JPS62290616A - Wafer conveying mechanism - Google Patents

Wafer conveying mechanism

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JPS62290616A
JPS62290616A JP13151786A JP13151786A JPS62290616A JP S62290616 A JPS62290616 A JP S62290616A JP 13151786 A JP13151786 A JP 13151786A JP 13151786 A JP13151786 A JP 13151786A JP S62290616 A JPS62290616 A JP S62290616A
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Japan
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wafer
arm
carrier
carriers
chuck
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Taketoshi Itoyama
糸山 武敏
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

PURPOSE:To perform high speed conveyance with a simple device, by installing a carrier lock mechanism being rotated so as to cause each carrier to be opposed right to a conveying device, before conveying a wafer from plural carriers housing the wafer. CONSTITUTION:A wafer conveying mechanism 1 being set up adjacently to a wafer prober body 2 consists of both wafer carriers 3a and 3b, a pincette arm assembly 4 as a wafer conveying device and a handling arm 5. These carriers 3a and 3b are made up of mount blocks 6a and 6b having a hole 7 each, and they are moved up and down while rotated with shafts 31a and 31b as the center. The pincette arm assembly 4 mounts an arm 8 and a subchuck 9 and rotated with a shaft 41 as the center. A fact that the arm 8 is opposed right to these carries 3a and 3b is detected by a light emitting element 10, the hole 7 and a light receiving element 12, and the arm 8 goes forward and takes the wafer out or put back the wafer inspected by the prober 2. With this constitution, high speed processing takes place with a simple device.

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 [発明の技術分野] 本発明は例えば半導体ウェハのブローバにウェハを搬送
することが可能なウェハ搬送機構に係り、特にベルトを
使わずピンセットアームを用いた装置に適用して可能な
ウェハ搬送機構に関する。
Detailed Description of the Invention 3. Detailed Description of the Invention [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a wafer transport mechanism capable of transporting a wafer to a blower for a semiconductor wafer, for example, and particularly relates to a wafer transport mechanism capable of transporting a wafer to a blower for semiconductor wafers, and in particular, a wafer transport mechanism that can transport a wafer to a blower for semiconductor wafers, and in particular, a wafer transport mechanism that can transport a wafer to a blower of a semiconductor wafer. The present invention relates to a wafer transport mechanism that can be applied to an apparatus using a wafer transport mechanism.

[発明の技術的背景コ ウェハ上に作り込まれた半導体集積回路(LSI)の各
電気特性をテス1−するためのブローバは、LS[の生
産駄の増加と微細化によりマニュアル方式からセミオー
ト、更にフルオート方式へと発展、改良されてきた。そ
れに伴ないウェハを収納力セントから取り出しブロービ
ングエリアまで搬送、セットするウェハ搬送装置も自動
化が進んでいる。
[Technical Background of the Invention] Due to the increase in production volume and miniaturization of LS, blowbars for testing the electrical characteristics of semiconductor integrated circuits (LSI) fabricated on cowafers have changed from manual to semi-automatic to semi-automatic and even further. It has been developed and improved to a fully automatic system. Along with this, wafer transport equipment that takes wafers from the storage capacity center, transports them to the blobbing area, and sets them is also becoming increasingly automated.

このような自動ウェハ搬送装置として、一般に第3図に
示すようなベルト&エア搬送方式のオートローダが停及
している。すなわち、第3図においてウェハ101はエ
レベータ部に設置した供給カセット102より1枚ごと
取り出され、搬送ベルト103によりプリフライメント
ステージ104まで送られる。ここでメカニカルなコー
スアライメントが行われる。続いてベルヌーイチャック
105により吸着ステージに運ばれバキュームチャック
される。ブロービング終了後のウェハは再びベルヌーイ
チャック105によりアンロードポジション106まで
運ばれ搬送ベルト103上に置かれ、搬送ベル[・によ
り収納カセットに収納される。
As such an automatic wafer transport device, a belt and air transport type autoloader as shown in FIG. 3 is generally used. That is, in FIG. 3, wafers 101 are taken out one by one from a supply cassette 102 installed in an elevator section, and sent to a pre-flight stage 104 by a conveyor belt 103. Mechanical course alignment is performed here. Subsequently, it is transported to a suction stage by a Bernoulli chuck 105 and vacuum chucked. The wafer after the blowing is carried by the Bernoulli chuck 105 again to the unloading position 106, placed on the conveyor belt 103, and stored in a storage cassette by the conveyor bell [.

このような搬送ベルト103を用いたローダに対し、更
に無塵化を実現するものとしてカセットからブリフライ
メントステージ(サブチャック)までの搬送をベルトを
用いずピンセットアームを用いたものが開発されている
。このようなウェハ搬送機構においては、ウェハ供給カ
セットからビンセットアームでウェハを取り出し、サブ
チャック上にセットし、測定後、サブチャック上に置か
れたウェハを再びピンセットアームで保持し1元の供給
カセットのスロットへ収納するようになっており、ウェ
ハ供給部には通常複数個(3〜4)のカセットがセット
可能になっている。従って。
In contrast to the loader that uses such a conveyor belt 103, a loader that uses a tweezers arm to convey the load from the cassette to the brining stage (sub-chuck) without using a belt has been developed to further reduce dust. There is. In such a wafer transfer mechanism, a wafer is taken out from a wafer supply cassette by a pin set arm, set on a sub-chuck, and after measurement, the wafer placed on the sub-chuck is held again by a tweezers arm, and the wafer is fed once again. It is designed to be stored in a slot of a cassette, and usually a plurality of cassettes (3 to 4) can be set in the wafer supply section. Therefore.

ピンセットアームを塔載したピンセットアームベースを
複数個並んだカセットに沿って平行移動させる必要があ
り、装置が大型化し、駆動機構も複雑化し、高価格にな
らざるを得なかった。
It is necessary to move the tweezers arm base on which the tweezers arms are mounted parallel to the cassettes, which increases the size of the device, complicates the drive mechanism, and increases the price.

[発明の目的コ 本発明はこのような従来のウェハ搬送機構の難点に鑑み
なされたもので、2個以上のウェハ供給部を備えたウェ
ハ搬送機構において、ウェハ搬送手段を平行移動するこ
となくウェハの取り出しが可能なコンパクトで低価格の
ウェハ搬送機構を提供せんとするものである。
[Object of the Invention] The present invention has been made in view of the drawbacks of the conventional wafer transport mechanism, and is capable of handling wafers without parallelly moving the wafer transport means in a wafer transport mechanism equipped with two or more wafer supply units. The purpose of the present invention is to provide a compact and low-cost wafer transport mechanism that can take out wafers.

[発明の概要] このような目的を達成するために本発明のウェハ搬送機
構は、移送されたウェハを収納する2個以上のウェハキ
ャリアと、該ウェハキャリアに収納された前記ウェハを
取り出し移送する搬送手段と、該搬送手段による前記ウ
ェハの取出し前に前記ウェハキャリアの各々を前記搬送
手段に対向するよう回転し設置するキャリアロック機構
とを具備することを特徴とする。
[Summary of the Invention] In order to achieve such an object, the wafer transfer mechanism of the present invention includes two or more wafer carriers for storing transferred wafers, and for taking out and transferring the wafers stored in the wafer carriers. The present invention is characterized by comprising a transport means and a carrier lock mechanism that rotates and places each of the wafer carriers so as to face the transport means before the wafer is taken out by the transport means.

[発明の実施例] 以下1本発明の装置を半4体ウェハのプローバにおける
ウェハ搬送部に適用した好ましい実施例を図面を参照し
て説明する。
[Embodiments of the Invention] Hereinafter, a preferred embodiment in which the apparatus of the present invention is applied to a wafer transport section in a prober for semi-quadram wafers will be described with reference to the drawings.

半導体ウェハのプローバは当業者においては周知である
から、その詳細を略す。このプローバはウェハキャリア
に複数のウェハが収納された状態でキャリア収納部に搬
入さ九、このキャリア収納部から搬送手段によりウェハ
を一枚ずつ取り出してブローバの測定位置に搬送し、再
び測定済ウェハを戻す構成である。
Since semiconductor wafer probers are well known to those skilled in the art, their details will be omitted. This prober is carried into the carrier storage section with a plurality of wafers stored in the wafer carrier.The wafers are taken out one by one from the carrier storage section by a transport means and transported to the measurement position of the blower, and the measured wafers are returned to the carrier storage section. This is a configuration that returns .

第1図に示すウェハ搬送機構lは、ウェハブローバ本体
2に隣接して設置されるもので、キャリア収納部3とウ
ェハ搬送手段としてのビンセントアームアッセンブリ4
及びハントリンクアーム5から成る。キャリア収納部3
は、ウェハを収納するウェハキャリア3a、3bとキャ
リア載置台6a、6b(第2図)から成り、UP/DO
WN機構で移動する。又、ウェハキャリア3a、3bを
載置台6a、6bにセットする時、図示しないモータに
よってキャリアロック機構が働くと、キャリア3a、3
bの正面30a及び30bがビンセットアームアッセン
ブリ4の中心軸41を向くように回転する。キャリア載
置台6a、6bには後述の発光素子の光を通過させる孔
7がそれぞれ設けられている。
The wafer transfer mechanism l shown in FIG. 1 is installed adjacent to the wafer blobber main body 2, and includes a carrier storage section 3 and a Vincent arm assembly 4 as a wafer transfer means.
and a hunt link arm 5. Carrier storage section 3
consists of wafer carriers 3a, 3b for storing wafers and carrier mounting tables 6a, 6b (Fig. 2).
Moves using WN mechanism. Further, when the wafer carriers 3a, 3b are set on the mounting tables 6a, 6b, if the carrier lock mechanism is activated by a motor (not shown), the carriers 3a, 3b are set on the mounting tables 6a, 6b.
The front faces 30a and 30b of the pin set arm assembly 4 are rotated so that they face the central axis 41 of the bin set arm assembly 4. The carrier mounting tables 6a and 6b are each provided with a hole 7 through which light from a light emitting element, which will be described later, passes.

ビンセットアームアッセンブリ4はビンセットアーム8
及びサブチャック9を塔載し、且つビンセットアーム8
とサブチャック9の駆動機構を内蔵しており、中心軸4
1を回転軸として回転し。
Binset arm assembly 4 is Binset arm 8
and a sub-chuck 9, and a bin set arm 8
It has a built-in drive mechanism for the sub-chuck 9 and the central axis 4.
Rotate using 1 as the rotation axis.

キャリア3a及び3bの各中心31a、31bを向(こ
とができる。ビンセットアームアッセンブリ4には発光
ダイオードなどの発光素子10が設けられ、装置フレー
ム11のビンセットアームアッセンブリ4の中心軸41
とキャリア3aの中心軸31aを結ぶ直線との交点Aと
、中心軸41とキャリア3bの中心軸31bを結ぶ直線
との交点Bにはそれぞれ受光素子12が設けられており
、前述のキャリア載置台6a、6bの孔7と共に、セン
サ一手段を構成する。すなわちキャリア3aがロック機
構によりビンセットアームアッセンブリ4の中心軸41
に向けて回転した状態でビンセットアームアッセンブリ
4がキャリア3aの中心軸31aに向くように回転する
と、発光素子10からの光はキャリア載置台6aの孔7
を通してフレーム11の受光素子12に達し、キャリア
3a及びビンセットアームアッセンブリ4が対面したこ
とを検知する。又、この受発光素子10.12はキャリ
ア3a内各スロツト32のウェハをセンスする時にも用
いられる。キャリア3bに関しても同様である。 ピン
セットアーム8は中心軸41と直交する方向に前後に移
動し、キャリア3a又はキャリア3b内のウェハを取り
出し、サブチャック9上に搬送すると共に、サブチャッ
ク79上の測定済ウェハを元のキャリア3a又は3b内
に収納する。サブチャック9はピンセットアームアッセ
ンブリ4の中心軸41上に設置され、ウェハを一時吸着
保持すると共にプリアライン/センター出しを行う。
The centers 31a and 31b of the carriers 3a and 3b can be aligned with each other.The bin set arm assembly 4 is provided with a light emitting element 10 such as a light emitting diode,
A light-receiving element 12 is provided at each of the intersection point A of the straight line connecting the central axis 31a of the carrier 3a and the intersection B of the straight line connecting the central axis 41 and the central axis 31b of the carrier 3b. Together with the holes 7 of 6a and 6b, they constitute one sensor means. In other words, the carrier 3a is secured to the center shaft 41 of the bin set arm assembly 4 by the locking mechanism.
When the bin set arm assembly 4 rotates toward the central axis 31a of the carrier 3a, the light from the light emitting element 10 passes through the hole 7 of the carrier mounting table 6a.
It reaches the light receiving element 12 of the frame 11 through the frame 11, and detects that the carrier 3a and the bin set arm assembly 4 are facing each other. The light receiving and emitting elements 10.12 are also used when sensing the wafers in each slot 32 in the carrier 3a. The same applies to the carrier 3b. The tweezers arm 8 moves back and forth in a direction perpendicular to the central axis 41, picks up the wafer in the carrier 3a or carrier 3b, transfers it onto the sub-chuck 9, and transfers the measured wafer on the sub-chuck 79 back to the original carrier 3a. Or store it in 3b. The sub-chuck 9 is installed on the central axis 41 of the tweezers arm assembly 4, and temporarily holds the wafer by suction and performs pre-alignment/centering.

ハンドリングアーム5は軸51を中心に回転し。The handling arm 5 rotates around an axis 51.

そのアーム部52によってウェハを吸着保持しサブチャ
ック9上からブローバ本体1のチャックトップ13に移
送し、且つ測定済ウェハをチャックトップ13からサブ
チャック9上に移送する。
The wafer is suction-held by the arm portion 52 and transferred from above the sub-chuck 9 to the chuck top 13 of the blower main body 1, and the measured wafer is transferred from the chuck top 13 onto the sub-chuck 9.

ハンドリングアーム5は、ウェハのアンロードからロー
ドまでのタイムラグを少なくするため2個設けることが
望ましい。
It is desirable to provide two handling arms 5 in order to reduce the time lag from unloading to loading of the wafer.

次に本実施例のウェハ搬送機構の動作について説明する
Next, the operation of the wafer transport mechanism of this embodiment will be explained.

まずオペレータはキャリア3a、3bを平行(図中、端
線で示す位置)にセットする。キャリア3a、3bは自
動的に搬入されてもよい。次いでキャリアロック機構に
よりキャリア載置台6a、6bを共に回転させ、キャリ
ア3a、3bの正面30a、30bをピンセットアーム
アッセンブリ4に向けて移動させる(図中、実線で示す
位置)。
First, the operator sets the carriers 3a and 3b in parallel (positions indicated by end lines in the figure). The carriers 3a, 3b may be automatically loaded. Next, the carrier mounting tables 6a and 6b are rotated together by the carrier lock mechanism, and the front surfaces 30a and 30b of the carriers 3a and 3b are moved toward the tweezers arm assembly 4 (positions shown by solid lines in the figure).

すなわちピンセットアーム8の回転軸41に対してほぼ
同一円周上に位置する方向にキャリア3a。
That is, the carrier 3a is positioned in a direction substantially on the same circumference with respect to the rotation axis 41 of the tweezers arm 8.

3bを回転させる。次にピンセットアームアッセンブリ
4をキャリア3aと対面するように回転させる。この際
1発光素子10の光がキャリア載置台6aの孔7を通過
しフレーム11の受光素? 12に達することにより、
アッセンブリ4とキャリア3aの正常/不良回転がチェ
ックさ九る。次いでキャリア3aのup/DOWN機構
によりキャリア3aを上下方向に移動し、スロット32
内のウェハを受発光素子10.12で検知した後、ピン
セットアーム4をキャリア3a側に移動しピンセットア
ーム4でウェハを保持する。ウェハを保持した状態でピ
ンセットアーム4を後方(キャリア3aと反対の方向)
に移動し、ウェハをサブチャック9上に載置させる。サ
ブチャック9上でウェハのブリアライン/センター出し
を行った後、ハンドリングアーム5によりウェハをチャ
ックトップ13に移送する。チャックトップ13に移送
さ」tたウェハはファインアライメント後、プロービン
グされる。ブロービング後のウェハを再びハンドリング
アーム5に保持し、サブチャック9上に移送し、ピンセ
ットアーム4で元のキャリア3aのスロット32内に戻
す。
Rotate 3b. Next, the tweezers arm assembly 4 is rotated so as to face the carrier 3a. At this time, the light from one light emitting element 10 passes through the hole 7 of the carrier mounting table 6a and passes through the light receiving element of the frame 11. By reaching 12,
Normal/incorrect rotation of the assembly 4 and carrier 3a is checked. Next, the carrier 3a is moved up and down by the up/down mechanism of the carrier 3a, and the slot 32
After the wafer inside is detected by the light receiving/emitting element 10.12, the tweezers arm 4 is moved to the carrier 3a side, and the wafer is held by the tweezers arm 4. While holding the wafer, move the tweezers arm 4 backwards (in the opposite direction to the carrier 3a).
, and place the wafer on the sub-chuck 9. After clear aligning/centering the wafer on the sub chuck 9, the wafer is transferred to the chuck top 13 by the handling arm 5. The wafer transferred to the chuck top 13 is probed after fine alignment. The wafer after blowing is held again by the handling arm 5, transferred onto the sub-chuck 9, and returned to the original slot 32 of the carrier 3a using the tweezers arm 4.

以上の実施例からも明らかなようにこのウェハ搬送@構
は、複数のウェハ供給部とプローバ本体との間に、ピン
セットアーム及びサブチャックを塔載したアッセンブリ
を配設し、ウェハ供給部とピンセットアームが向き合う
ように各ウェハ供給部及びアッセンブリを回転可能にす
ることにより、ピンセラ1〜アームベース(アッセンブ
リ)を平行移動することなく複数のウェハ供給部からの
ウェハの取り出しができJA置をコンパクト且つ低価格
にすることができる。しかも、サブチャック上でウェハ
ー径に関係なくプリアライメントを自在に行うことがで
き各種ウェハに対応できる。
As is clear from the above embodiments, this wafer transfer @ structure includes an assembly mounting a tweezers arm and a sub-chuck between a plurality of wafer supply units and the prober body, and the wafer supply unit and the tweezers By making each wafer supply section and assembly rotatable so that the arms face each other, wafers can be taken out from multiple wafer supply sections without parallel movement of the pincer 1 to the arm base (assembly), making the JA equipment compact and compact. The price can be lowered. Furthermore, pre-alignment can be freely performed on the sub-chuck regardless of the wafer diameter, making it possible to handle various wafers.

[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、ウェハの取出し前
にウェハの収納されたキャリアを搬送手段に向けて回転
させるので、搬送手段の回転運動によって複数のキャリ
アからウェハを取出すことができる高速搬送が可能であ
る。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, the carrier containing the wafer is rotated toward the transport means before taking out the wafer, so that the wafer can be taken out from a plurality of carriers by the rotational movement of the transport means. High-speed conveyance is possible.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図および第2図は本発明のウェハ搬送機構の概略を
示す図、第3図は従来のウェハ搬送機構を示す図である
。 1・・・・・・・ウェハ搬送機構 2・・・・・・・プローバ本体 3a、3b・・・・・・・・・キャリア31a、31h
・・・・・中心ね 4・・・・・・・ピンセットアームアッセンブリ(搬送
手段〉 41・・・・・中心軸 5・・・・・・・ハンドリングアーム 6a、6b・・・キャリア載置台 7・・・・・・・孔 8・・・・・・・ピンセットアーム(搬送手段)9・・
・・・・・サブチャック 10・・・・・発光素子 11・・・・・フレーム 12・・・・・受光素子 13・・・・・チャックトップ 代理人 弁理士  守 谷 −雄 第1図 第2図
1 and 2 are diagrams schematically showing a wafer transport mechanism of the present invention, and FIG. 3 is a diagram showing a conventional wafer transport mechanism. 1...Wafer transport mechanism 2...Prober main body 3a, 3b...Carrier 31a, 31h
... Center shaft 4 ... Tweezers arm assembly (transport means) 41 ... Center shaft 5 ... Handling arms 6a, 6b ... Carrier mounting table 7 ...... Hole 8 ... Tweezers arm (transport means) 9 ...
...Sub chuck 10...Light emitting element 11...Frame 12...Light receiving element 13...Chuck top agent Patent attorney Mr. Moritani Figure 1 Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 移送されたウェハを収納する2個以上のウェハキャリア
と、該ウェハキャリアに収納された前記ウェハを取り出
し移送する搬送手段と、該搬送手段による前記ウェハの
取出し前に前記ウェハキャリアの各々を前記搬送手段に
対向するよう回転し設置するキャリアロック機構とを具
備することを特徴とするウェハ搬送機構。
two or more wafer carriers for storing the transferred wafers, a transport means for taking out and transporting the wafers stored in the wafer carriers, and transporting each of the wafer carriers before taking out the wafers by the transport means. A wafer transport mechanism characterized by comprising a carrier lock mechanism that rotates and is installed to face the means.
JP13151786A 1986-06-05 1986-06-05 Wafer conveying mechanism Granted JPS62290616A (en)

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