JPS62238471A - 電解コンデンサの劣化検出装置 - Google Patents
電解コンデンサの劣化検出装置Info
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- JPS62238471A JPS62238471A JP8316286A JP8316286A JPS62238471A JP S62238471 A JPS62238471 A JP S62238471A JP 8316286 A JP8316286 A JP 8316286A JP 8316286 A JP8316286 A JP 8316286A JP S62238471 A JPS62238471 A JP S62238471A
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- JP
- Japan
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- discharge
- discharge characteristic
- deterioration
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- electrolytic capacitor
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- 230000006866 deterioration Effects 0.000 title claims abstract description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 10
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 30
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は電解コンデンサの劣化検出装置に関するもの
である。
である。
［従来の技術］
第３図は特願昭８０−２５７１００号に開示した従来の
電解コンデンサの劣化検出装置の概念図であり。
電解コンデンサの劣化検出装置の概念図であり。
図において、（１）は電解コンデンサ、（２）は放電抵
抗器、（３）は電圧分圧器、（４）は開閉スイッチ、（
５）は可変抵抗器（５ａ）、可変コンデンサ（５ｂ）を
内蔵する一次遅れ演算器、（６）は信号判別器、（７）
は警報器である。
抗器、（３）は電圧分圧器、（４）は開閉スイッチ、（
５）は可変抵抗器（５ａ）、可変コンデンサ（５ｂ）を
内蔵する一次遅れ演算器、（６）は信号判別器、（７）
は警報器である。
次に上記構成の動作について説明する。電解コンデンサ
（１）は安全上の目的から使用中以外はコンデンサ（１
）に電荷が残り電位をもたないよう通常は端子に比較的
抵抗値の大きい放電抵抗器（２）が設けられる。この放
電抵抗器（２）と並列に分圧回路（３）を設は後述する
演算器（５）の入力として無理のない電圧値に分圧する
０分圧回路（３）からの信号は１つは通常開で劣化判別
時に開とするスイッチ（４）を経て一時遅れ時間を調整
できる演算器（５）に入力される。演算器（５）の電圧
減衰特性はスイッチ（４）を閉とし電解コンデンサ（１
）を定格電圧で充電した状態からスイッチ（４）を開と
したときに電解コンデンサ（１）が劣化と判断される時
の容量と放電抵抗器（２）で定まる放電特性に合致する
ように可変抵抗（５ａ）と可変コンデンサ（５ｂ）によ
り調整される。
（１）は安全上の目的から使用中以外はコンデンサ（１
）に電荷が残り電位をもたないよう通常は端子に比較的
抵抗値の大きい放電抵抗器（２）が設けられる。この放
電抵抗器（２）と並列に分圧回路（３）を設は後述する
演算器（５）の入力として無理のない電圧値に分圧する
０分圧回路（３）からの信号は１つは通常開で劣化判別
時に開とするスイッチ（４）を経て一時遅れ時間を調整
できる演算器（５）に入力される。演算器（５）の電圧
減衰特性はスイッチ（４）を閉とし電解コンデンサ（１
）を定格電圧で充電した状態からスイッチ（４）を開と
したときに電解コンデンサ（１）が劣化と判断される時
の容量と放電抵抗器（２）で定まる放電特性に合致する
ように可変抵抗（５ａ）と可変コンデンサ（５ｂ）によ
り調整される。
しかして、演算器（５）の出力信号と分圧回路（３）か
らの信号は判別器（６）に入力される。判別器（６）は
コンデンサ（１）の静電容量Ｃ（Ｆ）と放電抵抗器（２
）の抵抗値Ｒ（Ω）で過渡的に定まる放電特性（第２図
中径号（１１））と演算増幅器（５）で作られた劣化初
期時と同等の放電特性（第２図中径号（１２））を比較
し、放電特性（１１）の減衰が放電特性（１２）の減衰
より早くなった時に出力を出し警報器（７）を駆動する
。
らの信号は判別器（６）に入力される。判別器（６）は
コンデンサ（１）の静電容量Ｃ（Ｆ）と放電抵抗器（２
）の抵抗値Ｒ（Ω）で過渡的に定まる放電特性（第２図
中径号（１１））と演算増幅器（５）で作られた劣化初
期時と同等の放電特性（第２図中径号（１２））を比較
し、放電特性（１１）の減衰が放電特性（１２）の減衰
より早くなった時に出力を出し警報器（７）を駆動する
。
［発明が解決しようとする問題点］
従来の電解コンデンサの劣化装置は以上のように構成さ
れているので、−次遅れ演算器や信号判別器などの回路
部品が必要で、またそれらの部品の経年変化も考慮する
必要があり、経済性及び信頼性とも満足するものではな
かった。
れているので、−次遅れ演算器や信号判別器などの回路
部品が必要で、またそれらの部品の経年変化も考慮する
必要があり、経済性及び信頼性とも満足するものではな
かった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、安価にできるとともに信頼性の高い電解コン
デンサの劣化検出装置を得ることを目的としている。
たもので、安価にできるとともに信頼性の高い電解コン
デンサの劣化検出装置を得ることを目的としている。
し問題点を解決するための手段］
この発明に係る電解コンデンサの劣化検出装置は、製品
初期（例えば工場試験時）に電解コンデンサと放電抵抗
器との放電特性を記憶装置に記憶させ、使用開始後は電
解コンデンサと放電抵抗器との放電特性をその都度製品
初期の放電特性と比較させその差があらかじめ設定した
定格値を越えたら劣化検出の表示を行なうようにしたも
のである。
初期（例えば工場試験時）に電解コンデンサと放電抵抗
器との放電特性を記憶装置に記憶させ、使用開始後は電
解コンデンサと放電抵抗器との放電特性をその都度製品
初期の放電特性と比較させその差があらかじめ設定した
定格値を越えたら劣化検出の表示を行なうようにしたも
のである。
［作用］
この発明における電解コンデンサの劣化検出装置は、電
解コンデンサに充電された電荷の放、重用に設けられた
抵抗器の電圧変化から電解コンデンサの静電容量を知り
得ることができ、その経時的変化量より劣化を検出する
ことができる。
解コンデンサに充電された電荷の放、重用に設けられた
抵抗器の電圧変化から電解コンデンサの静電容量を知り
得ることができ、その経時的変化量より劣化を検出する
ことができる。
［実施例］
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、（１）は電解コンデンサ、（２）は放電抵
抗器、（３）は電圧分圧器、（２１）はアナログ／デジ
タル変換器、（２２）はＣＰＵ等でなる演算装置、（２
３）はＲＯＭでなる記憶装置、 （７）は警報器である
。
図において、（１）は電解コンデンサ、（２）は放電抵
抗器、（３）は電圧分圧器、（２１）はアナログ／デジ
タル変換器、（２２）はＣＰＵ等でなる演算装置、（２
３）はＲＯＭでなる記憶装置、 （７）は警報器である
。
次に上記構成を備える実施例の動作について説明する。
電解コンデンサ（１）は安全上の目的から使用中以外は
コンデンサ（１）に電荷が残り、電位をもたないように
通常は端子に比較的抵抗値の大きい放電抵抗器（２）が
設けられる。この放電抵抗器と並列に分圧回路（３）を
設け、後述のＡ／Ｄ変換器（２１）の入力として無理の
ない電圧値に分圧する。分圧回路（３）からの信号はＡ
／Ｄ変換器（２１）によりアナログ信号からデジタル信
号に変換され、演算装置（２２）に読み込まれる。ここ
で演算装置（２２）は工場試験時において第１回目の停
止時における過渡的な放電特性から電解コンデンサ劣化
時の過渡的な放電特性を演算しその内容を記憶装置（２
３）に記憶させる。２回目以後の停止時においては、演
算装置（２２）はＡ／Ｄ変換器（２１）からの信号（第
２図中径号（１１））と記憶装置（２３）からの信号（
第２図中径号（１２））を比較し、放電特性（１１）の
減衰が放電特性（１２）の減衰より早くなった時に出力
を出し警報器（７）を駆動する。
コンデンサ（１）に電荷が残り、電位をもたないように
通常は端子に比較的抵抗値の大きい放電抵抗器（２）が
設けられる。この放電抵抗器と並列に分圧回路（３）を
設け、後述のＡ／Ｄ変換器（２１）の入力として無理の
ない電圧値に分圧する。分圧回路（３）からの信号はＡ
／Ｄ変換器（２１）によりアナログ信号からデジタル信
号に変換され、演算装置（２２）に読み込まれる。ここ
で演算装置（２２）は工場試験時において第１回目の停
止時における過渡的な放電特性から電解コンデンサ劣化
時の過渡的な放電特性を演算しその内容を記憶装置（２
３）に記憶させる。２回目以後の停止時においては、演
算装置（２２）はＡ／Ｄ変換器（２１）からの信号（第
２図中径号（１１））と記憶装置（２３）からの信号（
第２図中径号（１２））を比較し、放電特性（１１）の
減衰が放電特性（１２）の減衰より早くなった時に出力
を出し警報器（７）を駆動する。
なお、上記実施例では、記憶装置（２３）の内容を劣化
時を想定した値としたが、劣化時を想定した値でなく第
１回目の停止時の放電特性の値でもよい、この場合は２
回目以後の停止毎の演算過程において劣化係数を加味し
て演算すればよい。
時を想定した値としたが、劣化時を想定した値でなく第
１回目の停止時の放電特性の値でもよい、この場合は２
回目以後の停止毎の演算過程において劣化係数を加味し
て演算すればよい。
し発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、電解コンデンサの劣化
を装置の停止毎に演算して検出するようにしたので、精
度の高いものが得られまた装置が安価にできる。
を装置の停止毎に演算して検出するようにしたので、精
度の高いものが得られまた装置が安価にできる。
第１図はこの発明の一実施例による電解コンデンサの劣
化検出装置の概念図、第２図は電解コンデンサ及び放電
抵抗器の放電特性図、第３図は従来の電解コンデンサの
劣化検出装置の概念図である。 （１）は電解コンデンサ、（２）は放電抵抗器。 （２２）は演算装置、（２３）は記憶装置である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
化検出装置の概念図、第２図は電解コンデンサ及び放電
抵抗器の放電特性図、第３図は従来の電解コンデンサの
劣化検出装置の概念図である。 （１）は電解コンデンサ、（２）は放電抵抗器。 （２２）は演算装置、（２３）は記憶装置である。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 充電された電解コンデンサとその両端に設けられた放電
抵抗器の初期の放電特性を記憶した記憶装置、この記憶
された放電特性とその後の放電毎の放電特性を比較する
ことによって電解コンデンサの劣化を判別する演算装置
を備えたことを特徴とする電解コンデンサの劣化検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8316286A JPS62238471A (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 電解コンデンサの劣化検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8316286A JPS62238471A (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 電解コンデンサの劣化検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62238471A true JPS62238471A (ja) | 1987-10-19 |
| JPH0451789B2 JPH0451789B2 (ja) | 1992-08-20 |
Family
ID=13794558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8316286A Granted JPS62238471A (ja) | 1986-04-10 | 1986-04-10 | 電解コンデンサの劣化検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62238471A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011174797A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Mitsubishi Electric Corp | 電力用コンデンサの監視装置 |
| US8362784B2 (en) | 2009-06-22 | 2013-01-29 | Mitsubishi Electric Corporation | Capacitor capacitance diagnosis device and electric power apparatus equipped with capacitor capacitance diagnosis device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5746168A (en) * | 1980-09-04 | 1982-03-16 | Nec Home Electronics Ltd | Method for ispecting characteristics of electronic part |
-
1986
- 1986-04-10 JP JP8316286A patent/JPS62238471A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5746168A (en) * | 1980-09-04 | 1982-03-16 | Nec Home Electronics Ltd | Method for ispecting characteristics of electronic part |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8362784B2 (en) | 2009-06-22 | 2013-01-29 | Mitsubishi Electric Corporation | Capacitor capacitance diagnosis device and electric power apparatus equipped with capacitor capacitance diagnosis device |
| JP2011174797A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Mitsubishi Electric Corp | 電力用コンデンサの監視装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0451789B2 (ja) | 1992-08-20 |
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