JPH0470588B2 - - Google Patents

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JPH0470588B2
JPH0470588B2 JP62153216A JP15321687A JPH0470588B2 JP H0470588 B2 JPH0470588 B2 JP H0470588B2 JP 62153216 A JP62153216 A JP 62153216A JP 15321687 A JP15321687 A JP 15321687A JP H0470588 B2 JPH0470588 B2 JP H0470588B2
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JP
Japan
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trigger
signal
time
delayed
generator
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JP62153216A
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JPS635270A (ja
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Emu Hooruto Teimoshii
Jon Jarobetsuku Rii
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Tektronix Inc
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Tektronix Inc
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Publication of JPH0470588B2 publication Critical patent/JPH0470588B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G04HOROLOGY
    • G04FTIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F13/00Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00
    • G04F13/02Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00 using optical means
    • G04F13/023Apparatus for measuring unknown time intervals by means not provided for in groups G04F5/00 - G04F10/00 using optical means using cathode-ray oscilloscopes

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はパルス測定回路、特に入力信号(パル
ス)のパルス幅、周期、立上り時間等の時間パラ
メータを測定する2時間軸オシロスコープ等に適
用して好適なパルス測定回路に関する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする問題点〕
従来の2時間軸オシロスコープは、メツツによ
る米国特許第4551656号明細書及びダルトンによ
る米国特許第4109182号明細書に開示されている
ように、主掃引及び遅延掃引を発生する為、2つ
の掃引信号(即ち、ランプ信号)発生器を有す
る。遅延掃引の開始時点として主掃引期間中の任
意の時点を選択することかできる。この遅延掃引
の開始時点から主掃引の一部分を選択して拡大表
示することにより、CRT画面上の計測用目盛を
用いて所望のパルス等を視覚測定できる。例え
ば、周期のようなパルスの時間パラメータを測定
する為には、目盛上でパルスを拡大表示して測定
分解能をより高めるように遅延掃引を設定するこ
とができる。この測定技法の明らかな欠点は目盛
を用いて視覚的に計測値を読み取る場合に特有の
測定誤差を生じることである。特に、電子ビーム
や目盛の線の太さが所望の分解能に比べて大きい
場合には、この誤差は顕著になる。
従つて、本発明の目的は信号パルスの時間パラ
メータを正確に測定する改良パルス測定回路を提
供することである。
本発明の別の目的はパルスの時間パラメータを
電気的に算出し、その結果を機器の操作者に表示
する装置を提供することである。
本発明の他の目的は2時間軸オシロスコープに
適用して好適な信号測定回路を提供することであ
る。
本発明の更に他の目的はオシロスコープの主及
び遅延トリガ発生器が同一のイベントに対してト
リガを発生し得る回路を提供することである。
〔発明の概要〕
本発明のパルス測定回路は主トリガ発生手段及
び遅延トリガ発生手段を含んでいる。可変遅延手
段は主トリガ信号が発生してから選択した遅延時
間後に遅延トリガ発生手段をイネーブルして遅延
トリガ信号を発生可能にする。入力信号(パル
ス)は遅延トリガ発生手段に送られる前に、固定
遅延手段によつて予め設定した時間遅延される。
次に、測定手段により主及び遅延トリガ信号間の
時間差を測定する。可変遅延手段の遅延時間を調
整することにより、遅延トリガ発生手段は主トリ
ガ手段と同じパルスに対しトリガを発生したり、
或いは後続のパルスに対しトリガを発生すること
が出来る。
入力信号の時間パラメータを測定する為には、
主及び遅延トリガ発生器は、例えば予め定めた電
圧レベル及びスロープの如き第1パラメータ条件
で同一のパルスに対しトリガを発生する。それか
ら、2個のトリガ信号の発生時点の第1時間差が
測定される。次に、両トリガ発生器の一方が別の
電圧レベル及びスロープの如き第2パラメータ条
件でトリガを発生する。これら2個のトリガ信号
の発生時点間の第2時間差が測定される。そして
第1時間差を第2時間差から差し引いて、入力信
号の時間パラメータを求める。
〔実施例〕
第1図は本発明によるパルス測定回路の実施例
を含む2時間軸オシロスコープのブロツク図であ
る。ここに説明するパルス測定回路は様々な計測
器に応用し得るが、1例としてオシロスコープに
応用した場合を示している。
この第1図は、周知の複数垂直軸チヤンネル内
の1チヤンネルを示している。このチヤンネル
は、電気的入力信号を受ける入力端子10と、入
力信号を減衰する減衰回路12と、この信号を水
平掃引信号と一致させる為に遅延させる遅延線1
4と、垂直増幅器16と、CRT18とを含んで
いる。CRT18に含まれる1対の垂直偏向板2
0は、入力信号に応じて、CRTスクリーン上に
内部電子ビーム(図示せず)を偏向させて、周知
の方法で波形を再成する。
このオシロスコープの掃引(ランプ)発生回路
は内部電源(LINE)或いは外部の信号源からト
リガされる。本発明を説明する為、主及び遅延ト
リガ発生器のトリガ動作間の時間関係が確定する
入力信号の内部トリガ動作をしているものとす
る。第1図の接続点Aに於て、この垂直軸チヤン
ネルの入力信号の一部が内部トリガ信号として取
り出され主トリガ発生器22へ入力される。この
周知の主トリガ発生器22は電圧レベル比較器及
び信号スロープ・セレクタを内蔵している。入力
パルスに応じて主トリガ発生器22は特定のパル
ス・スロープ及び電圧レベルの如き選択可能なト
リガ点でトリガ信号を発生する。このトリガ信号
は主掃引(ランプ)発生器24へ入力する。この
主掃引発生器24はミラー積分回路、即ちランプ
電圧を発生するようにコンデンサに定電流源を直
列接続したものである。このランプ電圧はラン
プ・チヤンネル・スイツチ26及び水平増幅器2
8を介してCRT18の水平偏向板30に印加さ
れる。一旦トリガ信号を発生すると、主トリガ発
生器22はマイクロプロセツサ(MPU)制御回
路32からの主トリガ制御信号により、周知の通
りリセツトし、イネーブル状態となる。
入力信号はまた接続点Aから同軸ケーブルの如
き遅延線34を介して遅延トリガ発生器36の入
力端Bにも内部トリガ信号として入力される。主
トリガ発生器22と同様に、遅延トリガ発生器3
6は入力信号のスロープ及び電圧を選択してトリ
ガを発生するように調整できる。遅延トリガ発生
器の端子Cには可変遅延回路38からRESET/
ENABLE信号が入力する。このRESET/
ENABLE信号は、接続点Dに於ける主トリガ信
号に応じて可変遅延回路38から発生し、選択し
た遅延時間後に遅延トリガ発生器36をイネーブ
ルする。遅延トリガ発生器36のイネーブルによ
り発生した遅延トリガ信号は遅延掃引(ランプ)
発生器40へ入力する。遅延掃引(ランプ)発生
器40の発生したランプ電圧は、ランプ・チヤン
ネル・スイツチ26及び水平増幅器28を介して
CRT18の水平偏向板30に印加される。2時
間軸オシロスコープで通常見られるように、ラン
プ・チヤンネル・スイツチ26は、主掃引発生器
24及び遅延掃引発生器40の両掃引電圧をオル
タネート掃引或いはチヨツプ掃引する為に用いら
れ、入力信号の波形を両掃引で同時に表示し得
る。
第2図は可変遅延回路38の回路図を示してい
る。可変遅延回路38は様々に構成できるが、こ
の基本的な実施例は1対のトランジスタ42及び
44を有する差動増幅器を含んでおり、トランジ
スタ42に差動入力として主トリガ信号が入力
し、トランジスタ44には差動入力として基準電
圧源VREF45が入力している。電流源46はトラ
ンジスタ・ペア42及び44に低入力電圧で電流
を供給している。トランジスタ44のコレクタに
はコンデンサ48と、MPU制御回路32からの
RESET/線路50と、トリガ発生器
36にイネーブル信号を送る比較器52の反転入
力端と接続している。スイツチ54を介して比較
器52の非反転入力端は複数の基準電圧源群56
の中の1つと接続している。スイツチ54で電圧
源群56の電圧レベルを切換えることにより、可
変遅延回路38の可変遅延制御を可能にしてい
る。
主トリガ信号が主トリガ発生器22で発生する
と、主トリガ信号電圧が上昇して基準電圧源45
の電圧を越えると、電流源46からの電流はトラ
ンジスタ42からトランジスタ44へと切換わ
る。イネーブル・モード時、線路50のインピー
ダンスが高いので、トランジスタ44を流れる電
流はコンデンサ48を直線的に充電し、比較器5
2の反転入力端にランプ電圧を印加する。このラ
ンプ電圧はMPU制御回路32で制御された基準
電圧源群56の1つの電圧レベルと比較され、遅
延トリガ発生器36の入力端子CにRESET/
ENABLE信号が送られる。こうして、MPU制御
回路32は、可変遅延回路38の信号伝播遅延を
制御している。可変遅延回路は、MPU制御回路
32からのリセツト信号がトランジスタ57を飽
和させ、コンデンサ48の電荷を線路50を介し
て放電させることにより、リセツトされる。遅延
線34の遅延時間は、少くとも主トリガ発生器2
2の伝播遅延時間と、可変遅延回路38の最小遅
延時間との和と等しくなるように選ばれる。遅延
トリガ発生器36の入力信号を遅延線34で遅延
させることにより、入力信号が入力する前に遅延
トリガ発生器36が可変遅延回路38によりイネ
ーブルされるようにして、主及び遅延トリガ発生
器22,36が同一のパルスに対してトリガ信号
を発生できるようにしている。また、可変遅延回
路38の遅延時間を増加して、可変遅延回路38
からのRESET/信号を制御すること
により、遅延トリガ発生器36が連続しているパ
ルスに対してトリガ信号を発生するようにもでき
る。即ち、可変遅延回路38の遅延時間を充分大
きくすることにより、入力端Bに信号が入力した
時に遅延トリガ発生器36がイネーブルされてい
ないようにできる。しかし、その後遅延トリガ発
生器36はイネーブルして、繰返し信号の連続し
ている(後続の)パルスに対してトリガを発生し
得る。
両トリガ発生器が同一パルスに対してトリガを
発生し得るが、主トリガ発生器22は遅延トリガ
発生器36がイネーブルされる前にトリガを発生
するので、両トリガ発生器は同時にトリガを発生
することはできない。主及び遅延トリガ信号間の
発生時間差は第3図に示した計時手段であるタイ
マ58により測定され、その測定データはMPU
制御回路32へ出力される。第1図及び第3図に
於て、タイマ58内のカウンタ60は、接続点D
に於ける主トリガ信号の発生時点及び接続点Eに
於ける遅延トリガ信号の発生時点間に、水晶発振
器の如き発振器62が発生するパルスを計数す
る。主トリガ信号が発生するとANDゲート64
がイネーブルしてカウンタ60に入力信号が供給
される。発振器62の発生するパルス信号は、ゲ
ート64と、遅延トリガ信号が入力しない時にイ
ネーブルする第2ANDゲート66とを介してカウ
ンタ60に入力する。遅延トリガ信号が入力する
と、ANDゲート66は、デイセーブルしてカウ
ンタ60の計数を停止させる。勿論、カウンタ6
0の計数値は、主及び遅延トリガ信号の発生時点
間の時間差に相当する。それからMPU制御回路
32が両トリガ信号間に計数したカウンタ60の
計数値を記録する。
両信号間の時間差は2回測定される。1回は時
間パラメータの第1パラメータ条件に於ける主及
び遅延トリガ信号の発生時点間の第1時間差の測
定であり、もう1回は第1パラメータ条件に於け
る主トリガ信号の発生時点と第2パラメータ条件
に於ける遅延トリガ信号の発生時点間の第2の時
間差の測定である。これらのパラメータ条件は選
択されたパルスのスロープ及び電圧レベルを含む
予め設定したトリガ点に相当する。例えば、パル
ス幅パラメータとしてのパラメータ条件は最大電
圧レベルの50%レベルに於ける立上りスロープ及
び最大電圧レベルの50%レベルに於ける立下りス
ロープとしてもよい。MPU制御回路32が第2
時間差から第1時間差を減算するのは、一方のパ
ラメータ条件だけで測定した場合に含まれる時間
的ずれ(誤差)を除く為である。減算した結果、
2つのパラメータ条件間の実際の時間差が得られ
る。それからこの時間差をMPU制御回路が操作
者に表示或いは指示する。
遅延トリガ発生器36は、入力信号パルスがこ
のトリガ発生器のヒステリシス領域に入る前にイ
ネーブルされていなければならないということに
留意すべきである。入力信号が遅延トリガ発生器
36のヒステリシス領域に入つてからイネーブル
信号が入力端Cに入力すると、この遅延トリガ発
生器36は入力信号の電圧レベルがヒステリシス
領域以下に低下してから再び上昇して領域内に入
り、そしてトリガ閾値を越えない限りトリガ信号
を発生し得ない。この経過は、勿論後続の入力信
号パルスに対しては当然起こることである。
以上説明したパルス測定回路によつて、繰返し
信号に共通なパルスの時間パラメータ、即ち周
期、パルス幅、立上り時間等を正確に差動測定す
ることができる。パルスの周期を測定するには2
組のパルスを必要とし、それを第4図のタイミン
グ波形図に示している。接続点Aの入力繰返し信
号により、主トリガ発生器22は自身の遅延時間
後に接続点Dに主トリガ信号を発生する。第4図
の左側部分に於て、可変遅延回路38は最小遅延
時間に設定されており、D点より更に遅延して遅
延トリガ発生器36をイネーブルする。一方、入
力信号は遅延線34を介して遅延されて、遅延ト
リガ発生器36がイネーブルしてから入力端子B
に達する。従つて、主及び遅延トリガ発生器22
及び36は第1パラメータ条件(即ち、同一のパ
ルスに対して同じ電圧レベルと同じスロープだが
異なる時点)でトリガを発生する。それから、こ
れら2個のトリガ信号の発生時点間の第1時間差
がタイマ58及びMPU制御回路32により計算
される。
実際には、主トリガ発生器22は遅延トリガ発
生器36と比べて、立上りスロープのトリガの場
合にはより低い電圧レベルでトリガを発生し、立
下りスロープのトリガの場合にはより高い電圧レ
ベルでトリガを発生するようにするのが望まし
い。こうすることにより、入力信号が遅延トリガ
発生器36のヒステリシス領域に入る前に入力端
Cにイネーブル信号が到達する確率を高めること
ができる。
第4図の右側部分には遅延トリガ発生器36の
イネーブルを遅延させるように可変遅延回路38
の遅延時間を調整後、遅延トリガ発生器36が第
2パラメータ条件(この場合、後続のパルスに対
して同じ電圧レベル及びスロープ)でトリガを発
生している場合を示している。この場合、主トリ
ガ発生器22及び可変遅延回路38の合計遅延時
間は遅延線34の遅延時間を越えている。第2組
のパルスが両トリガ発生器22及び36に夫々入
力する。主トリガ発生器22は再び第1パラメー
タ条件でトリガを発生するが、遅延トリガ発生器
36は第2パラメータ条件でトリガを発生する。
タイマ58は両トリガ信号の発生時点間の第2時
間差を測定する。勿論、主トリガ発生器22は遅
延トリガ発生器36がトリガを発生するまでリセ
ツトしないので、後続のパルスに対してトリガを
発生しない。第2時間差から第1時間差を減算す
れば入力パルスの実際の周期が求められる。
パルス幅を測定するには、両トリガ発生器22
及び36が共に第1パラメータ条件(パルスの前
縁の同じ電圧レベル及び同じスロープ、例えば立
上りスロープ)でトリガを発生するように調整す
る。2個のトリガ信号の発生時点間の第1時間差
をタイマ58を用いてMPU制御回路32が算出
及び記憶する。それから遅延トリガ発生器が第2
パラメータ条件(前と同じ電圧レベルだがスロー
プの極性は逆、例えば立下りスロープ)でトリガ
を発生するように調整する。それから第2組のパ
ルス両トリガ発生器22及び36に夫々入力す
る。主トリガ発生器22は再び立上り(正)スロ
ープでトリガを発生するが、遅延トリガ発生器3
6は同じパルスに対して立下り(負)スロープで
トリガを発生する。再び両トリガ信号の発生時点
間の第2時間差を算出及び記憶して、MPU制御
回路32は第2時間差から第1時間差を減算して
パルス幅を算出する。
立上り(遷移)時間もパルス幅の場合と同様に
算出することができる。両トリガ発生器22及び
36は第1パラメータ条件(即ち、同じパルスの
立上り(正)スロープで振幅の10%という低電圧
レベル)でトリガを発生するように調整する。
MPU制御回路32が第1時間差を算出及び記憶
してから、遅延トリガ発生器36が第2パラメー
タ条件(同じスロープだが振幅の90%という高電
圧レベル)でトリガを発生するように調整する。
それから第2組のパルスを両トリガ発生器22及
び36が受け、主トリガ発生器22は再び低い電
圧レベル(10%)でトリガを発生するが、遅延ト
リガ発生器36は同じスロープ及びパルスに対し
て高電圧レベル(90%)でトリガを発生する。こ
うして得た第2時間差から第1時間差を減算し
て、MPU制御回路32はパルスの立上り時間を
測定する。
以上、好適実施例について本発明の原理を説明
したが、本発明の要旨を逸脱することなく種々の
変更及び変形が可能であることは当業者には明ら
かであろう。例えば、説明したパルス測定回路と
してはどのような型の測定回路に利用してもよ
く、オシロスコープのみに限定されるものではな
い。
〔発明の効果〕
上述のように、本発明によれば計時手段で測定
した第1及び第2時間差測定値に含まれる測定誤
差は同じであると考えられるので、両者の差を取
ることにより測定誤差が相殺されて、極めて正確
な測定値を得られる。また、MPU制御回路によ
り、所望の時間パラメータに応じてトリガ条件の
設定及び可変遅延時間の設定を自動的に行えるの
で、極めて簡単かつ迅速に視覚的読取り誤差のな
い正確な時間パラメータの測定が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるパルス測定回路を含む2
時間軸オシロスコープのブロツク図、第2図は第
1図の可変遅延回路38の実施例の回路図、第3
図は第1図のタイマ58の実施例の回路図、第4
図は第1図のパルス測定回路の各信号間の関係を
示すタイミング波形図である。 22は第1トリガ発生手段、34は固定遅延手
段、36は第2トリガ発生手段、38は可変遅延
手段、32は計算手段、58は計時手段である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 入力信号に応じて第1トリガ信号を発生する
    第1トリガ発生手段と、 上記第1トリガ信号を可変時間だけ遅延させる
    可変遅延手段と、 上記入力信号を所定時間遅延させる固定遅延手
    段と、 上記可変遅延手段の出力に応じてイネーブル状
    態となつた後に上記固定遅延手段の出力に応じて
    第2トリガ信号を発生する第2トリガ発生手段
    と、 上記第1及び第2トリガ信号の発生時間差を測
    定する計時手段と、 上記可変遅延手段により第1及び第2遅延時間
    だけ上記第1トリガ信号を遅延させた時に上記計
    時手段が夫々測定した第1及び第2時間差間の差
    を計算する計算手段とを備えることを特徴とする
    パルス測定回路。
JP62153216A 1986-06-23 1987-06-19 パルス測定回路 Granted JPS635270A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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US877080 1997-06-17

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JPS635270A JPS635270A (ja) 1988-01-11
JPH0470588B2 true JPH0470588B2 (ja) 1992-11-11

Family

ID=25369207

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62153216A Granted JPS635270A (ja) 1986-06-23 1987-06-19 パルス測定回路

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4704036A (ja)
EP (1) EP0250682A3 (ja)
JP (1) JPS635270A (ja)

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