JPS62229001A - 測定パス - Google Patents

測定パス

Info

Publication number
JPS62229001A
JPS62229001A JP61238990A JP23899086A JPS62229001A JP S62229001 A JPS62229001 A JP S62229001A JP 61238990 A JP61238990 A JP 61238990A JP 23899086 A JP23899086 A JP 23899086A JP S62229001 A JPS62229001 A JP S62229001A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
measuring
path
pass
angle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP61238990A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0617762B2 (ja
Inventor
ルードルフ・シユナイダー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
EEROOBUA AG
Original Assignee
EEROOBUA AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by EEROOBUA AG filed Critical EEROOBUA AG
Publication of JPS62229001A publication Critical patent/JPS62229001A/ja
Publication of JPH0617762B2 publication Critical patent/JPH0617762B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B5/012Contact-making feeler heads therefor

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は測定/eスを結合した測定装置を用いて工作物
の座標を求めるため、特に工作物の相互に直角な2つの
伸長する直線の座標を求めるための測定パス(感触体;
以後「)9ス」という)K関する。
マイクロメータまたはミリメータの範囲の直線座標を求
めるために、限定された測定範囲内できわめて正確に作
動する測定装置、例えば機械的測定ゲージ、電気的変位
測定装置などがm−られる。これらの測定器は特に、所
定の基準座標に対する座標変化を測定した)、回転工作
物の軸心変位を測定したシ、又は、所定基準位tK対す
る工作物の位置を測定したシするのに高い信頼性を有し
ている。しかしながら、多くの場合、測定装置のセンサ
は測定物体に直接結合させることができない。これが測
定パスを必要とする理由で、測定パスは測定物体と測定
装置のセンナとの間に望ましい結合を形成する。
、 既知の測定パスは単一直線方向に作動するのみであ
る。すなわち、所定の一方向(しかもこの方向のみ)の
直線座標変位は、測定パスに作動結合された測定装置に
よる指示測定値へ比例的に変換される。
したがって2つの異なる方向で工作物の座標、または座
標偏差あるいは座標変位を求めるためKは、測定パスを
含む使用測定装置を配置し直して再調節するか、または
相互に独立した2つの測定装置を使用しなければならな
い。このような方法は測定作業時間および/または設備
投資を増大する結果となる。
ドイツ特許明細書DE−083234470は、1つの
一方向探知要素を用いて、軸方向およびビンセンサの垂
直面の変位を求める方法を開示する。
しかしながら、この明細書による構造は、ピンセンサの
変位を、センナ部材の3直交軸方向の直線変位に変換す
るためにルバーと、軸受と、直線玉軸受部材と、玉ぞ円
錐面とのきわめて複雑なシステムを必要とする。もしこ
のシステムが、高精度で作動するように設計するならば
、それらの部品の製作および仕上げにきわめて大きな労
力と費用とをかけなければならない。したがって、この
装置は、きわめて高価で故障しやすい。
本発明の目的は、これらの欠点を排除して、1個の測定
装置で直交する2方向の直線座標を測定し、求めること
が可能な、きわめて単純で安価かつ丈夫な構造を有する
測定パスを提供することである。
本発明によれば、この目的は、測定パスは第1の部分と
第2の部分とに分割されたパス本体からなり、これら2
つの部分は相互に変位可能であり、ここで前記第1の部
分上にパスヘッドが設けられ、前記ヘッドは、測定すべ
き工作物と接触回部でかつ測定値!に作動的に結合され
、また第2の部分は測定方向に対し45°の角度で伸長
する弾性結合部材を介して前記第1の部分に結合される
測定/耐スをS設けることKより達成される。
したがって、測定パスに対し任意の方向から測定力が加
えられると、測定パスは相互に直交する2方向へ正確に
対応する距離だけ直線状に変位し、したがってたとえば
水平ならびに垂直方向の座標変位は1個の測定ゲージで
求めることが可能であり、測定装置を配置し直す必要が
なく、測定ゲージのセンサはパスの任意の面に接触可能
である。
好ましい実施例と本発明の目的のさら忙新たな展開とは
特許請求の範囲第2項に記載されている。
以下本発明の実施例を図により説明する。
本発明による参照数字lで指定される測定パスは第1の
部分3と第2の部分4とに分割され九パス本体2からな
る。これら2つの部分3.4は以下に述べるように相互
に相対軒動または相対変位されるか、または特定の方法
で摺動ロックされる。
この目的のために、2つの固定用開口5が設けられ、こ
れにより測定装置の適当な調節装着基台(図示なし)に
この測定791部分4を固定可能である。
第1の部分3は、第2の部分4に対し変位可能に結合さ
れ、かつ第1の部分3はノ97ヘツ16を有し、本実施
例においてはパスヘッド6は、パス本体2の第1の部分
3の伸長部9に、ねじ7によりしつかシと固定される。
ノ♀スヘツr6は4つの測定面10aないし10dを有
する六面体本体の形状を有する。これらの測定面は、平
面に機械加工され、隣接する2つの測定面に関して正確
に90゜の角をなして伸長する。実際例では、少なくと
も2つの隣接する平面(たとえば10aと10b)は。
前方に邪魔物が存在しない自由露出面である。本実施例
ではさらに、測定面10Cは部分的に、また測定面10
dは、10aおよび10b同様にほぼ全面が自由露出さ
れ、これらには測定力を付加可能である。
パス本体2の第1の部分3と第2の部分4との間の可動
結合は、測定@ioaないし10dに対し45°の角度
をなして伸長する弾性可撓結合部材により実現される。
本実施例においては、設けられて−る結合部材11.1
2は/Rス本体2の一部を形成しているので、パス本体
2そのものは一体物であり、すなわち部分3.4は1つ
の同一本体からなる62つの部分3,4への分割は、い
くつかのスロワ)13aないし13Cおよび14が設け
られて、これらが2つの部分3.4を相互に分割すると
いう方法で行われている。
第1図でよくわかるように、パス本体2は、測定面10
aないし10dに対し45°の角度をなして伸長する側
面15を有する。この配置によれば測定[10dは自由
にアクセス可能となる。この側面15に平行に、すなわ
ち45°の角度をなして側面15かられずかな距離のと
ころにスロット13Cが設けられ、これにより第1の結
合部材12が形成される。この第1の結合部分12は、
パス本体2の残された続き本体部分で形成され、この部
分が第1の部分3と第2の部分4とを結合して込るO スロワ)13cは、それに直角に配置されたス0/)1
3b(スロット13b自身はやはシ測定面10aないし
10dに対し45°の角度をなして伸長する)を介して
スロワ)13aに合流し、スロット13aはスロット1
3bK対し直角に配置されているのでスロワ)13cと
は平行となるが、スロワ)13cからはある距離を有し
ている。最後にス誼ツ)13gから距離をとってそれに
平行に別のスロット14が設けられているが、スロット
14はパス本体2の端縁まで伸長するので、前記スロッ
ト14とスロット13aとの間に続き本体部分が残シ、
これが他の結合部材11を形成する。
さらに以下に述べるように、結合部材の役をなす続き本
体部分11,12は、測定面10aないし10dに対し
正確に45°の角度をなして伸長することが重要なので
ある。一方、結合部材11゜12がパス本体2と一体物
であるか否かは全く重要ではない。したがって、ノ♀ス
本体2の部分3゜ともまた可能である。これらは、続き
本体部分11゜12と同一機能を有するが、しかしなが
らこの場合は、板ばねのたて伸長部が測定面10aない
し10dに対し45°の角度をなすように注意を払わな
ければならない。
さて第4図において、測定面10a上に矢印P1方向の
力がかかると、面10aは一般に矢印P!の方向に直線
変位をしようとする。パス本体2の第1の部分3、した
がってパスヘラ)6は、/9ス本体2の第2の部分4に
ピボット結合されているので、/Qパスヘッドは矢印P
、の方向に動かされると同時に、矢印P、の方向にも移
動される。その理由は、第1の可動部分3は、測定面に
対し45°の角度をなして伸長する2つの続き本体部分
11.12(または2つの前述の板ばね)Kよシ第2の
不動部分4に変位可能に結合されているからである。し
たがって続き本体部分11.12と第2の部分4との交
点、すなわち点x、y(第4図)において一種のピボッ
ト結合が形成され、第1の部分3はこれらの点のまわシ
でピボット回転をする。
第4図には、力P1の作用によるノ♀スヘッド6の最大
可能変位位置が示されている。このときスロツ)14.
13cの左側端縁は閉ざされ、一方スロツ)13aの左
側端縁は完全に開かれているのがわかる。続き本体部分
11.12の2つの左側端縁が隣接の、1ス本体壁に当
接することによりストン/Qが形成され、本体壁は部分
3がさらに先へ行かないように妨害している。
本発明による測定パスは通常、絶対位置の測定よシはむ
しろ基準位置に対する相対的な位置測定の分野に使用さ
れるので、実際に、7gス本体2の不動部分4に対する
/Qパスヘッドの最大変位量はミリメートルの分数の範
囲である。この理由で、ヘン)′6の変位量がきわめて
小さいことから続き本体部分11.12の変形の際に理
論的に多少不正確であってもこれは決して重要ではない
測定力が矢印P:の方向に測定面10bに作用すると全
く同様なことが生じる。/eスヘッド6は理論的には測
定力の方向に変位しようと試みるのにも拘らず、前述の
ように矢印PKとP!との間の対角方向に駆動される。
これにより、本発明の目的すなわち、測定ゲージのよう
な1個の測定装置を用いて、2つの直角方向(たとえば
矢印2里と矢印 P!との方向)におけるパスヘッド6
の変位を求めることが達成される。測定パスに対し矢印
P3と矢印P4との方向くそれぞれ測定力が付加される
と、運動学的にちょうど逆の条件が存在する。このよう
な状況は、第5図において、/Qパス本体の固定部分4
に対する可動部分3の最大変位として前と同様に示され
ている。このような状況においてもまた、矢印3の方向
の力も矢印4の方向の力も同様にパスヘッド6の変位と
して現われ、その変位量はたとえば測定ゲージのような
測定装置を1個用いるだけで求めることが可能である。
第4図と比較して唯一の違いは、変位が逆方向に起こる
ことである。
例えば、測定ゲージのセンサピンのような測定装置のセ
ンサが測定パスと接触する位置は一般に1それが測定方
向く対し正確に規定された角度位置に伸長する正確な平
面であればとにに問題はない。
測定面は実際に、必要な機械加工精度を有しているので
、センサは測定面10aないし10dのうち、測定物体
との接触に実際に用いられていない面の1つに当接させ
るのが最も有効である。別の可能性として、ねじ70ヘ
ツド8が正確に平面に機械加工されていれば、ねじ7の
ヘッド8をセンサの当接面とすることも考えられる。
本発明によル提供される測定・パスを用いれば、1個の
測定装置で2つの直角伸長測定方向の記録が可能な測定
器が提供できる。例えば、測定装置の組立を構造的に変
更することなく工作物の水平方向と垂直方向との二方向
の座標変位を求めることが可能である。他の重要な応用
分野は、工作物の形状変化を求めたシ、あるいはたとえ
ばシリンダ部分内の渦巻形1リル先端円錐部分を移動さ
せるときの位置を正確に求めたシするのを1個の測定装
置で行なうことにある。
【図面の簡単な説明】
第1図は非作動位置にある測定パスの略側面図、第2図
は第1図の矢印B方向から見た測定パスの底面図、第3
図は第1図の矢印入方向から見た測定パスの正面図、第
4図はパスヘツ1に力PlとP!とがそれぞれかかった
ときの作動位置にある測定パスの略側面図、第5図はノ
tスヘッドに力PsとP4とがそれぞれかかったときの
作動位置にある測定パスの略側面図である。 1・・・測定パス、  2・・・パス本体、3・・・第
1の部分、  4・・・第2の部分、6 ゛−パスヘツ
)’、  10a −10d ・”測定面、比12−・
・結合部材(続き本体部分)、  13a+ 13b、
13c+14・・・スロット、15・・・外側端縁。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)測定パスを結合した測定装置を用いて工作物の座
    標を求めるため、特に工作物の直角に延長する2つの直
    線上の座標を求めるための測定パスにおいて: 測定パスは第1の部分と第2の部分とに分 割されたパス本体からなり、これら2つの部分は相互に
    相対変位が可能であり、ここで前記第1の部分上にパス
    ヘッドが設けられ、前記ヘッドは測定すべき工作物と接
    触可能でかつ測定装置に作動的に結合されており、第2
    の部分は、測定方向に対し45°の角度に伸長する弾性
    結合部材を介して前記第1の部分に結合されていること
    を特徴とする測定パス。
  2. (2)パス本体は、一体構造であり、パス本体内に45
    °の角度に伸長して設けられたスロットにより前記2つ
    の第1の部分と第2の部分とに分割されることを特徴と
    する特許請求の範囲第1項に記載の測定パス。
  3. (3)前記第1および第2の部分の間の少なくとも1つ
    の結合部材は、2つの平行伸長スロットの間に存在する
    パス本体の薄い続き本体部分で形成されていることを特
    徴とする特許請求の範囲第2項に記載の測定パス。
  4. (4)前記第1および第2の部分の間の少なくとも1つ
    の結合部材は、測定方向に対し45°の角度で伸長する
    パス本体の外側端縁とそれに平行に伸長するスロットと
    の間に存在するパス本体の薄い本体部分で形成されてい
    ることを特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の測定
    パス。
  5. (5)パス本体の前記2つの部分は分離部材からなり、
    測定方向に対し45°の角度で伸長する2枚の板ばねで
    相互に結合されていることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項に記載の測定パス。
  6. (6)相互に結合されたパス本体の2つの部分の相対移
    動変位は制限されることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項から第5項のいずれかに記載の測定パス。
  7. (7)パスヘッドは第1の部分にしっかりと結合された
    六面体本体で形成され、前記本体は、相互には90°の
    角度をなしかつ結合部材に対し45°の角度を形成する
    少なくとも2つの自由露出測定面を有することを特徴と
    する特許請求の範囲前記第1項から第6項のいずれかに
    記載の測定パス。
  8. (8)添付図面により示され以下に説明する測定パス。
JP61238990A 1986-03-19 1986-10-07 測定器具 Expired - Fee Related JPH0617762B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3609283.5 1986-03-19
DE3609283A DE3609283C1 (en) 1986-03-19 1986-03-19 Probe (tracer)
DE8607597U DE8607597U1 (de) 1986-03-19 1986-03-19 Messtaster

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62229001A true JPS62229001A (ja) 1987-10-07
JPH0617762B2 JPH0617762B2 (ja) 1994-03-09

Family

ID=25842129

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61238990A Expired - Fee Related JPH0617762B2 (ja) 1986-03-19 1986-10-07 測定器具

Country Status (18)

Country Link
US (1) US4686768A (ja)
EP (1) EP0237614B1 (ja)
JP (1) JPH0617762B2 (ja)
KR (1) KR910001089B1 (ja)
CN (1) CN1008555B (ja)
AU (1) AU587633B2 (ja)
BR (1) BR8604858A (ja)
CA (1) CA1267531A (ja)
DE (2) DE8607597U1 (ja)
ES (1) ES2003143A6 (ja)
FI (1) FI88653C (ja)
GR (1) GR862405B (ja)
HK (1) HK104191A (ja)
IE (1) IE58934B1 (ja)
IL (1) IL80119A (ja)
PT (1) PT83381B (ja)
SG (1) SG55691G (ja)
ZA (1) ZA867142B (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE9402550U1 (de) * 1994-02-16 1995-07-13 Haff & Schneider Gmbh & Co Ohg Werkzeugdaten-Meßgerät für NC-Bearbeitungsmaschinen

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5992302A (ja) * 1982-10-18 1984-05-28 フイニケ・イタリア−ナ・マ−ポス・ソチエタ・ペル・アツイオ−ニ 直線寸法を検査するためのプロ−ブ

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2253803A (en) * 1940-12-06 1941-08-26 Fed Products Corp Gauge
US2352507A (en) * 1942-07-03 1944-06-27 Sheffield Corp Gauging device
US2547719A (en) * 1945-08-03 1951-04-03 Sheffield Corp Device for gauging the eccentricity and diameter of an annular part
DE2332519A1 (de) * 1973-06-22 1975-01-16 Hans Meyer Laengenmessgeraet
US3946492A (en) * 1974-03-14 1976-03-30 Hycor, Incorporated Dimension measuring module
US4330942A (en) * 1981-03-17 1982-05-25 Klingelnberg Sohne Length-measuring probe for measurement
DE3121579C2 (de) * 1981-05-30 1983-07-14 Daimler-Benz Ag, 7000 Stuttgart In den drei Raumrichtungen messende Meßtasteinrichtung für Meßlehren
DE3149278C2 (de) * 1981-05-30 1984-04-19 Daimler-Benz Ag, 7000 Stuttgart "Kampakte Meßtasteinrichtung"
DE3216035A1 (de) * 1982-04-29 1983-11-10 Interatom Internationale Atomreaktorbau Gmbh, 5060 Bergisch Gladbach Verformungsueberwachung eines rohrbogens
DE3234470C2 (de) * 1982-09-17 1985-11-21 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut Mehrkoordinaten-Tastkopf
US4492035A (en) * 1983-02-18 1985-01-08 Ampex Corporation Head protrusion measuring structure

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5992302A (ja) * 1982-10-18 1984-05-28 フイニケ・イタリア−ナ・マ−ポス・ソチエタ・ペル・アツイオ−ニ 直線寸法を検査するためのプロ−ブ

Also Published As

Publication number Publication date
DE8607597U1 (de) 1986-09-25
AU6300486A (en) 1987-09-24
ES2003143A6 (es) 1988-10-16
ZA867142B (en) 1988-04-27
IE862494L (en) 1987-09-19
AU587633B2 (en) 1989-08-24
CN1008555B (zh) 1990-06-27
FI88653B (fi) 1993-02-26
FI88653C (fi) 1993-06-10
US4686768A (en) 1987-08-18
IL80119A0 (en) 1986-12-31
JPH0617762B2 (ja) 1994-03-09
FI865001A0 (fi) 1986-12-08
EP0237614B1 (de) 1991-02-27
GR862405B (en) 1987-01-12
HK104191A (en) 1991-12-27
BR8604858A (pt) 1987-11-17
SG55691G (en) 1991-08-23
KR910001089B1 (ko) 1991-02-23
EP0237614A3 (en) 1989-07-19
IE58934B1 (en) 1993-12-01
IL80119A (en) 1989-03-31
DE3609283C1 (en) 1987-02-05
PT83381A (en) 1986-10-01
EP0237614A2 (de) 1987-09-23
CA1267531A (en) 1990-04-10
PT83381B (pt) 1992-09-30
KR870009211A (ko) 1987-10-24
FI865001A (fi) 1987-09-20
CN86106570A (zh) 1987-09-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5832416A (en) Calibration system for coordinate measuring machine
EP1225423B1 (en) Method for evaluating measurement error in coordinate measuring machine and gauge for coordinate measuring machine
US6418774B1 (en) Device and a method for calibration of an industrial robot
JP2988588B2 (ja) 位置測定装置
US5669150A (en) Coordinate measuring machine having articulated arm
EP1650527B1 (en) Apparatus for measuring the surface roughness or the contour of an object
JP2005507495A (ja) プローブの較正方法
US6677691B2 (en) Stage apparatus and method of using the same
US5887356A (en) Multi-axis continuous probe
EP1491287B1 (en) Self-centring sensing device
US5743020A (en) Three-axis continuous probe
US5616917A (en) Device for measuring an angle between pivotally-connected members
US5109610A (en) True position probe
US3940854A (en) Three axis precision measuring device
EP1515115B1 (en) Form measuring device, form measuring method, form analysis device, form analysis program, and recording medium storing the program
JPS62229001A (ja) 測定パス
US11326869B2 (en) Surface finish stylus
Burdekin et al. Contisure—A computer aided system for assessing the contouring accuracy of NC machine tools
US4881324A (en) Apparatus for linear measurements
KR100779803B1 (ko) 3축 공구위치 측정장치
JP3166464B2 (ja) 測尺装置
Pettavel et al. A new three-dimensional probe OMNISIP
JP4268003B2 (ja) ユニット型リニアスケール、及び、その検出ヘッド位置確認方法
JPH04319613A (ja) スケール装置
CN2121676U (zh) 用于测量三坐标机机构误差的三维电容测头

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees