JPS62216514A - 素子変動値検出回路 - Google Patents

素子変動値検出回路

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JPS62216514A
JPS62216514A JP5986586A JP5986586A JPS62216514A JP S62216514 A JPS62216514 A JP S62216514A JP 5986586 A JP5986586 A JP 5986586A JP 5986586 A JP5986586 A JP 5986586A JP S62216514 A JPS62216514 A JP S62216514A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は半導体集積回路内に構成されるフィルター、
位相回路等の特性を、素子の特性の変動値を検出して補
正又は所望の特性にする場合、該変動値を正確に検出伝
達するための素子変動値検出回路に関する。
(従来の技術と発明が解決しようとする問題点)半導体
回路の高集積化が進むにつれて、フィルターや位相回路
も内蔵する回路を実現しようとする傾向にある。しかし
、周知の如く、半導体基板(以下半導体チップと称する
)上の素子の特性は、同種近似した素子間ではその特性
比を高精度で作ることができる反面、個々の素子の絶対
値特性は犬さく変動し、IC化してもフィルターや位相
回路等の特性は変動し、ディスクリート部品による構成
のものよシも劣っている。このため、IC化によシミ子
回路は周辺部品の削減などで構成が簡単になる長所1!
:得るが、特性の安定した又はある特性内のフィルター
や位相回路を得ようとするとIC化ができないという問
題がある。
そこで、この発明は、フィルターや位相回路等をIC化
しても、その変動要因素子による特性劣化を自動的に補
正し得る特性安定化回路を有する半導体集積回路を得る
ものである。
この場合、特にこの発明では、上記変動要因素子の値の
変動を正確に検出して伝達し、上記補正の正確性を向上
する素子値変動検出回路を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) この発明は、例えば第1図に示すように、抵抗Raに依
存する電流v、”Rsが流れる電流源1の該電流を、ス
イッチ2にて一定期間コンデンサ3(=Cs)に光電し
、そのピーク充電電圧をスイッチ4の作用によってコン
デンサ5に保持し、出力には前記抵抗Rs、コンデンサ
C8に比例した値を得るものである。
(作用) これによって出力Eoとしては、K/C5−Ra(但し
Kは比例定数)なるC、R変動に比例した出力を得るこ
とができる。
(実施例) 以下この発明の実施例を図面を参照して説明する。
この発明は、集積回路基板に形成される機能回路(被制
御回路)が、CR素子の値変動のため、その特性が変動
するのを抑制する場合、これを抑えるシステムに使用し
て有効である。このシステムを実現するには、上記CR
素子の値の変動をモニタするための手段が必要であり、
この発明はこのような検出手段としてなされたものであ
る。
以下、被制御回路及びシステムの例から説明し、この発
明の具体例を第10図乃至第15図にて説明する。
第2図は最も簡単な被制御回路、例えば低域フィルター
(以下LPFと記す)であり、第3図は低域通過のアク
ティブフィルターの例である。
p、、p、をそれぞれ入力、出力ピンとし、入力に信号
e1、出力に信号e、を考えると、各回路特性は次のよ
うになる。ただし部品番号は特性値も示すものとする。
第2図の回路では 第3図の回路では、 ・・・・・・(2) ただし、ωは2πfで角周波数 半導体チップ上では、抵抗R1コンデンサCはそれぞれ
製造プロセスで抵抗値、容碕値は大きく変動(ばらつき
)例えば30チの変動幅がある。
しかもR,Cの値は独立して変動するので%(1)−(
2)式から明らかなように、各回路の周波数特性や位相
特性は大きく変動する。したがって、各回路がある機能
を実現する回路であれば、その影響は大きく、その機能
が損なわれることになる。
今、RとCが独立に任意に変動する変数を1つの変数で
で表現する方法として Jで− を考える。Tは、抵抗値とコンデンサのインピーダンス
値の比である。変数Tを(1)式に適用すると、ただし
T、=ωC,R。
とのT、の値が半導体の製造上、ある範囲で変動するこ
とになる。
第4図は本発明の基本動作を説明するための簡単な実施
例である。基準発振器OSCの出力e。scは、振幅一
定でトランジスタ増幅器AのトランジスタQ、のベース
に入力する。トランジスタQ。
は、エミッタに定電流源工s、が接続され、これに並列
にコンデンサCx、が接続される。トランジスタQ2の
コレクタは抵抗RxIを介して電源vccに接続される
。コレクタの出力eKは、振幅検波器DETに加わり、
振幅に比例した検波直流信号1ifeを得る。SWlは
、第2図と同形式のLPF 、図示F1の抵抗R1a 
* Rtb r Rlcを切替えて容量C3に接続する
スイッチであり、信号Ecに応じて接点a、b。
Cを切替える。
図から ただしTxt=ωCXi RXI EcはTXI K比例する値とする。
フィルターF1の特性は、共通的には(4)式であられ
されるが、スイッチSW1の切替えによってT3が次の
3つに切替わる。
ToとT aI HT & b + ’r、cは同一方
向にほぼ同率変動する。
第5図は上記Tx1+ Tsa r Tsb * Ts
cの変動とスイッチSWIの切替え対応を示す図である
。T□。
TSa l Tub l T’3eの変動しない設計の
センター値ヲそれぞれTxlo r Tsa o + 
Tsb o r Tsc oとする0又・Tsa o<
Tsb o<Txc oに設定されている。
更に説明の便宜上次のように模式化してかく。
即ち、Tx1++ =Tsb oとおく o Tea 
o + Tse oti、Tsb。
と大きさが違うがその変動幅は等しいと仮定する。
各Tのプラス、マイナスの変動幅も等しくハとおく。
今、第5図のようにTub oを基準として変動をΔ’
rpとし、変動幅を±ΔTPtとする。Tx□が変動し
たとき、つまりΔTpが変動したときは、スイッチSW
、がa、b、cの各接点に切替ることになる。
第5図に示す区間B(−ΔTps<ΔTp<ΔTps 
)のときはスイッチSW、は接点すに切替り、区間A(
ΔTPs≦Δ’rp≦ΔTpI )のときは接点すから
aに切替り、区間C(−ΔTp□≦Δ’rp≦−ΔTp
s )のときは、接点すからCに切替る。ここで、Tm
bo−’r、 1lQ=ΔTt)t +Ts co−T
sbo=ΔTp、に設定し、3ΔTPs=ユΔTp、=
ΔTplに設定すると、Tの補正は第5図に示すような
モードとなる。つまり第5図(fi)はTx、の変動、
同図(b)はT、bと’rsaの変動をT3との関係で
示し、同図(c)はT、l)とTsaの変動をT、との
関係で示している。又同図(d)は、補正後のT3の変
動を示している。
今、Tx、と、抵抗Rsa、Rst)の変動が同じでお
るとする。Tx、が変動して、図示のg□点(○印)、
つまり+ΔTPsに変動したとすると、Tsb+Tsa
も変動する。ここでRsbがらR11&にスイッチsw
が切替ると、T、aの変動位置は、第5図(b)の。印
で示す変動位置−ΔTpsである。従ってT、の変動鉱
、B領域の下限となる。
この状態で更にTxlが変動し図示のr8点(0印)、
つまりΔTpsまで変動したとしても、Tsaの変動は
、B領域の上限までに納まる。
逆に、Txlが−ΔTPsの方向へ変動し、今g2点(
O印)の位置にあるとする。ここでRsbがらR3eに
スイッチsw、が切替ると、T2Cの変動位置は、第5
図(c)の○印で示す変動位置ΔTpsである。従って
Tsの変動はB領域の上限となる。
この状態で更にTxlが変動し図示のγ8点(0印)、
つまり−ΔTptまで変動したとしても、T!。の変動
はB領域の下限までに納まる。
つまり、フィルターF□にRsbのみを用いた場合は、
本来A、B、Cの全区間(±ΔTPI )の変動を生じ
るのであるが、R3a +RI C適宜選択することで
、区間B(±ΔTPs )内に抑制でき、変動の幅を杓
子にすることができる。よってフィルターの特性変動も
又これに比例して安定させることができる。第4図の実
施例では、3接点で切替えたかさらに切替えを増加すれ
ば変動幅を少なくすることができる。
第4図は、フィルターの特性を決める変数と同一の方向
へはt!同率に変動する変数に比例した制御信号を発生
し、この信号によってフィルターの特性を安定化させん
とするものであり、制御信号を発生させる回路やフィル
ター特性を変化させる回路は、この他に種々実施できる
第6図はフィルターの変数Tを制御する他の回路例であ
る。可変容量ダイオードC3による接合容tを用いて制
御電圧Ecによって容量値を変化させてもよい。可変容
量ダイオードC8の変化の範囲の少ない場合は、第7図
のように異なった可変容量ダイオードCg ar c、
 bを設け、さらにネイッチSW、で切替えて等測的に
容量の変化範囲を拡大することもできる。
第8図は、変数Tに比例した制御信号を得る回路の他の
実施例である。
これはトランジスタQ、、Q4を用いた差動増幅器形に
構成した例である。トランジスタ。、。
Q4のエミッタ間にはコンデンサCX、が接続され、各
々の工<ツタとアース間にはそれぞれ電流源111!+
”$が接続される。トランジスタ。8.Q4のコレクタ
はそれぞれ抵抗Rxa、Rxbを介して電源vccに接
続され、トランジスタQ、のベースには発振器O8Cの
出方、トランジスタQ4のベースにはバイアスVB、が
供給される。各々のトランジスタQ1.Q4のコレクタ
には、ωcx1Rxa。
ωCx、Rxbに比例した信号を取り出すことができ、
この信号は、振幅検波器DETに供給される。
第9図は第4図の回路を電源とアース間に直列に連ねた
タイプの回路である。即ち、Qs +Q4はトランジス
タ、IS4+工S6は定電流源、Cxl +CX、はコ
ンデンサ、RX 1 r RX tは抵抗である。
この回路によると、振幅検波器DETの入力部では、 ”−TXI ・TXt ’ eosc      −”
・(7)ただし、Tx、= j ωcxI Rx11 
Tx2 = jωcx* RX!・・・・・・(8) ここでTxlとT x 2 b K動に対して同一方向
、同率に変動するので、 Tx!=K(定数)−−−−−−(9>Tx1 とおける。よって(8)式は、 ex =  KTXl e□BC”””α0第9図の回
路の場合、変数の2乗に比例した信号を得ることができ
、変動が小さくても、大きな制御信号を得られ、又細い
識別をするのに有効である。
第10図は、C,Hの変動をT=C−Hの変数として検
出する回路である。第10図に基本原理と各部の信号波
形を示す。ターミナルP4にノfルスTgが印加され、
TgQ印加期間はスイッチSW、が閉じて、スイッチS
W4が開放する。Tgは第10図(、)のように・セル
ス期間t1と次の・ぐルスまでの期間t、を持つ。
/4’ルスTgの印加期間に電流源Iscから電流Is
:cがコンデ/すCX、に充電される。BFはバッファ
回路で入力インピーダンスは充分大きいものとする。コ
ンデンサCX、の両端電圧V CX Sは、第10図(
b)のようになる。tlの期間に、V c X3 =5
、’ I II、 =Vc!L      ””” (
11となりN  tlの最後の時刻で最大値となって、
このときの(11)式の値がバッファ回路BFを介して
コンデンサCx4に高速で充電され、CX、の両端がV
cx3=Vcx4となる。次にt、の期間のスタート時
には、パルスTgがなくなり、スイッチSW4が閉じ、
スイッチSW、が開く。このためコンデンサCx、の電
荷は放電し、Vcxl=0となる。同時にバッファ回路
BP’がカットオフになり、コンデンサCx4の電荷は
ターミナルP8より次段の回路へ放電される。このとき
、次段回路の人力インピーダンスを充分大きくすれば、
同図(、)のようにほとんどVcxt□に比例した直流
゛電圧を得る。
qや式において、In2を に3x;比例定数 として設定すれば、 となって、Cx3+Raxの変動に比例するvcRを得
ることができる。
vCCltlはそれぞれ安定してつくることが必要であ
る。VCCは代りに電源に依存しlよいLと電源を用い
ても良い。上記の方式によると発振器は不要である。
第11図は他のCR値検出回路の実施例である。
スイッチSW、 l 5W41 SW、には、第11図
(a)。
(b) 、 (c)に示すようなダートノクルスTgt
 + Tgl + Tgsが印加され、図の・臂ルス波
形のハイレベルノトキスイッチはオンする。つまり、グ
ートノ臂ルスTgtが印加されたときは、スイッチSW
、がオ/、スイッチsw、、sw、はオフ状態にあり、
コンデンサCx3に電流工3xが充電′電流として流れ
tlの期間続く。このときの電流I8Xは(6)式であ
られされる。
このとき、コンデンサCX、の両端の電圧vexは、i
l1図(d)のように上昇する。次にt、の期間終了後
、スイッチSW3がオフすると、t、の期間にスイッチ
SW、がオンする。バッファ回路BF’の入力インピー
ダンスが充分高ければ、電圧Vczの値は、第11図(
d)のように保持されたままである。この間バッファ回
路BF’の出力には、vCxと同じ電位が発生し、コン
デンサCx4に、vexと等しい電圧を生ずる充電が生
じる(第11図(e)の波形参照)。次にパルスTgx
が到来すると、スイッチSW4がオンし、スイッチSW
、がオフする。
このため、コンデンサCXSの電荷はスイッチSW4を
介して放電さ1、電圧Vczはアース電位となる。
一方スイッチSW、によって、コンデンサCx4への経
路がオフし、コンデンサCx、は次段の入力回路へ放電
するが、欠設の回路の入力インピーダンスを高くするこ
とで、同図(、)にみられるように、出力端P3の電位
vp、を、高い電圧状態のVeXにほぼ等しい値に保持
することができる。vcxは、04式にあるように、C
X3 、Rs3の関数である。
第12図は、@10図の回路を更に具体的に示す回路図
である。第10図に対応する部分には対応する符号を付
している。
トランジスタQl、Q、は、スイッチSW、と全形成す
る差動増幅器形のスイッチであり、トランジスタQa−
Q*の相互接続エミッタにトランジスタQ、のコレクタ
が接続され、トランジスタQ。
のエミッタは抵抗Rxzを介してアースに接続される。
抵抗R6、ダイオードD4.D、、抵抗R6の直列回路
は、抵抗Rxlに所定d流を流すためのトランジスタQ
7のベースバイアス設定回路である。
ダイオードD□、D、は、それぞれ実際にはダイオード
をm、n個直列接続した複合ダイオードである。トラン
ジスタQ、のベースには、所定バイアスvB!が印加さ
れ、トランジスタQ8のベースには、入力点P、からの
ゲートパルスTgが印7+uされる。パルスTgのハイ
レベル期間は、トランジスタQ、が導通し、トランジス
タQ、がカットオフ状態となる。パルスTgの無い、っ
まジローレベル期間は、トランジスタQ、がオフ、トラ
ンジスタ。。
がオンとなる。トランジスタQ、。、Qll及び。8.
Q、は、カレントミラー回路を形成し、それぞれトラン
ジスタQa−Q*のコレクタ電流を変換してトランジス
タQ□□@ Qllのコレクタより流出する。
トランジスタQ14とQllは、カレントミラー回路を
なし、トランジスタq+sのコレクタはトランジスタQ
14のベース・コレクタに接続され、トランジスタQl
lとQllのコレクタは共にトランジスタQ□、のベー
スとコンデンサCxlの一端に接続される。コンデンサ
Cxlの他端はアースされる。トランジスタQlllの
コレクタ電流は、トランジスタQ141 Qlgで電流
変換され、トランジスタQ1□とQ4のコレクタに流れ
る差電流が;ンデンサCx。
に充電電流として供給される。
トランジスタqxsはバッファ回路BP’として作用し
、エミッタはコンデンサCx6を介してアースされると
ともに、トランジスタQ、。のベースに接続される。ト
ランジスタQ□@ p Qlf + QlBは、トラン
ジスタQ、。のベース電流の補償回路である。トランジ
スタQ8゜のコレクタは、トランジスタQ1゜のエミッ
タに接続され、このトランジスタQ1゜のコレクタはア
ースされている。トランジスタQ87゜Qllは、カレ
ントミラー回路であり、トランジスタQI、のベース電
流をトランジスタQlaのコレクタに変換している。よ
って、トランジスタQ1MのコレクタがトランジスタQ
2゜のベースに接続されていることにより、トランジス
タQ2゜のベース電流と近似したトランジスタQ1mの
コレクタ電流を流すことにより、コンデンサCx4への
充電電流を微少にしている。なお、トランジスタQ、、
は、トランジスタQ、がオンしたときにオンし、コンデ
ンサCX、の電位をコンデンサCx4に伝達する。
トランジスタQ!。のエミッタには、定電流源Isgか
らの電流が供給される。トランジスタQ、。。
Q、□は、相補形のトランジスタを用いたエミッタフォ
ロア回路であり、トランジスタQ、。のベース電位と実
質的に等しい電圧をP、へ出力する。
動作について説明すると以下のようになる。グートパル
スTgの到来期間は、トランジスタQ、がオン、トラン
ジスタQ、がオフ、したがってトランジスタQllのコ
レクター流番ま、抵抗Rx、に流れる電流に等しく、ト
ランジスタQllはカットオフにあるから、トラン・ソ
スタQllのコレクター流、5jコンデンサCx、に光
電される。トランジスタQl+のコレクタ電流即ち、抵
抗Rxlに流れる電流IRX3は、 ・・・・・・(1,9 ただし、vFはダイオード及びトランジスタのベース・
エミッタ順方向電圧 ここで仮に に選べば、 taxsがコンデンサCxlに光道され、その充電時間
はダートパルス幅t1とすれば、コンデンサCxBの両
端の電圧vcx、は、 t、 l vCCIR5とR8の比はそれぞれ安定して
与え・3ことができるから、 とおける。
トランジスタq+sのベースにVcxlが加わると、は
ぼこの電圧になるまでCx4への充電作用が一瞬にシこ
なわれる。厳密にはトランジスタQxgのエミッタ・ベ
ース間は、Cx4の充電電圧V (! X 、がVc)
clに近づくにつれて、インピーダンスが大キクなるの
で、Vcl4はVeXlに完全に等しくならないが、実
用的にほぼ等しいとおける。
したがって、トランジスタQ□のエミッタではが成立す
る。
次に?−)パルスがなくなったとき、トランジスタQ、
はオフ、トランジスタQ、はオンとなる。
このときは、トランジスタQllはオフ、トランジスタ
Q1mはオンし、コンデンサCx、の電荷はトランジス
タQ1mを通って放電し、ついにはトランジスタQ□、
が飽和して近似的にvcxlはアース電位まで達する。
このときトランジスタqtsの工ばツタはa樟式のレベ
ルにあシ、そのベースはアース電位となっているので、
このトランジスタQ4はカットオフする。充電したコン
デンサCx4の電荷は実質的にホールドされ、(至)式
の電圧が次のゲートパルスの期間の到来まで保持される
。したがってP。
には常に(至)式の電位があられれる。
第13図は第10図の回路の出力をさらに展開し用いる
回路状態を示している。P!には、(6)式で与えられ
るCX、 、RXSに反比例した出力を得る。
A8は、逆関数器であり、その出力点P、にフィルター
Fが接続されている。フィルターFは第2図のものと同
じLPFの例であり、C3は接合容量で形成されたコン
デンサであシ一端にP4からの制御信号が印加される。
q優式のCX、もまた接合容量のものであるとする。
半導体の接合容量でベース・工i、タ間の逆バイアス利
用の接合容量とすると、その容量Cは、コンデ/すの両
端電圧vcに依存する。その関数は一般に に雪 C=□           ・・・・・・a鰺Vc2 の形で示される。K2は所定の容量を得るために決る要
素であり、製造上のプロセスの変化でばらつく。
したがって曽式から、CX3+CIは、とおける。ただ
し、Kx3 HKegは容量設定の係数であり、Vx3
.VclはそれぞれCxl、C□の両端の印加電圧であ
る。
09式をα1式に代入すると、 Vcl2 よって A1の関数をKg/X(Kgは比例係数、Xは入力)と
すると、この逆関数器の出力vA、は、voの値がC1
の両端の電圧に等しいものとすれば、 VAI :V c @            °−°
−mよって、(イ)、(ハ)式より 式より となる。
K1は(4)式から定数値として扱える。K、は電圧の
2乗の次元であり、電圧設定はvccを基本として分割
した値(抵抗比の値でつくれる)で設定できるので同様
に定数値として扱える。
よってω・(Kl/に3)は定数の係数である。
Kc、とKx、は共に接合容量の係数により個々に変動
してもその比は一定である。またR3.Rx3は共に抵
抗であり、同様に一定となる。
この結果からT、は素子の変動によらず一定の値にする
ことができる。
接合容量CJは印加電圧Vcによって一般に次のように
なる。
K。
c、=7           ・・・・・・(財)c
rn K、は容量設定で決める係数であり、mは接合の構造で
決まる値である。(財)式のように一般的な場合、補償
システムは第14図に示すようになる。
第14図において、コンデンサCXと抵抗Rxの積に比
例した出力を得る素子特性のばらつき検出回路A!の出
力は、逆関数の(m−1)番関数回路A、にて処理され
、その出力が所望のフィルター又は位相回路A4の特性
を決めるコンデンサの一部又は全部に加えられる。図の
A4は、第6図の構成と同じである。
検出回路A、の出力Vxは次の関係の出力とする。
逆関数回路A3の関数は出力vcとしてC〒、RTはA
4のコンデンサ、抵抗の中の任意の1つとし、vcがG
の両端に加わるものとする。
Cx、C↑は(イ)式から次のようにおける。
vx−mvcm KJX・KJTは容量値を決める係数。VxはCxの両
端に印加するものとする。
(ハ)式に四穴を代入して、整理すると0])式を四穴
に代入して よって 変数1丁=ωCT−R。
とすると KJT/KJXは容量値の比に比例する値、RT/RX
は抵抗値の比でろって製造プロセスで変動しない値とな
る。
第15図は、第14図の回路を更に具体的に示した例で
ある。また、検出回路A、としては、第11図のブロッ
ク構成を具体的に示して採用している。
抵抗R,,R,の直列回路は、その中点よりトランジス
タQ□のベースに接続され、このトランジスタQ!、の
エミッタは、トランジスタQ22のコレクタ及びトラン
ジスタQ!4のベースに接続される。トランジスタQ0
のエミッタは抵抗R1゜を介してアースされる。このト
ランジスタQ3.にはオン時に一定電流が流れる。トラ
ンジスタQ、4のコレクタは、トランジスタQSSのベ
ース、トランジスタQ□のコレクタ、コンデンサCx、
の一端に接続される。コンデンサCxlの他端はアース
される。
トランジスタQxsは、抵抗R□1を介してベースにダ
ートパルスTg、が印加されるもので、スイッチング動
作を得る。ダートパルスTgtが抵抗R0を介して印加
されると、トランジスタQ** r Q*5rQztが
オンし、トランジスタQ0はカットオフする。
トランジスタQ!sがカットオフのときコンデンサCx
lに充電電流が流れる。第11図のt1期間の光電の後
、トランジスタQ!21 Q[I Q10はオフし、光
電は終了し、充電した電圧Vcxlはグートノ9ルスT
g8が印加されるまで保持される。
電圧’+’ c x @は、トランジスタQSSのベー
スに印加される。トランジスタQxaのエミッタは、ベ
ース・コレクタを直結したダイオード動作のトランジス
タQ27 + Q2゜を介してトランジスタQllのコ
レクタに接続される。トランジスタQ、。、Q3.はカ
レントミラー回路を形成し、トラン・ゾスタQ11のコ
レクタがトランジスタQsaのベース・コレクタ及ヒト
ランジスタQ1.のベースに接続される。トランジスタ
Q、□は、そのベースがトランジスタQ■のアノード側
に接続され、そのエミッタは、トランジスタQSSのベ
ース、コンデンサC4の一端に接続される。コンデンサ
C4の他端はアースされる。
トランジスタQ、!は、グートノ9ルスTgsが抵抗R
sx ’fr−介してベースに供給されスイッチング動
作を得る。そしてトランジスタQ、fiがオンのときコ
ンデンサC1の電荷を放電し、実質的にトランジスタQ
1mのベースをアース電位にする。
トランジスタQ24乃至Q3□の構成は、トランジスタ
Qts ノヘース電位を2V、レベルシフトシ、トラン
ジスタQllのエミッタに低インピータンスで変換する
エミッタフォロア動作を得る。しかしトランジスタQ□
がオフのときは、工ばツタ−フォロアが動作せず、力、
トオフとなり、第11図で示したスイッチSW、の働き
をする。トランジスタQ。は、エミッタフォロアとして
動作する。
以上が検出回路A、の説明であり、次に逆関数回路A、
について説明する。
トランジスタQ0のエミッタは、抵抗R1,ヲ介してト
ランジスタQs4.Q□から成る力ンントばラー回路に
接続される。トランジスタQsa=Q□のベースに供給
された電流は、トランジスタQ□のコレクタに変換され
てあられれる。トラン・ゾスタqssのコレクタは、ダ
イオード構成のトランジスタQ。
を介してトランジスタQNのエミッタとトランジスタQ
31のベースに接続される。トランジスタQ3?のベー
スハ、トランジスタQ4゜のエミッタに接続され、トラ
ンジスタQ、。のベースはバイアスvBlに接続される
。トランジスタQSI p Qs*は、エミッタを定[
がC源■8.に接続した差動増幅器を構成しておシ、ト
ランジスタQ、。のベースは、ダイオード構成のトラン
ジスタQ411 Q4!を介してトランジスタQ43の
工はツタと、トランジスタQ44のコレクタに接続され
る。トランジスタQasのベースは、バイアスv!1.
に接続される。トランジスタQ44ののベースは、トラ
ンジスタQ41の工ばツタに接続され、トランジスタQ
41のエミ、りは定電流源1111に接続され、ベース
は抵抗R181RIIの接続点に接続されバイアスが供
給される。トランジスタQllのコレクタは、トランジ
スタQ4.のエミッタに接続され、トランジスタQSS
に流れる電流とトランジスタQ4゜に流れる電流を実質
的に等しくさせる。トランジスタQS1のコレクタは、
カレントミラー回路を構成するトランジスタQ4.のベ
ースコレクタに接続される。トランジスタQ0のコレク
タは、抵抗R1?を介してバイアスVB4に接続され、
またトランジスタQ48のベースに接続される。
トランジスタQ4゜のエミッタは、定電流源Illに接
続されるとともに、次段のフィルターA、のコンデンサ
C3の一端に接続される。
上記の回路の動作は次のようになる。
コンデンサcX1 にt1期間トラン・ゾスタQ24の
コレクタ電流が充電されるので 114がカットオフされた後、t3期間V e X B
は保持され、スイッチSW、のオ/によりトランジスタ
Q31のエミッタ電位、即ちVCx4は Vc x、 =Vc x@ +2Vy        
・・・−(34となる。C4は急速な充電によってトラ
ンジスタQS1のエミッタ電位に達して終了する。スイ
ッチSW、のオフによってC4の電荷は保持される。
したがってRlmには常時 が流れる。
IILI3は、トランジスタJ4+Qsiからなるカレ
ントミラー回路で電流変換され、IQmj l 168
m l IQmjと等しくなる。■に付加した符号は各
素子を指すものとする。
rqsy =i Q! =I R□        ・
・・・・・■次に、IQ36C”’QSI )とトラン
ジスタQ47に流れる■8..との関係を求める。
トランジスタQnのベース・エミッタ電圧tl−vFn
t流を工。。とすると、図より次式が成立する。
VllsからトランジスタQ40 r Qsy + Q
sm + Qsaの工ばツタまでの経路と、VB、から
トランジスタQ4.。
Qsa r Q41 * Qsaの工i、夕までの経路
の電位は等しいから、 v、4゜+vF s t +vF s (1+V□8=
v、、、 +V、 4! + vF 41 +V F 
H−−四トランゾスタのベースエばツタ接合は次の関係
式%式% ただしKはメルツマン定数、Tは絶対温度、gは電子の
電荷、工。はトランジスタの工ばツタ電流(実質的にコ
レクタ電流も等しい)、工、はトランジスタの飽和電流
同−半環体のチップ上のトランジスタは近似的に構成で
き各トランジスタのI、とほぼ等しハと分くと一式を用
いて(至)式に代入すると次のようになる。
工Q40・193丁・■q3@・■q3 a = 19
4m・■Q42・■q41・IQ31・・・・・・0υ ここで G″IJ式を93式に代入して計算するとトランジスタ
Q41のエミッタでは VE、、==IQ、、 、 R,、+VB、 −V。
今P1に印加されるDC電圧を Vp ””a  VF           −・・’
ljに選べばC8の両端の電圧Vc3は Cx、、C@を次の関係とすると VCx、  、   Vc3 6′I)式と(ロ)式より これを一式に入れて よって変数  c 3 ・・・・・・閃 を得る。
とおきに4を変形すると となる。(52)式よυに4は vCC+jlと抵抗の比で決まる値であってvcc’ 
ttを一定に与えればに4は一定の値として与えること
ができる。よって(51)式は素子の値にかかわらずT
、一定となる。
第3図のフィルターは(2)式より T1=ωCIR,T、 =ωC,R1・・・・・・(5
3)とおくと はC1/C!とRt / Rtの比で決まるのでTt 
/T、 =に↑とシ〈と、K↑は定数として扱える。(
53)式のに、を用いると(2)式は (55)式にみるように、(2)式による特性はT1に
よって変動するから、T1を制御することによって特性
を補正できる。T1はC1を制御することで変えること
ができる。しかし、(54)式にみられるように、C1
とC1の比は、一定に保つ必要があるからC,、C,は
共に制御する必要がある。
第16図は、第3図のコンデンサを制御する場合の実施
例である。抵抗R,,R,、コンデ/すC,、C,、ト
ランジスタQ□、抵抗R4は、第3図の素子と同等の素
子に対応する。トランジスタQ1のエミッタは、抵抗R
4を介してトランジスタQ41のコレクタに接続され、
トランジスタQ411の工<ツタは、抵抗1’ttsを
介してアースさhる。トランジスタQ41のベースは、
制御端子P4に接続される。トランジスタQ、。は、ベ
ースがトランジスタQ41のコレクタと抵抗R4の接続
点に接続され、工ばツタは定電流源Is1゜に接続され
る。
トランジスタqsoのエミッタは、コンデンサC1の一
端に接続される。トランジスタQ□の工ばツタの信号は
、抵抗R1、トランジスタQ、。を介してコンデンサC
□に帰還され、等測的に第3図の場合と同じになる。ト
ランジスタQ□は、ベースにバイアスvBlが接続され
、その工ばツタは抵抗R3゜を介してトランジスタQS
Sのベース及ヒトランゾスタQ□のコレクタに接続され
る。トランジスタQ□のエミッタは抵抗R1Sを介して
アースされ、ベースはR4に接続される。トランジスタ
Qll。
の工ばツタは、定電流源工3□1に接続されるとともに
コンデンサC3の一端に接続される。R4に印加される
Cx−Rxに比例した信号によって、トランジスタQa
* r Qs□の直流電流が変化し、その結果抵抗R4
,R,。の電圧降下量が変化し、この電圧がコンデンサ
C,,C,に与えられその容量値を変化させる。コンデ
ンサC1、C,の両端に印加される電圧を等しくなるよ
うに素子値又はバイアスの条件を設定すれば、C1とC
2の容量変化はするもののその比は常に一定に保持する
ことができる。
半導体チップ上のC,R又はcR(i)に比例した変動
を検出する検出回路は、以上の他に種々実施できる。例
えば第17図は位相検波形の検出回路であり、第18図
はそのベクトル図である。
第17図において、P、は入力端子、P、は検波出力端
子とする。A、、A、は差動増幅器であり、Aγは掛算
回路でおる。P−に一定の連続波eaが供給されると、
抵抗R11とコンデンサC6の直列回路の素子接続点に
は信号ebがあられれ、抵抗R,,,H□の素子接続点
には信号ecがあられれる。
信号eb、ecは、差動増幅器A、の差動入力部に供給
される。また信号8eは、差動増幅器A、の一方端に供
給される。差動増幅器A8.A、の出力ed。
C8はそれぞれ掛算回路A7に供給される。
上記信号の位相関係は、第18図に示すようになる。
信号eaは、抵抗R21,コンデンサC5で遅相(例え
ば45°)し、信号ebとなる 信号ecは、信号e8
が抵抗R0とRtsで分圧されたものであり、45゜に
対応したときT e aに相当する。このとき、信号e
cとebの差(図ではecb)が差動増幅器A、で増幅
され、信号e。となる。塘たecは差動増幅器A。
で増幅され信号edとなる。所定の値のとき、eeと8
,1は直角関係となる。このとき掛算回路A、によって
掛算された後の出力、平滑出力が生じるものとすれば、
これは90°検波出力である。
次K、コンデンサC11、抵抗Rttの変動が生じた場
合を説明する。信号ebの遅れ位相は、C5xR81に
比例し、C,とRnが大きくなる方向へ変動すると遅れ
が大きくなり、このと1!は第18図のように信号’9
btのようになる。逆に小さい方向へ変動すれば、信号
eb、のようになる。信号ecは抵抗R1!とR63の
分圧比で決まるので、抵抗値の変動に関係、、f < 
6c位相は一定である。したがって、信号e0は、信号
ecと8btの差交’ri e cとす。、の差によっ
て生じ、信号eel 1ee2のようになる。
このため、C6又はR21が大きい値の方向へ変動すれ
i、Jc36とedは90°禾満の関係で掛算され、C
3又はR1,′>:小さい値の方向へ変動すれば、90
゜より大きい関係で掛算され、出力点P、の出力vP。
は、第19図に示すような特性となる。
したがって、c、  l R,□のセンターの値のとき
出力を中心・とじて、CM  、H□の変動の方向、太
ききに比例した検波出力を取り出すことができる。
この検波出力を利用することでフィルターや位相回路等
の特性を安定な特性に補償することができる。
第17図の回路は、コンデンサC5と抵抗R21を入れ
かえた構成でもよい。さらに、抵抗R28、コンデンサ
C3による回路は、一般的には移相回路であって良く、
差動増幅器A、の入力点でのebが移相回路を構成する
抵抗及びコンデンサの値の変動に比例して動き(eb−
ec)の位相変動に変換されればよい。よってこれを満
足する回路は種々実施可能であり、第17図の回路に限
定されない。
抵抗R*z+Rtsの直列回路は入力と同相での分圧回
路として働く。
上記した説明において、制御信号を発生させるための回
路、又は被制御回路はこの実施例に限定されるものでは
なく種々の実施例が可能である。
被制御回路としては増幅度、電流値1位相2周波数特性
、電圧値、入出力インピーダンス等補正対象は褌々であ
る。
[発明の効果コ 以上説明したようにこの発明は集積回路内のC1RJ子
の値変動を正確に検出保持することのできる素子変動値
検出回路を提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すグロック図、第2図
、第3図はそれぞれフィルターを示す図、第4図はこの
発明の一実施例を示す回路図、第5図は第4図の回路の
動作説明図、 第6図、第7図はそにそれ第1図の被制御回路を示す図
、 第8図、第9図はそれぞれ本発明に係る素子ばらつきの
検出回路を示す図、 第10図、第11図もそれぞれ検出回路の具体例と動作
波形を示す図、 第12図は第10図の回路を更に具体的に示す回路図、
第13図、第14図はそれぞれ素子ばらつき検出回路の
更に他の実施例を示す図、第15図は第14図の回路を
更に具体的に示す回路図、第16図は、被制御回路(フ
ィルター)の更に他の例を示す回路図、第17図は本発
明に係る検出回路の例を示す回路図、 第18図は泳17図の回路の信号ベクトル図、第19図
は第17図の回路の特性図である。 1・・・電流源、2.4・・・スイッチ1.I、5・・
・コンデンサ。 出り人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第1図 第2図   第3図 第4図 第8図     第9図 第12図 第13図 A2           AJ         A
4第14図 第17図 Vロク 第19図

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体基板上に構成された抵抗に依存して決まる
    電流値で電流を流する定電流源と、前記定電流源からの
    電流を前記半導体基板上に構成されたコンデンサに所定
    期間充電する回路手段と、前記コンデンサの充電電圧を
    一定期間保持する保持回路とを有し、前記保持回路の出
    力に前記抵抗と前記コンデンサの値に比例した出力を得
    ることを特徴とする素子変動値検出回路。
  2. (2)前記コンデンサに所定期間充電する回路手段は、
    前記定電流源と前記コンデンサの一端間に設けられた第
    1のスイッチ及び前記コンデンサの一端とアース間に接
    続された第2のスイッチとから成り、各第1、第2のス
    イッチは互いに開閉が逆相で制御され、前記保持回路は
    前記コンデンサの一端の充電電圧を第2のコンデンサに
    伝達するバッファ回路を含むことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の素子変動値検出回路。
  3. (3)前記コンデンサに所定期間充電する回路手段は、
    前記定電流源と前記コンデンサの一端間に設けられた第
    1のスイッチ、前記コンデンサの一端とアース間に接続
    された第2のスイッチ及び前記コンデンサの一端と前記
    保持回路間に接続された第3のスイッチから成り、前記
    第1、第3、第2のスイッチの順に何れか1つがオン、
    他がオフするように制御され、前記保持回路は前記コン
    デンサの一端の充電電圧を第2のコンデンサに伝達する
    バッファ回路を含むことを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載の素子変動値検出回路。
  4. (4)前記定電流源は、電源とアース間に接続された複
    数のダイオードの任意の接続部からベースがバイアスさ
    れるトランジスタから成り、前記コンデンサに所定期間
    充電する回路手段は、前記第1のトランジスタを電流源
    して作動し、差動増幅器を形成する第2、第3のトラン
    ジスタと、第3のトランジスタのベースにバイアスを与
    えるバイアス回路と、前記第2のトランジスタのベース
    にゲートパルスを与えるための手段と、前記第2のトラ
    ンジスタの出力ノードに入力ノードが接続されその出力
    ノードが前記コンデンサの一端に接続された第1のカレ
    ントミラー回路と、前記第3のトランジスタの出力ノー
    ドに入力ノードが接続された第2のカレントミラー回路
    と、前記第2のカレントミラー回路の出力ノードが接続
    されその出力ノードが前記第1のカレントミラーの出力
    ノード及び前記コンデンサの一端に接続されて成ること
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の素子変動値検
    出回路。
  5. (5)前記コンデンサに所定時間充電する回路手段及び
    前記保持回路は、前記定電流源とアース間に接続され、
    ベースに第1のゲートパルスが供給される第1のトラン
    ジスタと、前記第1のトランジスタがオンすることによ
    ってオンし、前記コンデンサの一端側から充電電流を供
    給する第2のトランジスタと、前記コンデンサの一端と
    アース間に接続され、ベースに前記第1のゲートパルス
    とは異なる位相の第2のゲートパルスが印加されること
    でオンする第3のトランジスタと、前記コンデンサの端
    子電圧がダイオード接続回路を介してベースに供給され
    る第4のトランジスタと、前記第4のトランジスタに流
    れる電流路に入力ノードが接続され出力ノードが前記ダ
    イオード接続回路に接続されたカレントミラー回路と、
    前記第4のトランジスタの出力ノードとアース間に接続
    され、前記コンデンサの光電電圧を前記第4のトランジ
    スタの出力ノードとアース間に接続された第2のコンデ
    ンサに伝達するために、前記第1、第2のゲートパルス
    とは異なる位相の第3のゲートパルスがベースに印加さ
    れることでオンする第5のトランジスタとを具備したこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の素子変動値
    検出回路。
  6. (6)前記コンデンサは、可変容量ダイオードであるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の素子変動値
    検出回路。
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Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004170103A (ja) * 2002-11-18 2004-06-17 Yazaki Corp 非接地電源の絶縁検出装置
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