JPS62204125A - エンコ−ダ− - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 く技術分野〉 本発明はエンコーダーに関し、特に移動又は回転物体に
取付けた回折格子に可干渉性光束を入射させ該回折格子
からの回折光を互いに干渉させて干渉縞を形成し、干渉
縞の明暗の縞を計数することによって回折格子の移動状
態、即ち移動物体の移動又は回転状態を測定するエンコ
ーダーに関するものである。

〈従来技術〉 近年ＮＣ工作機械や半導体焼付装置等の精密機械におい
てはＩＩＬｍ以下（サブミクロン）の単位で測定するこ
とのできる精密な測定器が要求されている。

従来よりサブミクロンの単位で測定することのできる測
定器としては、レーザー等の可干渉性光束を用い移動物
体からの回折光より干渉縞を形成させ、該干渉縞を利用
したリニアエンコーダーが良く知られている。

一方、従来よりフロッピーデスクの駆動等のコンピュー
ター機器、プリンター等の事務機器、あるいはＮＣ工作
機械さらにはＶＴＲのキャプステンモーターや回転ドラ
ム等の回転Ｒ構の回転速度や回転速度の変動量を検出す
る為の手段として光電的なロータリーエンコーダーが利
用されてきている。

光電的なロータリーエンコーダーは例えば第５図に示す
ように回転軸３０に連絡した円板３５の周囲に透光部と
遮光部を等間隔に設けた、所謂メインスケール３１とこ
れに対応してメインスケールと等しい間隔で透光部と遮
光部とを設けた所謂固定のインデックススケール３２と
の双方のスケールを投光手段３３と受光手段３４で挟ん
で対向配置した所謂インデックススケール方式の機構を
採っている。この方法はメインスケールの回転に伴って
双方のスケールの透光部と遮光部の間隔に同期した信号
が得られ、この信号を周波数解析して回転軸の回転速度
の変動を検出している。この為、双方のスケールの透光
部と遮光部とのスケール間隔を細かくすればする程、検
出精度を高めることができる６しかしながらスケール間
隔を細かくすると回折光の影響で受光手段からの出力信
号のＳ／Ｎ比が低下し、検出精度が低下してしまう欠点
があった。この為メインスケールの透光部と遮光部の格
子の総本数を固定させ、透光部と遮光部の間隔を回折光
の影響を受ない程度まで拡大しようとするとメインスケ
ールの円板の直径が増大し更に厚さも増大し装仮全体が
大型化し、この結果被検回転物体への負荷が大きくなっ
てくる等の欠点があった。

この種の従来のロータリーエンコーダーの欠点を解消す
る方式の１つとして、前述したリニアエンコーダーの干
渉縞検出方式をロータリーエンコーダーに適用する事が
考えられる。

しかしながら、回折格子に可干渉光束を入射せしめ、回
折格子から出射する回折光を重ね合わせることにより干
渉縞を形成するこの方法では、干渉縞を検出する受光素
子等から成る受光部、及び受光部に接続された電気回路
等が、エンコーダーを取付けるべき装置等から悪影響を
受はノイズを発生したり、又、受光部と外部制御部間を
電気的に結ぶ′ＦＬ線に対しても同様の問題が生じてい
た。

〈発明の概要〉 本発明の目的は、上記従来の欠点を除去し、＃環境性に
優れ、電気的ノイズの影響を受けずに高精度の測定を行
ない得るエンコーダーを提供することにある。

上記目的を達成する為に、本発明に係るエンコーダーは
、光源手段と、前記光源手段から出射する可干渉光束を
移動又は回転可能な物体に形成した回折格子に指向する
第１光学手段と、前記回折格子から出射する複数の回折
光を重ね合わせる第２光学手段と、前記第２光学手段で
得られる光束を遠隔した位置まで導び〈光束伝達手段と
、前記光束伝達手段で導びかれた光束を受ける受光手段
とを有し、前記受光手段からの信号より前記物体の移動
又は回転状態を検知することを特徴とする。

尚、本発明の更なる特徴は以下に示す実施例より明らか
になるであろう。

〈実施例〉 第１図は本発明に係るエンコーダーの一実施例を示す概
略構成図である。本実施例に於ては所３１１リニアエン
コーダーを例として挙げており、図中、１はレーザー等
の光源、２はコリメーターレンズ、３はエンコーダ一部
で受光素子から離れた位置に存する。４は移動物体に直
接又は間接的に設けられた回折格子５１．５２は反射鏡
、６１．６２は１７４波長板、８はビームスプリッタ−
１８１，８２は偏光板、９１．９２は光ファイバー、１
０１．１０２は受光素子を示している。

第１図に於て、エンコーダ一部３内の光源ｌから出射さ
れた可干渉光束はコリメータレンズ２によってコリメー
トされ平行光束となって回折格子４の所定の位置に入射
する。この平行光束は回折格子４により回折され回折格
子からは複数の回折光、例えば０次、±１次、±２次等
の回折光が出射する。このうち特定次数の２つの回折光
は夫々反射鏡５１．５２により反射され１／４波長板６
１．６２を介して、ビームスプリッタ−８の方向へ指向
され、ビームスプリッタ−８によって互いに重ね合わさ
れて；且つ′又、２つの重なり′合わされた光束に分割
されて夫々光ファイバー９１．９２に導入される。

光７アイパー９１．９２に導入された光束は光ファイバ
ー９１．９２によりエンコーダ一部３から遠隔した位置
に配された受光素子１０１゜１０２まで伝達され、この
受光素子１０１及び１０２で受光され干渉縞が検出され
る。

ここで、前述の特定次数の回折光の次数を±ｍ次とすれ
ば、回折格子４が１ピッチ分Ｐだけ図中の矢印方向に移
動するとき、±ｍ次の回折光の位相はそれぞれ±２ｍπ
だけ変化するため１回折格子５の移動量Ｐ当たり（２ｍ
π−（−２ｍπ））／２π＝２ｍ個の正弦波形が受光素
子１０１，１０２から得られる。

本実施例では、１／４波長板６１．６２の光軸を使用す
る可干渉光束の偏光方向に対して夫々±４５°になる様
に設定しており、回折格子５から出射した特定次数の回
折光、即ちここでは±ｍ次の回折光を夫々右回りと左回
りの円偏光に変換している。従って、互いに逆回りの円
偏光した±ｍ次の回折光はビームスプリッタ−８により
重ね合わせることで所定の方向に偏光方位を有する光束
に再び戻り、ここで、上述の如く偏光板９１．９２の偏
光軸が重ね合わされた光束の偏光方位に対し±４５°と
なる様に配されている為に、受光素子１０１．１０２か
らは９０°の位相差を有する出力信号を得ることが出来
、この位相差を持つ２つの出力信号をもとに回折格子４
の移動方向をも判別している。

以上の如く、受光素子１０１．１０２等の受光部をエン
コーダ一部３から遠隔した位置に配することにより、一
般に回折格子４が取付けられた移動物体の近傍に設置し
て測定を行なうエンコーダ一部３内に受光手段を配する
必要がなくなり、エンコーダ一部３のコンパクト化が図
れると共に、受光部と増幅器や比較器等から成る電気回
路部のエンコーダ一部３からの遠隔化により耐環境性に
優れた装置となる。また、このようにリモートセンシン
グを行なえるため、　・電気回路部をエンコーダーを配
すべきロボットや工作機械等の制御部内に含めることが
出来るため、電線が不要となリエンコーダ一部３と制御
部間の電気的ノイズを受けないという利点が生じる。従
って、光ファイバー９１．９２等の光束伝達手段の種々
の特徴を生かした光信号の長距離伝送が可能となり、又
、高精度の測定も出来る。

光ファイバーに代表される光伝達手段には、上述の如き
光ファイバーを含め機能や構成が異なる種々の部材があ
る為、如何なる光伝達手段を介してエンコーダ一部３か
ら受光素子１０１゜１０２まで光束を導くかは、受光素
子１０１゜１０２の種類、エンコーダ一部の構成や装置
の仕様、被測定物の種類、使用環境等を考慮して適宜決
定すべきである。又、受光素子１０１゜１０２をエンコ
ーダ一部からどの位置てた位置に配置°するかという問
題も上述の種々の要因、使用条件を考慮して決める。

又、エンコーダ一部３と光ファイバー９１゜９２、光フ
ァイバー９１．９２と受光素子１０１．１０２とを、夫
々所定の接続部材を介して取り付は及び取りはずしが自
由自在に出来る様な構成にすれば、受光素子１０１．１
０２や光ファイバー９１．９２の交換等が可能となり、
光源１やエンコーダ一部３に対して、使用者が適宜受光
素子１０１．１０２や光ファイバー９１．９２を選択し
て自由な構成を採ることが出来る。即ち、非常に汎用性
に優れたエンコーダーを提供出来る。

第２図は本発明の他の実施例を示し、第１図の構成を直
接ロータリーエンコーダーに適用した実施例である０図
中、第１図と同様の部材には同符番を符し、６は円板、
７は放射格子、１１は円板６の回転軸を示す。又、０は
放射格子の中心である。

本実施例では、回折格子５の代りに円板６上に設けた放
射格子７に対して可干渉光束を入射させており１円板６
の回転角や回転速度等の回転状態を受光素子１０１，１
０２から得られる出力信号から検知出来る。ここでも第
１図の実雄側同様、重ね合わせた光束をエンコーダ一部
３から遠隔した位置にある受光素子１０１゜１０２から
光ファイバー９１．９２を介して得ており、装置のコン
パクト化、測定時の安定性の向上を図ることが可能とな
る。

第３図は本発明を適用したロータリーエンコーダーの具
体的な構成例を示す図である。図中、第１図及び第２図
に於る部材と同一機能を持つものには同符番を符す。又
、１４はハーフミラ−１１５は偏光プリズムの貼り合わ
せから成る光学部品で、貼り合わせ面は偏光ビームスプ
リッタ−の機能を果たす、１６は放射格子７を有する回
転物体の回転軸、１７は零点検知に用いられる反射部と
透過部から成る零点検知用パターン領域、１７１．１７
２は反射手段、９３は零点検知用の光ファイバー、１０
３は零点検知用の受光素子を示す。

第３図に於て、レーザ等の光源１から放射された可干渉
光束はコリメータレンズ２でコリメートされ、平行光束
となる。この平行光束はハーフミラ−１４を介して光学
部品１５に入射する。光学部品１５に入射した光束はプ
リズムの斜面で反射され、光学部品１５の貼り合わせ面
の偏光ビームスプリッタ−へ導かれて反射光束と透過光
束とに分割される。

偏光ビームスプリッタ−で２分割された光束のうち反射
光束は、光学部品１５で内面反射を繰り返し入射時と平
行な方向へ光学部品１５がら出射する。そして、この反
射光束は反射鏡５２で反射され放射格子７上の位置Ｍ１
へ所定の角度で入射する。ここで、放射格子７に入射し
回折した透過回折光のうち特定次数の回折光を１／４波
長板６２を介して反射手段８により反射させ、同一光路
を逆行させ再度１／４波長板６２を介して放射格子７上
の略同−位置Ｍ１に再入射させている。従って、放射格
子７により再回折された特定次数の回折光を１／４波長
板６２を往復させることにより入射したときと９０度偏
光方位の異なる直線偏光とし反射鏡７２に指向する。反
射鏡５２で反射された回折光は元の光路を逆行して再度
光学部品１５へ入射し、偏光ビームスプリッタ−へ達す
る。

本実施例では光学部品１５の偏光ビームスプリッタ−か
ら反射手段１７２に至る特定次数の回折光の往復光路を
同一としている。

又１反射手段１７２，１７１としては、一般の平面鏡、
コーナキューブ等の精密光学素子を用いたり１反射鏡を
集光レンズの略焦点面上に配置し、集光レンズに平行に
入射してきた特定次数の回折光のみをマスクの開口部を
通過させ反射鏡で反射させた後、元の光路を逆戻りする
構成にし、そして、その他の次数の回折光をマスクによ
り遮光する構成でも良い０反射手段としては、この他、
例えばキャッツアイ光学系等どのような構成のものでも
良い。このような光学系を用いれば例えばレーザーの発
振波長が変化し１回折角が多少変化しても略同じ光路で
戻すことができる特徴がある。

又、キャッツアイ光学系に、屈折率分布型レンズ、例え
ば日本板硝子社製のセルフォックマイクロレンズ（商品
名）等を適用し、その両端平面な点に着目して片面に反
射膜を設けることにより、構成が簡便で且っ又生産性に
富む光学素子として本発明に有効に適用することができ
る。

第３図に戻り偏光ビームスプリッタ−で分割された２つ
の光束のうち透過した光束は光学部品１５で内面反射を
繰り返した後、光学部品１５から出射して反射鏡５１を
介して、円板６上の放射格子７上の位置Ｍ１と回転軸１
６に対して略点対称の位置Ｍ２に入射させている。そし
て放射格子７に入射し回折した透過回折光のうち特定次
数の回折光を前述の反射手段１７２と同様の反射手段１
７１により同一光路を逆行させて、１／４波長板６１を
介して放射格子７の略同−位Ｅｋ　Ｍ　２に再回折させ
ている。従って、放射格子７より再回折された特定次数
の回折光が入射したときとは９０度偏光方位の異なる直
線偏光になる様反射鏡５１に再入射させて−いる。

反射鏡５１で反射した回折光は元の光路を逆行して再度
光学部品１５へ入射し、偏光ビームスプリッタ−へ達す
る。

このとき、透過光束も前述の反射光束と同様に偏光ビー
ムスプリッタ−から反射手段１７１に至る特定次数の回
折光の往復光路を同一としている。そして反射手段１７
２を介し入射してきた回折光と重なり合わせた後光学部
品１５から出射させ、１／４波長板６３を介し円偏光と
し、ビームスプリッタ−８へ入射させる。本実施例のビ
ームスプリッタ−８は光分割面と光反射面を備えたプリ
ズムから成る光学素子であり、ビームスプリッタ−８へ
入射した光束の内光分割面を透過した光束は、互いの偏
光方位を４５°傾けて配置した偏光板の一方の偏光板８
１を介′して光ファイバー９１に入射する。一方、ビー
ムスブラタ−８の光分割面で反射された光束は９０’進
路を変えて光分割面で反射され、再び９０’進路を変え
られることにより元の光路と平行な方向へ指向される。

そして、他方の偏光板８２を介して光ファイバー９２に
入射する。光ファイバー９１及び９２を導波し、エンコ
ーダ一部３から遠隔した位置まで伝達される夫々の光束
は、光ファイバー９１．９２と連結した受光素子１０１
，１０２で受光され、受光素子１０１，１０２により２
光束の干渉縞を夫々検出している。

一方、第３図に於てハーフミラ−１４により分割され、
直接円板６へ指向される光束は、第３図に示すロータリ
ーエンコーダーの基準位置、即ち零点検出用の光束とし
て用いられる。

円板６の所定の位置に設けた零点検出用パターン１７が
円板６の回転に伴なって零点検出用光束の入射位置に達
すると、零点検出用パターン１７の形状に従って、パタ
ーンの反射部で反射されハーフミラ−１４を介して光フ
ァイバー９３へ反射光束が入射する。従って、エンコー
ダ一部３から遠隔した位置に配された受光素子１０３は
、光ファイバー９３を介して時間的に変化する光量分布
を検出することになり、例えば、この光量分布のピーク
位置を検知して、この位置を基準として円板６の回転量
等を計数する。

本実施例において被測定回転物体が放射格子７の１ピツ
チ分だけ回転するとｍ次の回折光の位相は２ｍπだけ変
化する。同様に放射格子７により再回折されたｎ次の回
折光の位相は２ｎπだけ変化する。これにより全体とし
て受光手段からは（２ｍ−２ｎ）個の正弦波形が得られ
る。本実施例ではこのときの正弦波形を検出することに
より回転量を１１１１定している。

例えば回折格子のピッチが３．２ｇｍ、回折光として１
次及び−１次を利用したとすれば回転物体がピッチの３
．２ｐｍ分だけ回転したとき受光素子からは４個の正弦
波形が得られる。即ち正弦波形１個当りの分解能として
回折格子の１ピツチの１／４の３．２　／　４　＝　０
．８ｐｍが得られる。

本実施例でも光分割器８により光束を２分割し各々の光
束間に９０度の位相差をつけることにより回転物体の回
転方向も判別出来るようにしている。

本実施例では偏光ビームスプリッタ−から反射手段１７
１，１７２に至る特定次数の回折光の往復の光路を同一
とする己とにより、光学部品１５内の偏光ビームスプリ
ッタ−における２つの回折光束の重なり具合を容易にし
、装置全体の組立精度を向上させている。

本実施例では特定形状の偏光プリズムから成る光学部品
１５を用いることにより光学部品数を少なくし、かつ各
光学部品の組立精度の向上を図ると共に装置全体の小型
化を図っている。

また、１７４波長板６１．６２は偏光ビームスプリッタ
−または光学部品１５と反射手段１７１．１７２との間
であればどこに配置しても良い。

以上、本発明によれば、第３図から解る様に非常にコン
パクトなロータリーエンコーダーを提供出来、その上、
リモートセンシングを行なって干渉縞を検出している為
、電気的ノイズの影響を受けず耐環境性に優れた装置を
構成することが可能である。

第４図は第３図に示す実施例の変形例を示す図で、第３
図の部材と同一部材には同符番を符す、ここで、１２は
伝送ケーブル、１８はコネクター、９１’　、　９２’
　、　９３’は伝送ケーブル１２の光ファイバーを示す
。

本実施例の装置の動作原理は第３図の装置と同じである
ので説明を省略するが、ここでは、各光束を受ける光フ
ァイバー９１　、９２　、９３と各光束を受光素子ｉｏ
ｔ、１０２，１０３に、　　　導く伝送ケーブル１２の
光ファイバー９１′。

９２’　、　９３’とがコネクター１８により結合され
ている。従って、伝送ケーブル１２とエンコーダ一部３
との間の着脱が可能となり、エンコーダ一部３のセツテ
ィングが容易となる。

尚、第１図〜第４図に示す各実施例に於る光ファイバー
９１．９２．として偏波面保持ファイバーを用いれば、
光ファイバー９１．９２の前面に配された偏光板８１．
８２をエンコーダ一部３に配置する必要がなくなり、更
にエンコーダ一部３の構成が簡略化出来る。

又、各実施例においては透過回折光の代りに反射回折光
を利用しても良い。

尚、本発明において使用する回折格子は、透光部と遮光
部から成る所謂振幅型の回折格子、互いに異なる屈折率
を有する部分から成る位相型の回折格子である。特に位
相型の回折格子は、例えばホログラフィ−１又は、透明
円盤の円周上に凹凸のレリーフパターンを形成すること
により作成出来、エンボス、スパツク等のプロセスによ
り量産が可能である。

尚、以上説明した各実施例は本発明の一実施例を示した
ものであって１本発明の思想にもとづく種々の変形例や
応用例が存することは言うまでもない。

〈発明の効果〉 以上１本発明に係るエンコーダーは、耐環境性に優れ、
小型化が可能〒且つ電気的ノイズの゛影響を受けずに極
めて高精度の測定が可能な装置である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例であるリニアエンコーダーを
示す図。 第２図は第１図に示す実施例の変形例を示す図。 第３図は本発明の他の実施例であるロータリーエンコー
ダーを示す図。 第４図は第３図に示す実施例の変形例を示す２−−−−
−−−コリメータレンズ ３−−−一−−−エンコーダ一部 ４−−−−−−一回折格子 ５１　、５２−−−一−−−反射鏡 ６−−−−−−−円板 ６．１　、６２　、６３−−−−−−−１７４波長板７
　”−−−−−一放射格子 ８−−−−−−−ビームスプリッタ− ８１、８２−−−−−−一偏光板 ９　１　　、　９２　　、　９３　　、　９１’　、　
　９２’　、　　９３’−−一一−−−光フアイバー １０１　、１０２　、１０３−一−−−−−受光素子１
６−−−−−−−回転軸 １２−−−−−−一伝送ケーブル １４−−−−−一一ハーフミラ− １５−−−−−−一光学部品 １７−−−−−−−零点検出用パターン１７１　、１７
２−−−−−ｍ−反射手段Ｍ　１．　Ｍ　２−−−−一
−−放射格子上の光束入出射位置

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）光源手段と、前記光源手段から出射する可干渉光
   束を移動又は回転可能な物体に形成した回折格子に指向
   する第１光学手段と、前記回折格子から出射する複数の
   回折光を重ね合わせる第２光学手段と、前記第２光学手
   段で得られる光束を遠隔した位置まで導く光束伝達手段
   と、前記光束伝達手段で導かれた光束を受ける受光手段
   とを有し、前記受光手段からの信号より前記物体の移動
   又は回転状態を検知するエンコーダー。