JPS62256966A - 成膜装置 - Google Patents
成膜装置Info
- Publication number
- JPS62256966A JPS62256966A JP10152086A JP10152086A JPS62256966A JP S62256966 A JPS62256966 A JP S62256966A JP 10152086 A JP10152086 A JP 10152086A JP 10152086 A JP10152086 A JP 10152086A JP S62256966 A JPS62256966 A JP S62256966A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- film forming
- base plate
- substrate
- glow discharge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 37
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 9
- 239000012530 fluid Substances 0.000 abstract description 6
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 4
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N Naphthalene Chemical compound C1=CC=CC2=CC=CC=C21 UFWIBTONFRDIAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000003852 thin film production method Methods 0.000 description 1
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はCVD、 PVD等の薄膜生成手段を有する成
膜装置に係り、特に基体の成膜面に亘って均一な温度に
設定できる熱源を具備した成膜装置に関するものである
。
膜装置に係り、特に基体の成膜面に亘って均一な温度に
設定できる熱源を具備した成膜装置に関するものである
。
近時、PVDやCVDによって基体表面に薄膜を生成し
て得られる薄膜生成部材が半導体素子や各種コーティン
グ部材などに用いられるようになってきており、その進
展は目覚ましいものがある。例えば、半導体素子の分野
においてはアモルファスシリコン(以下、a−Stと略
す)がプラズマCvDによって基体上に気相成長した素
子には光電変換特性があり、これにより、この素子を太
陽電池、光センサ、電子写真感光体などの各種デバイス
に応用することができる。
て得られる薄膜生成部材が半導体素子や各種コーティン
グ部材などに用いられるようになってきており、その進
展は目覚ましいものがある。例えば、半導体素子の分野
においてはアモルファスシリコン(以下、a−Stと略
す)がプラズマCvDによって基体上に気相成長した素
子には光電変換特性があり、これにより、この素子を太
陽電池、光センサ、電子写真感光体などの各種デバイス
に応用することができる。
しかしながら、斯様にして得られるa−5i半導体薄膜
は、成膜装置の条件(例えば、ガス圧、ガス流量、基体
温度、原料ガスの種類、ガス組成比など)によってその
特性が鋭敏に変化するので個々の半導体薄膜の間で安定
した半導体特性を得るのが難しく、また、半導体薄膜の
膜面に亘って均一な特性を得るのが難しくなっている。
は、成膜装置の条件(例えば、ガス圧、ガス流量、基体
温度、原料ガスの種類、ガス組成比など)によってその
特性が鋭敏に変化するので個々の半導体薄膜の間で安定
した半導体特性を得るのが難しく、また、半導体薄膜の
膜面に亘って均一な特性を得るのが難しくなっている。
即ち、a−3i悪感光をグロー放電分解袋でを用いて製
作する場合を例にとると、第2図に示す装置が用いられ
ており、図中、1は円筒形状の反応室、2は反応室の上
面1a及び下面1bのそれぞれを反応室周壁1cと電気
的に絶縁する絶縁リング、3は円筒形状の導電性基板支
持体であり、a−3i薄膜が生成される導電性基板4が
この基板支持体3に装着され、基板支持体3の内部に配
設されたヒータ5(通常、シース線などが用いられる)
によって基板4を所要の温度に加熱している。6は筒状
のグロー放電用電極板であり、7は反応室1の内部へa
−Si生成用ガスを導入するためのガス与太口であり、
反応室1に入ったガスは電極板6に設けたガス噴出口8
を介して基ヰ反4の周面へ向けて噴出する。
作する場合を例にとると、第2図に示す装置が用いられ
ており、図中、1は円筒形状の反応室、2は反応室の上
面1a及び下面1bのそれぞれを反応室周壁1cと電気
的に絶縁する絶縁リング、3は円筒形状の導電性基板支
持体であり、a−3i薄膜が生成される導電性基板4が
この基板支持体3に装着され、基板支持体3の内部に配
設されたヒータ5(通常、シース線などが用いられる)
によって基板4を所要の温度に加熱している。6は筒状
のグロー放電用電極板であり、7は反応室1の内部へa
−Si生成用ガスを導入するためのガス与太口であり、
反応室1に入ったガスは電極板6に設けたガス噴出口8
を介して基ヰ反4の周面へ向けて噴出する。
9はグロー放電発生用の高周波電源であってその両端子
はそれぞれ基板4とグロー放電用電極板6に導通してお
り、この両者の間にグロー放電が発生する。尚、10は
ガス排出口である。
はそれぞれ基板4とグロー放電用電極板6に導通してお
り、この両者の間にグロー放電が発生する。尚、10は
ガス排出口である。
上記構成によるグロー放電分解装置によれば、基板を所
要の温度に設定し、そして、反応室内部へa−5i生成
用ガスを導入し、基板4とグロー放電用電極板6の間に
グロー放電を発生させるとガスが分解するのに伴って基
板表面にa−3iが生成する。
要の温度に設定し、そして、反応室内部へa−5i生成
用ガスを導入し、基板4とグロー放電用電極板6の間に
グロー放電を発生させるとガスが分解するのに伴って基
板表面にa−3iが生成する。
しかしながら、上記のグロー放電分解装置によれば、コ
イル状に巻かれたヒータ5を基板支持体3の内部に配設
して基板支持体3の内面を等しく加熱しようとしている
が、熱放射にムラができるために基板支持体3の内周面
を均一な温度に設定できず、これにより、基板4の成膜
面に亘って均一な温度に設定することが難しくなり、そ
の結果、基板4に生成したa−5i膜がその成膜面に亘
って均一な電子写真特性を得ることができないという問
題がある。
イル状に巻かれたヒータ5を基板支持体3の内部に配設
して基板支持体3の内面を等しく加熱しようとしている
が、熱放射にムラができるために基板支持体3の内周面
を均一な温度に設定できず、これにより、基板4の成膜
面に亘って均一な温度に設定することが難しくなり、そ
の結果、基板4に生成したa−5i膜がその成膜面に亘
って均一な電子写真特性を得ることができないという問
題がある。
従って本発明の目的は、成膜用基体の薄膜生成面の温度
ムラをなくして薄膜全体が均一な物理的又は化学的特性
をもつようにし、これにより、高品質且つ高倍転性の薄
膜が生成できる成膜装置を提供することにある。
ムラをなくして薄膜全体が均一な物理的又は化学的特性
をもつようにし、これにより、高品質且つ高倍転性の薄
膜が生成できる成膜装置を提供することにある。
本発明によれば、薄膜生成用ガスが導入される反応室の
内部に薄膜の生成面を有する基体、基体を所要の温度に
設定するための熱源、並びに薄膜生成手段を具備した成
膜装置において、前記熱源にヒートパイプを用いたこと
を特徴とする成膜装置が提供される。
内部に薄膜の生成面を有する基体、基体を所要の温度に
設定するための熱源、並びに薄膜生成手段を具備した成
膜装置において、前記熱源にヒートパイプを用いたこと
を特徴とする成膜装置が提供される。
以下、本発明をa−3i5光体ドラムを製作するための
グロー放電分解装置を例にとって詳細に説明する。
グロー放電分解装置を例にとって詳細に説明する。
第1図は本発明の実施例に用いられるグロー放電分解装
置であり、第2図と同一箇所には同一符号が付しである
。
置であり、第2図と同一箇所には同一符号が付しである
。
第1図によれば、第2図にて述べた基板支持体3に代え
て円柱状のヒートパイプ11を設置しており、このヒー
トパイプ11に基板4を装着している。このヒートパイ
プ11は熱伝導性に優れた筒体12とこの筒体12の内
部に封入した作動流体13とから成り、ヒートパイプ1
1の下部には加熱源14(例えば鋳込みヒータなど)が
接続されており、この加熱源14により作動流体13を
加熱してヒートパイプ9を所要の温度に高め、それ自体
の温度が維持できろようになっている。尚、15はこの
加熱源14の加熱温度を制御するための温度調節器であ
る。
て円柱状のヒートパイプ11を設置しており、このヒー
トパイプ11に基板4を装着している。このヒートパイ
プ11は熱伝導性に優れた筒体12とこの筒体12の内
部に封入した作動流体13とから成り、ヒートパイプ1
1の下部には加熱源14(例えば鋳込みヒータなど)が
接続されており、この加熱源14により作動流体13を
加熱してヒートパイプ9を所要の温度に高め、それ自体
の温度が維持できろようになっている。尚、15はこの
加熱源14の加熱温度を制御するための温度調節器であ
る。
このグロー放電分解装置においては、従来周知のシーズ
ヒータに比べて熱伝導性及び熱応答性に優れたヒートパ
イプを基板用熱源として用いることが特徴であり、この
ヒートパイプ11が加熱源14により加熱されると即座
に所要温度に達し、且つその全体が均一な温度に維持さ
れ、これにより、基+1i、4を均一な温度に設定でき
るので、その板面に亘る温度ムラがなくなり、その結果
、電子写真特性の局所的な劣化がなく均質且つ高性能の
a−3i悪感光が形成される。
ヒータに比べて熱伝導性及び熱応答性に優れたヒートパ
イプを基板用熱源として用いることが特徴であり、この
ヒートパイプ11が加熱源14により加熱されると即座
に所要温度に達し、且つその全体が均一な温度に維持さ
れ、これにより、基+1i、4を均一な温度に設定でき
るので、その板面に亘る温度ムラがなくなり、その結果
、電子写真特性の局所的な劣化がなく均質且つ高性能の
a−3i悪感光が形成される。
本発明によれば、前記の作動流体には所要の基体温度に
よって種々の材料が選択されるが、例えば、上記実施例
にて用いられたa−3i用成膜装置においては基板温度
を150乃至400℃に設定するためにナフタリンやダ
ウサムAが用いられる。
よって種々の材料が選択されるが、例えば、上記実施例
にて用いられたa−3i用成膜装置においては基板温度
を150乃至400℃に設定するためにナフタリンやダ
ウサムAが用いられる。
また、本発明に係るヒートパイプに使われる筒体は熱伝
導性に優れた材料により形成されており、その材料とし
て例えば、銅、SUS、アルミニウム、ステンレス等の
金属又はセラミックスなどがある。
導性に優れた材料により形成されており、その材料とし
て例えば、銅、SUS、アルミニウム、ステンレス等の
金属又はセラミックスなどがある。
上記実施例にて用いられたa−5t用成膜装置において
は、ヒートパイプ用筒体の材料として150乃至400
℃の範囲内で優れた耐久性及び高強度特性を示し、且つ
ナフタリンやダウサムAに対して良好な耐食性を示すス
テンレスを用いるのがよい。
は、ヒートパイプ用筒体の材料として150乃至400
℃の範囲内で優れた耐久性及び高強度特性を示し、且つ
ナフタリンやダウサムAに対して良好な耐食性を示すス
テンレスを用いるのがよい。
以上の通り、本発明の成膜装置によれば、ヒートパイプ
を用いて基体の成膜面を均一な温度に設定でき、これに
より、生成した薄膜の全面に亘って物理的又は化学的に
均一な薄膜特性をもつことができ、その結果、高性能且
つ高信頼性の薄膜が提供できる。
を用いて基体の成膜面を均一な温度に設定でき、これに
より、生成した薄膜の全面に亘って物理的又は化学的に
均一な薄膜特性をもつことができ、その結果、高性能且
つ高信頼性の薄膜が提供できる。
更に本発明の成膜装置によれば、熱伝導性及び熱応答性
に優れた基体加熱システムとなっているので成膜開始に
当たって基体を所要の温度に設定するための時間を短縮
でき、加えて、その基体温度を高い精度で設定すること
ができるので個々の薄膜の間で品質のムラがなくなり、
これにより、製造時間が短縮されると共に製造歩留りを
高め、その結果、製造コストを小さくして高品質の薄膜
が提供できる。
に優れた基体加熱システムとなっているので成膜開始に
当たって基体を所要の温度に設定するための時間を短縮
でき、加えて、その基体温度を高い精度で設定すること
ができるので個々の薄膜の間で品質のムラがなくなり、
これにより、製造時間が短縮されると共に製造歩留りを
高め、その結果、製造コストを小さくして高品質の薄膜
が提供できる。
更にまた、a−Si感光体ドラムを製造するためのグロ
ー放電分解装置においては、シーズヒータを用いて基体
を加熱した場合に基体の着脱毎にヒータが基板支持体や
その他の各種部材と度々接触し、これがヒータの断線、
変形等の原因となってその寿命を短くしているのに対し
て、上述した実施例が示す通り、ヒートパイプは基体を
所要の温度に維持する熱源及び熱伝導体、並びに基体装
着用支持体に用いられており、これにより、上記の問題
が解決できて長寿命の基体用熱源となり、その結果、成
膜装置自体のメンテナンスが著しく向上する。
ー放電分解装置においては、シーズヒータを用いて基体
を加熱した場合に基体の着脱毎にヒータが基板支持体や
その他の各種部材と度々接触し、これがヒータの断線、
変形等の原因となってその寿命を短くしているのに対し
て、上述した実施例が示す通り、ヒートパイプは基体を
所要の温度に維持する熱源及び熱伝導体、並びに基体装
着用支持体に用いられており、これにより、上記の問題
が解決できて長寿命の基体用熱源となり、その結果、成
膜装置自体のメンテナンスが著しく向上する。
尚、本発明は上記の実施例に限定されるものではなく
、PVD、CVD等それ自体周知の薄膜生成方法を用い
て磁性媒体、半導体、耐摩耗コーテイング材、装飾性コ
ーテイング材等々を生成するための成膜装置にも勿論適
用することができる。
、PVD、CVD等それ自体周知の薄膜生成方法を用い
て磁性媒体、半導体、耐摩耗コーテイング材、装飾性コ
ーテイング材等々を生成するための成膜装置にも勿論適
用することができる。
第1図は本発明の実施例に用いた成膜装置の概略を示す
中央部縦断面図、第2図は従来の成膜装置の概略を示す
中央部縦断面図である。 1・・・反応室 3・・・基板支持体4・・・基板
6・・・グロー放電用電極板11・・・ヒートパイ
プ
中央部縦断面図、第2図は従来の成膜装置の概略を示す
中央部縦断面図である。 1・・・反応室 3・・・基板支持体4・・・基板
6・・・グロー放電用電極板11・・・ヒートパイ
プ
Claims (1)
- 薄膜生成用ガスが導入される反応室の内部に薄膜の生成
面を有する基体、基体を所要の温度に設定するための熱
源、並びに薄膜生成手段を具備した成膜装置において、
前記熱源にヒートパイプを用いたことを特徴とする成膜
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10152086A JPS62256966A (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | 成膜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10152086A JPS62256966A (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | 成膜装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62256966A true JPS62256966A (ja) | 1987-11-09 |
Family
ID=14302782
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10152086A Pending JPS62256966A (ja) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | 成膜装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62256966A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013129908A (ja) * | 2011-11-22 | 2013-07-04 | Kobe Steel Ltd | プラズマ発生源の冷却機構及び冷却方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4947077A (ja) * | 1972-09-13 | 1974-05-07 | ||
JPS5925142A (ja) * | 1982-07-30 | 1984-02-09 | 松下電工株式会社 | 回路しや断器に於ける消弧装置 |
JPS6076032A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-30 | Toshiba Corp | デイスクレコ−ド再生装置のフオ−カス制御回路 |
-
1986
- 1986-04-30 JP JP10152086A patent/JPS62256966A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4947077A (ja) * | 1972-09-13 | 1974-05-07 | ||
JPS5925142A (ja) * | 1982-07-30 | 1984-02-09 | 松下電工株式会社 | 回路しや断器に於ける消弧装置 |
JPS6076032A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-30 | Toshiba Corp | デイスクレコ−ド再生装置のフオ−カス制御回路 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013129908A (ja) * | 2011-11-22 | 2013-07-04 | Kobe Steel Ltd | プラズマ発生源の冷却機構及び冷却方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5059770A (en) | Multi-zone planar heater assembly and method of operation | |
US6749824B2 (en) | Chemical vapor deposition system for polycrystalline silicon rod production | |
TW201814826A (zh) | 用於具有多區加熱之基材支撐件的方法及設備 | |
US4516527A (en) | Photochemical vapor deposition apparatus | |
JPS62256966A (ja) | 成膜装置 | |
JP2017503078A (ja) | Cvd反応器のための改良された放射シールディング | |
EP0728850A2 (en) | Quasi hot wall reaction chamber | |
JPS62278272A (ja) | 量産型成膜装置 | |
JPS62280359A (ja) | 量産型成膜装置 | |
JPH01298173A (ja) | マイクロ波プラズマcvd法による堆積膜製造方法 | |
JP2608410B2 (ja) | グロー放電分解装置 | |
JPS643338B2 (ja) | ||
JPH0533524U (ja) | 枚葉式cvd装置用ヒータ | |
JPS637373A (ja) | プラズマcvd法による堆積膜形成装置 | |
JPS60116784A (ja) | 放電による堆積膜の製造装置 | |
JPS60131969A (ja) | 化学気相成長処理装置 | |
KR20130103488A (ko) | 기판 처리 장치 및 시스템 | |
JP2531649B2 (ja) | 堆積膜形成法 | |
JPH0645331U (ja) | グロー放電分解装置 | |
JPS5854345A (ja) | アモルフアスシリコン電子写真感光体の製造方法 | |
JP2004111630A (ja) | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 | |
JPS6013076A (ja) | プラズマcvd装置 | |
JPS6086277A (ja) | 放電による堆積膜の形成方法 | |
JPS6013075A (ja) | プラズマcvd装置 | |
JP2577562B2 (ja) | グロ−放電分解装置 |