JPS62284268A - 時間間隔分析装置 - Google Patents

時間間隔分析装置

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JPS62284268A
JPS62284268A JP12838786A JP12838786A JPS62284268A JP S62284268 A JPS62284268 A JP S62284268A JP 12838786 A JP12838786 A JP 12838786A JP 12838786 A JP12838786 A JP 12838786A JP S62284268 A JPS62284268 A JP S62284268A
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隆弘 山口
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/02Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 「産業上の利用分野」 この発明はパルス信号のジッタ或はジッタの周波数分析
、発生頻度等を測定することができる時間間隔分析装置
(−関する。
「発明の背景」 例工ばパーソナルコンピュータの外部記憶装置として用
いられる磁気ディスク装置、或はコンパクトディスクと
呼ばれるディジタルオーデオ機器、更にはレーザディス
ク等のビデオ機器等では再生される信号は符号化された
パルス列信号である。
このパルス列信号(;ジッタが含まれていると復号の際
(:誤まりが発生し易くなる。特にコンピュータの外部
記憶装置の場合は誤まりの発生は許されないことである
このためこれらのディジタル機器の良否を判定するには
再生されるパルス列信号のジッタが規定した範囲’、c
人っているか否かを測定しなければならない。
「従来技術」 パルス列信号のジッタを測定する方法としては従来はオ
ンログラフに第11図C二示すように被測定パルスを映
出し、このパルスを描く輝線のゆらぎ幅W(輝線の横幅
)を測定してジッタの量を測定している。
また他の方法としては被測定パルスをスペクトラムアナ
ライザC;入力し、スペクトラムアナライザによって被
測定パルスの周波数成分を分析し。
ジッタ成分を測定することも考えられる。
[発明が解決しようとする問題点] オンログラフを用いる方法は測定者がオンログラフの管
面に映出されている輝線の幅Wを測定してジッタの量を
規定するものであるからジッタの量χ定量的にとらえる
ことは難しい。特にディジタルオーディオ機器或はディ
ジタルビデオ圏器では再生されるパルスのパルス幅が多
種類存在するためオンログラフの管面にはパルス幅が・
異なるパルス波形が重なり合って映出される。この結果
輝線幅Wの測定は益々むずかしいものとなり、不確かな
測定結果しか得られない。
これに対しスペクトラムアナライザを用いる方法を採る
とき、仮にSN比のよい理1世的なスペクトラムアナラ
イザを用いたとすればジッダの周波数成分を定量的に見
ることができる。
然し乍らジッタ成分は被測定パルスの周波数成分と比較
して信号のレベルが微少であるためジッタ成分をスペク
トラムとして映出させるためにはSN比が格段に優れた
スペクトラムアナライザを用意しなけ°ればならない。
つまり通常のスペクトラムアナライザを用いたとすれば
ジッタ成分を表わすスペクトラムは雑音成分の中にうず
もれてしまい観測することは不可能である。
また被測定パルスのパルス幅が多種類存在する場合(:
はジッダの変動周期も複数存在することになりジッダを
表わすスペクトラムも複数本に分散されるため、その各
個々のスペクトラムのピーク点も低いものとなる。よっ
て益々雑音成分にうずもれる率が高くなり判別がむずか
しくなる。
この発明の目的はパルスに含まれるジッタの量を正確(
=測定することができる時間間隔分析装置を提供する(
−ある。
「問題点を解決するための手段」 この発明では、 A、入力回路にAD変換器を具備したディンタルスペク
トラムアナライザと、 B、このスペクトラムアナライザ(−装備したAD変換
器の前段側に設けられ、被測定パルスのパルス幅をその
パルス幅C−比例した電圧信号に変換する時間−電圧変
換器と、C0この時間−電圧変換器に入力される被測定
パルスの後縁を検出してAD変換器にAD変換動作を行
なわせる制御器と、 によって時間間隔分析装置を構成したものである。
この発明の構成によれば時間−電圧変換器によっテ被測
定ハルスのパルス幅の変動、パルスとパルスの間の時間
の変動を電圧信号として敗出すことができる。
この電圧信号を被測定パルスの後縁と同期してAD変換
することにより被測定パルスのパルス幅の変動に対応し
て変化するディジタル信号を得ることができる。
つまりこのディ〉タル信号は被測定パルスのパルス幅の
変動に従って変化するジッタ量を表わすディジタル信号
である。よってこのディジタル信号をスペクトラムアナ
ライザによって周波数分析することによりジッタの周波
数及びジッタの電を知ることができる。
またAD変換した信号をメモリに取込み、メモリ(:取
込んだデータを統計処理することC二よりパルス幅変動
の履歴1発生類度等も測定することができる。
「実施例」 第1図(−この発明の一実施例を示す。図中11は従来
から知られているディジタルスペクトラムアナライザを
示す。
この発明ではディジタルスペクトラムアナライザ1゛l
に時間−電圧変換器12と、ディジタルスペクトラムア
ナライザ11(−装備されているAD変換器13に被測
定パルスの後縁に同期したクロックパルスを与え、この
クロック(−同期してAD変換動作を行なわせる制御器
14を付設した構成を特徴とするものである。
先ず通常用いられているディジタルスペクトラムアナラ
イザについて説明する。ディジタルスペクトラムアナラ
イザ11は増幅器16と、その後段C二股は定アナログ
フィルタ17と、AD変換器13、倍率変更スイッチ1
8、倍率変換回路19、バッファメモリ21、マ、イク
ロコンピュータ2Z、高速フーリエ変換回路23.主メ
モリ24、表示器25とC:よって構成される。
図の例ではAD変換器13と倍率変更スイッチ18との
間(:逆数変換器26とバッファメモリ27を設けた場
合を示す。逆数変換器26は時間−電圧変換器12とA
D変換器13(=よってジッタの周期に従って変化する
信号を逆数変換して周波数頭域の信号に変換する変換器
である。スインf−28は逆数変換するかしないかを選
択するスイッチで接点Aを選択するときは被測定パルス
のジッタの周期で変化す、るデータをバッファメモリ2
7(=与える。また接点Bを選択するときはジッタの周
期で変化する信号を逆数変換して周波数頭域の信号に変
換し、バッファメモリ27(−入力する状態となる。
このようにしてこの例では゛バッファメモリ27(ニン
ツタの周期に従って変化する信号か、又は周波数頭域の
信号に変換された信号かを取込むことができる構造とし
ている。
バッファメモリ27に取込まれたデータは読出されて倍
率変更スインy−18で倍率変更を行なうか否かを選択
して第2のバッファメモリ21に転送される。
倍率変更スイッチ18は接点Aを選択することにより倍
率変更無しの状態に切換られ、接点Bを選択することに
より倍率変更有りの状態に切換られる。
倍率変更回路19はディジタル周波数変換器19A、’
19Bと、ディジタルフィルタ190゜19Dと、リサ
ンプリングスイッチ19 E、21Fとによって構成さ
れる。
ディジタル周波数変換器19A、19Bはそれぞれジッ
タ信号Cays 2πfoとi2πfoヲ周波数混合し
、ジッタ信号の中心周波数を任意の周波数にシフトさせ
る。ディジタルフィルタ19C119Dは中心周波数が
所望の周波数(:設定された信号(=寄生する不要波成
分を除去するために設けられ、不要波成分を除去した信
号はりサンプリングスイッチ19Eと19Fでリサンプ
リングされてバッファメモリ21f=取込まれる。倍率
の変更は周波数頭域の1号C二対して行なわれる。倍率
の変更は王(−リサンプリングスイッチ19F:Jと1
9Fのりサンプリング周1g1(間引率)で決定される
つまりバッファメモリ21の容量を例えば1024デー
タ分とした場合、この1024データ分を収納できるメ
モリに周期tmに時間Teかけて取込A、だデータを倍
率「1」とした場合、同じ信号を周IQI z を毎に
時間2T’tか(すで取込む、と倍率は[2jとなる。
この倍率の変更により表示器25に表示される周波数ス
ペクトラムの配列を周波数軸に対して任意の倍率で拡大
して表示することができ、分解能をその倍率だけ高める
ことができる。分解能の向上により今まで見えなかった
スペクトルを表示することができるよう(;なる。
実例としてその倍率は2倍から256@まで拡大できる
磯種が実用されている。
倍率を決める要素は先にも説明したようにリサンプリン
グスイッチ19Eと19Fのりサンプリング周期(間引
率)であり、また拡大する場合の中心周波数はディジタ
ル周波数変換器19Aと19Bで設定した中心周波数と
なる。
バッファメモリ211;取込まれたデータは高速フーリ
エ変換回路23に送られフーリエ変換されて主メモリ2
4に記憶され1表示器25に周波数スペクトラムを表示
する。
以上によりディンタルスペクトラムアナライザ11の構
成及び動作が理解されよう。
この発゛明1ユおいてはこのようなディンタルスペクト
ラムアナライザの入力側に時間−電圧変換器12を設け
るものである。この時間−電圧変換器12の一例を第2
図を用いて説明する。第2図に示す例は説明を簡素に済
ませるためになるべく簡単な構造の時間−電圧変換器を
例示している。
この時間−′砥圧変換器12は第3図Aに示す被測定パ
ルスPa(−よって第3図りに示すクロックパルスPd
 (第3図D)を打抜くゲート12Aと、このゲート1
2Aで打抜かれたクロックパルスPe(第3因F)が与
えられてクロックパルスPeのH論題期間だけオンに制
御されるスイッチ素子12Bと、このスイッチ素子12
Bに定電流を与える定電流回路12cと、スイッチ素子
12Bがオンになる毎(:定量ずつ充電が行なわれるコ
ンデンサ12Dと、コンデンサ12Dの両端に接続され
コンデンサ12Dに充電された電荷をリセット信号PC
(第3LNG )の供給によって放出するリセット用ス
イッチ素子12Eと(:よって構成することができる。
この回路は簡単な階段波発生回路である。この階段波発
生回路(−よってパルスPaのパルス幅T、を電圧信号
v、(第3因F)に変換することができる。
制御器14は被測定パルスP、の後縁を検出し、この後
縁に同期したパルスPb (第3因F)を生成する。こ
のパルスPbをAD変換器13とバッファメモリ27に
与え、AD変侠器13にAD変換動作を行なわせると共
にバッファメモリ27(ニデータの書込動作を行なわせ
る。
スペクトラムアナライザ11をオンログラフとして動作
させる場合は切替スイッチ18と28をそれぞれ接点A
C:切替えればよい。
このようにすればAD変換器13のAD変換出力はその
ままの状態、つまり周期信号の状態でバッファメモリ2
7(=書込まれ、またバックアメモリ21;;転送され
て表示器25に映出させることができる。
ここで一つの例として入力パルスPaのパルス幅が一種
類のパルス幅でその一つの種類のパルス幅が再生系の不
具合(;よって変動しているものとした場合表・示器2
5の管面には入力パルスPaのパルス幅の変動に対応す
る電圧波形が例えば第4図に示すよう(−描かれる。
この電圧波形はパルスlf?i Tpが時間の経過に伴
なって変動する様子を表わしている。この表示された波
形の周期T、□を測定することによってパルス幅の変動
周期、つまりジッタの周期及び周波数を知ることができ
る。
またこの波形の振幅協を測定することに上りジッタの最
大値及び最小値を求めることができる。
ここで入力パルスPaの極性を反転させ、負極性のパル
スとして入力したとすると、今度はパルスPa相互間の
時間間隔)二対応した時間が電圧に変換され、これがA
D変換されるからこのAD変換された信号を表示器25
に表示させること檻ユよってパルス相互の時間間隔の変
動を表示することができる。
ところで例えばコンパクトディスクのよう一一丁= 2
31.3850Sを単位として3T−117の9種類の
パルス幅を持ち、これら9種類のパルス幅の信号が不規
則に発生するパルス信号?入力した場合C二はオンログ
ラフの管面には第5図に示すよう(29本の輝線L N
1〜LN、が描かれる。つまりこの9本の輝線LN、〜
L N、は微視的に見ると第6図に示スように各1個の
パルスによって表示されるドラ)D、 、 D2. D
3・・・・・・の集合によって線として描かれるもので
あって、ドツト相互の間は高速で移動するから各線LN
、〜LN9の相互の間(−は輝線は殆X、ど表示される
ことはない。
このよう(−シて表示された9本の輝線LN、〜LN9
は各パルス幅のパルス幅変動を表示している。
つまり各輝線L N、〜LN9の幅(垂直方向の幅)が
太いか細いか(:よってパルス幅が変動しているか否か
を知ることができる。
ところで9本の線L N、〜LN9を全て描かした場合
、各1本の線の幅が太いか細いかによってパルス幅が変
動しているか否かを知ることはできるが、その変動の規
則性の有無及び規則性が有った場合(:その周期を表示
させることまでは測定することはできない。
このた゛めスペクトラムアナライザ11を本来のスペク
トラムアナライザとして動作させる。このためには切替
スイッチ18と28を接点B―倒せばよい。
切替スイッチ28を接点B C:切替ることによって周
期信号は逆数変換器26で逆数変換され周波数領域の信
号となる。この周波数領域の信号をパルスPb (第3
因F)f二同期してパックアメモリ27に取込む。
バッファメモリ27(−取込んだ信号は読出されて倍率
変更回路19を通じて第2バツフアメモリ21C転送さ
れる。倍率変更回路19で周波数軸方向の倍率が整定さ
れ1周波数軸方向の分解能が決定される。
倍率変更回路19で倍率が変更されたデータは第2のバ
ッファメモリ21(ニ一旦収込まれ、高速フーリエ変換
器23でフーリエ変換され周波数分析が行なわれる。周
波数分析結果は王メモリ24に順次取込まれ表示器25
に表示される。
その表示の一例を第7図に示す。第7図に示すスペクト
ラムSP、I SF2.SF3.SF3・・・・・・は
ジッタの周波数成分を示す。SP+はジッタの基本波成
分を表わしている。この基本波にSF2.SF3゜SF
3・・・・・・で示される周波数の信号が重畳している
ことが解る。各スペクトラムSP1.SP2・・・・・
・で表わされる信号の周波数は表示面上の横軸の目盛3
1によって読取ることができる。基本波及びこれに重畳
している信号の量は表示面上の縦軸の目盛32(=よっ
て読取ることができる。
このよう(−高速フーリエ変換器23を使って周波数分
析を行なうことにより被測定パルスPaに含まれるジッ
タを周波数分析して測定することができる。また被測定
パルスPaのパルス幅の種類が多数存在してもジッタの
周波数成分をスペクトラムとして表示することができる
尚一つのパルス幅のパルスに重畳するジッタを求めるに
はバッファメモリ27からデータを読出す際(−1成る
周波数成分のデータだけをマイクロコンピュータ22の
ウインドオ機能を使って読出し、このデータを高速フー
リエ変換して周波数分析を行な゛えはよい。このよう(
−すれば単一周期のパルスに重畳するジッタだけをスペ
クトラムとして表示させることができる。
一方、バッファメモリ27を設けたことにより。
これ(=吸込まれたデータを読出すこと【二よってジッ
タが変化する検子を再現することができる。つまりパル
ス幅変動の履歴を見ることができる。更にバッファメモ
リ27とマイクロコンピュータ22の統計処理機能によ
って成るパルス幅馨基準にその基準とするパルス幅の前
後に発生するパルス幅のパルスの発生頻度或は分布を表
示することもできる。
第8図にこの発明の池の実施例を示す。この例では被測
定パルスのパルス福?計測する時間計測手段33を設け
、この時間計測手段33(−設定した時間の上限値と下
限値の間に入るパルスが入力された場合だけバッファメ
モリ27(ニデータの取込を許すように構成した場合?
示す。
このように時間計測手段33を設けることによって入力
に復数のパルス幅の被測定パルスを与え=tJ%合でも
、その複数種類のパルス幅のパルスの中から一つのパル
ス幅のパルスを取出してバッファメモリ27に書込むこ
とができる。この結果単一パルス幅のパルスに重畳する
ジッタを測定する場合にはバッファメモリ27には、そ
のパルス幅の変動を示すデータだけが収録され、他のパ
ルス幅のデータは収録しないからバッファメモリ27の
容量を最大限に利用することができる。
「発明の作用効果」 以上説明したようにこの発明によれば被測定パルスを時
間−電圧変換して被測定パルスのパルス幅変動或はパル
ス間隔変動を電圧の変動に変換し、この電圧変動信号¥
AD変換してスペクトラムアナライザに人力する構成と
したから、スペクトラムアナライザには被測定パルスが
持つ周波数成分を含まない、つまりジッタ成分だけを持
つ信号を入力することができる。この結果スペクトラム
アナライザとして動作させzJ合、表示器(−はジッタ
が持つ周波数成分を示すスペクトラムだけを表示するこ
とができ、他の大きなレベルを持つ信号が表示さ゛れる
ことはない。よってその表示されたスペクトラムは雑音
成分と比較して充分大さく表示され、雑音成分にうずも
れることなく確実(ニレベル及び周波数等を測定するこ
とができる。
然もスペクトラムアナライザをオシログラフとして動作
させるとジッタの波形を見ることができる。よってこの
波形の振幅からジッタの最大(直と最小値を測定するこ
とができる。
またバッファメモリに数込んだ周疲@晴域の信号?第9
図【二示すよう(:各ブロックB、、B2.B。
°−°−毎+:、 和Σ1・Σ2・Σ3・パ・・・を算
出し、この和の値Σ1.Σ2.Σ3・・・・・・を第1
θ図蒐二示すようも1時間軸方向に表示させることによ
り周波数成分の時間分布を測定することができる。
このようにこの発明によればパルス列信号に関する各種
の測定を行なうことができ、ディジタル再生器等の評価
及び良否判定等を行なう場合に用いてその効果は頗る大
である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
はこの発明に相いる時間−電圧変換器の一例を説明する
ための接続図、第3図は時間−電圧変換器とAD変換動
作のタイミングを説明するための彼形図、第4図及び第
5図はこの発明による時間間隔分析装置の分析結果の例
を示す正面図。 第6図は第5図(1示した分析結果が描かれる骸子乞説
明するための図、第7図はこの発明による王とする分析
結果を説明するための正面図、第8図はこの発明の他の
実施例を説明するためのブロック図、第9図及び第10
図はこの発明による分析装置による時間間隔分析方法の
一つを説明するためのグラフ、第11図は従来のジッタ
測定方法を説明するための図である。 11ニスペクトラムアナライザ、12:時間−電圧変換
器、13:AD変換器、14:制間器。 27:バッファメモリ。 特許出軸人   株式会社 アトパンテスト化  理 
人   草  野     卓21?2  図 か 3 図 ル 4 図 オ 5 図 7179  図 し。 ル ー中吟間 力11  図 手続補正書 (自発) 昭和61年10月22日 特許庁長官 殴             (い−1、
事件の表示  特願昭6に1283872、発明の名称
  時間間隔分析装置3 、補正をする者 事件との関係   特許出願人株式会
社アトパンテスト 4、代 理 人  東京都新宿区新宿四丁目2番21号
相模ビル (Ttx  03−350−6456〉5、
補正の対象  明細書中発明の詳細な説明の欄1図むず
かしくなる。」を「場合にはパルス幅の種類だけ基本波
スペクトラムが存在し、かつその各々について無数の高
調波スペクトラム“が発生するからそれら信号のスペク
トラムだけで煩雑な映像となり、ジッタを表わすスペク
トラムは益々判別がむずかしくなる。」と訂正する。 (2)明細書8頁12行r21FJをr19FJと訂正
する。 (3)  明細書15頁3行「整定」を「選定」と訂正
する。 (4)明細書18頁19行〜19真4行「またバッファ
メモリ・・・することができる、」を削除する。 (5)明細書19頁20行〜20真2行「第9図及び・
・・測定方法を」を「第9図は従来のジッタ測定方法を
」と訂正する。 (6)添付コピー図に朱書で示すように第7図に番号「
32」を加入し、第11図の図番を第9図に訂正する。 (7)図面中第8図は添付図に訂正し、第9図及び第1
0図を削除する。 以上 栄 7 図 A7)+ 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)A、入力回路にAD変換器を具備したディジタル
    スペクトラムアナライザと、 B、上記AD変換器の前段側に設けられ被測定パルスの
    パルス幅をそのパルス幅に比例した電圧に変換する時間
    −電圧変換器と、 C、この時間−電圧変換器に入力される被測定パルスの
    後縁を検出して上記AD変換器にAD変換動作を行なわ
    せる制御器と、 から成る時間間隔分析装置。
JP12838786A 1986-06-02 1986-06-02 時間間隔分析装置 Granted JPS62284268A (ja)

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JP12838786A JPS62284268A (ja) 1986-06-02 1986-06-02 時間間隔分析装置

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JPS62284268A true JPS62284268A (ja) 1987-12-10
JPH0575271B2 JPH0575271B2 (ja) 1993-10-20

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5293520A (en) * 1991-10-18 1994-03-08 Advantest Corporation Jitter analyzer
EP0602884A1 (en) * 1992-12-15 1994-06-22 National Semiconductor Corporation A device and method for measuring the jitter of a recovered clock signal
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