JPS62261964A - タイムベ−ス回路 - Google Patents

タイムベ−ス回路

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JPS62261964A
JPS62261964A JP62095010A JP9501087A JPS62261964A JP S62261964 A JPS62261964 A JP S62261964A JP 62095010 A JP62095010 A JP 62095010A JP 9501087 A JP9501087 A JP 9501087A JP S62261964 A JPS62261964 A JP S62261964A
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    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
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    • G01R13/22Circuits therefor
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    • GPHYSICS
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明は、波形サンプリング・システム内でサンプリン
グ・ストローブ信号を発生するタイムベース回路に関す
る。
〔従来技術〕
代表的な波形サンプリング・システムでは、入力波形を
サンプリングする為にストローブ駆動型サンプリング・
ゲートを使用する。このサンプリング・ゲートを制御す
るストローブ信号は、トリガ・イベントから所定時間経
過後に、例えば入力波形が基I!!電位を横切る時点で
発生することが望ましい。例えば、平均化サンプリング
・システムでは、繰返し波形をサンプリングする際に波
形の複数の繰返しの同じ点でサンプリングして、その点
における波形の平均値を求めている。波形の各繰返しに
対して同一の点で波形サンプリングを確実に行う為には
、一連の各ストローブ信号が波形の各繰返しのトリガ・
イベントに対して相対的に同じ時点で発生しなければな
らない。別の例として、等優待間サンプリング・システ
ムでは、繰返し波形をサンプリングする際、各トリガ・
イベント後のストローブ信号の遅延時間を順次所定の量
だけ規則的に増加して、繰返し波形の複数の周期にわた
り一定間隔の複数の点でサンプリングする。
こうすることによりサンプリング・システムは、波形の
周波数がサンプリング・システムのサンプリング周期(
レート)に比べて高いにも拘わらず、波形の1周期を複
数の点でサンプリングして再現することができる。
平均化サンプリング及び等優待間サンプリングの精度は
、トリガ・イベント及びサンプリング・ストローブ信号
間の遅延時間がどの程度の精度で制御できるかによって
決まる。従来のサンプリング・システムのタイムベース
回路では、人力波形をトリガ発生器に印加して、波形の
トリガ・イベントを検出してトリガ信号を発生する。ト
リガ・レコグナイザより発生するトリガ信号は、ストロ
ーブ信号発生器に到達する前にプログラマブル遅延回路
により遅延され、ストローブ信号発生器はストローブ駆
動信号に応答してストローブ信号を発生する。トリガ信
号とストローブ信号間の遅延時間はトリガ・レコグナイ
ザの回路動作に固有の遅延時間を考慮して、遅延回路の
プログラミングにより制御される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、トリガ発生器の固有動作遅延時間及びプ
ログラマブル遅延回路の遅延時間は周囲の温度変化の影
響を受けるので、一連のトリガ・イベント←対するスト
ローブ信号の発生時点は、時間の経過と共に変動してし
まう。この結果、制御遅延時間の経時的変動を来し、そ
のままではサンプリング精度は時間の経過につれて変化
してしまう。
また、サンプリング精度を従来より一層向上させる為に
は、トリガ・イベントとサンプリング・ストローブ信号
間の遅延時間をより高精度に設定する必要がある。
従って、サンプリング精度を維持、向上する為に、サン
プリング遅延時間の設定を何度でも高速にかつ高精度に
再校正する方法及び装置が望まれていた。
従って、本発明の目的は、取込波形のトリガ・イベント
後のストローブ信号遅延時間が必要に応して調整可能な
サンプリング・システム用の改良型タイムベース回路を
提供することである。
本発明の別の目的は、ストローブ信号遅延時間を正確に
校正できるタイムベース回路を提供することである。
〔発明の概要〕
本発明の波形サンプリング・システム用タイムヘース回
路は、サンプリングする入力波形のトリガ・イベント後
ストローブ信号発生までのストローブ遅延時間を調整可
能にする。このストローブ信号は入力波形のサンプリン
グ時点を制御する。
このタイムベース回路は、ストローブ駆動信号に応して
ストローブ信号及びストローブ検出信号を発生するスト
ローブ制御回路を含んでいる。このタイムベース回路は
、また、トリガ・イベント及びストローブ検出信号のど
ちらか一方を選択して検出した時、トリガ信号を発生す
るトリガ発生器も含んでいる。このトリガ信号はストロ
ーブ駆動回路に送られ、ストローブ駆動回路はトリガ信
号入力後の遅延時間を調整してストローブ駆動信号を発
生する。トリガ発生器は、サンプリング動作中に発生す
るトリガ・イベントに応じてトリガ信号を発生する。ス
トローブ駆動回路は、トリガ信号に応じて、トリガ信号
入力後の調整可能遅延時間経過後に1個のストローブ駆
動信号を発生する。
それからストローブ制御回路は、入力波形のサンプリン
グを開始する1個のストローブ信号を発生する。
トリガ・イベントとストローブ信号との間の遅延時間を
校正する為には、トリガ発生器はトリガ・イベントとは
関係なくストローブ検出信号に応じてトリガ信号を発生
するように設定される。このトリガ信号はストローブ駆
動信号を発生させ、次にこれは別のストローブ検出信号
を発生し、これが更にもう1つ別のトリガ信号を発生す
る。このようにして、このタイム・ベース回路はトリガ
信号、ストローブ駆動信号及びストローブ検出信号を順
次周期的に発生する発J&器として動作する。
順次発生ずるストローブ駆動信号間の周期は、周期タイ
マーで測定し、その測定データをマイクロ・プロセッサ
(MPU)に送り、MPIIはストローブ駆動回路の遅
延時間を調整して2つの連続するストローブ駆動信号間
の周期(時間差)を所定の遅延時間に調整する0以上の
ようにして、サンプリング動作間隔が校正されると、周
囲の温度変化に起因するストローブ信号のタイミング変
動及び他の不安定要因は実質的に取り除かれる。
本発明の構成要件であるストローブ駆動回路は、トリガ
信号によりトリガされて周期的出力信号を発生する電圧
制御発振器(VCO)及びトリガ信号に応じてVCOを
出力する繰返し信号の計数を調整して出力パルスを発生
するプログラマブル・カウンタを含む、このカウンタの
出力パルスは、プログラマブル遅延回路によって遅延さ
れてストローブ駆動信号となる。 MPUはプログラマ
ブル・カウンタによるvCOの出力信号の計数を調整し
てストローブ信号遅延を粗く調整し、プログラマブル遅
延回路の遅延時間を調整してストローブ信号遅延を微調
整する。
本発明の別の構成要件である周期タイマーは、基11!
信号源として水晶制御発振器を用いてVCOの出力信号
の周期を測定する。MPIIはVCOの出力信号の周期
を測定した後、VCOの周波数を調整して周囲の温度変
化やその他の不安定要因に起因する周波数の変動を補正
する。
〔実施例〕
図は本発明のプログラマブル・タイムベース回路Qlの
ブロック図である。このタイムベース回路O1は人力波
形電圧Vinのトリガ・イベント発生後、遅延時間を調
整してサンプリング・ストローブ信号を発生する。スト
ローブ信号は、入力波形電圧Vinをサンプリングして
、ストローブ信号に応して出力波形サンプリング電圧V
、を発生するサンプリング・ゲート0乃の動作を制御す
る。このようなサンプリング・ゲートa旧よ例えば入力
波形をトリガ・イベントを基準にして複数の選択した時
点でサンプリングするデジタル・オシロスコープや波形
デジタイザなどに用いられる。タイムベース回路α〔は
ストローブ駆動信号に応じてストローブ信号とストロー
ブ検出信号を発生するストローブ制御回路Q旬を含んで
いる。このストローブ制御回路Oaはストローブ駆動信
号を受けて幅の狭いストローブ・パルスを発生するスト
ローブ信号発生器αつ及びストローブ検出信号を発生す
る受動回路αηを含んでいる。この受動回路Q71はス
トローブ駆動信号が接地とAC結合するように直列接続
した抵抗(17a)並びにコンデンサ(17b)及び(
17c)を含んでいる。ストローブ検出信号はストロー
ブ駆動1言号に応じて、両コンデンサの接続点に発生す
る。
また、タイムベース回路01はトリガ発生器θeを含ん
でいる。トリガ発生Hasは人力波形電圧Vinのトリ
ガ・イベント(INT TRIG)、外部トリガ信号源
からの波形のトリガ・イヘン) (EXT TRIG)
、又はストローブ制御回路Q41で発生したストローブ
検出信号から1つを選択的に検出してトリガ信号(トリ
ガ)を発生する。トリガ発生器O1より発生したトリガ
信号は、トリガ信号発生後の遅延時間を調整してストロ
ーブ駆動信号を出力するストローブ駆動回路O1へ入力
される。
サンプリング動作中、トリガ発生器は内部又は外部トリ
ガ源の一方を選択してトリガ・イベントを検出すると、
トリガ信号を発生する。ストローブ駆動回路α鴫はトリ
ガ信号発生後所定の遅延時間径iI!l後に1個のスト
ローブ駆動信号を発生する。
このストローブ駆動信号はストローブ制御回路間に1個
のストローブ信号を発生させ、次にサンプリング・ゲー
トa乃に入力波形電圧Vinのサンプリングを行わせる
タイムベース回路aI]1はトリガ・イベントからスト
ローブ信号発生までのサンプリング遅延時間を校正する
手段を含んでいる。この校正動作中、トリガ発生器αe
は内部又は外部トリガ源のトリガ・イベントとは関係な
く、ストローブ制御回路間からのストローブ検出信号に
応してトリガ信号を発生するように設定される。トリガ
発生2S Qli)は最初のトリガ信号を発生して第1
ストローブ駆動(3号を出力し、次にこれが第1ストロ
ーブ検出信号となる。この第1ストローブ検出(3号に
より、トリガ発生器06)は第2トリガ信号を発生し、
次にこれが第2ストローブ駆動信号となる。このような
過程を反復して、タイムベース回路頭はトリガ信号、ス
トローブ駆動信号及びストローブ検出信号を周期的に発
生する発信器のように動作する。
順次発生するストローブ駆動信号間の周期は周期タイマ
ーI21によって測定され、この周期を示すデータがマ
イクロ・プロセッサ(MPU) (22)へ送られる。
 MPU(22)は周期タイマー(至)からの周期デー
タよりストローブ駆動回路αlの信号遅延を調整して、
順次発生するストローブ駆動信号間の周期を所定の遅延
時間に校正する。トリガ発生器0[9が外部又は内部ト
リガ源によるトリガ・イベントに応してトリガ信号を発
生する時、ストローブ信号はトリガ・イベントの所定遅
延時間後に発生する。
この遅延時間がサンプリング動作中、一定期間毎に上述
のように再校正されていれば、周囲の温度変化やその他
の要因によるストローブ信号の時間的変動は実質的に排
除される。
トリガ発生器αQはトリガ選択回路(トリガ・セレクタ
)(24) 、)リガ・レコグナイザ(26)、及びホ
ールドオフ・カウンタ(28)を含んでいる。外部及び
内部トリガ源はトリガ・セレクタ(24)へ入力信号と
して印加され、この入力信号の中で−PU (22)か
らのiffff開制御信号EL)により選択された信号
がトリガ・レコグナイザ(26)へ入力される。トリガ
・セレクタ(24)は−Put(22)からのトリガ制
御信号(MPU TRIG)に応じて校正動作中の第1
トリガ信号も発生する。このトリガ・レコグナイザ(2
6)には、トリガ・セレクタ(24)の出力信号がMP
U (22)からのデータにより予め設定された電圧レ
ベルより上昇するか下降すると、トリガ信号を発生する
プログラマブル・レベル検出器を含むことが望ましい。
トリガ・レコグナイザ(26)のトリガ信号出力はホー
ルドオフ・カウンタ(28)の入力信号となり、このホ
ールドオフ・カウンタ(28)はTRIGによりその時
点の計数値をゼロにリセットされ、禁止信号(INII
IBIT)をトリガ・レコグナイザ(26)へ送り始め
、ストローブ駆動回路Qlが発生した周期的号Vsの計
数を開始する。この禁止信号はトリガ・レコグナイザ(
26)がその後のトリガ信号を発生するのを防ぐ。この
ホールドオフ・カウンタ(28)はVs倍信号所定の数
だけ計数すると、禁止信号をトリガ・レコグナイザ(2
6)へ出力するのを停止し、トリガ・レコグナイザ(2
6)は別のトリガ・イベントが人力すれば、別のトリガ
信号を発生できるよう準備する。ホールドオフ・カウン
タ(28)の計数限界は、MPU (22)からノテー
9 (CNT LIM) ニヨリ設定される。この計数
限界は、トリガ発生器が次のトリガ信号を発生する前に
確実にストローブ信号が出力されるように通常十分大き
く設定される。
ストローブ駆動回路Oノはトリガラブル電圧制御発振器
(VCO) (30) 、プログラマブル・カウンタ(
32)、プログラマブル遅延回路(34)及びデジタル
・アナログ変換器(DAC) (36)を含んでいる。
vCO(30)はDAC(36)の出力電圧Vcにより
制御された周波数の上述の周期信号Vsを発生する。制
御電圧Vcの値は、MPU (22)からDAC(36
)へ入力されるデータにより決まる。トリガ発生2& 
QlからVCO(30)へ人力するトリガ信号により、
トリガ信号発生後所定の時点で予め設定した位相でVC
Oの動作が停止及び再開される。トリガ発生器0[9の
トリガ信号出力は、カウンタ(32)にもクリ、ア入力
(CLR)として印加され、このカウンタの計数値をゼ
ロにリセットする。プログラマブル・カウンタ(32)
はトリガ信号発生後の第1サイクルからVCO(30)
の出力信号Vsの計数を開始し、Vsの計数値が予め設
定した計数限界に達した時にプログラマブル遅延回路(
34)に出力パルスを送る。この計数限界はMPU (
22)からプログラマブル・カウンタ(32)への入力
データ(CNT LIM)により設定される。プログラ
マブル遅延回路(34)はプログラマブル・カウンタ(
32)の出力パルスをMPU (22)からのデータで
決まる調整量だけ遅延させる。プログラマブル遅延回路
(34)からの遅延したパルス出力は、ストローブ駆動
回路Qlのストローブ駆動信号出力としてストローブ制
御回路0旬に印加される。
トリガ信号及びストローブ駆動信号間の遅延時間は、プ
ログラマブル・カウンタ(32)の計数限界をVCO(
30)の出力信号VSの周波数で割った値に、プログラ
マブル遅延回路(34)の遅延時間を加算した値に等し
い、トリガ信号とストローブ駆動信号間の遅延時間を粗
調整するには、MPU (22)はプログラマブル・カ
ウンタ(32)の計数限界を調整し、遅延時間をff1
jil整するには、MPU (22)はプログラマブル
遅延回路(34)の遅延時間を調整する。
トリガ・イベント及びストローブ信号間の遅延時間を校
正する為に測定する必要が生じると、MPU(22)は
トリガ・セレクタ(24)を切換えてストローブ制御回
路−からのストローブ検出信号をトリガ・レコグナイザ
(26)へと印加する。更に、MPtl(22) は?
lPU  トリガ信号(MPU TRIG)をトリガ・
セレクタ(24)へ送り、トリガ・セレクタ(24)か
らトリガ・レコグナイザ(26)へ1個のパルスを送る
このパルスによりトリガ・レコグナイザ(26)はスト
ローブ駆動回路Qlへ第1トリガ信号を送るプログラマ
ブル・カウンタ(32)の計数限界とプログラマブル遅
延図B (34)で決まる遅延時間の経過後、ストロー
ブ駆動回路alは第1ストローブ駆動信号を発生する。
第1ストローブ駆動信号によりストローブ制御回路aり
は、第1ストローブ検出信号を発生する。トリガ・セレ
クタ(24)はストローブ検出信号をトリガ・レコグナ
イザ(26)へと通過させるので、トリガ・レコグナイ
ザ(26)は第2トリガ信号を発生して、第2トリガ信
号によりストローブ駆動回路Qlは第2ストローブ駆動
信号を発生する。このような過程が反復連続するので、
タイムベース回路Qlは周期的にトリガ信号、ストロー
ブ駆動信号及びストローブ検出信号を順次発生する発振
器として動作する。ストローブ検出信号間の周期はトリ
ガ・セレクタ(24)が後で内部及び外部トリガ源をス
イッチ選択した時のトリガ・イベント及びストローブ信
号間の遅延時間と実質的に等しい。
周期タイマー(2)は周波数分周器(37)、水晶発振
28(38)、ゲート(40)、及びイベント・カウン
タ(42)を含んでいる。ストローブ駆動信号は周波数
分周器(37)へ入力され、第1ストローブ駆動信号を
受けとると出力を低状態にし、その後例えば1000個
のストローブ駆動信号を受は取ると、その出力を高状態
にする。マルチプレクサ(MUx) (44)は周波数
分周器(37)の出力信号をゲート(40)の制御入力
へ送り、別のMUX (46)は水晶発振器(38)の
周期的出力信号をゲー) <40)の信号入力端子へ送
る。ゲート(40)の制御入力が低状態に設定されてい
ると、ゲート(40)は水晶発振器(38)の出力信号
をイベント・カウンタ(42)へ送り、ケート(4o)
ノ制御入力が高状態に設定されると、ゲート(4o)は
イベント・カウンタ(42)への出力を停止する。
イベント・カウンタ(42)の計数値及び周波数分周器
(37)の動作は、校正動作の前にMPII(22)に
よりリセット(RC5ET)される。第1ストローブ駆
動信号が発生すると、周波数分周器(37)は出力を低
状態に設定して水晶発振器の出力信号(好適には約20
0MHz)をイベント・カウンタ(42)の入力端子へ
送る。イベント・カウンタ(42)はそれがら水晶発振
器(38)の出力信号の計数を開始する。ストローブ駆
動回路01により発生するストローブ駆動信号が100
0個を超えると、周波数分周器(37)は出力を高状態
にしてゲート(40)のイベント・カウンタ(42)へ
の出力を停止させる。その後MPU (22)はイベン
ト・カウンタ(42)の計数値を読み込んで、その計数
値を1000で割り、更に水晶発振器(38)の出力信
号の周波数で割り、ストローブ駆動回路α四のプログラ
マブル・カウンタ(32)及び遅延回路(34)によっ
てその時点で生じるストローブ信号の遅延時間を求める
。MPU (22)はプログラマブル・カウンタ(32
)の計数限界とプログラマブル遅延回路(34)の遅延
時間の一方又は両方を調整して、ストローブ信号遅延時
間を増加または減少させ、上述の測定及び調整を必要に
応じて繰り返し、ストローブ信号遅延時間を所定の値に
正確に校正する。
周期タイマー12場を用いて、MPU (22)はスト
ローブ駆動回路0睦のトリガラブルVCO(30)の周
波数を校正することもできる。VCo (300)の出
力信号VsはMtlX (46)の第2人力へ印加して
いる。水晶発振器(38)の出力信号は別の周波数分周
器(48)で分周(例えば10”で分周)され、この周
波数分周器(48)の出力はMIX (44)の第2人
力へ印加する。
VCO(30)を校正する為に、MPU (22)はM
IX (44)及びMIX (46)を切換えて、周波
数分周23(4g)の出力がゲー) (40)の動作を
制?Iして、VCO(30)の出力v3をゲート(40
)の信号人力に印加する。測定動作する前に、周波数分
周器(48)及びイベント・カウンタ(42)は、MP
U (22)によりリセット(1?Esl!T)される
、その後、周波数分周器(48)の出力は水晶発振器(
38)の出力信号の106サイクル間低状態に設定され
、ゲー) (40)はVsをその時間だけイベント・カ
ウンタ(42)へと送るイベント・カウンタ(42)は
その間入力信号Vsの計数を行い、その後MPtl(2
2)はその計数値を読込んで、その値からVCO(30
)の出力信号周波数を計算し、DAC(36)へ出力す
るデータを変更してVCO(30)の周波数を調整する
。この測定と調整をVCO(30)の周波数が正確に校
正されるまで交互に行えばよい。
プログラマブル・カウンタ(32)及びプログラマブル
遅延回路(34)の構成例は、本出願人による米国特許
出願第846,319号「デジタル遅延制御装置」に記
載されている。
水晶発振器(38)により出力される信号は極めて安定
性が高く、周囲の温度変化にもあまり影響されることが
ない。従って、ストローブ信号の遅延時間及びVCO(
30)の出力周波数を校正する際に、水晶発振器(38
)を使用したので、比較的大きな周囲の温度変化または
連続するサンプリング動作問の他の不安定要因があって
も、本発明のタイムベース回路Qlの安定性は確実に保
証される。
以上本発明の好適実施例について説明してきたが、本発
明の要旨を逸脱することなく、様々の変更及び修正を施
せることは、当業者には明らかである。
〔発明の効果〕
本発明によれば、トリガ発生器が入力信号又は、゛スト
ローブ検出信号のいずれかを121tlで動作するよう
にし、ストローブ検出信号を選択するときに閉ループを
形成し、この閉ループを循環するパルスの周期を測定及
び調整可能にすることにより、サンプリング・ストロー
ブ信号の発生時点をl’lPυにより高速且つ所定頻度
で自動校正できるので、周囲の温度変化等の外的不安定
要因に影響されずに、常に安定した、時間的に高精度な
ストローブ信号を発生するサンプリング・システム用の
タイムベース回路が実現できる。
また、ストローブ信号遅延時間を設定する際、粗調整用
プログラマブル・カウンタと微調整用プログラマブル遅
延回路を併用するので、遅延時間の設定精度が著しく向
上し、その結果、サンプリング精度が飛躍的に向上する
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるタイムベース回路の一実施例を示
すブロック図である。 Q41,081はストローブ信号発生手段、Olはトリ
ガ発生器、(2mは周期タイマーである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 入力信号及びストローブ検出信号のいずれかを選択して
    トリガ信号を発生するトリガ発生器と、上記トリガ信号
    を受けて所定遅延時間後にストローブ信号及び上記スト
    ローブ検出信号を発生するストローブ信号発生手段と、
    上記トリガ発生器が上記ストローブ検出信号を選択した
    時上記ストローブ信号の周期を測定する周期タイマーと
    を具え、上記ストローブ信号発生手段の遅延時間を調整
    することによって、上記周期タイマーが測定する周期を
    校正可能とすることを特徴とするタイムベース回路。
JP62095010A 1986-04-30 1987-04-17 タイムベ−ス回路 Granted JPS62261964A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/858,490 US4812769A (en) 1986-04-30 1986-04-30 Programmable sampling time base circuit
US858490 1986-04-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62261964A true JPS62261964A (ja) 1987-11-14
JPH0573176B2 JPH0573176B2 (ja) 1993-10-13

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ID=25328436

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62095010A Granted JPS62261964A (ja) 1986-04-30 1987-04-17 タイムベ−ス回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4812769A (ja)
EP (1) EP0244052B1 (ja)
JP (1) JPS62261964A (ja)
DE (1) DE3786945T2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5054490A (en) * 1988-05-11 1991-10-08 Lunar Corporation Ultrasonic densitometer device and method
EP0425737B1 (en) * 1989-10-30 1993-12-01 Tektronix Uk Ltd. Digital storage oscilloscopes
US5268851A (en) * 1991-10-21 1993-12-07 Tektronix, Inc. Detection of metastability in triggers
US5315627A (en) * 1993-02-22 1994-05-24 Hewlett-Packard Company Pseudo-random repetitive sampling of a signal
US5446650A (en) * 1993-10-12 1995-08-29 Tektronix, Inc. Logic signal extraction
US5959479A (en) * 1997-09-11 1999-09-28 Hewlett-Packard Company Sampling timebase system
US6181267B1 (en) 1998-09-30 2001-01-30 Agilent Technologies Inc. Internally triggered equivalent-time sampling system for signals having a predetermined data rate
US6317842B1 (en) 1999-02-16 2001-11-13 Qlogic Corporation Method and circuit for receiving dual edge clocked data
US6615345B1 (en) * 1999-07-29 2003-09-02 Micron Technology, Inc. System and method for regulating data capture in response to data strobe using preamble, postamble and strobe signature
US6564160B2 (en) * 2001-06-22 2003-05-13 Agilent Technologies, Inc. Random sampling with phase measurement
US7111228B1 (en) 2002-05-07 2006-09-19 Marvell International Ltd. System and method for performing parity checks in disk storage system
US7007114B1 (en) * 2003-01-31 2006-02-28 Qlogic Corporation System and method for padding data blocks and/or removing padding from data blocks in storage controllers
US7287102B1 (en) 2003-01-31 2007-10-23 Marvell International Ltd. System and method for concatenating data
US7039771B1 (en) 2003-03-10 2006-05-02 Marvell International Ltd. Method and system for supporting multiple external serial port devices using a serial port controller in embedded disk controllers
US7080188B2 (en) * 2003-03-10 2006-07-18 Marvell International Ltd. Method and system for embedded disk controllers
US7064915B1 (en) 2003-03-10 2006-06-20 Marvell International Ltd. Method and system for collecting servo field data from programmable devices in embedded disk controllers
US7492545B1 (en) 2003-03-10 2009-02-17 Marvell International Ltd. Method and system for automatic time base adjustment for disk drive servo controllers
US7870346B2 (en) * 2003-03-10 2011-01-11 Marvell International Ltd. Servo controller interface module for embedded disk controllers
US7099963B2 (en) * 2003-03-10 2006-08-29 Qlogic Corporation Method and system for monitoring embedded disk controller components
US7339984B1 (en) 2003-04-10 2008-03-04 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for jitter measurement using phase and amplitude undersampling
US7526691B1 (en) 2003-10-15 2009-04-28 Marvell International Ltd. System and method for using TAP controllers
US7284141B2 (en) * 2004-02-05 2007-10-16 Anritsu Company Method of and apparatus for measuring jitter and generating an eye diagram of a high speed data signal
US7139150B2 (en) * 2004-02-10 2006-11-21 Marvell International Ltd. Method and system for head position control in embedded disk drive controllers
US7120084B2 (en) 2004-06-14 2006-10-10 Marvell International Ltd. Integrated memory controller
US8166217B2 (en) * 2004-06-28 2012-04-24 Marvell International Ltd. System and method for reading and writing data using storage controllers
US9201599B2 (en) * 2004-07-19 2015-12-01 Marvell International Ltd. System and method for transmitting data in storage controllers
US7757009B2 (en) * 2004-07-19 2010-07-13 Marvell International Ltd. Storage controllers with dynamic WWN storage modules and methods for managing data and connections between a host and a storage device
US8032674B2 (en) * 2004-07-19 2011-10-04 Marvell International Ltd. System and method for controlling buffer memory overflow and underflow conditions in storage controllers
US7386661B2 (en) 2004-10-13 2008-06-10 Marvell International Ltd. Power save module for storage controllers
US7240267B2 (en) 2004-11-08 2007-07-03 Marvell International Ltd. System and method for conducting BIST operations
US7802026B2 (en) * 2004-11-15 2010-09-21 Marvell International Ltd. Method and system for processing frames in storage controllers
US7609468B2 (en) 2005-04-06 2009-10-27 Marvell International Ltd. Method and system for read gate timing control for storage controllers
US20060241915A1 (en) * 2005-04-08 2006-10-26 Woodward Mark J Quadrature phase-shifting timebase system
WO2012078682A1 (en) * 2010-12-06 2012-06-14 Semtech Corporation Flyback primary side output voltage sensing system and method
US10090057B2 (en) 2017-02-23 2018-10-02 Sandisk Technologies Llc Dynamic strobe timing
US10534018B1 (en) 2019-01-16 2020-01-14 Guzik Technical Enterprises Time base correction method for high accuracy sampling scope-based measurements
CN114509589A (zh) * 2020-11-17 2022-05-17 北京普源精电科技有限公司 示波器的触发系统、触发方法、示波器以及存储介质

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3646370A (en) * 1970-07-06 1972-02-29 Honeywell Inc Stabilized monostable delay multivibrator or one-shot apparatus
US4415861A (en) * 1981-06-08 1983-11-15 Tektronix, Inc. Programmable pulse generator
JPS5814622A (ja) * 1981-07-20 1983-01-27 Advantest Corp 遅延回路
JPS5935155A (ja) * 1982-08-23 1984-02-25 Tohoku Denshi Sangyo Kk 高速現象測定装置
US4458165A (en) * 1983-03-23 1984-07-03 Tektronix, Inc. Programmable delay circuit
JPS603561A (ja) * 1983-06-20 1985-01-09 Nissan Motor Co Ltd 自動変速機の変速制御装置
US4717883A (en) * 1986-08-04 1988-01-05 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for reducing errors in a sampling system utilizing an error-sampled feedback loop

Also Published As

Publication number Publication date
DE3786945D1 (de) 1993-09-16
DE3786945T2 (de) 1994-02-10
EP0244052B1 (en) 1993-08-11
JPH0573176B2 (ja) 1993-10-13
EP0244052A2 (en) 1987-11-04
US4812769A (en) 1989-03-14
EP0244052A3 (en) 1989-02-08

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