JPS62284224A - 輝度情報発生装置 - Google Patents

輝度情報発生装置

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JPS62284224A
JPS62284224A JP12730886A JP12730886A JPS62284224A JP S62284224 A JPS62284224 A JP S62284224A JP 12730886 A JP12730886 A JP 12730886A JP 12730886 A JP12730886 A JP 12730886A JP S62284224 A JPS62284224 A JP S62284224A
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JP
Japan
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signal
time
light receiving
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JP12730886A
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English (en)
Inventor
Yoshiyuki Kaneko
義行 金子
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Canon Inc
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Canon Inc
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  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 (発明の利用分野) 本発明は、複数の画素よりの信号より対象物の輝度分布
に対応した2値化信号を発生する、例えばカメラ等の測
距装置及び焦点検出装置などに用いられる輝度情報発生
装置の改良に関するものである。
(発明の背景) 第5図はこの種の装置を測距装置に組み込んだ場合の、
該測距装置に配置される一般的な受光光学系の一例を示
すもので、複数画素を有する受光素子1.2は、無限遠
に位首する測距対象物3の像が受光レンズ4,5を介し
てそれぞれの受光素子1.2の同一画素上に結像する様
tI!置される。
ここで、測距対象物3までの距離がDのとき、対象物像
が受光素チェと2上でN画素だけずれて結像されたとす
ると、光学系の基線長をし、受光レンズ4,5の焦点距
離をf1画素のピッチを入とした場合、前記距11fi
Dは三角測量の原理によりD=LXf/(入XN) なる式で求めることができる。
前記受光素子1と2上の測距対象物3の像のずれ量(入
XN)を検出するための手段としては、各受光素子1.
2に入射する光の強度をディジタル信号に変換し、論理
回路によって左右の像の相関を演算する方式がある。
また、光の強度をディジタル信号に変換するための手段
としては、例えば第6図に示す如き構成から成るものが
ある。第6図において、6は受光素子であるところのフ
ォトダイオード、7はキャパシタ、8はインバータ、9
はゲート信号GATEが入力することによりオンするス
イッチングトランジスタ、10はクリア信号CLEAR
が入力することによりオンするスイッチングトランジス
タである。
次に第6図の動作について説明する。クリア信号CLE
ARが発生することによりスイッチングトランジスタ1
0がオンし、キャパシタ7に蓄積されている電荷が放電
される。前記クリア信号(:LEARが消滅してスイッ
チングトランジスタ10がオフすると、今度はゲート信
号GATEが発生し、スイッチングトランジスタ9がオ
ンとなる。これにより、測距対象物3の輝度に応じてフ
ォトダイオード6に発生する光電流が前記スイッチング
トランジスタ9を介してキャパシタ7へ流れ込み、電荷
として充電される。そして前記キャパシタ7の充電電圧
がインバータ8のスレッシホールドレベルを越えると、
その出力OUTはハイレベルからローレベルの信号に反
転する。
前記インバータ8の出力0υ丁がハイレベルからローレ
ベルの信号に反転するまでの時間は、光量流値が光強度
にほぼ比例するため、光強度に反比例することになる。
したがって、該WI、6図の回路(フォトダイオード6
を除く)を第5図の如き受光素子1.2を構成する各画
素の後段にそれぞれ配置し、まず全てのキャパシタな放
電させ1次いで同時に各画素よりの光電流の積分を開始
し、ある時間経過した後に積分を中止して各インバータ
の出力を調べることにより、その時の測距対象物3の輝
度分布を2値化信号化することができる。
しかしながら、従来の装置においては、その時の測距対
象物3の輝度分布に応じた2値化信号を得るために、測
距対象物3の輝度のピークレベルを基準としである割合
でスライスすることで行っていた。このため、様々な測
距対象物の輝度分布に対して最適な2値化を行うことが
困難であった。
例えば、測距対象物の輝度ピークの80%で2値化する
場合、第7図(A−1)の様な輝度分布であれば、第7
図(A−2)に示すように“1t+、i“OIIの信号
に2値化されるが、第7図(a−t)の様な輝度分布で
あった場合、第7図(B−2)に示すようにすべて“I
 11となり、適正な2値化を行うことができないこと
になる。
以上かられかるように、その時の例えば測距対象物の輝
度分布に適したz値化を行う場合のしきい値(スライス
レベル)は様々であり、これを適正にコントロールする
ことば□困難であると共に。
それを実現するための回路構成は複雑且つ高価なものと
なることから、実用化は困難であった。
(発明の目的) 本発明の目的は、上述した問題を解決□し、様々な対象
物の輝度分布に応じた最適な2値化信号を発生すること
ができる輝度情報発生装置を提供することである。
(発明の特徴) 上記目的を達□成するために、本発明は、対象物の輝度
像を受光する複数の画素を有する受光手段と、前記各画
素に対応して配置され、夫々の受光出力を積分し、該積
分値がしきい値レベルに達したか否かによりt ”或い
は°゛O′′の信号を発生する複数の2値化信号発生手
段と、積分値がしきい値レベルに達したことを示す信号
を出力する前記z値化信号発生手段の数が所定数になっ
たことを検出する検出手段と、該検出手段による検出時
点の、前記全部の2値化信号発生手段よりの各信号を前
記対象物の輝度情報として出力するサンプリング手段と
を備え、以て、その時の対象物の持つ輝度のコントラス
ト幅に応じて、前記2値化信号発生手段でのしきい値レ
ベルを調整するのと同等の結果を得るようにしたことを
特徴とする。
(発明の実施例) 以下1本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である、11〜
16は受光素子であるところのフォトダイオードであり
、フォトダイオード11〜13が一方の受光素子列を形
成し、フォトダイオード14〜16が他方の受光素子列
を形成している。
17〜22は前記フォトダイオード11〜16に発生す
る光電流を積分するためのキャパシタ、23〜28はイ
ンバータ、29〜34はゲート信号GATEが入力する
ことによりオンするスイッチングトランジスタ、35〜
40はクリア信号CLEARが入力することによりオン
するスイッチングトランジスタ、41は前記インへ−夕
23〜28よりの信号が入力する入力端子D!〜D6+
データセット信号SETが入力する入力端子S、シフト
パルスφが入力する入力端子CK及び出力端子Qを有す
るシフトレジスタ、42は前記シフトレジスタ41より
の信号が入力する入力端子C,リセーIト信号RESE
Tが入力する入力端子R及びカウント数が「4」になる
ことによりハイレベルの信号を出力する出力端子Qを有
する2ビツトのカウンタ、43はスタートスイッチSW
がオンすることにより動作可能状態となり、前記各回路
を制御するための前記種々の信号を発生し、入力端子E
NDにノ\イレベルの信号が入力することによりその動
作を停止する制御回路、44は入力端子STにハイレベ
ルの信号が入力することにより動作を開始し、その時前
記シフトレジスタ41より入力端子OAに入力するデー
タを最適なz値化信号として入力すると共に、この信号
に基づいて各受光素子列上の対象物像のずれ量(位相差
)を検出する位相差検出回路である。
次に、第2図のタイミングチャートを用いて動作の説明
を行う、スタートスイッチSWがオンされると、制御回
路43にまずクリア信号CLEARが発生する。すると
スイッチングトランジスタ35〜40がオンし、キャパ
シタ17〜22に充電された電荷が放電される。これに
よりインバータ23〜28の入力がスレッシホールドレ
ベル以下となるため、全ての出力がハイレベルとなる0
次に前記クリア信号CLEARが消滅して前記スイッチ
ングトランジスタ35〜40がオフした後、時刻Toに
おいてゲート信号0ATEが発生すると、今度はスイッ
チングトランジスタ29〜34がオンとなり、フォトダ
イオード11〜16に発生する光電流がキャパシタ17
〜22によって積分される。又前記ゲート信号GA T
E発生と同時にリセット信号RESETも発生するため
、カウンタ42内のカウント内容はクリアされる。
上述のようにして時刻Toから時刻TIまで第1回目の
積分が行われる。この結果、第2図に示すようにキャパ
シタ20のみがインへ−夕のスレッシホールドレベルの
電圧まで充電され、インバータ26の出力がローレベル
に反転したとする。前記時刻T1において制御回路43
にセット信号SETが発生すると、その時シフトレジス
タ4−1の各入力端子D1〜D6に入力しているデータ
d1〜d6は保持され、続いて発生するシフトパルスφ
により各データはd6+dS+・・・、dlの順で出力
端子Qよりカウンタ42へ出力される。
この場合カウンタ42に入力する信号はデータd4に対
応する1パルスのみであり、該カウンタ42は2ビツト
のバイナリ−カウンタであるのでその出力は反転せず、
ローレベルのままである。
従って積分は終了せず1位相差検出も行われない。
前述のようにカウンタ42の出力が反転せず、入力端子
ENDにハイレベルの信号が入力しない場合、制御回路
43には時刻T2において再びゲート信号GATEが発
生すると共に、リセット信号RESETが発生する。こ
れにより再び積分が開始され。
同時にカウンタ42はその内容がクリアされる。
時刻T2から時刻T3まで積分が行われた結果、第2図
に示すようにキャパシタ17の電圧がインバータのスレ
ッシホールドレベルまで充電され、インバータ23の出
力がローレベルに反転したとする。この場合シフトパル
スφ発生によりカウンタ42にはデータd4とdlに対
応する2つのパル信号が入力することになるが、前述と
同様その出力は反転しないため、時刻T4において前記
制御回路43にゲート信号GA TEが発生し、前述と
同様の動作順序にて第3回目の積分が開始される。
時刻T4からT5まで積分が行われた結果、第2図に示
すようにキャパシタ19及び22の電圧力インバータの
スレッシホールドレベルまで充電され、インバータ25
及び28の出力もローレベルに反転したとする。この場
合シフトパルスΦ発生によりカウンタ42にはデータd
6+d4+d3 、d、に対応する4つのパル信号が入
力するため、カウンタ42の出力はハイレベルの信号に
反転し、その信号は制御回路43の入力端子END及び
位相差検出回路44の入力端子STに入力することにな
る。これにより、制御回路43での動作は停止し、位相
差検出回路44ではこの時シフトレジスタ41より出力
されているデータを最適な2値化信号として入力すると
共に、この信号に基づいて各受光素子列上の対象物像の
ずれ量(位相差)を検出する。
ここで、第1図実施例の如き回路構成より成る装置によ
って対象物の輝度信号が2値化される例を第3図(A−
1)、(A−2)及び(B−1)、(B−2)に示す。
ここでは各受光素子列は第1図実施例の倍、すなわも6
つのフォトダイオードから形成されている場合を想定し
ている。従来装置では輝度ピーク値に対しである割合で
スライスしていたため、第3図(B−1)の様な低コン
トラストの輝度分布を持つ対象物の輝度信号を2値化す
る場合には全てハイレベルとなってしまうことがあった
が、前述のようにパルス信号をカウントして、その数が
所定値(実施例では4つ)に達した時点〒積分を終了。
すなわち2値化を終了することにより、第3図(A−1
)のような高コントラストの輝度分布を持つ対象物や第
3図(B−1)のような低コントラストの輝度分布を持
つ対象物に対しても、第3図(A−2) 。
(B−2)に示す様に同様に適正にその輝度信号の2値
化を行うことを可能としている。
第1図実施例では、フォトダイオードに対応して配置さ
れたキャパシタの充電電圧がインバータのスレッシホー
ルドレベルに達した数を、すなわちいインバータより出
力されるローレベルの信号の数をカウントしながら光電
流の積分を行い、その数が所定値に達した時点で積分を
終了するようにしているため、その時の対象物の輝度分
布に応じた、最適な2値化信号を発生することが可能と
なる。また、全てではなく、所定の数のインバータ出力
がスレッシホールドレベルに達するまで積分を行うよう
な構成にしているため、積分時間を短縮することができ
、例えば該装置を測距装置に用いた場合には、測距時間
の短縮を図ることができる。
第4図は本発明の他の実施例を示すもので、第1図と同
じ部分は同一符号にて表す、45はオペアンプであり、
抵抗47〜50と共に加算器を構aする。50はコンパ
レータ、51.52は分圧抵抗である。
前記実施例と異なる点は、積分を終了させる画素a(イ
ンバータの数)を分圧抵抗51と52の抵抗比によって
決定するところである。つまりコンパレータ50の非反
転入力端に印加される電圧を加算器の出力電圧が下回わ
った時点で該コンパレータ50の出力がハイレベルの信
号に反転し、これにより制御回路43の動作が停止し、
積分動作が終了することとなる。又これと同時に位相差
検出回路44によりこの時シフトレジスタ41より出力
されるデータが最適な2値化信号として入力され、この
信号に基づいて各受光素子列上の対象物像のずれ量(位
相差)が検出される。
第4図実施例によれば、前記実施例の様に度々ゲート信
号GA TEを発生させて積分を中止し、カウント数を
カウントするといった動作を行う必要はなく、積分を続
行させながら反転したインバータの数をモニターするこ
とができるため、積分時間をさらに短縮することが可能
となる。
(発明と実施例の対応) 本実施例において、フォトダイオード11〜16が本発
明の受光手段に、キャパシタ17〜22及びインバータ
23〜28が2値化信号発生手段に、カウンタ42及に
抵抗46からコンパレータ50までが検出手段に、シフ
トレジスタ4.制御回路43がサンプリング手段に、そ
れぞれ相当する。
(変形例) 第1.4図実施例では、各受光素子列を3画素としたが
、2画素でもよいし、4画素以上であってもよい、また
、第1図実施例では、カウンタ42よりハイレベルの信
号が出力される、すなわち積分終了とさせるのに必要な
パルス数を4つ(絵画素の2/3)としたが、これに限
定されるものではない。
また、左右の受光素子列について反転したインバータの
数を直接或いは間接的に検知するようにしたが1片方の
受光素子列のみで判別するような構成にすることも当業
者にとっては容易であろう。
さらに、輝度情報発生装置の適用される測距装置は第5
図の形態に限らず、又TTL方式の焦点検出装置などに
も適用される。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、対象物の師度像
を受光する複数の画素を有する受光手段と、前記各画素
に対応して配置され、夫々の受光出力を積分し、該積分
(++’fがしきい値レベルに達したか否かにより“°
1°”或いはO°゛の信号を発生する複数の2値化信号
発生手段と、積分値がしきい値レベルに達したことを示
す信号を出力する前記2値化信号発生手段の数が所定数
になったことを検出する検出手段と、該検出手段による
検出時点の、前記全部の2値化信号発生手段よりの各信
号を前記対象物の輝度情報として出力するサンプリング
手段とを備え、以て、その時の対象物の持つ輝度のコン
トラスト幅に応じて、前記2値化信号発生手段でのしき
い値レベルを調整するのと同等の結果を得るようにした
から、様々な対象物の輝度分布に応じた最適な2値化信
号を発生することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回18図、第2図は同
じくそのタイミングチャート、第3図は同じくある対象
物の輝度分布とその2値化信号例を説明する図、第4図
は本発明の他の実施例を示す回路図、第5図はΔl−距
装置に配置される一般的な受光光学系の一例を示す図、
第6図は光電流を積分するための基本的な回路構成を説
明する図、第7図は従来装置によりある対象物の輝度分
布を2値化信号化した場合の一例を説明する図である。 11〜16・・・・・・フォトダイオード、17〜22
・・・・・・キャパシタ、23〜28・・・・・・イン
バータ、41・・・・・・シフトレジスタ、42・・・
・・・カウンタ、43・・・・・・制御回路、44・・
・・・・位相差検出回路、45・・・・・・オペアンプ
、46〜49・・・・・・抵抗、50・・・・・・コン
パレータ、51.52・・・・・・分圧抵抗。 特許出願人  キャノン株式会社 代  理  人   中   村    稔第2図 41のQ出力 第3 (A−1) (A−2) (s−i) (B−2) ! 第5図 第6図 (A−1)(B−1) 各画素よりの出力

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、対象物の輝度像を受光する複数の画素を有する受光
    手段と、前記各画素に対応して配置され、夫々の受光出
    力を積分し、該積分値がしきい値レベルに達したか否か
    により“1”或いは“0”の信号を発生する複数の2値
    化信号発生手段と、積分値がしきい値レベルに達したこ
    とを示す信号を出力する前記2値化信号発生手段の数が
    所定数になったことを検出する検出手段と、該検出手段
    による検出時点の、前記全部の2値化信号発生手段より
    の各信号を前記対象物の輝度情報として出力するサンプ
    リング手段とを備えた輝度情報発生装置。
JP12730886A 1986-06-03 1986-06-03 輝度情報発生装置 Pending JPS62284224A (ja)

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JP12730886A JPS62284224A (ja) 1986-06-03 1986-06-03 輝度情報発生装置

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JP12730886A JPS62284224A (ja) 1986-06-03 1986-06-03 輝度情報発生装置

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JPS62284224A true JPS62284224A (ja) 1987-12-10

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ID=14956733

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