JPS62210547A - Diagnosing method for error detection circuit - Google Patents
Diagnosing method for error detection circuitInfo
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- JPS62210547A JPS62210547A JP61052507A JP5250786A JPS62210547A JP S62210547 A JPS62210547 A JP S62210547A JP 61052507 A JP61052507 A JP 61052507A JP 5250786 A JP5250786 A JP 5250786A JP S62210547 A JPS62210547 A JP S62210547A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はデータメモリと冗長ビットメモリに独立してデ
ータを書き込む事により意識的に誤まったデータを生成
しエラー検出回路の診断を容易、かつ、正確に行なえる
ようにしたエラー検出回路の診断方法に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention intentionally generates erroneous data by writing data into the data memory and the redundant bit memory independently, thereby facilitating diagnosis of the error detection circuit. The present invention also relates to a method for accurately diagnosing an error detection circuit.
従来の装置は、特開昭55−83946号公報に記載の
様に1テスト用に冗長ビットレジスタと、これと通常の
冗長ビットを切り替るための選択回路を設けこの選択回
路によυ冗長ビット発生、誤シ検出、訂正を行なうもの
であるが、この場合、検出回路診断のための専用回路が
必要となりハードウェアが増加する。さらに専用回路そ
のものの故障をどう扱うかの点くついて論及されていな
かった。As described in Japanese Unexamined Patent Publication No. 55-83946, the conventional device includes a redundant bit register for one test and a selection circuit for switching between this and the normal redundant bit. In this case, a dedicated circuit for diagnosing the detection circuit is required, which increases the amount of hardware. Furthermore, there was no discussion of how to handle failures in the dedicated circuit itself.
上記従来技術はハードウェアの増加とハードウェアその
ものの故障をどう扱うかの問題があった。The above-mentioned conventional technology has the problem of how to deal with an increase in the number of hardware and failures of the hardware itself.
本発明の目的はハードウェアを増加させず、メモリ−エ
ラーを発生させエラー検出回路の診断を行なう診断方法
を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a diagnostic method that generates a memory error and diagnoses an error detection circuit without increasing hardware.
上記目的は、メモリをセレクトするためのメモリセレク
タ出力をデータメモリ出力線、冗長ビットメモリセレク
ト線に分離し、各々セレクト@に通常アドレスと同じア
ドレス空間で別のアドレス領域を持つ第二のアドレス、
第三のアドレスを割υ付はデータメモリ、冗長ビットメ
モリを独立して動作させる事により達成される。The above purpose is to separate the memory selector output for selecting memory into a data memory output line and a redundant bit memory select line, and each select@ has a second address having a different address area in the same address space as the normal address,
Allocation of the third address is accomplished by independently operating the data memory and redundant bit memory.
以上は二種のアドレスを用いたが、他の実施列として仮
想アドレスを一種に簡略化する方法がある。この一方法
として仮想アドレスから読み出し時にはデータRAM、
パリティ−RAMのいずれかしか選択しないようにし選
択されないRAMの出力を固定化することで、パリティ
−エラーを発生させる方法がある。Although two types of addresses have been used above, there is a method of simplifying the virtual address to one type as another implementation sequence. One way to do this is to use the data RAM when reading from a virtual address.
There is a method of generating a parity error by selecting only one of the parity RAMs and fixing the output of the unselected RAM.
本実施列によると、メモリーセレクタと、メモリを個別
にセレクトするためのセレクト線のみで実現可能であり
、セレクタをプログラム可能素子で構成する場合には、
この素子に仮想アドレス論理を追加する事により、さら
に、ハードウェアの増加なしに、実質セレクト線のみの
増加でパリティ−エラー検出回路の診断ができる。According to this implementation column, it can be realized with only a memory selector and a select line for selecting memories individually, and when the selector is configured with a programmable element,
By adding virtual address logic to this element, it is possible to diagnose the parity error detection circuit without increasing the hardware and by essentially increasing only the select lines.
さらに本発明はECC等冗長ビットを用いたメモリエラ
ー検出修正回路の診断にも適用できる。Furthermore, the present invention can also be applied to diagnosis of a memory error detection and correction circuit using redundant bits such as ECC.
次に、この発明のエラー検出訂正回路の診断方式の実施
例について図面に基づいて説明する。Next, an embodiment of a diagnostic method for an error detection and correction circuit according to the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図はその一実施列であるプログラマブルコントロー
ラの構成を示す。FIG. 1 shows the configuration of a programmable controller that is one implementation of the system.
大きくはデータを格納するデータRAM2、及び、パリ
ティチェックのためのパリティRAM3、メモリーを個
別に選択できるメモリーセレクタ1、データよりパリテ
ィを生成するパリティジェネレータ4、データRAM2
の出力105とパリティRAM3の出力109、パリテ
ィエラーを判定するパリティチェッカー5よ構成し、デ
ータ102よシデータRAM2とパリティRAM3に任
意のデータパターンをあたえパリティエラーを発生させ
ることができる。The main components are a data RAM 2 for storing data, a parity RAM 3 for parity checking, a memory selector 1 that can select memory individually, a parity generator 4 that generates parity from data, and a data RAM 2.
The output 105 of the parity RAM 3, the output 109 of the parity RAM 3, and a parity checker 5 for determining parity errors can be applied to the data 102, the data RAM 2, and the parity RAM 3 to generate a parity error.
以下、各部の構成と動作を説明する。The configuration and operation of each part will be explained below.
動作には通常モードと診断モードがあし、先ず、通常モ
ードに′)いて説明する。There are two modes of operation: normal mode and diagnostic mode. First, the normal mode will be explained.
書込み動作時はメモリセレクタ1に処理装置6よシアド
レスバス101を通してアドレスを入力する。その時、
メモリセレクタ1はデータRAM出力107、パリティ
RAMセル106を同時に出力し、各々凡人Mを動作状
態にしておきデータ凡人M2にデータ102を書込み、
パリティ几AM3に対してはデータ102t−パリティ
ジェネレータ4に入力し、このパリティジェネレータ4
によって生成されたパリティデータ108が普き込まれ
る。パリティジェネレータ4はデータ102の各ビット
の1の数を判定しこれが寄数であれば@O″を、偶数で
あれば@1”をそれぞれパリティゼネレータ出力108
として出力する。During a write operation, an address is input from the processing device 6 to the memory selector 1 through the address bus 101. At that time,
The memory selector 1 simultaneously outputs the data RAM output 107 and the parity RAM cell 106, leaves each ordinary person M in an operating state, and writes data 102 to the data ordinary person M2.
For parity AM3, data 102t is input to parity generator 4, and this parity generator 4
The parity data 108 generated by The parity generator 4 determines the number of 1's in each bit of the data 102, and if it is a parsimonious number, @O'' is output, and if it is an even number, @1'' is output from the parity generator 108.
Output as .
読み出し時は、メモリセレクタIKよりRAM七ル10
フ、106を同時に出力し、これによりデータRAM出
力105とパリティ−凡人M出力109が同時にパリテ
ィ−チェッカー5に出力される。パリティジェネレータ
4はこの二つの出力の各ビットの“l”の総和が寄紋か
偶数かを判定し、寄数ならば正常、偶数ならばパリティ
エラー110を出力する。When reading, RAM 710 is selected from memory selector IK.
The data RAM output 105 and the parity-ordinary M output 109 are simultaneously output to the parity checker 5. The parity generator 4 determines whether the sum of "l" of each bit of these two outputs is a parity or an even number, and outputs a parity error 110 if it is a parity number and a parity error 110 if it is an even number.
このようく、通常モードではパリティビットの生成、読
み出しチェックをハードウェア上で行ない、メモリエラ
ー検出が自動的になされる。In this way, in the normal mode, parity bit generation and read checking are performed on hardware, and memory error detection is automatically performed.
■
次に、本発明によるパリティエラー発生のための診断モ
ードについて説明する。(2) Next, a diagnosis mode for parity error occurrence according to the present invention will be explained.
まず、セレクタによる診断モード、個々のアドレスの割
り付は方法を第2図に示す。通常、アドレス101の他
にこれと同じアドレス範囲を持ち、別のアドレス領域を
持つ第二のアドレス103、第三のアドレス104(以
下第ニアドレス以降を仮想アドレスと呼ぶ)を設け、仮
想アドレス103がメモリセレクタ1に入力されるとデ
ータ几へMセル107が出力され仮想アドレス104が
メモリセレクタ1に入力されるとパリティ几八Mセル1
06が出力される。これにより、この仮想アドレスを診
断モード時に使用する事により、通常モードと診断モー
ドの切り替えをアドレスイメージのみで行なうことがで
き、仮想アドレスを複数個設けることによりl(、AM
を各々個別にアクセスすることが出来る。First, FIG. 2 shows the diagnostic mode and allocation of individual addresses using selectors. Normally, in addition to the address 101, a second address 103 and a third address 104 (hereinafter referred to as virtual addresses) having the same address range and a different address area are provided, and the virtual address 103 When input to memory selector 1, M cell 107 is output to data selector 1, and when virtual address 104 is input to memory selector 1, parity selector M cell 1 is output.
06 is output. By using this virtual address during diagnostic mode, it is possible to switch between normal mode and diagnostic mode using only the address image, and by providing multiple virtual addresses, l(, AM
can be accessed individually.
以下、二環の仮想アドレスを設けた場合について第1図
で説明する。The case where two-ring virtual addresses are provided will be described below with reference to FIG.
仮想アドレス103を選択した時の動作をケース1、仮
想アドレス104を選択した時の動作をケース2として
説明する。The operation when virtual address 103 is selected will be explained as case 1, and the operation when virtual address 104 is selected will be explained as case 2.
(ケース1)
データ102をデータRAM2に書込む。この時、パリ
ティRAMセル出力106は出力しないようにしておき
パリティRAM3は選択しない。(Case 1) Write data 102 to data RAM2. At this time, the parity RAM cell output 106 is not output, and the parity RAM 3 is not selected.
(ケース2)
データ102としてパリティジェネレータ4くあらかじ
めパリティジェネレート結果を予測したデータを与え、
パリティジェネレータ出力10BをパリティRAM3に
書込む。この時、データRAMセル出力107は出力し
ないよう(しておきデータ几AM2は選択しない。(Case 2) As the data 102, the parity generator 4 is given data that predicts the parity generation result in advance,
Write the parity generator output 10B to the parity RAM3. At this time, the data RAM cell output 107 is not output (and the data cell AM2 is not selected).
ケース1、ケース2を岨倉せて使用すると、データ凡人
M2とパリティRA M 3には任意のデータを設定す
ることが出来る。次に1正常モードで続出しを行なうと
エラー検出回路が所定の動作を行なうかどうかが診断で
きる。If Case 1 and Case 2 are used together, arbitrary data can be set in the data ordinary person M2 and the parity RAM 3. Next, by performing successive output in the 1 normal mode, it can be diagnosed whether the error detection circuit performs a predetermined operation.
本発明によれば、従来のハードフェアにセレクト線のみ
を追加するだけで目的を達成することができ、エラー診
断を、容易、かつ、正確に実施することかできる。According to the present invention, the objective can be achieved by simply adding a select line to the conventional hardware, and error diagnosis can be easily and accurately performed.
第1図は本発明の一実施列のメモリー装置のブロック図
、第2図はメモリセレクタの動作図である。FIG. 1 is a block diagram of a memory device according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an operational diagram of a memory selector.
Claims (1)
冗長ビットによりメモリー内容の誤り検出を行なうメモ
リ装置において、データメモリセレクト線と前記冗長ビ
ットメモリセレクト線を分離し、通常モードでは同時に
両方をセレクトし、診断モードでは独立してセレクトし
、データを書き込むことにより意識的に誤まつたデータ
及び冗長ビットを生成することを特徴とするエラー検出
回路の診断方法。 2、特許請求の範囲第1項において、前記通常モードと
前記診断モードの切替手段として実アドレスの他に前記
実アドレスと別のアドレス領域を持つ第二のアドレスを
持つことにより診断モードに切り替えることを特徴とす
るエラー検出回路の診断方法。[Claims] 1. In a memory device in which redundant bits are provided in data bits and errors in memory contents are detected using the redundant bits during reading, the data memory select line and the redundant bit memory select line are separated, and in normal mode, A method for diagnosing an error detection circuit, characterized by selecting both at the same time, selecting them independently in a diagnostic mode, and intentionally generating erroneous data and redundant bits by writing data. 2. In claim 1, switching to the diagnostic mode is provided by having, in addition to the real address, a second address having an address area different from the real address as a switching means between the normal mode and the diagnostic mode. A method for diagnosing an error detection circuit characterized by:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61052507A JPS62210547A (en) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | Diagnosing method for error detection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61052507A JPS62210547A (en) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | Diagnosing method for error detection circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62210547A true JPS62210547A (en) | 1987-09-16 |
Family
ID=12916643
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61052507A Pending JPS62210547A (en) | 1986-03-12 | 1986-03-12 | Diagnosing method for error detection circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62210547A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5500814A (en) * | 1993-08-05 | 1996-03-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Memory system and cache memory system |
WO1999003041A1 (en) * | 1997-07-07 | 1999-01-21 | Fanuc Ltd | Memory control method |
US20100268988A1 (en) * | 2009-04-15 | 2010-10-21 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Secure flash memory using error correcting code circuitry |
-
1986
- 1986-03-12 JP JP61052507A patent/JPS62210547A/en active Pending
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US5500814A (en) * | 1993-08-05 | 1996-03-19 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Memory system and cache memory system |
WO1999003041A1 (en) * | 1997-07-07 | 1999-01-21 | Fanuc Ltd | Memory control method |
US20100268988A1 (en) * | 2009-04-15 | 2010-10-21 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Secure flash memory using error correcting code circuitry |
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