JPS62239035A - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、各種材料、各種機器の部品等を、高温、低温
の雰囲気に交互にさらして、上記材料等の熱ストレス特
性、耐久性、熱的強度等を試験するための冷熱衝撃試験
装置に関する。

〔従来の技術〕

冷熱衝撃試験装置の試験室の搗度制瞬は、従来実開昭６
０−６１６４１に記載のように、試験室に２つの温度セ
ンサがあるため、測定位置によるバラツキと高度センサ
の２つの間にバラツキがあった。また温度調節器も低温
用と尚温州の２つの間にバラツキがあった。さらに温度
センサと温度調節器の間に切換え装置があるため、ここ
で誤差を生じ試験の精度については配慮されていなかっ
た。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記従来技術では試験高度の精問が悪かったため、試験
の正確さにおいて問題があった。本発明の目的は試験温
度の精度を向上することにある。

〔問題点を解決するための手段〕 上記目的は、試験至に設置する高度センサを１つとし１
、本温度センサを基準として、試験室の温度を制御する
温度調節器も１つとすることにより％２つの制御器のバ
ラツキを無くすることができる。

ここで従来技術では高温さらし温度と低温さらし温度の
目標値は、各々の温度調節器に設定していたが、本発明
では温度調節器にプログラム機能を付加し、高温さらし
温度と低温さらし温度の目標値が時間の経過と共に切り
侠わるようにすることにより達成される。

〔作用〕

温度調節器の設定値が、高温さらし温度の時は、試験室
の温度センサが設定された高温さらし温度になるよう、
本温度調節器により高温槽の温度が制御される。また温
度調節器の設定値が、低温さらし温度の時は、試験室の
温度センサが設定された低温さらし温度になるよう、本
温度調節器により低温槽の温度が制御される。

それによって、試験温度の精度が向上する。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図と第２図により説明す
る。第１図において１は試験室、２は高温槽、８け低温
槽で、試験１と高温槽２は高嵩ダ・−８＝ ンパ４ａ、４’の開閉で連通、遮断される。また試験室
１と低温槽８け低温ダンパ５ａ、５４の開閉で連通、遮
断される。高温槽２は送風機１０、電気ヒータ１２で構
成され、一方低温槽８け送風機１１、電気ヒータ１Ｂ、
冷却器１４で構成される。６ａ、ｓＪは常温ダンパで、
開時において外気供給装置ｔ（図示せず）により装置周
辺の空気を常温ダンパ６ａから試験室１に導入し、常温
ダンパ６Ａより排出するようになっている。試験室１に
は温度センサ７が、高温槽２にけ温度センサ８が、低温
［８には温度センサ９が各々配置されている。

第２図は制御回路のブロック図である。１８はプログラ
ム設定器であり登録されたプログラムに従い、試験高度
の設定値を出力する。プログラム設定器１８の出力は試
験用温度調節器１５と判定回路１９に行く、判定回路１
９は駆動装置を制御しており、プログラム設定器の目Ｒ
温度が所定の温度Ｔ、（例えば４０°Ｃ）より高い場合
は高現さらしとし、目標湛変が所定の温度Ｔ２（例えば
０、−４７ ”Ｃ）より低い場合は低醜さらしとし、いずれにも属さ
ない場合は常温さらしとして判定し、設定温度に応じた
駆動装置を動作させる。プログラム設定器１８と判定回
路１９ｄマイクロコンピユータを利用して構成すること
ができ／）。駆動装置には、高温ダンパ４、低温ダンパ
６、常温ダンパ６、切換装置２０．２１がある。一方、
試験用温度調節器１５は温度センサ７と接続し、実際の
温度が設定温度になるような制御量を切換装置２０．２
１の各々一方に出力する。また温度センサ８と接続した
高温用温度調節器１６は切換装置２０の他方に、センサ
９と接続した低温用高度調節器１７は句法装置の他方に
出力する。切換装置２０は前述のように判定回路１９に
て制御され、高温さらし時は試験用温度調節器１５の出
力を、低醜さらし時と常温さらし時は高温用温度調節器
１６の出力を！気ヒータ１２に出力する。同様に切換装
置２１は、低温さらし時は試験用温度調節器１５の出力
を、高温さらし時と常温さらし時は低温用温度調節器１
７の出力を電気ヒータ１８に出力する。なおここで高温
用温度調節器１６け高温槽２の予熱温度を制御し、低温
用幅間調節器１７は低温槽８の予冷温度を制御する。予
熱温度と予冷温度の設定値は、予め各調節器に設定して
おくか、プログラム設定器１８１こ設定したものを各調
節器１６．１７に出力するよう（こするかいずれかの方
法による。

次に本発明の動作について説明する。プログラム設定器
の試験温度が例えば１５０°Ｃを出力すると、判定回路
１９が作動して高温さらしの状態になる。この時第１図
では高温ダンハ４　ａ、　４　ｋが開いて高温槽２の金
気が、送風機１０により試験室１に吹き出される。この
時第２図でけ切戻装置２０．２１が図示の位置にあり、
試験室の温度は温度センサ７と試験用温度調節器１５に
より、高温槽２に設置した電気ヒータ１２を調節して設
定値１５０°Ｃに制御される。一方低温槽８の温度は、
次の低温さらしに備えて％幅１センサ９と低温用温度調
節器１７により、冷却器１４と’Ｍｌヒータ１８を調節
して予冷温度に制御される。

次に試験温度が一４０’ｃの場合は低温さらしの状態と
なり、低温ダンパ５ａ、５４が開いて低温槽８の空気が
試験室１に吹き出される。この時切換装置２０．２１は
前述と逆になり、試験室の温度は、低温槽に設置した冷
却器１４と゛電気ヒータ１８を調節して設定値−４０’
Ｃに制御され、−力高瀧槽の温度は、次の高醜さらしｔ
こ備えて予熱温度に制（財）される。

最後に試験温度が２０’ｃの場合は常渦さらしの状態と
なり、常温ダンパ５ａ、（ｉＪが開いて外気を導入する
と共に、高温槽２は温度センサ８と高温用温度調節器１
６で、低錦槽３は幅１ｗセンサ９と低瀧用温度調節器］
７で各々予熱・予冷される〔発明の効果〕 本発明によれば、従来試験室の温度制御として、温度セ
ンサと温度調節器に切戻装置を介し、これを２ｉ必要で
あったものを、温度センサと温度調節器を直接接続し、
これを１組とすることができるので、試験温度の精度が
向上する。

、−７１

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例で、正面縦断面図である。第
２図は第１図に関する制御の流れを示すブロック図であ
る。 １・・・試験室　２・・・高温槽　８・・・低棉槽　４
ａ、４ｊ・・・高温ダンパ　５ａ、５４・・・吐湯ダン
パ　７．８．９・・・温度センサ　１５・・・試験用温
度調節器１６・・・高温用温度調節器　１７山低温用湛
度調節器　１８・・・プログラム設定器　１９・・・判
定回路２０．２１・・・切換装置　６ａ、６ｉ・・・常
温ダンパ・−８− ン ト・８忙的守１色　　　　　　　６・・ン２殉１ヒンサ
　　　　４ｑ、’ｆ４＝息、゛長−り”トハ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、試験室と、本試験室に高温空気を供給するための高
   温槽と、本高温槽の空気吹出口と吸込口を開閉する高温
   ダンパと、前記試験室に低温空気を供給するための低温
   槽と、本低温槽の空気吹出口と吹込口を開閉する低温ダ
   ンパと、前記試験室に外気を導入するための外気供給装
   置と、本外気供給装置の空気吹出口と吸込口を開閉する
   常温ダンパと、前記試験室に設置した温度センサと、本
   温度センサに接続された試験用温度調節器とを備えたこ
   とを特徴とする冷熱衝撃試験装置。 ２、高温槽に設置した温度センサと、本温度センサに接
   続された高温用温度調節器と、低温槽に設置した温度セ
   ンサと、本温度センサに接続された低温用温度調節器と
   を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の
   冷熱衝撃試験装置。 ３、試験時間と試験温度を１組としたプログラムを複数
   組登録しておき、登録されたプログラムの試験温度が、
   所定の温度Ｔ＿１より高い場合は高温ダンパを開き、所
   定の温度Ｔ＿２（但しＴ＿１＞Ｔ＿２）より低い場合は
   低温ダンパを開き、いずれにも属さない場合は常温ダン
   パを開くようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
   １項、または第２項記載の冷熱衝撃試験装置。 ４、高温槽の温度は、高温ダンパが閉じている時は高温
   用温度調節器を、高温ダンパが開いている時は試験用温
   度調節器を切換して制御するようにし、低温槽の温度は
   、低温ダンパが閉じている時は低温用温度調節器を、低
   温ダンパが開いている時は試験用温度調節器を切換して
   制御するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
   １項、第２項、第３項記載のいずれかの冷熱衝撃試験装
   置。