JPS62261119A - 気相成長方法及びその装置 - Google Patents

気相成長方法及びその装置

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JPS62261119A
JPS62261119A JP10392286A JP10392286A JPS62261119A JP S62261119 A JPS62261119 A JP S62261119A JP 10392286 A JP10392286 A JP 10392286A JP 10392286 A JP10392286 A JP 10392286A JP S62261119 A JPS62261119 A JP S62261119A
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JP
Japan
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gas
nozzle
vapor phase
phase growth
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP10392286A
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English (en)
Inventor
Yasushi Morita
靖 森田
Saneya Noda
野田 実也
Hisao Hayashi
久雄 林
Taeko Hoshi
星 妙子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPS62261119A publication Critical patent/JPS62261119A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 C産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置の製造等に用いられる気相成長方
法及びその装置に関し、特に複数のガスを反応炉に供給
して気相成長を行う気相成長方法及びその装置に関する
〔発明の概要〕
本発明は、複数のガスを反応炉に供給して気相成長を行
う気相成長方法及びその装置において、少なくとも気相
成長膜を形成する性質の第1のガスと気相成長膜をエツ
チングする性質の第2のガスとを個別のノズルから反応
炉内に送り込むことにより、均一かつ制御性に優れる選
択エビク シャル成長層を形成するものである。
〔従来の技術〕
一般に、半導体装置製造工程においては、シリコンウェ
ハ等の半導体基板に3iH4ガスやSiH2C12ガス
等のガスを用いてエピタキシャル成長層を被着形成する
ことが行われている。
このようなエピタキシャル成長層を形成する場合には、
通常、気相成長装置を用いて成長形成が行われており、
このような気相成長装置の一例として、例えば縦型(所
謂パンケーキ型)の反応炉(ベルジャ)を有する気相成
長装置が知られている。
ここで簡単に上記縦型の気相成長装置について説明する
と、上記気相成長装置は、略釣譲状の反応炉を有してな
り、その内部にシリコンウェハを載置させて回転し且つ
該シリコンウェハを誘導加熱し得るサセプタが配置され
る。そして、このサセプタの中心には、サセプタの平面
から垂直に突設されて上記SiH4ガスや5iH2Cj
!zガス等のガスをサセプタ上に供給するための略円筒
形状のノズルが取り付けられる。このノズルはサセプタ
を貫通して、その端部はバルブ等を介してガスのボンベ
等に接続される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述のような気相成長装置を用いてエピタキシャル成長
を行う場合において、2以上のガスを使用してエピタキ
シャル成長を行う場合があり、特に、いわゆる選択エピ
タキシャル成長を行うときには、1つのガスとして気相
成長膜を形成する性質を有する例えば上記SiH4ガス
や3iH2CI!2ガス等のガスを使用し、更に、他の
ガスとして気相成長膜をエツチングする性質を有するH
Clガス等を使用することがある。
しかしながら、このような複数のガスを同一のノズルを
用いて同じ供給孔から流出させた場合には、均一なガス
の流れや分布の制御が困難であり、ノズルからの距離に
よっては膜形成の状態が変化する等の問題が生じている
。そして、このような膜厚や膜質の不均一さによっては
、素子の特性の再現性等に悪影響を及ぼすことになる。
そこで、本発明は上述の問題点に鑑み、均一かつ制御性
に優れる選択エピタキシャル成長層を形成する気相成長
方法及びその装置の提供を目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、複数のガスを反応炉に供給して気相成長を行
う気相成長方法において、少なくとも気相成長膜を形成
する性質の第1のガスと、該気相成長膜をエツチングす
る性質の第2のガスとを個別のノズルにより反応炉雰囲
気中に供給することを特徴とする気相成長方法と、この
ような気相成長方法を実施する少なくとも気相成長膜を
形成する性質の第1のガスのみを反応′炉雰囲気中に供
給するための第1ノズルと、上記気相成長膜をエツチン
グする性質の第2のガスのみを反応炉雰囲気中に供給す
るための第2ノズルとを有することを特徴とする気相成
長装置によりそれぞれ上述の技術的課題を解決する。
また、例えば上記第1ノズルと上記第2ノズルとはその
ガスの流出させる方向を異なる方向とすることができる
〔作用〕
本発明は、少なくとも第1のガスと第2のガスを個別の
ノズルにより反応炉雰囲気中に流出させる。このため各
ノズルに於いて個別に制御することができ、均一かつ制
御性に優れる選択エピタキシャル成長層を容易に制御す
ることが可能である。
〔実施例〕
本発明の好適な実施例を図面を参照しながら説明する。
本実施例の気相成長方法は、気相成長膜を形成する性質
の第1のガスと、該気相成長膜をエンチングする性質の
第2のガスとを個別のノズルにより反応炉雰囲気中に供
給する方法であって、例えば上記第1のガスを5i11
4ガスや5iC7!2112ガス等のガスとし、第2の
ガスをHCfガス等として選択エピタキシャル成長層を
形成する場合に好適な気相成長方法であり、このように
個別のノズルによりそれぞれ供給して独立に流量、分布
等を制御することにより均一かつ制御性に優れる選択エ
ピタキシャル成長層を形成することができるものである
そして、このような気相成長方法は、第1図及び第2図
に示すような気相成長装置により、その実施が可能であ
る。
第1図に示すように、本実施例にかかる気相成長装置は
、略釣鐘形状の反応炉(いわゆるベルジャ)lを有し、
該反応炉l内には、シリコンウェハ等の気相成長膜を形
成すべき半導体基体が載置される円板上のテーブル2a
を有するサセプタ2が配設されている。このサセプタ2
はその下部が回転軸等に固定され所定の回転速度で回転
することができ、また、RFコイル等も上記テーブル2
aの下部に配設されている。そして、このサセプタ2の
中心では、そのテーブル23面の法線方向に突出するよ
うに、気相成長膜を形成する性質の第1のガスである例
えばSiH4ガスや5iH2CI’2ガス等のガスのみ
を反応炉雰囲気中に供給するための第1ノズル3と、上
記気相成長膜をエツチングする性質の第2のガスである
例えばHCl等のガスのみを反応炉雰囲気中に供給する
ための第2ノズル4とが設けられている。
上記第1ノズル3は、略円柱形状となっており上記ガス
を反応炉雰囲気中に送り出すための供給孔3aが複数設
けられている。この第1ノズル3の軸中心には、同様に
略円柱形状とされる上記第2ノズル4が、上記第1ノズ
ル3に対して固定され又は回動若しくは出没自在に取り
付けられており、この第2ノズル4の頭部に設けられた
ガスの供給孔4aから、上記ガスが反応炉の雰囲気中に
供給されることになる。
なお、上記第1ノズル3に設けられたガスの供給孔3a
は、高さ方向に所定の間隔で配列されて設けられ、また
、周方向にも複数設けられているが、限定されるもので
なく任意の場所に設けることができ、更にそのガスの供
給の方向もサセプタ2の面内の方向に限定されず、他の
方向に供給するようにすることができる。また、上記第
2ノズル4の外形形状及びその第2ノズル4に設けられ
るガスの供給孔4aについては、円柱形状及び頭部に設
けられる場合に限定されず、後述するようなものであっ
ても良い。
このような各ノズル3.4は、それぞれのガスを反応炉
雰囲気中に供給する機能を有するため、それぞれの配管
がされてなり、それぞれのバルブ5.6がその配管の途
中に取り付けられている。
第2図中、上記第1ノズル3にガスを供給するための配
管5には、その途中にバルブ6が設けられ、例えばSi
H4ガスや5iH2CI2ガス等のボンへ等からのガス
の流量等を制御することも可能である。また、上記第2
ノズル4にガスを供給するための配管7にも、同様にそ
の途中にバルブ8が設けられ、同様に1[C1ガスの流
量等を制御することが可能である。
上述のような構造を有する本発明の実施例にかかる気相
成長装置は、上述のように、第1ノズル3、第2ノズル
4を有する構造になっており、このため、それぞれのガ
スを的確に制御することができ、気相成長膜を制御性、
再現性良く形成することが容易である。即ら、選択成長
として選択エピタキシャル成長を行う場合には、気相成
長膜を形成する性質の例えばSiH4ガスやS i’l
12 C12ガス等の第1のガスと、気相成長膜をエツ
チングする性質のHCl等のガスの第2のガスとが、当
該気相成長装置の反応炉lの雰囲気中に供給されること
となるが、上述のように第1ノズル3.及び第2ノズル
4を独立に設は個別に制御することにより、これらのガ
スのin、分布等の均衡から成り立つエピタキシャル成
長層を確実に制御することが可能である。そして、この
ようにエピタキシャル成長を確実に制御することで、ウ
ェハ上の気相成N膜は均一なものとなり、素子の特性向
上や再現性の向上を図ることができる。なお、上述のガ
スの制御は、上記バルブ等によって行う他、ノズルの形
状、供給孔の数、形伏、大きさ等によっても可能である
次に、本発明の気相成長方法及びその装置に係る他の例
として、第3図に示す気相成長装置を例示しながら説明
する。
第3図に示す例は、上述の例と同様に、略釣鑵形状の反
応炉(いわゆるベルジャ)1を有し、半導体基体がi3
!置される円板上のテーブル2aを有するサセプタ2が
配設され、その中心では、そのテーブル23面の法線方
向に突出するように、気相成長膜を形成する性質の第1
のガスである例えばSiH4ガスや5il12C1iガ
ス等のガスのみを反応炉雰囲気中に供給するための第1
ノズル13と、上記気相成長膜をエツチングする性質の
第2のガスであるII C1等のガスのみを反応炉雰囲
気中に供給するだめの第2ノズル14とが設けられてい
る。
そして、上記第1ノズル13は、上述の例と同様に、略
円柱形状となっており、上記ガスを反応炉雰囲気中に送
り出すための供給孔13aが複数設けられているが、当
該第1ノズル13の軸中心には、突設され更に断面T字
状に形成された第2ノズル14が、上記第1ノズル13
に対して固定され又は回動若しくは出没自在に取り付け
られている。そして、このような第2ノズル14には、
上述のような気相成長膜をエツチングする性質のガスの
供給孔14aが、反応炉の雰囲気中に、当該第2ノズル
14の上部で面内方向に突設延在された突設部15から
下側に噴き出すように形成されている。
このような構造を有する本実施例の気相成長装置は、上
記第1ノズル13と第2ノズル14の反応炉雰囲気中へ
のガスの供給方向が略直交するような方向となり、さら
に気相成長膜の均一な形成が可能とされる。
なお、上、述の気相成長方法及び装置にあっては、それ
ぞれノズルの方を回転するようにしても良く、また、そ
の回転の際に、それぞれ独立の回転をさせるようにして
も良い、また、反応炉の雰囲気中に供給されるガスは2
種類に限定されるものでなく、さらに多くのガスであっ
ても良い、また、第1ノズル、第2ノズルの形状等は限
定されず、それらの位置関係は逆のものとしても良い。
〔発明の効果〕
本発明の気相成長方法及びその装置は、それぞれ性質の
異なるガスを個別のノズルを用いて反応炉雰囲気中に供
給するため、当該ガスの流量、分布を正確に制御するこ
とができる。このためウニ八等に形成される選択エピタ
キシャル成長膜等はばらつき等のない膜となり、再現性
の向上や歩留りの向上を容易に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる気相成長装置の一例を一部破断
して示す斜視図、第2図はその概略断面図、第3図は本
発明にかかる気相成長装置の他の例を一部破断して示す
斜視図である。 1・・・反応炉 2・・・サセプタ 3.13・・・第1ノズル 4.14・・・第2ノズル 3a、13a・・・第1ノズルの供給孔4a、14a・
・・第2ノズルの供給孔15・・・突設部 第1図 a 第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数のガスを反応炉に供給して気相成長を行う気
    相成長方法において、 少なくとも気相成長膜を形成する性質の第1のガスと、
    該気相成長膜をエッチングする性質の第2のガスとを個
    別のノズルにより反応炉雰囲気中に供給することを特徴
    とする気相成長方法。
  2. (2)複数のガスが反応炉に供給されて気相成長を行う
    気相成長装置において、 少なくとも気相成長膜を形成する性質の第1のガスのみ
    を反応炉雰囲気中に供給するための第1ノズルと、上記
    気相成長膜をエッチングする性質の第2のガスのみを反
    応炉雰囲気中に供給するための第2ノズルとを有するこ
    とを特徴とする気相成長装置。
JP10392286A 1986-05-08 1986-05-08 気相成長方法及びその装置 Pending JPS62261119A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5746834A (en) * 1996-01-04 1998-05-05 Memc Electronics Materials, Inc. Method and apparatus for purging barrel reactors

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5746834A (en) * 1996-01-04 1998-05-05 Memc Electronics Materials, Inc. Method and apparatus for purging barrel reactors
SG90016A1 (en) * 1996-01-04 2002-07-23 Memc Electronic Materials Method and apparatus for purging barrel reactors

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