JPS62261026A - 真空容器の真空もれ検出方法 - Google Patents

真空容器の真空もれ検出方法

Info

Publication number
JPS62261026A
JPS62261026A JP10308986A JP10308986A JPS62261026A JP S62261026 A JPS62261026 A JP S62261026A JP 10308986 A JP10308986 A JP 10308986A JP 10308986 A JP10308986 A JP 10308986A JP S62261026 A JPS62261026 A JP S62261026A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vacuum
measured
degree
ammeter
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10308986A
Other languages
English (en)
Inventor
Takumi Karasawa
唐沢 工
Kazuhiko Mizuno
一彦 水野
Teruo Yokosanai
横左内 照夫
Katsuhisa Ono
大野 勝久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP10308986A priority Critical patent/JPS62261026A/ja
Publication of JPS62261026A publication Critical patent/JPS62261026A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子管などの真空保持容器の真空もれ検出方法
、特fこ微小欠陥などtこよる真空度劣化の欠陥検出方
法蚤こ関する。
〔従来の技術〕
真空保持容器、例えば陰極線管などの電子管fこおいて
は、その製造工程で排気工程と称する工程において電子
管内部の排気を行い、管内が所定の真空度に達した後に
封じ切りと呼ぶ排気管を溶封する密封を行う。さらに長
期間にわたる使用中に真空容器や内部の電極構体などか
らのガス放出(こよる真空度低下を防止するためにゲッ
ター膜による真空度保持を行っている。
しかしながら、このような真空を維持する機構にもかか
わらず、真空容器の組立時あるいはその後の材質劣化な
どによって生じる微小欠陥Eこよるガスの流入により真
空もれが発生し、真空度劣化が極まれIこ発生する。
しかし、上記の微小欠陥lこよる真空度低下の速度は非
常にゆるやかである。このためiこ通常電子管の真空度
測定に用いられている電離真空計などでは変化を発見す
るのが困難である。このような微小欠陥による真空もれ
を検出する方法としては、例えば第17回真空技術夏季
大学テキス)J100頁から第105頁(日本真空協会
、昭和52年)fこおいて論じられているよう1こフー
ド法1こよるリークテストがあった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記、従来技術は真空容器の欠陥の有無を検出するのに
検出精度を上げるためには被測定真空容器を内蔵可能な
真空容器(以下外部容器という)と被測定真空容器との
密封及び外部容器自体の微小欠陥を取除かなければなら
なく、微小なリークを検出を目的とすれば測定治具自体
を高品質の真空容器としなければならない本質的な問題
がある。
また上記の欠点を除くfこは、長時間放置しておき真空
度の変化から判断する方法が行なわれている。
この方法では結果を得るまでに長時間を要する欠点があ
る。
本発明の目的は上記の欠点を解決し、高効率で真空容器
の真空もれを検出する方法を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記の目的は、外部容器内に被測定真空容器を配設した
のち、外部容器を加圧または減圧した状態で被測定容器
の電気信号を測定することtこより達成される。
〔作用〕
外部容器は単lこ被測定真空容器の外部からの加圧また
は減圧の容器となるので、外部容器と被測定真空容器と
の密封状態の欠陥および外部容器自体の欠陥による真空
もれ分は被測定真空容器の欠陥による真空もれfこは含
まれない。才だ被測定真空容器の動作番こより被測定真
空容器の内外の圧力差に応じた真空度変化を電気信号と
して取出す。
この変化分のみを抽出し、変化量から微小欠陥擾こよる
真空もれ量を判定する。これfこよって真空もれ量測定
に外部容器の欠陥に基因する真空もれ分が除外できるの
で、精度よく測定が可能である。
〔実施例〕
以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第1図において被測定真空容器である陰極線管1は外部
容器2の内部に設置しである。外部容器の一端ζこ配管
3を取付け2系統に分岐する。片方゛fこはバルブ4を
経て圧縮機5を接続し、他方Eこはバルブ6を経て真空
ボ/プ7が接続されている。
一方、外部容器2の内部に納まった陰極線管11こは通
電用ソケット8を接続し引き出し線9#こより、外部に
備えた真空度測定器toiこ接続しである。
ここで、第2図を用いて陰極線管の真空度の測定を説明
する。同図において、陰極線管1のヒータ。
電極11にはヒータ加熱用に5〜7V程度のヒータ電源
12を接続し、カソード電極134こは切替スイッチ1
4を経て100μA〜数mAの定電流電源15を接続し
、反対側lこ倒した場合は、カットオフ用の負電位を与
えるカットオフ電源16fこ接続する。第1グリツド1
7は直接アース電位Eこしている。第2グリツド18に
は100〜200v程度の高圧電源19を接続しておき
、陽極20「こ高感度電流計21を接続し、この高感度
電流計21の一方の極は25V程度の負電圧をコレクタ
電源22により印加する。
このような構成において、切替スイッチ14を図示した
B側に倒せば陰極線管1のカソード電極13よりカソー
ド電極Ikが流れる。このカンード電に工には定電流電
源15により一定値(こ制御されている。ところで気体
分子の電離確率は電子エネルギーが100eV程度で最
大となるので第2グリツド電圧をこの程度すなわち、前
述したように100〜200v程度憂こしておけば、電
子のほとんどは第2グリツド18に直ち正こ捕えられず
往復運動する。この間Iζ生じた陽イオンは過剰エネル
ギーの電子が流入しないようにカソード電極13に対し
て負電位lこ保たれた陽極201こ集まりイオン!!流
1iとなり高感度電流計21を動作させる。このイオン
電流Iiは陰極線管内部の分子密度とX流Ieとfこ比
例し、比例定数を8とすれば、Ii = S m Le
 * P     −−−−・・・−1l)ここfこ、
P;圧力 となる。
次fこ、切替スイッチ14をA側1こ倒してカソード電
極13にカットオフ電源16の電位を与えてカソード電
極13tこ逆バイアスを与え、電子放出を防げれば高感
度電流計211こ流れ込むのはイオン電流Iiのみとな
る。しかし、実際にはカン−1!を流Ikの有無により
高感度電流計21の振れは異なる。これは本発明者らの
実験Iこよればカソ−ド電流を流した状態の時に第2グ
リツ) I BEこ直ちに捕えられなかった電子の一部
が陽極20に負1!L位を与えているにもかかわらず流
入するためである。そこで両者の状態fこおける高感度
′iit流計21の振れの差つ丈り内部残留気体の量を
P「とすれば、 と表わすCとが出来る。この量は直ちに式111の圧力
Pとは一致していないが、比例定数を加えれば求まり、
このままでも真空の程度は十分に0表わせる。
次番こ、第1図に示すバルブ4を開き圧縮機5Iこより
外部容器2の内部を加圧して前述の要領で陰極線管1の
電流計測して真空度を測定する。次iこバルブ4を閉じ
、バルブ6を開き真空ポンプ7により外部容器2の内部
を減圧し、同様に陰極線管1の電流を計測して真空度を
測定する。陰極線管Iに欠陥がなければ外部圧の変化l
ζ関係なくIjIt流は一定であるが、陰極線管の外囲
器を構成するパネルとフ了ンネノへあるいはバルブネッ
ク部に内蔵する電子銃などの組立時lこ発生する微小欠
陥があると陰極線管1の内外圧差により気体の流入ある
いは流出が生じるためlこ、第3図18)に示すように
真空度曲線Vsにわずかばかりの振れを生じ欠陥の存在
を表わす。これにより真空もれの有無を検出することが
できる。
さらfこ前記真空度曲線Vsの振れが小さい場合は雑音
などとの区別が困難な場合がある。このような場合の雑
音の中から信号弁を抽出する方法1こついて更に第4図
を用いて説明すると、この実施例では上記で説明した高
感度電流計21を直接イオン電流検出ライン憂こ接続せ
ず信号処理を追加したものである。まず陰極線管1に接
続した通電用ソケット8に接続した引き出し、i99に
より得られるイオン電流をまずプリアンプ23で増幅し
、これにより得られた信号は出力ライン24により2°
方向に別れる。まず一方は直接に混合器26に加え、他
方は遅延回路25を通り混合器26に加える。この遅延
回路25の時定数を適当に選ぶことSこより混合器26
の混合出力27はある程度の雑音を制御した信号が得ら
れる。この混合出力27をD/A変換器28によりデジ
タルに変換した真空度信号29は記憶装置3旧こ格納す
るようになっている。次にデータの果状および処理方法
を第5図を加えて説明する。なお実際の記憶装置多こ格
納されている情報はデジタル量であるが、便宜上アナロ
グ信号として表示する。
まず第4図Iこおいて処理装置31より加圧指令33あ
るいは減圧指令32を第5図に示す加減圧面!+!34
のように制御する。すなわち、まず、加圧指令の点33
 (a、 )、(a、)、(a、)と減圧指令の点33
(b+)、(b2)・・・・・・で示すようfこ一定周
期で与えて、この時の測定データ3 s (a)を求め
る。次1こ測定データ35 (a)と同位相で1周期後
から測定データ35 (b)を求める。次に測定データ
35(a)の2周期後から測定データ35(c)を求め
る。 同様にして多数の測定データを求めて行く。これ
らの測定データ35(a)〜35(n)を用いてX軸方
向の2次微分を求めると微分出力波形37のようになる
。この信号lこは真空度変化分だけでなく、第4図を用
いて説明した雑音除去機能で除外しきれない雑音外を含
んでいる。そこで微分出力波形37の各信号弁チこつい
てY軸方向の2次微分を求めろと真空度変化は強い相関
があるので連続した信号となるが、雑音′分はランダム
であるのでほとんど相1mがない。この差から真空度変
化分のみの軸出が可能である。
測定データ35(a)を関数11(X、)とし、同様に
他の測定データ3.5(b)〜(n)をそれぞれft(
X、)〜八(x5)とするき、各測定データの2次微分
は次の弐131〜(5)で表わせる。
また加減圧曲線34の加減圧点をそれぞれ(y+L〜(
y、)とし、Y軸方向の2次微分を求めるとそれぞれ式
(6)〜(8)で表わせる。
また加減圧の点と異なる点をysSとし、同様lこ2次
微分を求めると式(9)で表わせる。
これから、2次子面の信号のうち加減圧点での2次微分
は で表わせ、各測定データは相関があるので上記式〇〇の
第2項はOとなる。
一方、加減圧と異なる点での2次微分は次の式6式% この式において雑音が混入していれば第2項が0となる
つまり、第1項が0で、第2項が0でないものだけをと
り出せば信号分つまり真空度変化分のみを抽出できる。
また信号分の振幅から真空度の劣化の程度を判定できる
このようにして求めた結果を第4図に示す制御装置31
により高感度電流計21を動作させる。
またランプ36などにより外部に警報を発することが可
能となる。
なお、前述の実施例では陰極線管を被測定真空容器の例
として挙げたが、本発明はこれlこ限定されないことは
勿論である。
〔発明の効果〕
本発明fこよれば、被測定真空容器と外部容器との密着
lこ特別の配慮をしなくても微小欠陥に起因する真空も
れの有無を短時間に把握できる。
また、同−条件又は異なる条件でのレベル変化から真空
もれの進行あるいは程度を雑音除去することで容易に判
定できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の全体構成図、第2図は陰極
線管の真空度測定説明図、第3図は測定した真空度曲線
図、第4図は真空度信号処理の構成図、第5図はデータ
処理説明図である。 1・・・陰極線管、   2・・・外部容器、   3
・・・配管、4・・・バルブ、   5・・・圧縮機、
   6・・・バルブ、7・・・真空ポンプ、   8
・・・通電用ソケット、9・・・引き出し線、   1
0・・・真空度測定器、11・・・ヒータ電極、   
12・・・ヒータ電源、13・・・カソード電極、  
 14・・・切替スイッチ、15・・・定電流電源、 
  16・・・カットオフ電源、17・・・第1グリツ
ド、   18・・・第2グリツド、19・・・高圧電
源、   20・・・陽極、   21・・・高感度電
流計、   22・・・コレクタ電源、   23・・
・プリアンプ、   24・・・出力ライン、   2
5・・・遅延回路、   26・・・混合器、   2
7・・・混合出力、   28・・・D/A変換器、 
 29・・・真空度信号、   30・・・記憶装置、
   31・・・処理装置、32・・・減圧指令、  
 33・・・加圧指令、   34・・・加減圧曲線、
  33(a、)〜(a4)・・・加圧指令の点、  
 34(b、)〜(b、)・・・減圧指令の点、35(
a)〜(n)・・・測定データ、  36・・・ランプ
、37・・・微分出力波形、   Ik・・・カソード
電極、Iel、−電子NK、   Ii−イ:t 7′
tLH0代理人 弁理士 小 川 勝 男 第3図 第4図 28:o/A受彼誰 彼器15図 37:微分出力テ【並

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、被測定真空容器と、この被測定真空容器を内蔵でき
    る空間をもつ真空容器とを備え、前記被測定真空容器を
    前記真空容器内に配設したのち前記空間を加圧または減
    圧する工程と、前記被測定真空容器から電気信号を取り
    出す工程と、この電気信号により前記被測定真空容器の
    真空もれの有無を検出することを特徴とする真空容器の
    真空もれ検出方法。
JP10308986A 1986-05-07 1986-05-07 真空容器の真空もれ検出方法 Pending JPS62261026A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10308986A JPS62261026A (ja) 1986-05-07 1986-05-07 真空容器の真空もれ検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10308986A JPS62261026A (ja) 1986-05-07 1986-05-07 真空容器の真空もれ検出方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62261026A true JPS62261026A (ja) 1987-11-13

Family

ID=14344908

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10308986A Pending JPS62261026A (ja) 1986-05-07 1986-05-07 真空容器の真空もれ検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62261026A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103675632A (zh) * 2012-09-21 2014-03-26 中国科学院电子学研究所 用于微波真空电子器件的阴极发射测试装置和系统
CN104697714A (zh) * 2015-02-13 2015-06-10 金华市志能科技有限公司 一种真空检漏及封口装置、真空检漏及封口方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103675632A (zh) * 2012-09-21 2014-03-26 中国科学院电子学研究所 用于微波真空电子器件的阴极发射测试装置和系统
CN104697714A (zh) * 2015-02-13 2015-06-10 金华市志能科技有限公司 一种真空检漏及封口装置、真空检漏及封口方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Weissler et al. Vacuum physics and technology
US2486199A (en) Method and apparatus for determining leaks
US20090100909A1 (en) Leak testing method and leak testing device
US3487677A (en) Method for leak detection
CN108444651A (zh) 一种同位素靶件氦质谱泄漏检测装置及检测方法
JP3698108B2 (ja) 気密漏れ検査方法及び装置
JPS62261026A (ja) 真空容器の真空もれ検出方法
CN102128708A (zh) 用于超高真空承压管材焊缝的氦气密性检测工装
US2819609A (en) Closure leak detection
CN109883893A (zh) 一种用于固体表面润湿接触角测量的实验装置
GB1360377A (en) Diffusion-type hydrogen meter
JPH11304628A (ja) 温度式膨張弁の感温制御部の気密検査機
CN112326500A (zh) 一种极低量氢气吸附与解析的测量方法
CN107543655A (zh) 氧化石墨烯标准漏孔及氧化石墨烯渗氦构件
Jacobs et al. New developments in vacuum engineering
US3886444A (en) Hydrogen detector for sodium cooled reactors
JP2001050916A (ja) 仕事関数測定法および仕事関数測定装置
JP2009180633A (ja) ヘリウムリークディテクタ
JPH10256625A (ja) ガスレーザ装置
JP6322507B2 (ja) 漏洩検知方法
KR100536601B1 (ko) 플라즈마 증착 설비
Bushin et al. Automated equipment for final leak tightness inspection of miniature gas-filled instruments
Saeki et al. Hot-cathode-ionization-gauge system with a self-compensating circuit for errors caused by an external-electron source
RU2105278C1 (ru) Способ контроля герметичности газонаполненного и запаянного изделия
JPH05172686A (ja) リークテスト装置と方法