JPS62272439A - 電子放出装置 - Google Patents
電子放出装置Info
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- JPS62272439A JPS62272439A JP61113518A JP11351886A JPS62272439A JP S62272439 A JPS62272439 A JP S62272439A JP 61113518 A JP61113518 A JP 61113518A JP 11351886 A JP11351886 A JP 11351886A JP S62272439 A JPS62272439 A JP S62272439A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 3
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
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- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
[産業上の利用分野]
本発明は電子放出装置に係り、特に電圧の印加によって
電子を放出する電子放出素子と、放出された電子を吸引
するアノード電極とを有する電子放出装置に関する。
電子を放出する電子放出素子と、放出された電子を吸引
するアノード電極とを有する電子放出装置に関する。
[従来技術およびその問題点]
従来の電子放出装置では、後述するような各種電子放出
素子を用い、そこから放出される電子をアノード電極に
吸引して電子流を形成している。
素子を用い、そこから放出される電子をアノード電極に
吸引して電子流を形成している。
使用される電子放出素子としては、I’H接合のなだれ
降伏を用いたもの、PM接合に順バイアスをかけてP層
に電子を注入する方式のもの、簿い絶縁層を金属で挟ん
だ構造を有するもの(MIX型)、その他に電界放出型
や表面伝導型の素子等が提案されている。
降伏を用いたもの、PM接合に順バイアスをかけてP層
に電子を注入する方式のもの、簿い絶縁層を金属で挟ん
だ構造を有するもの(MIX型)、その他に電界放出型
や表面伝導型の素子等が提案されている。
第2図(A)は、PM接合に順方向バイアスをかけてP
層に電子を注入する方式の電子放出素子の模式的説明図
であり、第2図CB)は、その概略的な電流−電圧特性
を示すグラフである。
層に電子を注入する方式の電子放出素子の模式的説明図
であり、第2図CB)は、その概略的な電流−電圧特性
を示すグラフである。
同図(A)において、PM接合に順方向のバイアス電圧
Vを印加すると、同図(B)に示すような順方向電流I
が流れ、N層からP層に注入された電子がP層表面から
真空中へ放出される。このP層表面には、仕事関数を下
げて電子放出量を増加させるためにセシウムCs等が塗
布されている。
Vを印加すると、同図(B)に示すような順方向電流I
が流れ、N層からP層に注入された電子がP層表面から
真空中へ放出される。このP層表面には、仕事関数を下
げて電子放出量を増加させるためにセシウムCs等が塗
布されている。
しかしながら、このような電子放出素子を用いて7ノ一
ド電極間に電子流を形成すると、外部環境の変化や素子
の効率の変化等によって電子放出量が変化し、安定した
電子流を得ることができなかった。特に、同図(B)に
示すように、印加電圧Vがvf以上になると電流■の変
化が大きくなり、電子放出量を安定させることが困難と
なる。
ド電極間に電子流を形成すると、外部環境の変化や素子
の効率の変化等によって電子放出量が変化し、安定した
電子流を得ることができなかった。特に、同図(B)に
示すように、印加電圧Vがvf以上になると電流■の変
化が大きくなり、電子放出量を安定させることが困難と
なる。
また、仕事関数を下げるために塗布されたセシウムCs
は不安定な元素であり、電子放出量の変化の原因ともな
っている。
は不安定な元素であり、電子放出量の変化の原因ともな
っている。
第3図はMIX型電子電子放出素子略的構成図。
第4図は表面伝導型電子放出素子の概略的構成図である
。
。
WIN型電子電子放出素子金属電極1、絶縁層2および
薄い金属電極3が積層された構造を有し、電極1および
3 flitに電圧を印加することで薄い電極3側から
電子が放出される。
薄い金属電極3が積層された構造を有し、電極1および
3 flitに電圧を印加することで薄い電極3側から
電子が放出される。
また、表面伝導型電子放出素子は、絶縁基板4上に電極
5および6が形成され、その間に高抵抗薄膜7が形成さ
れている。そして、電圧を電極5および8間に印加する
ことで、高抵抗薄膜7の表面から電子が放出される。
5および6が形成され、その間に高抵抗薄膜7が形成さ
れている。そして、電圧を電極5および8間に印加する
ことで、高抵抗薄膜7の表面から電子が放出される。
このようなに■に型および表面伝導型の電子放出素子も
、上記PM型の場合と同様に、印加電圧がある程度以上
になると電流の変化が大きくなり、電子流を安定させる
ことが困難であった。また外部環境の変化や素子の効率
の変化等によって電子放出量が変化するために、安定し
た電子流を得ることができなかった。
、上記PM型の場合と同様に、印加電圧がある程度以上
になると電流の変化が大きくなり、電子流を安定させる
ことが困難であった。また外部環境の変化や素子の効率
の変化等によって電子放出量が変化するために、安定し
た電子流を得ることができなかった。
このような電子流の不安定性は、PM接合のなだれ降伏
を利用した素子や電界放出型の素子であっても同様であ
る。
を利用した素子や電界放出型の素子であっても同様であ
る。
[問題点を解決す企ための手段]
本発明による電子放出装置は、
電子放出素子より放出された電子をアノード電極に吸引
する構成を有する電子放出装置において、 前記電子放出素子から放出される電子流の量を検出する
電子流検出手段と、 該電子流検出手段の出力に基づいて、前記電子放出素子
に印加する電圧および/又は前記アノード電極に印加す
る電圧を調整する電圧制御手段と、を有することを特徴
とする。
する構成を有する電子放出装置において、 前記電子放出素子から放出される電子流の量を検出する
電子流検出手段と、 該電子流検出手段の出力に基づいて、前記電子放出素子
に印加する電圧および/又は前記アノード電極に印加す
る電圧を調整する電圧制御手段と、を有することを特徴
とする。
[作用]
このように、上記電子放出素子から放出される電子流の
量を検出し、その検出量を一定に維持するように前記電
子放出素子の印加電圧および/又は上記アノード電極に
印加する電圧を調整することによって、外部環境や電子
放出素子等の特性変化が生じても、常に安定した電子放
出量を得ることができる。
量を検出し、その検出量を一定に維持するように前記電
子放出素子の印加電圧および/又は上記アノード電極に
印加する電圧を調整することによって、外部環境や電子
放出素子等の特性変化が生じても、常に安定した電子放
出量を得ることができる。
[実施例]
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第1図は、本発明による電子放出装置の一実施例の概略
的構成を示すブロック図である。
的構成を示すブロック図である。
本実施例における電子放出素子11は、PM接合型、旧
X型、表面伝導をあるいは電界放出型であり、印加電圧
によって電子放出量全制御できるものであればよい、こ
こでは−例として、順方向バイアスを印加したPM接合
型電子放出素子を使用する。
X型、表面伝導をあるいは電界放出型であり、印加電圧
によって電子放出量全制御できるものであればよい、こ
こでは−例として、順方向バイアスを印加したPM接合
型電子放出素子を使用する。
電子放出素子11には可変電圧回路12によって電圧v
lが印加され、それによって電子13が放出されてアノ
ード電極14へ吸引される。アノード電極14には可変
電圧回路15によって電圧v2が印加されている。
lが印加され、それによって電子13が放出されてアノ
ード電極14へ吸引される。アノード電極14には可変
電圧回路15によって電圧v2が印加されている。
可変電圧回路12の正電極と可変電圧回路15の負電極
とは電子流検出用の抵抗Rを介して接続されている。ま
た、抵抗Rの両端は電子流検出回路IBに接続され、そ
の検出出力は制御回路17に入力する。制御回路17は
、その検出出力に基づいて可変電圧回路12および15
に制御信号を出力し、電圧vlおよび/又は電圧v2を
変化させる。
とは電子流検出用の抵抗Rを介して接続されている。ま
た、抵抗Rの両端は電子流検出回路IBに接続され、そ
の検出出力は制御回路17に入力する。制御回路17は
、その検出出力に基づいて可変電圧回路12および15
に制御信号を出力し、電圧vlおよび/又は電圧v2を
変化させる。
次に、このような構成を有する本実施例の動作を説明す
る。
る。
まず、可変電圧回路12および15によって、電子放出
素子11に電圧v1が印加され、アノード電極l4に電
圧v2が印加される。これによって、電子放出素子11
から電流!0が流出するとともに電流■1が流入し、電
子放出素子!lからアノード電極14へ電子13が放出
される。この電子流がアノード電極14に吸引され、電
子流の量に対応した電流12が抵抗Rに流れる。したが
って、抵抗Rの両端に発生する電圧を検出することで、
電子流の量を検出することができる。
素子11に電圧v1が印加され、アノード電極l4に電
圧v2が印加される。これによって、電子放出素子11
から電流!0が流出するとともに電流■1が流入し、電
子放出素子!lからアノード電極14へ電子13が放出
される。この電子流がアノード電極14に吸引され、電
子流の量に対応した電流12が抵抗Rに流れる。したが
って、抵抗Rの両端に発生する電圧を検出することで、
電子流の量を検出することができる。
制御回路17は電子流検出回路1Bから検出信号を入力
し、設定された基準信号との差を小さくするように可変
電圧回路12および/又は可変電圧回路15に制御信号
を出力する。たとえば、何らかの原因で電子放出量が減
少すると電流I2が減少し、それによって電子流検出回
路16からの検出信号が変化する。制御回路17は、検
出信号の変化によって生じた基準信号との差によって、
電子放出量が減少したことを検知し、電子放出量を増大
させるように、電圧Vtを上昇させるか、又はアノード
電極14の印加電圧v2を上昇させる。勿論、電圧v1
およびv2の両方を上昇させてもよく 電子放出素子1
1の特性等を考慮して最も制御し易い調整方法を決めて
おけばよい。
し、設定された基準信号との差を小さくするように可変
電圧回路12および/又は可変電圧回路15に制御信号
を出力する。たとえば、何らかの原因で電子放出量が減
少すると電流I2が減少し、それによって電子流検出回
路16からの検出信号が変化する。制御回路17は、検
出信号の変化によって生じた基準信号との差によって、
電子放出量が減少したことを検知し、電子放出量を増大
させるように、電圧Vtを上昇させるか、又はアノード
電極14の印加電圧v2を上昇させる。勿論、電圧v1
およびv2の両方を上昇させてもよく 電子放出素子1
1の特性等を考慮して最も制御し易い調整方法を決めて
おけばよい。
なお、上記電子放出素子11は熱電子放出の方式ではな
いために発熱量は大幅に低いが、熱による影響を軽減す
る手段を設けることで、電子流の安定性を更に向上させ
ることができる。
いために発熱量は大幅に低いが、熱による影響を軽減す
る手段を設けることで、電子流の安定性を更に向上させ
ることができる。
たとえば、第1図に示すように、電子放出素子11に温
度センサ101を設け、温度センサlotの出力を温度
検出回路102を通して制御回路17に出力する。そし
て、制御回路17は、電子流検出回路1Bからの検出信
号と温度検出回路102からの温度検出信号とを入力し
、既に述べたように1両検出信号に基づいて電圧v1お
よび/又は電圧v2を調整する。
度センサ101を設け、温度センサlotの出力を温度
検出回路102を通して制御回路17に出力する。そし
て、制御回路17は、電子流検出回路1Bからの検出信
号と温度検出回路102からの温度検出信号とを入力し
、既に述べたように1両検出信号に基づいて電圧v1お
よび/又は電圧v2を調整する。
さらに、電子放出素子11の温度を常に監視しているた
めに、素子の過熱を防止することができ、熱による影響
を最小限に止めることができる。
めに、素子の過熱を防止することができ、熱による影響
を最小限に止めることができる。
[発明の効果]
以上詳細に説明したように、本発明による電子放出装置
は、電子放出素子から放出される電子流の量を検出し、
その検出量を一定に維持するように前記電子放出素子の
印加電圧および/又はアノード電極に印加する電圧を調
整することによって、外部環境の変化や電子放出素子等
の特性変化が生じても、常に安定した電子の放出を行う
ことができる。
は、電子放出素子から放出される電子流の量を検出し、
その検出量を一定に維持するように前記電子放出素子の
印加電圧および/又はアノード電極に印加する電圧を調
整することによって、外部環境の変化や電子放出素子等
の特性変化が生じても、常に安定した電子の放出を行う
ことができる。
また、仕事関数を下げて電子放出量を増大させるために
放出表面にセシウム等の不安定な物質を形成しても、本
発明によれば安定した電子放出を達成できる。
放出表面にセシウム等の不安定な物質を形成しても、本
発明によれば安定した電子放出を達成できる。
第1図は、本発明による電子放出装置の一実施例の概略
的構成を示すブロック図。 第2図(A)は、PM接合に順方向バイアスをかけて2
層に電子を注入する方式の電子放出素子の模式的説明図
、第2図(B)は、その概略的な電流−電圧特性を示す
グラフ、 第3図は、 MIX型電子電子放出素子略的構成図、 第4図は、表面伝導型電子放出素子の概略的構成図であ
る。 11・・−電子放出素子 12、150・・可変電圧回路 13・−・電子 14・拳・アノード電極 1611・・電子流検出回路
的構成を示すブロック図。 第2図(A)は、PM接合に順方向バイアスをかけて2
層に電子を注入する方式の電子放出素子の模式的説明図
、第2図(B)は、その概略的な電流−電圧特性を示す
グラフ、 第3図は、 MIX型電子電子放出素子略的構成図、 第4図は、表面伝導型電子放出素子の概略的構成図であ
る。 11・・−電子放出素子 12、150・・可変電圧回路 13・−・電子 14・拳・アノード電極 1611・・電子流検出回路
Claims (1)
- (1)電子放出素子より放出された電子をアノード電極
に吸引する構成を有する電子放出装置において、 前記電子放出素子から放出される電子流 の量を検出する電子流検出手段と、 該電子流検出手段の出力に基づいて、前 記電子放出素子に印加する電圧および/又は前記アノー
ド電極に印加する電圧を調整する電圧制御手段と、 を有することを特徴とする電子放出装 置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61113518A JPS62272439A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 電子放出装置 |
US07/050,028 US4810934A (en) | 1986-05-20 | 1987-05-15 | Electron emission device |
US07/593,561 US5185559A (en) | 1986-05-20 | 1990-10-09 | Supply circuit for P-N junction cathode |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61113518A JPS62272439A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 電子放出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62272439A true JPS62272439A (ja) | 1987-11-26 |
Family
ID=14614375
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61113518A Pending JPS62272439A (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 電子放出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62272439A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01146236A (ja) * | 1987-12-03 | 1989-06-08 | Canon Inc | 電子線発生装置およびそれを用いた表示装置 |
WO2005106832A1 (ja) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Ulvac, Inc. | 電界放出型表示装置及びその制御方法 |
JP2015121750A (ja) * | 2013-12-25 | 2015-07-02 | シャープ株式会社 | 電子放出装置、その電子放出装置を備えた帯電装置、その帯電装置を備えた画像形成装置、及びその電子放出装置の制御方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5583141A (en) * | 1978-12-19 | 1980-06-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Control method of cathode heating current of hot-cathode electron gun |
JPS55126949A (en) * | 1979-03-26 | 1980-10-01 | Hitachi Ltd | Electron beam generator |
JPS5615529A (en) * | 1979-07-13 | 1981-02-14 | Philips Nv | Semiconductor device and method of fabricating same |
JPS5645543A (en) * | 1979-09-22 | 1981-04-25 | Shizuoka Daigaku | Semiconductor electron emitting element |
JPS56132737A (en) * | 1980-03-19 | 1981-10-17 | Hamamatsu Tv Kk | Cold electron discharge cathode |
-
1986
- 1986-05-20 JP JP61113518A patent/JPS62272439A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH01146236A (ja) * | 1987-12-03 | 1989-06-08 | Canon Inc | 電子線発生装置およびそれを用いた表示装置 |
WO2005106832A1 (ja) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Ulvac, Inc. | 電界放出型表示装置及びその制御方法 |
JPWO2005106832A1 (ja) * | 2004-04-28 | 2008-07-31 | 株式会社アルバック | 電界放出型表示装置及びその制御方法 |
JP2015121750A (ja) * | 2013-12-25 | 2015-07-02 | シャープ株式会社 | 電子放出装置、その電子放出装置を備えた帯電装置、その帯電装置を備えた画像形成装置、及びその電子放出装置の制御方法 |
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