs/2 fs t5fs 2f
s 2.5fszus/2fs1.5fs2fs2
.. 5fsfs/2 fs 1.5fs
2fs 2.5fs Fig. 4 Fig. 7

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] アナログ信号を標本化周波数fsのディジタル信号に標
本化する標本化回路において、遮断周波数が標本化周波
数fs以下のアナログ低域フィルタと、このアナログ低
域フィルタの出力信号を入力とする標本化周波数n・f
s(n;整数)のA/D変換回路と、このA/D変換回
路の出力信号を入力とし標本化周波数がn・fsでかつ
遮断周波数がfs/2以下の低域通過の直線位相ディジ
タルフィルタと、このディジタルフィルタの出力データ
をn個ごとに(n−1)個間引く間引き回路とからなる
アナログ信号の標本化回路。
In a sampling circuit that samples an analog signal into a digital signal with a sampling frequency fs, there is an analog low-pass filter whose cut-off frequency is less than or equal to the sampling frequency fs, and a sampling frequency n that receives the output signal of this analog low-pass filter as an input.・f
s (n; integer) and a low-pass linear phase digital signal that uses the output signal of this A/D conversion circuit as input and has a sampling frequency of n fs and a cutoff frequency of fs/2 or less. An analog signal sampling circuit comprising a filter and a thinning circuit that thins out (n-1) output data of the digital filter every n pieces.
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