JPS62232847A - レーザイオン化質量分析計による質量分析方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野） 本発明は、レーザ光を試料に照射してイオン化し得られ
た質量スペクトルから試料分子の組成等を分析するレー
ザイオン化質量分析針の改良に関する。

〈従来の技術〉 質量分析計において難揮発性で熱的不安定な有機物質を
イオン化する場合、フラグメンテーションを起させずに
親イオンを発生させる方法のひとつにレーザ光を照射す
る方法がある。この場合、固体試料は、水、エタノール
、アセトン等の適当な溶媒に熔かし、金属等の試料ホル
ダー上に滴下した後、乾燥させ、薄膜状にして用いられ
る。しかし、この状態では、親イオンの生成量が微小で
、また、長時間のイオン生成は期待できない。

本出願人は、イオンの生成量を増大させ、しかもその継
続時間を長くするため、試料溶液に金属微粒子と例えば
グリセリン等の低蒸気圧液体を添加する方法を既に提案
した。しかし、この様な試料作成法によっても、高質量
数物質においてはその親イオンの生成時間は限られてい
る。

〈発明が解決しようとする問題点〉 通常、飛行時間型質量分析計においては、原理的には１
回の測定で全質量スペクトルが得られるはずであるが、
高質量数イオン等の微少イオンに対しては、何回かの測
定を積算してスペクトルを得ることが行なわれる。この
場合、上述のように親イオンの生成時間が限定されてい
ると、むやみに積算回数を増大しても、親イオン以外の
フラグメントイオンや他のイオンばかり検出され、親イ
オンのイ爽出が困難になる。また、親イオンの検出がで
きても、非常にＳＮ比の恋いスペクトルしか得られない
。

く問題点を解決するための手段〉 本発明に係るレーザイオン化質量分析計は、試料に照射
するレーザ光を発生するレーザ光発生手段と、試料から
のレーザ光の反射光の強度を検出する反射光強度検出手
段とを備える。

く作用〉 本発明に係るレーザイオン化質量分析計は、上述の構成
のもとで、試料からの反射光の強度の時間的変化を検出
可能にする。

〈発明の原理〉 試料に全屈微粒子とグリセリン等を添加するという方法
によって高質量親イオンの生成が可能であるが、その生
成時間は限られている。第３図に示すように、親イオン
強度は、試料の導入から一定の時間帯において急激に増
大し、その後は低下する。このように親イオンの生成時
間が限定される原因として、グリセリン等の低蒸気圧液
体が完全に蒸発してしまう直前すなわち半渇きの状態で
親イオンの生成量が増大することが実験事実として確認
されている。そこで、試料の表面の乾燥度を試料表面に
照射されたレーザ光の反射光強度から検出し、この乾燥
度の時間的変化に応じて親イオンの生成量が増大する時
間帯になったところで測定を開始する。

〈実施例〉 第１図は本実施例のレーザイオン化質量分析計の構成を
示す。１は試料をイオン化するためのパルスレーザ光、
２と３は光学系、４は試料、５は試料ホルダ、６はイオ
ン引出し電極、７は分析部である。８はレーザ光源、９
はレンズ、１０は光検出器である。

実際の測定に入る前に、試料４の表面の状態を検出する
ために、レーザ光源８で発生した例えばＨｅ　−Ｎ　ｅ
レーザ光をレンズ９で集光して試料４に照射する。この
ときの試料４からの反射光を光検出器１０にて検出する
。

第２図はこの反射光強度の時間変化を示す。まず、試料
４を導入した直後は、試料４は液状であり、レーザ光は
その表面にて反射されるため、反射光強度は大である。

しかし、これに続く期間ΔＴ】では、蒸発が強く起って
いるため、その表面の状態は刻々と変化する。したがっ
て、反射光強度の変化は大きい。さらに、期間ΔＴ２に
おいて、蒸発が進んでくると液面からの反射が減少し、
全屈粉末による散乱の影曾により強度は減少するが、や
や安定性を増す。その後、完全に液体が蒸発してしまう
と、全屈粉末によって散乱される割合が多くなるが、反
射光（散乱光）強度は一定になる。

親イオンの生成は、期間ΔＴ２において起る。

したがって、光検出器１０からの反射光強度信号をレコ
ーダ（図示せず）等で観測しておき、期間ΔＴ２の状態
のようになると、実際の測定を開始する。

実際の測定時には、パルスレーザ光１が光学系２．３を
経て試料４に照射され、発生した親イオンは分析部７に
導かれる。

このように、期間ΔＴ２になると測定を行なうことで、
親イオンが生成していない期間ΔＴ１でのスペクトルの
積算を防ぐことができ、励起レーザ光１をむやみに照射
することな（、効率の良い測定が可能になる。

なお、試料が完全に乾燥してしまうと、親イオンは生じ
なくなり、第２図の時刻Ｔ３以降のように反射光強度が
全く一定になるので、ここで測定を終了すればよい。

なお、本実施例では励起レーザ光と異なった方向からレ
ーザ光を入射させたが、通常励起レーザ光と同軸で入射
されるガイドレーザ光の散乱光を検出するようにしても
よい。

〈発明の効果〉 以上説明したように本発明においては、測定時間を長く
して親イオンの検出を行なうのではなく、親イオンが増
大する時刻を検出し、この検出情報に基づいて最良のタ
イミングで測定を開始できるようにしたので、親イオン
の検出が確実になり、ＳＮ比の良い測定ができる。さら
に、測定時間を短縮できるとともに、試料の消費量が少
なくて済む。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例の構成を示す図、第２図は本発
明の実施例の反射光強度の時間変化を示す図、第３図は
レーザイオン化質量分析計における親イオン強度の時間
変化を示す図である。 １−・・パルスレーザ光 ２．３−・−光学系 ４−試料 ７−分析部 ８−レーザ光源 ９−・レンズ １０−・光検出器

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. レーザ光を試料に照射して発生した親イオンを質量／電
   荷の比にしたがってより分けるレーザイオン化質量分析
   計において、上記試料に照射するレーザ光を発生するレ
   ーザ光発生手段と、上記試料からの反射光の強度を検出
   する反射光強度検出手段とを備え、上記反射光の強度の
   時間的変化を検出可能にしたことを特徴とするレーザイ
   オン化質量分析計。