JPS62211571A - Heating and heat absorbing method for electronic component - Google Patents
Heating and heat absorbing method for electronic componentInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は、電子部品を所望する温度に設定する電子部品
の加熱・吸熱方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a heating/endothermic method for electronic components, which sets the electronic components to a desired temperature.
[発明の技術的背景]
従来、IC,LSI等の電子部品は、常温状態ばかりで
なく高温状態或いは低温状態においても各特性の測定を
行なうようにしている。そのため高温条件下での特性測
定にあっては、予め測定部による測定を行なう前に電子
部品の加熱を、低温条件下での特性測定にあっては吸熱
をそれぞれ行なっている。このような電子部品の加熱や
吸熱は、例えば実公昭54−494ON公報に記載され
た装置によって可能である。[Technical Background of the Invention] Conventionally, the characteristics of electronic components such as ICs and LSIs are measured not only at room temperature but also at high or low temperatures. Therefore, when measuring characteristics under high-temperature conditions, electronic components are heated before the measurement by the measuring section, and when measuring characteristics under low-temperature conditions, heat is absorbed. Such heating and heat absorption of electronic components is possible, for example, by the device described in Japanese Utility Model Publication No. 54-494ON.
第3図は、従来一般に用いられているICの加熱装置を
示す正面断面図で、図において、1は下部加熱体を構成
するシュート、2はシュート1と対向配置されるととも
に、矢示A方向に適宜上下動可能とされる上部加熱体を
構成する上部押さえ、3.4はそれぞれシュート1並び
に上部押さえ2に埋設されたヒータである。ざ“C加熱
装置におけるシュート1を自重落下するIC5は、図示
省略のストッパによりその落下が一時的に阻止される。FIG. 3 is a front sectional view showing a conventionally commonly used IC heating device. In the figure, 1 is a chute constituting a lower heating element, 2 is a chute disposed opposite to the chute 1, and is directed in the direction of arrow A. An upper presser 3.4 constituting the upper heating body which can be moved up and down as needed is a heater embedded in the chute 1 and the upper presser 2, respectively. The IC 5 falling down the chute 1 in the C heating device under its own weight is temporarily prevented from falling by a stopper (not shown).
そして上部押さえ2が下動し、その先端がIC5のモー
ルド部6に当接することでIC5、特にそのモールド部
6がシュート1と上部押さえ2に挟持される状態となる
。この状態でI’C5は加熱され、測定に適した所望の
温度に設定される。そこで上部押さえ2が上動するとと
もに、ストッパがIC5の移動阻止を解除し、従って、
所望の温度に設定されたIC5は測定部へ移行し、そこ
で特性が測定されることとなる。Then, the upper presser 2 moves downward and its tip abuts the molded part 6 of the IC 5, so that the IC5, particularly the molded part 6, is held between the chute 1 and the upper presser 2. In this state, I'C5 is heated and set to a desired temperature suitable for measurement. Thereupon, the upper presser 2 moves upward, and the stopper releases the movement prevention of the IC5, and therefore,
The IC 5, which has been set to a desired temperature, moves to the measurement section, where its characteristics are measured.
なお以上は加熱装置について説明したが、吸熱装置にお
いても上記のヒータ3.4を流体窒素等の媒体に置き換
えることで他は同様でおる。Although the heating device has been described above, the other aspects are the same in the heat absorbing device by replacing the heater 3.4 with a medium such as fluid nitrogen.
[背景技術の問題点]
上記したように従来より用いられていた加熱・吸熱装置
においては、その加熱体或いは吸熱体をIC5のモール
ド部6に当接させ、このモールド部6を介してIC5の
内部温度を上昇(加熱)または下降(吸熱)させ、IC
5を所望する温度に設定するようにしていた。ところで
モールド部6は樹脂やセラミックより成り熱伝達が比較
的遅いため、IC5を所望する温度に設定するまでに多
くの時間を有し、作業効率の向上の妨げとなっていた。[Problems in the Background Art] As described above, in the conventional heating/endothermic device, the heating body or heat absorbing body is brought into contact with the molded portion 6 of the IC 5, and the heat of the IC 5 is transmitted through the molded portion 6. Raise (heating) or lower (endotherm) the internal temperature of the IC
5 to the desired temperature. By the way, since the mold part 6 is made of resin or ceramic and heat transfer is relatively slow, it takes a long time to set the IC 5 to a desired temperature, which hinders the improvement of work efficiency.
[発明の目的]
本発明は上記した欠点を除去するために成されたもので
、リード端子を有する電子部品を所望する温度に短時間
で設定することを可能とする電子部品の加熱・吸熱方法
を提供することを目的とす上記目的を達成するため、本
発明においては、電子部品の有するリード端子を利用し
、このリード端子に加熱体或いは吸熱体を接触させるよ
うにしたことを特徴とする。[Object of the Invention] The present invention has been made to eliminate the above-mentioned drawbacks, and provides a heating/endothermic method for electronic components that allows electronic components having lead terminals to be set to a desired temperature in a short time. In order to achieve the above object, the present invention is characterized in that a lead terminal of an electronic component is used, and a heating body or a heat absorbing body is brought into contact with this lead terminal. .
[発明の実施例]
以下本発明の実施例について説明する。第1図は本発明
を実施するために用いられる加熱装置の第1の実施例を
示す正面断面図を示す。図において加熱装置10は、下
部加熱体を構成するシュート11と、上部加熱体を構成
する上部押さえ12を有し、それぞれ紙面と直交する方
向に延びているとともに、全体が下炉体13、上炉体1
4により包囲されている。シュート11はその上面でデ
ュアルインライン型IC(DIP型IC>15の移動を
案内するもので、内部にヒータ16を有し、断熱材17
を介して下炉体13に固定される。一方上部押さえ12
もヒータ16を有し、上炉体14にブツシュ18を介し
て矢示B方向に上下動自在に配置された上下ロッド19
に断熱材20を介して支持される。この断熱材20と上
炉体14との間にはスプリング21が介在されて、上下
ロッド19が常時下方に付勢されるようになってあり、
またこの上下ロッド19の上下動は、上炉体14に固定
されたシリンダ22により適宜行なわれる。[Embodiments of the Invention] Examples of the present invention will be described below. FIG. 1 shows a front sectional view showing a first embodiment of a heating device used to carry out the present invention. In the figure, the heating device 10 has a chute 11 constituting a lower heating body and an upper presser 12 constituting an upper heating body, each of which extends in a direction perpendicular to the plane of the paper. Furnace body 1
Surrounded by 4. The chute 11 guides the movement of a dual inline type IC (DIP type IC>15) on its upper surface, and has a heater 16 inside and a heat insulating material 17.
It is fixed to the lower furnace body 13 via. On the other hand, upper presser 12
A vertical rod 19 is provided with a heater 16 and is disposed on the upper furnace body 14 through a bush 18 so as to be vertically movable in the direction of arrow B.
is supported via a heat insulating material 20. A spring 21 is interposed between the heat insulating material 20 and the upper furnace body 14, so that the upper and lower rods 19 are constantly urged downward.
Further, the vertical movement of the vertical rod 19 is appropriately performed by a cylinder 22 fixed to the upper furnace body 14.
上部押さえ12の下部すなわちICl3と対向する部分
には、IC,15のモールド部23に対向して凹溝24
が設けられるとともに、両端には、IC15の有するリ
ード端子25の根元部に接する突出部26が設けられて
いる。なお図では凹溝24の底部とICl3のモールド
部23との間に間隙Sを有しているが、モールド部23
に接するように形成してもよい。また図中27.28は
シュート11並びに上部押さえ12に取り付けられた温
度センサーでおり、図示省略したが、シュート11には
、滑走するICl3の移動を一時的に阻止するストッパ
が設けられている。In the lower part of the upper presser 12, that is, the part facing the ICl3, there is a groove 24 facing the molded part 23 of the IC 15.
is provided, and protrusions 26 are provided at both ends to contact the root portions of lead terminals 25 of the IC 15. Note that in the figure, there is a gap S between the bottom of the groove 24 and the mold part 23 of the ICl3, but the mold part 23
It may be formed so as to be in contact with. Reference numerals 27 and 28 in the figure indicate temperature sensors attached to the chute 11 and the upper presser 12, and although not shown, the chute 11 is provided with a stopper that temporarily prevents the sliding ICl 3 from moving.
次に上記構成による作動について説明する。まずシリン
ダ22の作動により、上部押さえ12は上方に移動して
いる。そこでICl3はシュート11に沿って加熱装置
10に達し、このrc15は、ストッパによってその移
動を停止させられる。Next, the operation of the above configuration will be explained. First, the upper presser 12 is moved upward by the operation of the cylinder 22. The ICl3 then reaches the heating device 10 along the chute 11, and this rc15 is stopped from moving by a stopper.
次にシリンダ22の作動により、上部押さえ12は下動
させられ、移動を停止させられたICl3は、シュート
11並びに上部押さえ12により挟持される状態となる
。すなわちICl3はそのモールド部23の下面がシュ
ート11により加熱させられるとともに、上部押さえ1
2の突出部26によりICl3のリード端子25の根元
部並びに上部押さえ12に対面するモールド部23が加
熱させられることとなる。なお凹溝24の底部とモール
ド部23の上部とが接するように形成しておくと、モー
ルド部23の上面も直接加熱されることとなる。このよ
うにしてICl3が所望する温度に加熱させられると、
シリンダ22の作動により上部押さえ12が上動させら
れ、またストッパがIC’15の移動阻止を解除し、所
望温度に設定されたICl3は測定部へと移行すること
となる。Next, the upper presser 12 is moved downward by the operation of the cylinder 22, and the ICl3 whose movement has been stopped is in a state where it is held between the chute 11 and the upper presser 12. That is, the lower surface of the mold part 23 of the ICl3 is heated by the chute 11, and the upper presser 1
The base portion of the lead terminal 25 of the ICl 3 and the mold portion 23 facing the upper presser 12 are heated by the protruding portion 26 of the second portion. Note that if the bottom of the groove 24 and the top of the mold part 23 are formed so as to be in contact with each other, the top surface of the mold part 23 will also be directly heated. When ICl3 is heated to the desired temperature in this way,
The upper presser 12 is moved upward by the operation of the cylinder 22, the stopper releases the movement prevention of the IC'15, and the ICl3 set at the desired temperature moves to the measuring section.
このように上記した第1の実施例においては、DIP型
ICl3の有するリード端子に、加熱体である上部押さ
え12の突出部26を直接接触させてICl3を加熱す
るようにしたものである。As described above, in the first embodiment described above, the lead terminal of the DIP type ICl 3 is brought into direct contact with the protrusion 26 of the upper presser 12, which is a heating body, to heat the ICl 3.
従ってモールド部23のみから加熱する場合に比へ、金
属より成る熱伝達等の良いリード端子25を介してIC
l3を加熱しているため、ICl3全体をより短時間で
所望する温度まで上昇させることが可能となる。Therefore, when heating only from the mold part 23, the IC is heated through the lead terminal 25 made of metal with good heat transfer.
Since ICl3 is heated, it becomes possible to raise the entire ICl3 to a desired temperature in a shorter time.
次に第2の実施例であるフラットパッケージ型IC30
の加熱装置31について第2図を用いて説明する。なお
図において第1図と同一部品には同一符号を付し、その
説明は省略する。加熱装置31は、下部加熱体を構成す
るシュート32と上部加熱体を構成する上部押さえ33
とを有し、それぞれ紙面と直交する方向に延びており、
全体が下炉体13、上炉体14により包囲されている。Next, the second embodiment, a flat package type IC30
The heating device 31 will be explained using FIG. 2. In the drawings, parts that are the same as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and their explanations will be omitted. The heating device 31 includes a chute 32 constituting a lower heating body and an upper presser 33 constituting an upper heating body.
and each extending in a direction perpendicular to the plane of the paper,
The whole is surrounded by a lower furnace body 13 and an upper furnace body 14.
シュート32の上面には凹溝34が形成され、この凹溝
34によりIC30を案内するようになっている。一方
上部押さえ33は、IC30のモールド部35に対向す
る部分に凹溝36を有するとともに、IC30のリード
端子37の先端部に対向する位置に突出部38が設けら
れている。なお図では上部押さえ33の凹溝36とIC
30のモールド部35との間に間隙tn有しているが、
モールド部35に接するように形成してもよい。A groove 34 is formed on the upper surface of the chute 32, and the IC 30 is guided by this groove 34. On the other hand, the upper presser 33 has a concave groove 36 in a portion facing the mold part 35 of the IC 30, and a protrusion 38 is provided in a position facing the tip of the lead terminal 37 of the IC 30. In addition, in the figure, the concave groove 36 of the upper presser 33 and the IC
There is a gap tn between the mold part 35 of 30,
It may be formed so as to be in contact with the mold part 35.
この構成による作動並びに効果については先に示した実
施例と同一のため省略する。The operation and effects of this configuration are the same as those of the previously shown embodiment, and will therefore be omitted.
なお以上2つの実施例は、共に加熱装置について説明し
たわけであるが、ICを所望温度に吸熱する場合、ヒー
タ16に代えて液体窒素等の媒体にすればよいので吸熱
装置については詳説は省略する。Note that in both of the above two embodiments, the heating device has been explained, but if the IC is to absorb heat to a desired temperature, a medium such as liquid nitrogen may be used instead of the heater 16, so a detailed explanation of the heat absorbing device will be omitted. do.
[発明の効果]
本発明による電子部品の加熱・吸熱方法によれば、電子
部品の有するリード端子を用いて電子部品を所望の温度
に設定するようにしたので、電子部品を従来より短時間
で設定することが可能となり、作業効率を大幅に増大さ
せることが可能となる。[Effects of the Invention] According to the method of heating and absorbing heat for electronic components according to the present invention, the lead terminals of the electronic components are used to set the electronic components to a desired temperature, so the electronic components can be heated in a shorter time than before. This makes it possible to greatly increase work efficiency.
第1図は本発明を実施するための加熱装置の第1の実施
例を示す正面断面図、第2図は加熱装置の第2の実施例
を示す正面断面図、第3図は従来の加熱装置の正面断面
図を各々示す。
1.11.32・・・シュート、2.12.33・・・
上部押さえ、3.4.16・・・ヒータ、5.15.3
0・・・IC110,31・・・加熱装置、25.37
・・・リード端子。FIG. 1 is a front sectional view showing a first embodiment of a heating device for implementing the present invention, FIG. 2 is a front sectional view showing a second embodiment of the heating device, and FIG. 3 is a conventional heating device. A front sectional view of the device is shown in each case. 1.11.32...shoot, 2.12.33...
Upper presser, 3.4.16... Heater, 5.15.3
0...IC110,31...Heating device, 25.37
...Lead terminal.
Claims (1)
体を接触させることによって前記電子部品を所望する温
度に設定するようにした電子部品の加熱・吸熱方法にお
いて、前記加熱体或いは吸熱体を前記電子部品のリード
端子に接触させるようにしたことを特徴とする電子部品
の加熱・吸熱方法。(1) In a method of heating and absorbing heat for an electronic component, the heating body or heat absorbing body is brought into contact with the electronic component having lead terminals to set the electronic component at a desired temperature. A method for heating and absorbing heat from an electronic component, characterized in that the electronic component is brought into contact with a lead terminal of the component.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61054297A JPS62211571A (en) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | Heating and heat absorbing method for electronic component |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61054297A JPS62211571A (en) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | Heating and heat absorbing method for electronic component |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62211571A true JPS62211571A (en) | 1987-09-17 |
Family
ID=12966634
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61054297A Pending JPS62211571A (en) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | Heating and heat absorbing method for electronic component |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62211571A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010014736A (en) * | 2009-10-20 | 2010-01-21 | Murata Mfg Co Ltd | Electronic component characteristic measuring device and electronic component sorting apparatus |
-
1986
- 1986-03-12 JP JP61054297A patent/JPS62211571A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010014736A (en) * | 2009-10-20 | 2010-01-21 | Murata Mfg Co Ltd | Electronic component characteristic measuring device and electronic component sorting apparatus |
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