JPS62256966A - 成膜装置 - Google Patents

成膜装置

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Publication number
JPS62256966A
JPS62256966A JP10152086A JP10152086A JPS62256966A JP S62256966 A JPS62256966 A JP S62256966A JP 10152086 A JP10152086 A JP 10152086A JP 10152086 A JP10152086 A JP 10152086A JP S62256966 A JPS62256966 A JP S62256966A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
film forming
base plate
substrate
glow discharge
Prior art date
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Pending
Application number
JP10152086A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiko Ikeda
昭彦 池田
Hisashi Higuchi
永 樋口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
Priority to JP10152086A priority Critical patent/JPS62256966A/ja
Publication of JPS62256966A publication Critical patent/JPS62256966A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はCVD、 PVD等の薄膜生成手段を有する成
膜装置に係り、特に基体の成膜面に亘って均一な温度に
設定できる熱源を具備した成膜装置に関するものである
〔従来技術及びその問題点〕
近時、PVDやCVDによって基体表面に薄膜を生成し
て得られる薄膜生成部材が半導体素子や各種コーティン
グ部材などに用いられるようになってきており、その進
展は目覚ましいものがある。例えば、半導体素子の分野
においてはアモルファスシリコン(以下、a−Stと略
す)がプラズマCvDによって基体上に気相成長した素
子には光電変換特性があり、これにより、この素子を太
陽電池、光センサ、電子写真感光体などの各種デバイス
に応用することができる。
しかしながら、斯様にして得られるa−5i半導体薄膜
は、成膜装置の条件(例えば、ガス圧、ガス流量、基体
温度、原料ガスの種類、ガス組成比など)によってその
特性が鋭敏に変化するので個々の半導体薄膜の間で安定
した半導体特性を得るのが難しく、また、半導体薄膜の
膜面に亘って均一な特性を得るのが難しくなっている。
即ち、a−3i悪感光をグロー放電分解袋でを用いて製
作する場合を例にとると、第2図に示す装置が用いられ
ており、図中、1は円筒形状の反応室、2は反応室の上
面1a及び下面1bのそれぞれを反応室周壁1cと電気
的に絶縁する絶縁リング、3は円筒形状の導電性基板支
持体であり、a−3i薄膜が生成される導電性基板4が
この基板支持体3に装着され、基板支持体3の内部に配
設されたヒータ5(通常、シース線などが用いられる)
によって基板4を所要の温度に加熱している。6は筒状
のグロー放電用電極板であり、7は反応室1の内部へa
−Si生成用ガスを導入するためのガス与太口であり、
反応室1に入ったガスは電極板6に設けたガス噴出口8
を介して基ヰ反4の周面へ向けて噴出する。
9はグロー放電発生用の高周波電源であってその両端子
はそれぞれ基板4とグロー放電用電極板6に導通してお
り、この両者の間にグロー放電が発生する。尚、10は
ガス排出口である。
上記構成によるグロー放電分解装置によれば、基板を所
要の温度に設定し、そして、反応室内部へa−5i生成
用ガスを導入し、基板4とグロー放電用電極板6の間に
グロー放電を発生させるとガスが分解するのに伴って基
板表面にa−3iが生成する。
しかしながら、上記のグロー放電分解装置によれば、コ
イル状に巻かれたヒータ5を基板支持体3の内部に配設
して基板支持体3の内面を等しく加熱しようとしている
が、熱放射にムラができるために基板支持体3の内周面
を均一な温度に設定できず、これにより、基板4の成膜
面に亘って均一な温度に設定することが難しくなり、そ
の結果、基板4に生成したa−5i膜がその成膜面に亘
って均一な電子写真特性を得ることができないという問
題がある。
〔発明の目的〕
従って本発明の目的は、成膜用基体の薄膜生成面の温度
ムラをなくして薄膜全体が均一な物理的又は化学的特性
をもつようにし、これにより、高品質且つ高倍転性の薄
膜が生成できる成膜装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明によれば、薄膜生成用ガスが導入される反応室の
内部に薄膜の生成面を有する基体、基体を所要の温度に
設定するための熱源、並びに薄膜生成手段を具備した成
膜装置において、前記熱源にヒートパイプを用いたこと
を特徴とする成膜装置が提供される。
〔実施例〕
以下、本発明をa−3i5光体ドラムを製作するための
グロー放電分解装置を例にとって詳細に説明する。
第1図は本発明の実施例に用いられるグロー放電分解装
置であり、第2図と同一箇所には同一符号が付しである
第1図によれば、第2図にて述べた基板支持体3に代え
て円柱状のヒートパイプ11を設置しており、このヒー
トパイプ11に基板4を装着している。このヒートパイ
プ11は熱伝導性に優れた筒体12とこの筒体12の内
部に封入した作動流体13とから成り、ヒートパイプ1
1の下部には加熱源14(例えば鋳込みヒータなど)が
接続されており、この加熱源14により作動流体13を
加熱してヒートパイプ9を所要の温度に高め、それ自体
の温度が維持できろようになっている。尚、15はこの
加熱源14の加熱温度を制御するための温度調節器であ
る。
このグロー放電分解装置においては、従来周知のシーズ
ヒータに比べて熱伝導性及び熱応答性に優れたヒートパ
イプを基板用熱源として用いることが特徴であり、この
ヒートパイプ11が加熱源14により加熱されると即座
に所要温度に達し、且つその全体が均一な温度に維持さ
れ、これにより、基+1i、4を均一な温度に設定でき
るので、その板面に亘る温度ムラがなくなり、その結果
、電子写真特性の局所的な劣化がなく均質且つ高性能の
a−3i悪感光が形成される。
本発明によれば、前記の作動流体には所要の基体温度に
よって種々の材料が選択されるが、例えば、上記実施例
にて用いられたa−3i用成膜装置においては基板温度
を150乃至400℃に設定するためにナフタリンやダ
ウサムAが用いられる。
また、本発明に係るヒートパイプに使われる筒体は熱伝
導性に優れた材料により形成されており、その材料とし
て例えば、銅、SUS、アルミニウム、ステンレス等の
金属又はセラミックスなどがある。
上記実施例にて用いられたa−5t用成膜装置において
は、ヒートパイプ用筒体の材料として150乃至400
℃の範囲内で優れた耐久性及び高強度特性を示し、且つ
ナフタリンやダウサムAに対して良好な耐食性を示すス
テンレスを用いるのがよい。
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明の成膜装置によれば、ヒートパイプ
を用いて基体の成膜面を均一な温度に設定でき、これに
より、生成した薄膜の全面に亘って物理的又は化学的に
均一な薄膜特性をもつことができ、その結果、高性能且
つ高信頼性の薄膜が提供できる。
更に本発明の成膜装置によれば、熱伝導性及び熱応答性
に優れた基体加熱システムとなっているので成膜開始に
当たって基体を所要の温度に設定するための時間を短縮
でき、加えて、その基体温度を高い精度で設定すること
ができるので個々の薄膜の間で品質のムラがなくなり、
これにより、製造時間が短縮されると共に製造歩留りを
高め、その結果、製造コストを小さくして高品質の薄膜
が提供できる。
更にまた、a−Si感光体ドラムを製造するためのグロ
ー放電分解装置においては、シーズヒータを用いて基体
を加熱した場合に基体の着脱毎にヒータが基板支持体や
その他の各種部材と度々接触し、これがヒータの断線、
変形等の原因となってその寿命を短くしているのに対し
て、上述した実施例が示す通り、ヒートパイプは基体を
所要の温度に維持する熱源及び熱伝導体、並びに基体装
着用支持体に用いられており、これにより、上記の問題
が解決できて長寿命の基体用熱源となり、その結果、成
膜装置自体のメンテナンスが著しく向上する。
尚、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく 
、PVD、CVD等それ自体周知の薄膜生成方法を用い
て磁性媒体、半導体、耐摩耗コーテイング材、装飾性コ
ーテイング材等々を生成するための成膜装置にも勿論適
用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に用いた成膜装置の概略を示す
中央部縦断面図、第2図は従来の成膜装置の概略を示す
中央部縦断面図である。 1・・・反応室  3・・・基板支持体4・・・基板 
  6・・・グロー放電用電極板11・・・ヒートパイ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 薄膜生成用ガスが導入される反応室の内部に薄膜の生成
    面を有する基体、基体を所要の温度に設定するための熱
    源、並びに薄膜生成手段を具備した成膜装置において、
    前記熱源にヒートパイプを用いたことを特徴とする成膜
    装置。
JP10152086A 1986-04-30 1986-04-30 成膜装置 Pending JPS62256966A (ja)

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JP10152086A JPS62256966A (ja) 1986-04-30 1986-04-30 成膜装置

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JP10152086A JPS62256966A (ja) 1986-04-30 1986-04-30 成膜装置

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JPS62256966A true JPS62256966A (ja) 1987-11-09

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ID=14302782

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013129908A (ja) * 2011-11-22 2013-07-04 Kobe Steel Ltd プラズマ発生源の冷却機構及び冷却方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4947077A (ja) * 1972-09-13 1974-05-07
JPS5925142A (ja) * 1982-07-30 1984-02-09 松下電工株式会社 回路しや断器に於ける消弧装置
JPS6076032A (ja) * 1983-09-30 1985-04-30 Toshiba Corp デイスクレコ−ド再生装置のフオ−カス制御回路

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4947077A (ja) * 1972-09-13 1974-05-07
JPS5925142A (ja) * 1982-07-30 1984-02-09 松下電工株式会社 回路しや断器に於ける消弧装置
JPS6076032A (ja) * 1983-09-30 1985-04-30 Toshiba Corp デイスクレコ−ド再生装置のフオ−カス制御回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013129908A (ja) * 2011-11-22 2013-07-04 Kobe Steel Ltd プラズマ発生源の冷却機構及び冷却方法

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