JPS62277553A - 磁粉濃度の測定方法 - Google Patents
磁粉濃度の測定方法Info
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- JPS62277553A JPS62277553A JP12164586A JP12164586A JPS62277553A JP S62277553 A JPS62277553 A JP S62277553A JP 12164586 A JP12164586 A JP 12164586A JP 12164586 A JP12164586 A JP 12164586A JP S62277553 A JPS62277553 A JP S62277553A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
(産業上の利用分野)
この発明は、鋼材などの表面疵を検査する方法であるl
1fi扮探傷法における磁粉濃度の測定方法に関する。
1fi扮探傷法における磁粉濃度の測定方法に関する。
(従来の技術とその問題点)
磁粉探傷法は、鋼材等の被検材を磁化することにより、
表面疵から漏洩磁束が発生し、これに磁粉(鉄粉)が引
き寄せられ、表面疵に集まった…y1(磁粉模様)を観
測することにより、微細な(目視できない)割れ等を検
査する方法である。
表面疵から漏洩磁束が発生し、これに磁粉(鉄粉)が引
き寄せられ、表面疵に集まった…y1(磁粉模様)を観
測することにより、微細な(目視できない)割れ等を検
査する方法である。
近年、磁粉探傷法も自動化が進み、磁粉液を循環して利
用するようになった。このため例えば蛍光塗料を接着し
ている蛍光磁粉の場合、水11に約1gの磁粉濃度が良
好であるが、循環利用していくにつれて磁粉濃度が低下
することより、検出能が低下してしまう。従って磁粉濃
度を一定に保つことが重要になってきており、磁粉濃度
を測定する方法が色々と行われている。その測定方法は
大別して2つに分類できる。
用するようになった。このため例えば蛍光塗料を接着し
ている蛍光磁粉の場合、水11に約1gの磁粉濃度が良
好であるが、循環利用していくにつれて磁粉濃度が低下
することより、検出能が低下してしまう。従って磁粉濃
度を一定に保つことが重要になってきており、磁粉濃度
を測定する方法が色々と行われている。その測定方法は
大別して2つに分類できる。
まず、1つの方法は磁粉液中の磁粉の旦を測定する方法
である。例えばASTM(米国材料・試験協会)で規定
された図示しない沈澱管を用い、よく隔別した一定量の
磁粉液を前記沈澱管に入れ、沈澱した磁粉の体積から濃
度を測定する方法である。他に、例えば第3図に示すよ
うに、コイル1中に磁粉液2を入れ、コイル1のインダ
クタンスの変化から磁粉液中の磁粉用(インダクタンス
と比例関係がある)を測定する方法がある。
である。例えばASTM(米国材料・試験協会)で規定
された図示しない沈澱管を用い、よく隔別した一定量の
磁粉液を前記沈澱管に入れ、沈澱した磁粉の体積から濃
度を測定する方法である。他に、例えば第3図に示すよ
うに、コイル1中に磁粉液2を入れ、コイル1のインダ
クタンスの変化から磁粉液中の磁粉用(インダクタンス
と比例関係がある)を測定する方法がある。
ところで、第4図で示す通り磁粉探傷法に使用する磁粉
は目視による観測を容易にするため、直径10μm程度
の磁粉(鉄粉)に塗料3を接着剤にて接着するのが通常
であるが、循環して磁粉液を使用した場合、正常な磁粉
4の他に塗料のはげた磁粉5、スケール6等が混入して
しまう。
は目視による観測を容易にするため、直径10μm程度
の磁粉(鉄粉)に塗料3を接着剤にて接着するのが通常
であるが、循環して磁粉液を使用した場合、正常な磁粉
4の他に塗料のはげた磁粉5、スケール6等が混入して
しまう。
従って、表面疵の検出に寄与する正常な磁粉のみの濃度
を測定することが重要になる。しかしながら、前述の方
法では、塗料のはげた磁粉5、スケール6なども含めた
磁粉濃度を測定することになり、塗料のはげた磁粉5、
スケール6が増往ば、正常な磁粉4の濃度が低下してい
るにもかかわらず、適正濃度と誤判定してしまう恐れが
あるという問題点がある。
を測定することが重要になる。しかしながら、前述の方
法では、塗料のはげた磁粉5、スケール6なども含めた
磁粉濃度を測定することになり、塗料のはげた磁粉5、
スケール6が増往ば、正常な磁粉4の濃度が低下してい
るにもかかわらず、適正濃度と誤判定してしまう恐れが
あるという問題点がある。
そこで、もう1つの方法として人工欠陥を用いる方法が
ある。これは第5図で示すようなJISで規格した例え
ば50μmの厚さの母体7,8をもち、7μmの深さで
掘った円形(第5図(a))ないしは直線形(第5図(
b))の溝9,1oを加工した試験片(AI−7150
標準試験片)を被検材にはり、7μm溝の人工欠陥が検
出可能かどうかを検定することにより、適正濃度の判定
を行っている。この方法であれば、前述の欠点【まなく
なり、誤判定の恐れは少ない。しかしながら、人工欠陥
の検出判定が目視判定という極めて精度の低いものであ
り、磁化条件の変動によっても、人工欠陥検出の判定に
影響を与えるので、磁粉濃度を定量的には把握できない
という問題点がある。
ある。これは第5図で示すようなJISで規格した例え
ば50μmの厚さの母体7,8をもち、7μmの深さで
掘った円形(第5図(a))ないしは直線形(第5図(
b))の溝9,1oを加工した試験片(AI−7150
標準試験片)を被検材にはり、7μm溝の人工欠陥が検
出可能かどうかを検定することにより、適正濃度の判定
を行っている。この方法であれば、前述の欠点【まなく
なり、誤判定の恐れは少ない。しかしながら、人工欠陥
の検出判定が目視判定という極めて精度の低いものであ
り、磁化条件の変動によっても、人工欠陥検出の判定に
影響を与えるので、磁粉濃度を定量的には把握できない
という問題点がある。
(発明の目的)
この発明の目的は、上記従来技術の問題点を解消し、疵
検上に寄与する正常な磁粉濃度を簡単な構成で定量的に
かつ正確に測定することのできる磁粉濃度の測定方法を
提供することである。
検上に寄与する正常な磁粉濃度を簡単な構成で定量的に
かつ正確に測定することのできる磁粉濃度の測定方法を
提供することである。
(目的を達成するための手段)
上記目的を達成するため、この発明による磁粉濃度の測
定方法は磁粉探傷に用いる磁粉液の磁粉濃度を測定する
方法であって、ある規定量の磁粉液を採取して既に剥離
している塗料を取り除き、しかる後磁粉に接着している
塗料を溶液中に剥離させてその但を調べることにより磁
粉濃度を測定することを特徴としている。
定方法は磁粉探傷に用いる磁粉液の磁粉濃度を測定する
方法であって、ある規定量の磁粉液を採取して既に剥離
している塗料を取り除き、しかる後磁粉に接着している
塗料を溶液中に剥離させてその但を調べることにより磁
粉濃度を測定することを特徴としている。
(実施例)
この発明の一実施例において、磁粉液中の磁粉濃1度の
測定は以下の手順に従って行われる。
測定は以下の手順に従って行われる。
(1) 規定量の磁粉液を採取する。
(2) 既に剥離している塗料を取り除く。
(3) 溶剤などにより、磁粉に接着している塗料を
溶液中に剥離させる。
溶液中に剥離させる。
(4) in粉は沈澱させ、塗料を含んだ溶液だけを
、規定量採取する。
、規定量採取する。
(5) 採取した溶液に紫外線などの光を当て、通過
光の減衰量を測定する。
光の減衰量を測定する。
(6) 測定した減衰量から、予め準備した相関テー
ブルなどの関連づけに従って、磁粉濃度を求める。
ブルなどの関連づけに従って、磁粉濃度を求める。
この方法で測定を行えば、磁粉液中に最初から浮遊して
いる塗料を一旦取り除き、しかる後磁粉に接着している
塗料を剥離させてそのmから磁粉濃度を求めるようにし
ているので、磁粉探傷法に必要な磁粉(つまり正常に塗
$1+1が接着している磁粉)の濃度を測定することに
なり、スケールや塗料のはがれた磁粉の影響は全く受け
ない。又光の減衰量という光学的特性を利用して、剥離
させた塗料の量を求めるようにしているので、定量的で
かつ目視測定等に比べてはるかに精度の高い測定を行う
ことができ、正確な濃度測定が可能となる。
いる塗料を一旦取り除き、しかる後磁粉に接着している
塗料を剥離させてそのmから磁粉濃度を求めるようにし
ているので、磁粉探傷法に必要な磁粉(つまり正常に塗
$1+1が接着している磁粉)の濃度を測定することに
なり、スケールや塗料のはがれた磁粉の影響は全く受け
ない。又光の減衰量という光学的特性を利用して、剥離
させた塗料の量を求めるようにしているので、定量的で
かつ目視測定等に比べてはるかに精度の高い測定を行う
ことができ、正確な濃度測定が可能となる。
次に上記の相関テーブルを作成するために行った実験結
果を以下に記述する。まず、0.1g/lと0.49/
j!の正確な濃度の磁粉液を用意する。
果を以下に記述する。まず、0.1g/lと0.49/
j!の正確な濃度の磁粉液を用意する。
(1) 磁粉液300CC採取後、10分間静置し、
磁粉を沈澱させる。
磁粉を沈澱させる。
(2) 既に剥離して浮遊している塗料を取り除くた
め、上ズミ液を捨て、水200 ccを追加する。
め、上ズミ液を捨て、水200 ccを追加する。
(3) 超音波洗浄を5分間行い、(1)において沈
澱した磁粉の塗料を剥離させる。
澱した磁粉の塗料を剥離させる。
(4)剥離した塗料を磁粉と分離するため、5分間静置
する。
する。
(5) 剥離した塗料を合む上ズミ液100CCを採
取する。(以下溶液△) f6) (5)で採取した溶液Aは、第1図で示す光
の減衰測定装置で溶液Aの減衰量を測定する。
取する。(以下溶液△) f6) (5)で採取した溶液Aは、第1図で示す光
の減衰測定装置で溶液Aの減衰量を測定する。
光の減衰測定装置は、紫外線照射装置11と溶液Aを入
れるシャーレ12と照度計13からなり、シャーレ12
に入った溶液Aに紫外線照射装置11から紫外線14を
照射し、紫外線14の減衰量を照度計13により測定す
る。
れるシャーレ12と照度計13からなり、シャーレ12
に入った溶液Aに紫外線照射装置11から紫外線14を
照射し、紫外線14の減衰量を照度計13により測定す
る。
(7) 上記した測定値により、0.1g/j!と0
.4g/fの磁粉濃度における(6)で求めた減衰量か
ら2点P、Qを直線補間することにより、第2図に示す
通り減衰量と磁粉濃度の相関テーブルを作成する。
.4g/fの磁粉濃度における(6)で求めた減衰量か
ら2点P、Qを直線補間することにより、第2図に示す
通り減衰量と磁粉濃度の相関テーブルを作成する。
次に、未知(実際には0.2!M/1)の濃度の磁粉液
に対し、同手順で前記減衰量を求め第2図の相関テーブ
ルより磁粉の濃度を測定したところ、0.24’j/1
という測定値を得た。また他の場合においても、はと/
υど誤差のない測定値が得られた。以上の実験結果より
、この方法による正確な濃度測定が可能だということを
立証できた。
に対し、同手順で前記減衰量を求め第2図の相関テーブ
ルより磁粉の濃度を測定したところ、0.24’j/1
という測定値を得た。また他の場合においても、はと/
υど誤差のない測定値が得られた。以上の実験結果より
、この方法による正確な濃度測定が可能だということを
立証できた。
また、本実施例では、光学的特性の1つである光の減衰
から剥離させた塗料の徂を求め、磁粉濃度の測定を行っ
たが、例えば蛍光磁粉の場合には、他の光学的特性であ
る光の散乱光の量から剥離させた蛍光塗料の量を求め、
磁粉濃度の測定を行うこともできる。この場合、散乱蛍
光を測定することになるので、溶液中の汚れなどの影響
は少なくてすむ。すなわち透過減衰による場合には汚れ
などによっても減衰するが、散乱光による場合にはその
影響は少なくなる。さらに、光学的特性を利用すること
なく剥離させた塗料の吊を求めることも可能であり、そ
の結果により上記実施例と同様にして磁粉濃度を測定す
ることもできる。
から剥離させた塗料の徂を求め、磁粉濃度の測定を行っ
たが、例えば蛍光磁粉の場合には、他の光学的特性であ
る光の散乱光の量から剥離させた蛍光塗料の量を求め、
磁粉濃度の測定を行うこともできる。この場合、散乱蛍
光を測定することになるので、溶液中の汚れなどの影響
は少なくてすむ。すなわち透過減衰による場合には汚れ
などによっても減衰するが、散乱光による場合にはその
影響は少なくなる。さらに、光学的特性を利用すること
なく剥離させた塗料の吊を求めることも可能であり、そ
の結果により上記実施例と同様にして磁粉濃度を測定す
ることもできる。
(発明の効果)
以上説明したように、この発明によれば、磁粉探傷法に
必要な正常に塗料を接着した磁扮濶度牙簡単な構成で足
場的、かつ正確に測定することができる。
必要な正常に塗料を接着した磁扮濶度牙簡単な構成で足
場的、かつ正確に測定することができる。
第1図はこの発明の実施例における光の減衰測定装置の
構成図、第2図は上記実施例における光の減衰量と磁粉
濃度の相関テーブルを示す図、第3図は従来技術である
コイル式磁粉濃度測定方法の概略図、第4図は磁粉の様
々な形態を示す図、第5図は人工欠陥式磁粉濃度測定方
法における標準試験片を示す図である。
構成図、第2図は上記実施例における光の減衰量と磁粉
濃度の相関テーブルを示す図、第3図は従来技術である
コイル式磁粉濃度測定方法の概略図、第4図は磁粉の様
々な形態を示す図、第5図は人工欠陥式磁粉濃度測定方
法における標準試験片を示す図である。
Claims (1)
- (1)磁粉探傷に用いる磁粉液の磁粉濃度を測定する方
法であって、ある規定量の磁粉液を採取して既に剥離し
ている塗料を取り除き、しかる後磁粉に接着している塗
料を溶液中に剥離させてその量を調べることにより磁粉
濃度を測定することを特徴とする磁粉濃度の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12164586A JPS62277553A (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | 磁粉濃度の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12164586A JPS62277553A (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | 磁粉濃度の測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62277553A true JPS62277553A (ja) | 1987-12-02 |
Family
ID=14816382
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12164586A Pending JPS62277553A (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | 磁粉濃度の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62277553A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100903633B1 (ko) * | 2002-09-03 | 2009-06-18 | 주식회사 포스코 | 자분농도 유지장치 |
CN111811984A (zh) * | 2020-08-06 | 2020-10-23 | 上海市机电设计研究院有限公司 | 磁粉含量测定装置 |
JP2021519922A (ja) * | 2018-03-27 | 2021-08-12 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 自動化された試料採取を用いた磁気ウェットベンチ |
-
1986
- 1986-05-26 JP JP12164586A patent/JPS62277553A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100903633B1 (ko) * | 2002-09-03 | 2009-06-18 | 주식회사 포스코 | 자분농도 유지장치 |
JP2021519922A (ja) * | 2018-03-27 | 2021-08-12 | イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド | 自動化された試料採取を用いた磁気ウェットベンチ |
CN111811984A (zh) * | 2020-08-06 | 2020-10-23 | 上海市机电设计研究院有限公司 | 磁粉含量测定装置 |
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