JPS62209683A - 基板コ−ド読取方式 - Google Patents

基板コ−ド読取方式

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Publication number
JPS62209683A
JPS62209683A JP61034297A JP3429786A JPS62209683A JP S62209683 A JPS62209683 A JP S62209683A JP 61034297 A JP61034297 A JP 61034297A JP 3429786 A JP3429786 A JP 3429786A JP S62209683 A JPS62209683 A JP S62209683A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
board
switch
contact
detector
Prior art date
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Pending
Application number
JP61034297A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Nakamura
健 中村
Harumi Yagi
晴見 八木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP61034297A priority Critical patent/JPS62209683A/ja
Publication of JPS62209683A publication Critical patent/JPS62209683A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (概要〕 非電4性のブロックに、接触片の移動で回路の開閉を行
うスイッチを取り付けた測定子を、各種基板側面にコー
ド化された基板ナンバーの切り欠き部に接触させ、前記
スイッチのON−OFF信号を検出器に送る簡単な構造
で基板のシリアルナンバー読取りを可能にする。
〔産業上の利用分野〕
本発明はコード化された基板ナンバーの読取方式に関す
るものである。
特に各種電子機器に使用する各種基板に自動機による部
品の組み立て及び、その実装基板の電気試験において、
それぞれ基板単位の各種指令プログラムを選択する基板
ナンバーのコードを小型且つ、簡単な構造で高精度の読
取りを行う基板コード読取方式が要求されている。
〔従来の技術〕
従来の基板コード読取方式は、第3図に示すようにC型
断面形状を有した角材の長手力向即ち、紙面垂直方向に
所定のピッチで所定個数の孔を穿孔したブロック31゛
 の孔に、発光ダイオード33“とフォトトランジスタ
34′ をそれぞれ対峙して配置し、基板端面側に前記
発光ダイオード33゛ の光を遮蔽する所定寸法の遮蔽
板35゛ をばね36°を介して角形溝の所定位置に取
付けて、2木の位置決めピン(図示せず)配した測定子
3゛を2個装作して並設し、それぞれ前記発光ダイオー
ド33゛及びフォトトランジスタ34゛ をコード化さ
れたナンバーを読取る検出器(図示せず)と接続する。
そして前記測定子3°対し指定端面にコード化した基板
ナンバーの切り欠き部11を有する各種基板1を基板搭
載枠2の定位置に取付け、前記測定子3゛を実線矢印方
向に移動して前記位置決めピンにてフォトトランジスタ
34° と前記切り欠き部11との位置を合致させ、一
方の測定子3゛の前記発光ダイオード33°を点灯する
ことにより、それぞれ基板lの切り欠き部11の有無を
フォトトランジスタ34゛が検出し、又、前記基板lの
裏面即ち、点線矢印反対方向側の作業の時は基板1と共
に基板搭載枠2を裏返し、他方の測定子3゛のフォトト
ランジスタ34゛ にて切り欠き部11の有無を検出し
て電気信号に変換し、前記検出器に送る基板1のコード
読取方式を使用していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上説明の従来のコード化した各種基板のナンバー読取
方式で問題となるのは、光学的な読み取りのため、 (11外乱光及び、基板の表面状態の変化によりフォト
トランジスタの出力信号が悪化し、基板のコードの読み
取りにバラツキが生ずる。
(2)発光ダイオード及び、フォトトランジスタの特性
がロフト毎に大きくバラツクので部品交換時出力電圧の
調整に多くの労力を必要とする。
等読み取り精度を阻害する要因となっている。
本発明は以上のような状況から簡単且つ安価に行える、
機構的な基板コード読取方式の提供を目的としたもので
ある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点は、第1図に示すように非電導性のブロック
31の長手方向にコード化された切り欠き部11と同一
ピンチで孔を所定個数穿孔し、その孔に弾力性を有する
接触片41の移動により回路の開閉を行うスイッチ4を
所定個取り付け、両端のそれぞれ所定位置に2本の位置
決めピン32を設けた2個の測定子3配置して、前記ス
イッチ4と基板ナンバーのコードを読取る検出器5とを
接続した読取装置を設置する。 ) そして側面に定められたピッチと数でコード化された切
り欠き部11を有する各種基板1を、表裏反転可能なプ
リント基板搭載枠2に載置固定し、2個の前記測定子3
を同時実線矢印方向或いは、点線矢印反対方向から所定
位置に移動して前記接触片4工をプリント基板1の切り
欠き部11に接触させ、その切り欠き部11の有無によ
るスイッチ4のON−OFF信号を検出器5に送ること
により、コード化された基板のナンバーを読取る方法に
より解決される。
〔作用〕
即ち本発明においては、各種基板1に定められたピッチ
と切り欠き数でコード化された切り欠き部11の有無を
光学的に読み取る方法に代わって、測定子3に設けた所
定数の接触片4Iが各種基板の切り欠き部11に接触さ
せ、どちらか一方の前記測定子3によりその切り欠き部
11の有無を前記接触片41の移動でスイッチ4の回路
を開閉し、それぞれの前記スイッチ4より検出器5に対
して、そのON−OFF信号を送ることにより各種基板
ナンバーのコード読取ができ、基板表面状態の変化及び
、外部環境の変動に関係な(読取が可能となる。
〔実施例〕
以下第1図〜第2図について本発明の一実施例を説明す
る。
第1図は本実施例による基板コード読取方式の斜視図で
ある。
第1図に示すように、矩形断面で所定長さの非電導性角
材の長手方向側面に、所定のピンチで所定個の孔を実線
矢印方向に穿孔したブロック31例えばくナイロン66
を材機械加工したその孔の実線矢印方向側に、第2図に
示すように個別電極45例えば、中心に小さなガイド孔
を設けた鋼板製の円板を実線矢印方向側に所定数取り付
ける。
そして前記ブロック31の孔内部を滑動する電導性の移
動子42例えば、燐青銅丸棒を旋削したその中心孔に、
非電導性の接触片41例えば、ナイロン66製のピンを
圧入したものを前記接触片41が個別電極45のガイド
孔を滑動するよう挿入し、電導性を有するコイルばね4
3例えば、細い燐青銅線をコイル状に巻いたばねで前記
移動子42を実線矢印方向に押付け、共通電極44を前
記ブロック31の実線矢印反対側に取付けて所定個のス
イッチ配し、第1図に示すように両端の所定位置に点線
矢印方向でそれぞれ高さを異にして実線矢印方向の位置
決めピン32を配置した2個の測定子3を製作し、その
測定子3の前記共通電極44及び、各個別電極45と、
コードナンバーを読取る検出器5とを接続した読取装置
を設置する。
そして、この読取装置に対し指定端面に所定のピンチで
基板ナンバーを表すコード化した切り欠き部11を有す
る基板1を、基板搭載枠2の4本の基準ピン21に基準
孔を嵌入して定位置に取付け、前記測定子3を実線矢印
方向の移動すると一方の測定子3の前記位置決めピン3
2が基板搭載枠2の位置決め孔(図示せず)に嵌入突き
当り、基板1の切り欠き部11とスイッチ5の接触片4
1との位置を合致させてその隙間を縮める。
その時、前記切り欠き部11を有する部分と対峙したス
イッチ4の接触片41は基板1との接触が無く、前記移
動子42は個別電極45の内面と接触した状態でままと
なって、このスイッチ4の前記個別電極45と共通電極
44の回路は導電性を有する前記コイルばね43を通じ
てONなり、切り欠き部11の無い箇所は弾性を有した
接触片41が基板1の表面と接触し、前記移動子42は
実線矢印と逆方向に移動して個別電極45の内面と離れ
そのスイッチ40回路はOFFなる。
このON−OFF信号を前記検出器5に送りることによ
りコード化された基板のナンバーの読み取りができる。
尚、測定子3を点線矢印反対から接触させても上記と同
じように基板のナンバーの読み取りが可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば極めて簡単な構成で
、基板表面状態の変化及び、外乱光等外部環境の変動に
検出精度が左右されず又、測定子の修理が箔iiiにな
る等信頼性及び、経済的に著しい効果が期待でき工業的
には極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による基板コード読取方式を
示す斜視図、 第2図は本実施例を説明するスイッチ部の断面図、 第3図は従来の基板コード読取方式を説明する断面図で
ある。 図において、 lは基板1. 11は切り欠き部、 2は基板搭載枠、 21は、25準ピン、 3.3゛は測定子、 31.31’はブロック、 32は位置決めピン、 33′は発光ダイオード、 34′はフォトトランジスタ、 35゛は遮蔽板、 36゛はばね、 4はスイッチ、 41は接触片、 42は移動子、 43はコイルばね、 44は共通電極、 45は個別電極、 5は検出器、 、/$11Eツi(54列の疏Eソ、qfi≧]堪 2
 閃

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定ピッチで穿孔したブロック(31)の孔に、弾力性
    を有する接触片(41)の移動により回路の開閉を行う
    スイッチ(4)を所定数取り付け、2本の位置決めピン
    (32)を配した測定子(3)と、前記スイッチ(4)
    のON−OFF信号を基板コードナンバーに変換する検
    出器(5)とを備えてなることを特徴とする電子機器各
    種の基板コード読取方式。
JP61034297A 1986-02-18 1986-02-18 基板コ−ド読取方式 Pending JPS62209683A (ja)

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JP61034297A JPS62209683A (ja) 1986-02-18 1986-02-18 基板コ−ド読取方式

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JP61034297A JPS62209683A (ja) 1986-02-18 1986-02-18 基板コ−ド読取方式

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JPS62209683A true JPS62209683A (ja) 1987-09-14

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ID=12410221

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JP61034297A Pending JPS62209683A (ja) 1986-02-18 1986-02-18 基板コ−ド読取方式

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JP (1) JPS62209683A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6952950B2 (en) * 2003-03-07 2005-10-11 Waters Investment Limited System and method for automatic identification of a detachable component of an instrument
WO2009044720A1 (ja) * 2007-10-02 2009-04-09 B-Core Inc. 光学式認識コード読み取り方法及び装置並びにプログラム並びに光学式認識コードがマーキングされた被印物

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6952950B2 (en) * 2003-03-07 2005-10-11 Waters Investment Limited System and method for automatic identification of a detachable component of an instrument
WO2009044720A1 (ja) * 2007-10-02 2009-04-09 B-Core Inc. 光学式認識コード読み取り方法及び装置並びにプログラム並びに光学式認識コードがマーキングされた被印物

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