JPS6221194B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、案内溝を用いた静電容量変換方式の
ビデオデイスクプレーヤにおけるスタイラスカー
トリツジの動特性を短時間で自動的に測定する装
置に関する。

ビデオデイスクプレーヤ（以下、単にVDPと
いう）のスタイラスカートリツジには一定の寿命
があり、使用中所定の時期において順次新らしい
カートリツジと交換しなければならないが、その
際、カートリツジの交換によつてVDPの特性が
変化するのは望ましくないから、スタイラスカー
トリツジ相互間で充分に特性が揃つたものとなつ
ていること、即ち充分に互換性が保たれている必
要がある。

そこで、このような互換性を有するスタイラス
カートリツジを得るために種々の特性について定
量的に評価する必要があるが、その特性の一つに
VDPのピツクアツプアープの送りが停止したと
き、カートリツジのスタイラスがビデオデイスク
（以下、単にVDという）の案内溝にどの程度まで
追従してトレース可能かを示す、いわゆるスタイ
ラスカートリツジの動特性がある。

そして、従来、この動特性を定量的に把えて正
しく評価する方法としては、案内溝を用いた静電
容量変換方式のVDP、例えばCED方式などと呼
ばれるVDPに備えられているキツカー機構を用
いた以下に示す方法が提案されていた。

即ち、まず、測定用のVDPを用意し、測定す
べきスタイラスカートリツジをそのピツクアツプ
アーム（以下、単にPUという）に実装してVDか
らのビデオ信号の再生動作を行なわせる。

次に、その状態でPVの送りを停止させ、再生
画像をモニタしながらキツカー機構の駆動用コイ
ルに一定パルス幅のパルス電流を１垂直周期ごと
に１回の割合で順次供給し、スタイラスを中性点
位置の案内溝からVDの外周方向に順次ジヤンプ
させてゆく。そして、再生画像がスチル画となつ
たときのフイールド溝番号を再生ビデオ信号から
取込んで保存する。続いて、今度はパルス電流の
極性を反転し、スタイラスをVDの案内溝のその
位置から内周方向に順次ジヤンプさせてゆき、モ
ニタ像がスチル画となつたときのフイールド溝番
号を読取つて記憶する。

そして、最初に記憶しておいたVDの外周方向
でモニタ像がスチル画となつたときのフイールド
溝番号と、いま記憶したVDの内周方向でモニタ
像がスチル画となつたときのフイールド溝番号と
の差を求め、その数値にVDの案内溝ピツチ（例
えば、現在商品化されているものの一つでは2.66
μｍ）を乗算し、それをスタイラスカートリツジ
の動特性を表わす数値としていた。

これは、次の理由による。即ち、PUの送りを
停止させ、カートリツジのスタイラスをその中性
点位置からVDの外周方向、或いは内周方向にキ
ツクさせてゆき、その状態でモニタ像がスチル画
になつたということは、キツカー機構が作動して
いるにもかかわらずスタイラスがもうジヤンプし
なくなつたことを示している。つまり、このこと
は、もうそれ以上は外周方向、或いは内周方向に
スタイラスが移動できなくなつたことを表わして
いる。

従つて、これによりスタイラスカートリツジの
動特性範囲を求めるようにしたものであり、この
とき、VDの外周方向で得られたフイールド溝番
号が一番小さくなる案内溝を最小飽和溝と呼び、
内周方向で得られたフイールド溝番号が最大にな
る案内溝を最大飽和溝と呼んでいる。

しかしながら、この従来の測定方法では、PU
へ被測定用のスタイラスカートリツジを装着した
あと、PUの送り停止、キツカーコイルへの駆動
パルス供給、モニタ像の監視、最小飽和溝に達し
たときのフイールド溝番号の読取り、駆動パルス
の極性反転、モニタ像の監視、最大飽和溝に達し
たときのフイールド溝番号の読取り、数値計算に
よる動特性範囲の算出などを順次行なう必要があ
るため、操作が煩雑で測定を簡単に行なうことが
できないという欠点があつた。

また、垂直走査周期ごとに１回づつ繰り返され
るキツカー機構によるスタイラスの案内溝ジヤン
プの１回当りのジヤンプ量をあまり多くすると、
最小、或いは最大飽和溝に達したときのモニタ像
に現われるスチル画が安定して得られなくなる。

従つて、上記した最小飽和溝と最大飽和溝のフ
イールド溝番号を求めるためには、スタイラスを
中性点位置から最小飽和溝まで、それから最大飽
和溝まで順次、比較的少ないジヤンプ量のもとで
かなり多くの回数にわたつて少しづつ案内溝をジ
ヤンプさせてゆかなければならないため、測定時
間がかなり永く必要になつてしまうという欠点も
あつた。

本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を除
き、操作が簡単でしかも短時間で自動的に測定結
果が得られるようにしたスタイラスカートリツジ
の動特性自動測定装置を提供するにある。

この目的を達成するため、本発明は、マイクロ
コンビユータを設け、測定に必要な操作をそのプ
ログラムにより逐次自動的に遂行させると共に、
キツカー機構によりスタイラスに与えられる１回
当りの案内溝ジヤンプ駆動力を変化させてスタイ
ラスが、最小、或いは最大飽和溝付近に速かに到
達するようにした点を特徴とする。

以下、本発明によるスタイラスカートリツジの
動特性自動測定装置の実施例を図面について説明
する。

第１図はCED方式のVDPに使用されるスタイ
ラスカートリツジの一例を示したもので、１はス
タイラスカートリツジ全体を表わしたもの、１−
１はスタイラスホルダ、１−２はスタイラス、２
はキツカー機構、２−１，２−２はキツカーコイ
ル、２−３はキツカーマグネツト、３はキツカー
駆動回路である。

キツカー駆動回路３からパルス電流がキツカー
コイル２−１，２−２に供給されると、キツカー
マグネツト２−３に電磁力が作用し、キツカー駆
動回路３から供給されるパルス電流の極性で定ま
る方向にスタイラス１−２がキツクされ、VDの
案内溝をジヤンプさせる働きをする。そして、こ
のときのジヤンプ量は供給されたパルス電流の大
きさとパルス幅によつて任意に制御することがで
きる。なお、本来、このキツカー機構２は、スタ
イラス１−２のトラツキングが不調になつたと
き、或いはVDPをトリツク再生動作させるとき
などに使用するために設けられているものであ
る。

次に、第２図は本発明の一実施例を示すブロツ
ク図で、スタイラスカートリツジ１、キツカーコ
イル２−１，２−２、キツカー駆動回路３は第１
図と同じである。

この第２図において、４は測定用に使用する
VD、５はターンテーブル、６はターンテーブル
駆動用モータ、７はPU送りモータ機構、８はビ
デオ再生部、９はチユーナ、１０はビデオ復調回
路、１１はモニタデイスプレイ、１２は垂直同期
信号出力、１３はクロツク出力、１４はビデオ信
号出力、１５はDAXIデコーダ、１６〜１９はペ
リフエラルインターフエースアダプタ（PiAとい
う）、２０は内部バス、２１は中央処理ユニツト
（CPUという）、２２はランダムアクセスメモリ
（RAMという）、２３はキヤラクタデイスプレ
イ、２４は単安定マルチバイブレータ（MMVと
いう）、２５はクロツク発生器、２６はコンパレ
ータ、２７はセツト、リセツト形フリツプフロツ
プ（FFという）、２８は電流方向制御回路、２９
はアンドゲート、３０はMMVである。

なお、１５−イはフイールド溝番号データが出
力されるデータ信号線、１５−ロはデータのラツ
チ完了を表わす信号が出力される制御線、１７−
イはDAXIデコーダ１５に対する制御信号（チツ
プセレクト信号など）が出力される制御線、１８
−イはコンパレータ２６に比較データを出力する
データ信号線、１８−ロはアンドゲート２９を特
動化する信号が出力される制御線である。

第３図はVD４の案内溝の一周当りに記憶され
ている信号の垂直ブランキング期間３１を示した
もので、この期間３１の中に垂直同期信号３２と
DAXIコード３３とが記録されていることを示し
ている。そして、このDAXIコードとは、Digital
Auxiliary Informationのコードの略称でこの中
に前記のフイールド溝番号データが収納されてい
る。

そこで、VD４をターンテーブル５に載置し、
スタイラスカートリツジ１をセツトして動作させ
ると、ビデオ再生部８のビデオ復調回路１０の出
力１２からは垂直同期信号が、出力１３からは
DAXlコードの各ビツトを抜取るための1.53MHz
のクロツクが、そして出力１４からはDAXIのコ
ードが挿入されているビデオ信号がそれぞれ出力
される。同時にモニタデイスプレイ１１には再生
された画像が表示される。

DAXIデコーダ１５はビデオ復調回路１０から
取り込んだ信号からフイールド溝番号をデコード
してラツチし、そのデータを信号線１５−イから
PiA１６に与えると共に、制御線１５−ロからラ
ツチ完了を表わす信号をPiA１６に供給する。そ
して、このラツチ完了信号によりPiA１７は制御
線１７−イを介してDAXIデコーダ１５に信号を
送つてチツプセレクトを行なわせる。

CPU２１はプログラムを収納したROMを備
え、PiA１６，１７を介してフイールド溝番号デ
ータとラツチ完了信号、それに信号線２４−イか
らの割込信号を取入れ、PiA１７を介してDAXI
デコーダ１５のチツプセレクトを行なわせると共
に、PiA１８を介してコンパレータ２６にパルス
幅データを、そしてアンドゲート２９に能動化信
号をそれぞれ与え、PiA１９を介してPU送りモ
ータ機構７を制御してPUの送り停止を行なわせ
ると共に、電流方向制御回路２８を制御してキツ
カーコイル２−１，２−２に供給されるパルスの
極性を制御させる。

次に、この実施例の動作について説明する。

測定動作の開始が入力されると、CPU２１
は、まず、PiA１９を介してPU送りモータ機構
７に信号を送つてPUの送りを停止させると共
に、電流方向制御回路２８に信号を送つてキツカ
ーコイル２−１，２−２に供給すべきパルス電流
の極性をカートリツジ１のスタイラス１−２（第
１図）がVD４の外周方向にキツクされるように
設定する。

ついで、CPU２１はPiA１８の制御線１８−ロ
を介してアンドゲート２９に信号を与え、それを
能動化し、同時に信号線１８−イを介してコンパ
レータ２６に比較データを供給する。

一方、アンドゲート２９の他方の入力には
MMV３０の出力が供給されているが、このMMV
３０はビデオ復調回路１０の出力１２から供給さ
れている垂直同期信号によつてトリガされ、所定
の遅延時間T₁をもつて出力を発生するようにな
つている。

従つて、このMMV３０の出力には第３図の時
点３４で示すように垂直同期信号３２から時間
T₁だけ遅れた信号が１垂直期間ごとに１回だけ
毎回現われていることになる。

この結果、FF２７は第４図ハの時点３４でセ
ツトされ、その後、コンパレータ２６から信号が
供給される時点３５でリセツトされることにな
り、その出力Ｑからは第４図ハに示すようなタイ
ミングでパルス３６が得られることになる。な
お、第４図イは垂直ブランキング期間３１と、そ
の中に挿入されている垂直同期信号３２、それに
DAXIコード３３を表わしたものであり、同図ハ
はMMV３０の出力信号を示したものである。

このパルス３６は電流方向制御回路２８を介し
てキツカー駆動回路３に供給されているから、
CPU２１によりPiA１８の制御線１８−ロを介し
てアンドゲート２９が能動化されると、それ以
後、１垂直周期ごとに１回、連続的にキツカーコ
イル２−１，２−２にパルス電流が供給され、
PUの送り停止後、中性点位置付近にあつたスタ
イラス１−２をVD４の外周方向にパルス３６の
幅T₂で決まるジヤンプ量で順次、VD４の案内溝
をジヤンプしてゆく。なお、このとき、MMV３
０により遅延時間T₁を与えているのは、スタイ
ラス１−２による案内溝のジヤンプタイミングを
垂直ブランキング期間３１から外し、フイールド
溝番号の読取りを確実にするためである。

一方、これと並行して、このパルス３６はFF
２７の出力からMMV２４に供給され、波形整形
されて所定の割込パルスとなり、信号線２４−イ
からPiA１７に入力される。そこで、CPU２１は
この割込パルスの前後においてDAXIデコーダ１
５にラツチされたフイールド溝番号データを
RAM２２の中にそれぞれ取り込み、これらを比
較して同じフイールド溝番号が現われるようにな
るのを監視している。

こうしてパルス３６が所定回数だけキツカーコ
イル２−１，２−２に供給されてスタイラス１−
２が最小飽和溝に達すると、パルス３６の前後で
読出されてくるフイールド溝番号が同じになるか
ら、CPU２１はその溝番号を最小溝番号として
記憶すると共に、その時点でPiA１９を介して電
流方向制御回路２８に信号を送り、キツカーコイ
ル２−１，２−２に供給されているパルス３６の
極性を反転させる。

そこで、この時点からスタイラス１−２はVD
４の内周方向に向つて案内溝をジヤンプし始め、
所定の回数だけジヤンプしたのち今度は最大飽和
溝に達すると、上にしたときと同様にパルス３６
の前後でRAM２２に取り込まれてくるフイール
ド溝番号が同じになる。

そこで、CPU２１はこのときのフイールド溝
番号を最大飽和溝番号として記憶する。そして、
既に記憶してある最小飽和溝番号を最大飽和溝番
号から減算し、それにVD４の溝ピツチを乗算し
て動特性範囲を算出してデイスプレイ２３に表示
したり、或いは必要に応じてプリントアウトした
りする。

従つて、スタイラスカートリツジ１を装着して
装置をスタート操作するだけで自動的に動特性の
測定を行なうことができる。

ところで、以上は、キツカーコイル２−１，２
−２に与えられるパルス３６のパルス幅T₂が一
定のものとして説明した。従つて、このときに
は、既に説明したように、パルス３６のパルス幅
T₂を大きくして１回当りのジヤンプ量を大きく
することができないから、スタイラス１−２をそ
の中性点位置から最小飽和溝にまで順次ジヤンプ
させ、ついで最大飽和溝まで順次ジヤンプさせて
いつて測定を終了させるまでには少くとも900回
にも及ぶ数のパルス３６を供給する必要があり、
測定に時間が掛ることになる。

そこで、上記実施例においては、クロツク発生
器２５とコンバレータ２６を設け、その出力で
FF２７をセツトするようにし、コンバレータ２
６にロードするデータに応じてパルス３６のパル
ス幅T₂を任意に制御し得るようにしてある。そ
して、CPU２１のROMに格納してあるプログラ
ムによりコンパレータ２６にロードすべきデータ
を変化させ、スタイラス１−２が中性点位置から
最小飽和溝の近傍に達するまでと、最小飽和溝に
達してから最大飽和溝の近傍に達するまでの期間
はパルス３６のパルス幅T₂を充分に大きくし、
それ以外のときにはパルス幅T₂を充分に小さく
するようにしている。

この結果、スタイラス１−２は中性点位置から
最小飽和溝の近傍に到るまでと、最小飽和溝から
最大飽和溝近傍までは、充分に大きなパルス幅の
パルスにより大きなジヤンプ量で速かに案内溝を
ジヤンプしてゆくから、最小及び最大飽和溝に達
するまでの時間が充分に短縮され、しかも最小及
び最大飽和溝に達したときには充分に小さなジヤ
ンプ量となつているから、飽和溝近傍でのビデオ
信号の再生が不安定になつて最小又は最大の飽和
溝に達したことの検出が困難になる虞れがなく安
定に、しかも正確に測定を行なうことができる。

これを第５図によつて説明する。

図において特性曲線４０はキツカーコイル２−
１，２−２に供給されるパルス３６のパルス幅
T₂が一定のときのもので、飽和溝付近でのビデ
オ信号の読取りを安定に行なうためパルス幅T₂
をあまり大きくすることができないため、中性点
位置から最小飽和溝の近傍に達するまでと、最小
飽和溝から最大飽和溝近傍に達するまでの時間が
永く掛つている。

一方、特性曲線４１はコンパレータ２６にデー
タをロードしてキツカーコイル２−１，２−２に
供給するパルス３６のパルス幅T₂を変化させた
ときのもので、中性点位置から最小飽和溝近傍ま
でと、最小飽和溝から最大飽和溝近傍にまでのス
タイラス１−２の移動時間（ジヤンプ回数）が極
めて少くなつていることが判る。

なお、このパルス３６のパルス幅T₂の値につ
いては、あらかじめ平均的な特性の複数個のスタ
イラスカートリツジについて測定を行ない、測定
時間が充分に短縮でき、しかも測定結果が安定か
つ正確に得られるようなパルス幅を求めてCPU
２１のプログラムにセツトするようにすればよ
い。

以上説明したように、本発明によれば、VDP
のスタイラスカートリツジの動特性を短時間でし
かも安定正確に測定することができるから、従来
技術の欠点を除き、スタイラスカートリツジの品
質管理と性能向上に役立つ動特性の自動測定装置
を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はキツカー機構を備えたビデオデイスク
プレーヤのスタイラスカートリツジの一例を示す
説明図、第２図は本発明によるスタイラスカート
リツジの動特性自動測定装置の一実施例を示すブ
ロツク図、第３図はビデオデイスクに記録されて
いる信号の１周当りの内容を示す説明図、第４図
イ〜ハは第２図に示した実施例の動作を説明する
ためのタイムチヤート、第５図は同じくその効果
を説明するための特性曲線図である。 １……スタイラスカートリツジ、２……キツカ
ー機構、３……キツカー駆動回路、８……ビデオ
再生部、１５……DAXIデコーダ、２５……クロ
ツク発生器、２６……コンパレータ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ カートリツジのスタイラスをデイスクの案内
   溝間で任意にジヤンプさせるためのキツカー機構
   を備え、中性点位置からのスタイラスの案内溝ジ
   ヤンプ可能範囲によりスタイラスカートリツジの
   動特性を評価する方式のビデオデイスクプレーヤ
   用スタイラスカートリツジの動特性測定装置にお
   いて、任意のパルス幅の駆動パルスを再生ビデオ
   信号の垂直走査周期ごとに上記キツカー機構に供
   給する駆動パルス発生手段と、再生ビデオ信号の
   フイルド番号を検出して順次比較する手段と、こ
   れらの手段を制御して測定動作を自動的に遂行さ
   せるためのマイクロコンピユータとを設け、スタ
   イラスの中性点位置からの案内溝ジヤンプ動作を
   パルス幅が変化する駆動パルスを上記キツカー機
   構に供給して行なわせることにより動特性の測定
   を短時間で行なえるように構成したことを特徴と
   するスタイラスカートリツジの動特性自動測定装
   置。