JPS6228938A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、記録媒体からの反射光を受光し゛Ｃ電気信
号に変換する光検知手段と上記電気信号を増幅する増幅
手段とを備えた光ピックアップ装置−ｔこ関するもので
ある。

〔従来の技術〕

第２図番、１例えシ」゛［図解コンパクトディスク読本
］（オーム社発行Ｐ　Ｉ　３７　）に示された従来の光
ピックアップ装置の要部を示す回路図である。但し、光
学系装置等Ｌｅｔ図示を省略している。

図において、】は図示し７ない種々の光学系装置やその
り１物ｌ／ンズを−に下左右に駆動するアクチュエータ
や十記光学系装置を介して記録媒体としての光ディスク
乙３二照射する光ビームを出射するレザーダイオ−１等
から成る光ピックアップ、２はこの先ピックアップ１に
着脱自在に取付けられた光検知手段としての４分割光検
知器である。３はこの４分割光検知器２により電流に変
換された情報信号を増幅する増幅手段としてのプリアン
プ部であり、１１．１４は電流を電圧に変換する電ｌＡ
ｉ電圧変換アンプ、Ｒ，、Ｉに４はその出力型Ｈレヘル
を決定する抵抗、２１は前記電流電圧変換アンプ１１．
１４の出力を加！増幅し、（Ａ　−Ｌ　Ｉｉ　＋　Ｃ＋
Ｄ）の光検知器の和、つまりディスクに記録された情を
口信号ＶＨＦを（するＩＩＦ信号アンプ、Ｒ＋＋。

Ｒ＋　４．Ｒ１ｓ、Ｒ＋　５はこのＩＩＦ信号アンプ２
１の利１すを設定する抵抗、２２は同しく前記電流電圧
変換アンプ１１．１４の出力を城１１！！幅し、（Ａ＋
Ｃ）−（Ｂ−Ｉ　Ｄ）の女ｊ角線児検知器の差、ツマ幻
フォーカスエラー信月Ｖｒ＋を得るＦ　Ｉｃアンプ・Ｒ
２＋、Ｒ２４，Ｒ２５１ＲｌａばこのＦＥアンプ２２の
利得を設定する抵抗である。なお、５は光ピックアップ
１がら接続端子７ｏを介してプリアンプ部３へ電気信号
を伝送するだめの接続線であり、耐ノイズ性のある伝送
線を使用し、Ｈつ線りは物理的に可能ながぎり、短がく
しである。

第３図は光ピックアップの試験回路で、上記第２図と同
一部分または相当部分は同−符司ご示す。

４は光ピックアップ試験用治具、（１］、ａ）。

（１２ａ）、　　（１３ａ）、　　（１４ａ）は４分割
光検知器２のＡ、Ｂ、Ｃ，Ｄ各部の発生電流を電圧変換
し、Ｖｌａ、、Ｖｎ、Ｖｃ、Ｖｎの出力電圧を得る光ピ
ックアップ試験用電流電圧変換アンプである。Ｒｌａ、
Ｒｌａ、　　Ｒ３ａ、Ｒ４ａはその出力電圧【ノベルを
決定する抵抗である。

第４図はディスク七対物レンズの距離による４分割光検
知器２と光ビーム６ｏの関係、フォーカスエラー信号Ｖ
ＦＥの関係を示したもので、第４図（ａ）はディスク５
ｏの面振れ等によるディスク５０と対物レンズ５１の位
置関係を示し、対物レンズ５１が、ディスク５ｏに近づ
いた場合を（伺、遠ざかった場合を（ハ）７合焦点の場
合を（ロ）で示した。同図（ｂ）はディスクと対物レン
ズの距離とフォーカスエラー信号ＶＦＥの関係を示し、
同図＜ａ）の位置と相関をもたせである。同図（Ｃ）は
シリンドリカルレンズ（図示せず）を通して４分割光検
知器２に入射する光ビーム６０を示す。図の（伺、（ロ
）、（ハ）は同図（ａ）の（イ）、（ロ）、（ハ）の位
置とり１応している。

第５図は、光ピックアップの試験調整時、入射する光ヒ
ーノ、６０と４分割光検知器２の調整過程を示す図であ
る。

次に動作について説明するが光学系装置等は図示してい
ないため省略する。第２図において、光ピックアップＴ
の４分割光検知器２に照射された光ビーム面積に応して
、各光検知器に微小電流が発生する。この発Ｊ＝電流は
伝送線５を介してプリアンプ部３に流入し、電流電圧変
換アンプ１１゜１４にて電圧に変換され、更に、これら
を加算増幅するＩ（Ｆ信号アンプ２１にて適当なレヘル
に増幅され、ＨＦ情報信号ＶＨＦを得る。また、これら
を減算増幅するＦＥアンプ２２にて適当なレヘルに増幅
され、ツメ−カスエラー信号ＶＦＥを得る。ここでは、
従来光ピックアップ１とプリアンプ部３が分離している
ため、伝送線５が必要となる。この伝送線５を通過する
情報信号電流は極めて小レベルであり、高周波数帯域で
ある。例えば、ご１ンパイノトデイスクプレーヤーの場
合は数μＡのｎ　Ｃ〜１２０ＫＩＩｚである。従って、
伝送線５は次のことに配慮するゼ・要がある。ずなわら
、線長を短かくし、配線インピーダンスの影響を受けな
いよらにす２．。例えば、光ピックアップ１収納アクチ
ユエータ駆動用電線との分離、大電流用や信号用グラン
１−ラインとの分ａ１（、装置内の高周波発振部からの
分離、そして配線材料にシールド線を使用し、耐ノイズ
性を強化すイ、などの配慮が必要である。反面、光ピッ
クアップ１の試験調整時においでは、光ピックアップ１
とプリアンプ部３とを電気的に完全に分離するごとが必
要であるため、このような構成は光ピックアップの試験
に適している。

次に、光ピックアップ１の試験調整について説明する。

試験調整し、１第２図に示すプリアンプ部３と間等の高
出力レヘルと精度が要求されるため、光ピックアップ試
験用治具４が必要であり、第３図の回路で実施される。

光ピックアップ試験用治具４にはＡ、　　Ｂ、Ｃ，ｒ）
各部の発生電流を電圧に変換する電流電圧変換アンプ（
１１ａ）。

（＋２ａ）、　　（＋３ａ＞、　　（］Ｊａ）を収納し
ている。試験調整はこれらの出力電圧■△、ＶＢ。

Ｖｃ、Ｖｎの有無、あるし壮１これらを加算’ｔｔｌＷ
Ｉ。

て実施する。先ず、図示しない位置可変可能な治具ｔ、
二装着された４分割光検知器２を光ピックアップ１に適
当に配置する。この時点では、４分割光検知器２に照射
ずべき光ヒース６０は４分割光検知器２から相当スして
いると考えられる。光ビームを４分割光検知器２に照射
するため、４分割光検知器２の位置を試験用電流電圧変
換アンプ（ｌｌａ）〜（１４ａ）の出力を観測しながら
可動し・■＾、ＶＢ、Ｖｃ、Ｖｏ出力の有無を検出する
。第５図（ａ）がこの状態を示し、光ビーム６０は楕円
形であ４〕と考えられイ〕。

光ビーム６０が楕円形になるのは、４分割光検知器２の
前段にある図示しないシリン１リカルレンズの作用によ
るもので、ディスクとり・１物レンズの距離により楕円
形と円形の間で変化する。その動作は第４図に示し、デ
ィスクと対物レンズの距離が近づいた場合（対物レンズ
位１ｆ（５１ａ））は、光ヒース６０は同図（Ｃ）の（
イ）で示すようにＡ、Ｃの方向に長い楕円形になり、且
つ、同ＩＭ　（ｂ）に示すようにフォーカスエラー信号
ＶＦＥは正である。逆に遠ざかった場合（対物レンズ位
ｉ！（５１ｂ））は、０．１３の方向に長い楕円形にな
り、Ｈつ、ＶＦＥ信号は負となる。同図（ｃ）の（０）
で示すように光ヒース６ｏが円形となるのは同図（ａ）
の同じく　（ロ）で示す合焦点の場合だけである。つま
り、第５図（ａ）がディスクと対物レンズの距離が遠ざ
かっている場合を示しているのは、フィ・−カスサーボ
が動作していないため、合焦点位置にあるとは考えられ
ないからである。次に、光ビーム６ｏが４分割光検知器
２に全て入射し、珪っ、（ＶＡ　＋Ｖ　Ｂ−１−Ｖ　ｃ
　十Ｖｎ）が最大になる位置にχ、ｙ方向にサーボを動
作さ・ｌ！調整する（第５図（ｂ））。次に、フォーカ
スサーボ（２方向）を動作させ、 （■Ａ十■ｃ）−（■ｏ＋ＶＤ）！；ｏとなる合焦点位
置に調整する（第５図（Ｃ））。この時点では、まだ微
少なズレがｚｔ＝　シていると考えられるため、更にχ
、　　ｙ、ｚ方向にサーボを動作させ（Ｖ、＋Ｖｎ）−
（Ｖｃ→■ｎ）−〇、　（■Ａ１−Ｖｃ）−（Ｖｔ＋十
Ｖｎ）　−〇になる位ＦＩ！に調モ多する（第５図（ｄ
））。この状態で４分割光検知器２の位置を固定し、調
整は完了する。なお、−１−記位置調整後、光ピックア
ップ１をプリアンプ部３に接続する時に、第２図で示し
ている様に伝送線５のＡとＣ，ＢとＤをショートする作
業が必要となる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来装置は以上のように、光ピックアップ１とプリアン
プ部３とが完全に分離独立してあり、伝送線５により接
続するように構成されているため、試験調整のためには
都合が良かったが、使用時には、光ピックアップ１とプ
リアンプ部３の伝送線５による影響を少なくするため、
伝送線を短かく配線したり、他線と分離等しなげればな
らず、また、４分割光検知器２位置調整後、配線変更を
しなければならないなどの問題点があった。

また、上記のような構成のため、どうしても伝送線５に
よる特性の影響を受＆Ｊ、Ｓ／Ｎ比の良好な信号かｆｌ
ら机ないなどの問題点があった。

この発明は−１−記のような問題点を解消するためにな
されたもので、伝送線による影響を少なくすることがで
きるとともに、光ピックアップ試験調整時に必要となる
光検知手段と増幅手段との電気的分離独１゛ｌ性を簡単
な方法で実現でき、試験調整後の無駄な作業を解消する
光ピックアップ装置を得ることを目的としている。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明に係る光ピックアップ装置は、光検知手段と増
幅手段とを一体化するとともに、試験調整時に上記光検
知手段と増幅手段とを電気的に分離するスイッチ手段と
、上記光検知手段から電気信号を外部に取り出す出力端
子とを備えたものである。

〔作用〕

この発明においては、光検知手段と増幅手段とが一体化
されているため、伝送線による影客を極めて少ないもの
とすることができ、また、試験調整時にはスイッチ手段
に、Ｌり光検知１段と増幅手段とを電気的に分離して出
力端子を用いて試験調整を行うことができるので、試験
調整前後の作業が極めて容易となる。

〔実施例〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。なお
、第２図従来例と同一・又は相当部分には同一・符号を
用いるとともに、第２図同様光学系装置等は図示を省略
している。

第１図において、（１ａ）は光検知手段としての４分割
光検知器２と増幅手段（３ａ）とが−・体化された光ピ
ックアップである。上記増幅手段（３ａ）内の６．７．
８．９は上記４分割光検知器２により電流に変換された
情報信号を電１Ｆに変換する電流電圧変換アンプであり
、３１．３２゜３３．３４はこれらのアンプに内蔵され
、アンプの機能を停止するｌｉ＋きをもつスイッチ、３
５゜３６．３７．３８は電流電圧変換アンプ６〜９の出
力側スイッチであり、上記各スイッチ３１〜３８により
本願のスイッチ手段が構成され、外部制御信号４０によ
り同時に制御されて開閉する。　一方、２１．２２は上
記スイッチ３５．〜３８を介して−１−記各電流電圧変
換アンプ３１〜３４の出力が入力され、所定の加算ある
いは減算を行うＩＩ　Ｆ信号アンプ及びＦＥアンプであ
る。４は第２図に示したものと同一・の光ピックアップ
試験用治具であり、本願においては、光ピックアップ（
１ａ）に４分割光検知器２の各出力用として設けられた
出力端子（７０ａ）を介して伝送線（５ｂ）により接続
される。なお、本実施例においては、上記各スイッチ３
１〜３８は開時に」−記試験用冶！ｌ！、４の各アンプ
（１１ａ）　〜（１４ａ）の入力インピーダンスと比較
して充分大きな入力インピーダンスを有するものとし、
更にスイッチ３５〜３８は閉時において減衰が少なく、
良好な周波数特性を有するものを用い、例えば外部制御
信号４０の入切操作によりスイッチ動作する定電流回路
が用いられる。

本図は、光ピックアップ試験調整時の状態を示し、り１
部制御信号４０は閉状態で、このとき、スイッチ３１〜
３４は開で、各電流電圧変換アンプ３１〜３４の機能を
停止−、シ、スイ・ノチ３５〜３８も開で入力インピー
ダンスが充分大きくなる。

次に動作について説明する。

光ピックアップ（１ａ）は、４分割光検知器２、電流電
圧変換アンプ６〜９．ｌ（Ｆ、ＦＥアンプ２１．２２を
一体化し、４分割光検知器２と電流電圧変換アンプ６〜
９が近傍に配され、接続線区は非常に短かくなっている
。このため、従来のような伝送線による影響は大幅に軽
減され、周波数特性が良く、波形歪のない、そしてＳ／
Ｎ比の良いものとなっている。

ところで、光ピックアップ試験調整時には、４分割光検
知器２よりの発生電流が全て光ピックアップ試験用治！
ｔ４の方に流れ込み、電流電圧変換アンプ６〜９には微
少たりとも流れてはならない電気的分離独立性が必要条
件となる。この機能を果たすのがスイッチ３１〜３４及
び３５〜３８である。これらのスイッチは外部制御信号
４０によって同時に制御され、この夕１部制御信号４０
を閉にすイ、と、電流電圧変換アンプ６〜９の内蔵スイ
ッチ３１〜・３４か動作（本国では開）し、増幅器のｔ
Ａｌ、能が停止１−シ、入力インピーダンスが試験用治
具４に比べ非常に大きくなる。しかし、これらのスイッ
チ３１〜３４だけで電流をカットするだけでは不充分で
ある。なぜなら、例えば電源÷４分割光検知１３Ａ−１
１（ｆ五Ｒ＋　−・Ｒ＋　＋　−Ｒｌ　２−・Ｒ２−・
４分割光検知器Ｂ−・電源、または、電源−４分割光検
知器Ｂ−・抵抗Ｒ２−・Ｒ２３−’Ｒ２６−・グランｔ
の周り回路か形成されるからである。よって、スイッチ
３５〜３Ｂが必要となり、これも試験用治具４の入力イ
ンピーダンスに比べ、非常に大きなインピーダンスを要
する。これらスイッチの開閉ｔｒｉ、例えば定電流回路
を用いることに、Ｌす、定電流源による！・ランジスタ
のバイアス電流をカットすることにより簡単に行なえる
。由に、光検知器２の発生電流ｔｉｔ全て光ピックアッ
プ用試験治其４に流れ、電流電圧変換アンプ６〜９及び
抵抗Ｒ１〜Ｒ４には流れず、電気的分離独立が可能とな
る。

なお、光ビ、クアノプ試験調整過程（Ｊ第４罠、第５図
にて詳述したのでここでは省隙する。また、試験調整後
の無駄な作業も不要となることは明らかである。すなわ
ち、光ピックアップ試験完了後は、試験用治具４、伝送
線（５ｂ）を取外し、外部制御信号４０を開にすること
により正ｊ、はの動作状態に戻る。なお、ここでスイッ
チ３５〜３８（」情報信号を伝送するため、周波数特性
の良好なもので、Ｈつ減衰の小さいものとすることが重
要となる。なお、上記実施例では光検知手段に４分割光
検知ｆｉ２を用いたものを示したが、本発明は何分側の
ものでも適用可能である。

また、スイッチ手段は入力インピーダンス、周波数特性
、減衰特性等を満足すればどの様な方式でも良い。

〔発明の効果〕

以上の、Ｌうに、この発明によれば、光検知１段と増幅
手段とを一体化するとともに、試験調整時に上記光検知
手段と増幅手段とを電気的に分Ｓｔするスイッチ−′ｆ
段と、−１二記光検知手段から電気信号を夕）部に取り
出ず出ノＪ　Ｍ＃Ａ了とを備えたことにより、伝送線に
よる特性の影響を極力少なくできるので、Ｓ／Ｎ比の良
好な信号が得られるとともに、試験調整時にはスイッチ
手段により光検知手段と増幅手段とを電気的に分離して
出力端子を用いて試験調整を行なうことができるので、
試駆調整前後の作業が罹めて容易となる光ピックアップ
装置が得られるという効果がある。

【図面の簡単な説明】 第１図はこの発明の−・実施例による光ピックアップ装
置を示す回路図、第２図は従来の光ビックアンプとプリ
アンプ部を示す回路図、第３図は従来の光ピックアップ
の試験回路図、第４図はディスクと対物レンズの距離に
よるフォーカスエラー信号及び４分割光検知器と光ビー
ムとの関係図、第５図は光ピックアップ試験調整時の４
分割光検知器と光ビームの調整過程を表わした関係図で
ある。 １ａ・・・・・・光ピックアップ、２・・・・・・４分
割光検知器（光検知手段）、３ａ・・・・・・増幅手段
、４・・・・・・光ビノクアノプ試験調整用治具、６〜
９・・・・・・電流電圧変換増幅器、２１・・・・・・
ＨＦ信号増幅器、２２・・・・・・ＦＥ増幅器、３１〜
３８・・・・・・スイッチ（スイッチ手段）、４０・・
・・・・外部制御器信号、７０ａ・・・出力端子。 なお、図中同一符号（ま同一、または相当部分を示す。 代理人　　大音　増雄（ほか２名） 口

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）記録媒体からの反射光を受光して電気信号に変換
   する光検知手段と、上記光検知手段からの電気信号を増
   幅する増幅手段とを備えた光ピックアップ装置において
   、上記光検知手段と増幅手段とを一体化するとともに、
   試験調整時に上記光検知手段と増幅手段とを電気的に分
   離するスイッチ手段と、上記光検知手段から電気信号を
   外部に取り出す出力端子とを備えたことを特徴とする光
   ピックアップ装置。
2. （２）光検知手段は複数に分割された光検知器より成り
   、増幅手段は上記光検知器のそれぞれから発生される電
   流を電圧に変換して増幅する電流電圧変換増幅器とこの
   各出力を加算または減算する加減算増幅器より成り、ス
   イッチ手段として上記電流電圧変換増幅器の入力及び出
   力側にスイッチを設けたことを特徴とする特許請求の範
   囲第１項記載の光ピックアップ装置。
3. （３）電流電圧変換増幅器の入力側のスイッチは電流電
   圧変換増幅器の機能を停止するもので、スイッチ開時、
   光検知器の位置試験調整時に使用する電流電圧変換増幅
   器の入力インピーダンスと比較して、充分大きな入力イ
   ンピーダンスを有するものであることを特徴とする特許
   請求の範囲第２項記載の光ピックアップ装置。
4. （４）電流電圧変換増幅器の出力側スイッチは、スイッ
   チ開時、光検知器の位置試験調整時に使用する電流電圧
   変換増幅器の入力インピーダンスと比較して、充分大き
   な入力インピーダンスで、且つスイッチ閉時、減衰が少
   なく、良好な周波数特性を有することを特徴とする特許
   請求の範囲第２項記載の光ピックアップ装置。
5. （５）電流電圧変換増幅器の入力及び出力側のスイッチ
   は、定電流回路よりなり、外部制御信号により上記定電
   流回路を入切操作することによりスイッチ動作すること
   を特徴とする特許請求の範囲第２項記載の光ピックアッ
   プ装置。