JPS62198706A - 光フアイバ端面角度測定方法 - Google Patents

光フアイバ端面角度測定方法

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JPS62198706A
JPS62198706A JP4022686A JP4022686A JPS62198706A JP S62198706 A JPS62198706 A JP S62198706A JP 4022686 A JP4022686 A JP 4022686A JP 4022686 A JP4022686 A JP 4022686A JP S62198706 A JPS62198706 A JP S62198706A
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JP
Japan
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optical fiber
light
face
axis
angle
Prior art date
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Pending
Application number
JP4022686A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuyuki Kato
康之 加藤
Akihiko Ishikura
石倉 昭彦
Mitsuru Miyauchi
宮内 充
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は切断された光ファイバ端面の角度を測定する方
法に関する。
(従来の技術) 従来、光ファイバの端面角度は、倍率が100倍程度の
顕微鏡を用いて、光ファイバの端面を横方向から観察し
、肉眼により1度程度の誤差で判断していた。また、よ
り精密な測定においては光ファイバ端面に垂直なガラス
板、を押し当て、そこに生じる干渉縞の間隔と波長から
測定していた。この方法では、測定時間がかかり、光フ
ァイバの接続時のように、端面角度の良否判定を数秒程
度で行うには不適当であった。
(発明が解決しようとする問題点) 本発明は切断された光ファイバの端面に光を当て、その
反射光を測定することにより光ファイバの端面角度を測
定する方法において、光ファイバの端面角度を瞬時に電
気的に表示する測定方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) ■溝に固定された光ファイバの端面を照明する手段と、
該照明する手段と光ファイバ端面との間に光パワを二つ
に分離する手段を置き、該照明する手段から出た光が該
分離する手段を通過した後、この光を光ファイバの端面
で反射させ、この反射させた光を再び該分離する手段に
導き、該分離する手段により、該反射させた光の一部を
分離し、該分離した光″の距離が光ファイバ端面の角度
に相当するように同心円状に配置された複数個の光検出
器に導き、該光検出器からの電気信号を発光素子に導き
、光を受光した光検出器の中心からの位置を表示するこ
とによって、光ファイバの端面角度を測定する。
第2図は本発明の詳細な説明図であって、被測定光ファ
イバlの長手方向の軸をX軸とし、光ファイバの端面と
X軸に垂直なy軸とのなす最小角をθとするとき、第2
図に示すようにX軸上に置いた照明用光源2からの光3
をハーフミラ−10を通して光ファイバ1の端面に当て
ると、X軸に対して2θなる角度で端面から反射光4が
もどる。
反射光4はハーフミラ−10で一部が反射してX軸と平
行なX′軸に置かれた光検出器に達する。ハーフミラ−
がX軸と交わる点0′を通りX軸に垂直な軸y′を設け
、y′軸とX′軸の交点をO″とするとき、0とO“の
距離をo o’ + o’o’ =Lとして、反射光4
のX′輪軸上位置りはD=Ltan 2θで表わされる
。そこでX′輪軸上O#を中心に同心円状に光検出器(
フォトダイオード)を第3図に示すように、中心からF
DP、 po、、・・・。
PD、、とn個配置する。
このとき測定可能な最大角度θ、はθ、 =tan −
’(D、/L)/2となり、測定精度θ8はθ。=θm
 / nとなる。
さらに本発明では、同心円状の光検出器の一つ一つに増
幅回路が付き、同心円上のどこに光が入射されても、そ
の光検出器の増幅回路が“オン”状態となり、その光検
出器の位置に対応した角度範囲の表示装置が点灯し、光
ファイバの端面角度を測定する。
第1図は本発明の一実施例図であって、照明用光源2か
ら出た光は、レンズ9で細い平行な照明光3にされる。
照明光3は光パワを二つに分離偏向するハーフミラ−1
0を通り、被測定光ファイバlの端面に当てられる。端
面で反射した光4は照明光3とは逆に進行し、ハーフミ
ラ−10に達する。
ハーフミラ−10では反射光は二つに分離され、第1図
の実施例では、反射偏向された光を同心円状に配置され
た光検出器5に導く。ここで被測定用光ファイバの端面
ば次のように準備される。
通常のナイロンコート7等で被覆された光ファイバの被
覆を被覆除去器で除去し、光ファイバの表面をアルコー
ル等で清掃した後、光ファイバ切断器で切断する。その
時、光ファイバ端面ば被覆のむき際から±0.5■程度
の精度で切断される。
さらに光ファイバ1の長手方向の軸は光ファイバ固定用
V溝6によって照明光3の軸に一致するよう固定される
。この■溝6を使用することによって光ファイバの軸が
照明光3の方向から傾く角度は再現性より0.1度以内
になることが実験的に確認されている。実際の光学系の
設計例を以下に示す。
第2図と第3図に示した光学系において、光検=LをL
=100mmとする。また要求する端面角度の精度θ。
=0.25度、最大測定角度θ、 =1.5度とすれば
、第3図に示した同心円状の光検出器5のそれぞれのフ
ォトダイオードPD、、 PO2,・・・、PDnの半
径DI+Dt、・・・+011はJ =0.87mm、
 Dt = 1.75mm、  D+=2.62mm、
  ロ4=3.49111111.  Ds=4.37
mm、  ロ、=5.24mmとなる。
なお照明光源としてレーザダイオード等を用いれば、照
明光のスポット径を0.5 mmφ以下にすることは充
分可能である。このとき、光ファイバ端面が±0.5 
mm変動することによる誤差は0.5%となり、充分な
精度を確保することができる。またこれらの光学系を組
み立てるうえで重要なことは、光軸の調整である。
第1図に示したガラス板(反射板)8は光学系の校正に
おいて重要な役割を果す。
第4図は本発明における光学系の校正方法の説明図であ
る。被測定用光ファイバを■溝から取り除き、ガラス板
8を■溝6の光学系側の辺に沿わせて照明光の軸上に降
下させる。ガラス板8は顕微鏡等に用いられるカバーガ
ラス等のように充分平行な板を用いる。またV溝の光学
系側の辺は■溝とともに、一体化加工により、■溝の軸
と±0.1度以下の精度で垂直に加工されているので、
照明光3がガラス板8で反射し、ハーフミラ−10で分
離された光の一部が、照明用光源2と光検出器5の中央
のフォトダイオードPD、に達するようにV溝6、照明
用光源2、光検出器5の位置関係を調整する。
第5図は同心円状に配置されたフォトダイオードPD、
 、  pot、・・・、 PD、に接続される電気回
路を示す図であって、フォトダイオードPD、 、  
PDt。
・・・、PD、はそれぞれ抵抗RI、Rz・・・、R,
、によってバイアスされ、増幅回路AI 、At・・・
、A。
にそれぞれ接続されている。増幅器の出力にはそれぞれ
発光ダイオードLED+、 LEDz、・・・、 LE
Dllが接続され、フォトダイオードPD+ 、  P
Ih、 ・・・、 PD、lのいずれかに光ファイバ端
面からの反射光が当たると、それぞれ接続された発光ダ
イオードLEDが発光し、その端面の角度を表示する。
前述の設計例においては、LED +はO°〜0.25
°、LED!は0.25゜〜0.5°、・・・、LED
、は1.25°〜1.5°の角度を表示することになる
なお、被測定光ファイバを■溝に出し入れするたびに、
全部の発光ダイオードLEDが発光したり、また漏光に
よって誤動作する場合は、照明光を変調器で断続変調し
、増幅回路A、、A2・・・、A7に変調周波数成分だ
けを抽出するフィルタ回路や検波回路を付加して誤動作
を防ぐ。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明の光ファイバ端面角度測定
方法によれば、光ファイバの端面角度を1度以下の精度
で、しかも瞬時に角度表示ができるので、本発明の測定
方法は、端面角度の瞬時判定を必要とする光ファイバの
接続装置や光ファイバ自動切断装置等への応用が可能で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例図、 第2図は本発明の詳細な説明図、 第3図は本発明における光検出器の構成図、第4図は本
発明における光学系の校正方法の説明図、 第5図は同心円状に配置されたフォトダイオードPD+
 、  PDt9.・・・、 PD、に接続される電気
回路を示す図である。 1・・・被測定光ファイバ 2・・・照明用光源3・・
・照明光      4・・・反射光5・・・光検出器 6・・・光ファイバ固定用■溝 7・・・光ファイバの被覆 8・・・ガラス板(反射板
)9・・・レンズ      10・・・ハーフミラ−
PD、 、  PD、、・・・、 PDn・・・フォト
ダイオードDI+ DZ+ ・・・IDn・・・フォト
ダイオードの半径R+、Rz・・・、R,1・・・バイ
アス抵抗A1.A2・・・、A1・・・増幅器 LEDI、 LED2.・・・、 LIED、・・・発
光ダイオード特許出願人  日本電信電話株式会社 第2図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、切断された光ファイバの端面に光を当て、その反射
    光を測定することにより光ファイバの端面角度を測定す
    る方法において、V溝に固定された光ファイバの端面を
    照明する手段と、該照明する手段と光ファイバ端面との
    間に光パワを二つに分離する手段を置き、該照明する手
    段から出た光が該分離する手段を通過した後、この光を
    光ファイバの端面で反射させ、この反射させた光を再び
    該分離する手段に導き、該分離する手段により、該反射
    させた光の一部を分離し、前記光ファイバの長手方向の
    軸をx軸とし、光ファイバの端面とx軸に垂直なy軸と
    のなす最小角をθとし、光ファイバの端面がx軸と交わ
    る点を0とし、該分離する手段がx軸と交わる点を0′
    とし、点0と点0′の距離を@00′@とし、光ファイ
    バの端面角度が零度のとき、該分離した光を結像させる
    光検出器の受光面の位置を0″とし、点0′と点0″の
    距離を@0′0″@とし、@00′@+@0′0″@=
    Lとして、該分離した光を、中心からの距離DがD=L
    tan2θで表わされる値になるように同心円状に配置
    された複数個の光検出器に導き、該光検出器からの電気
    信号を発光素子に導き、光を受光した光検出器の中心か
    らの位置を表示することによって、光ファイバの端面角
    度を測定することを特徴とする光ファイバ端面角度測定
    方法。 2、照明手段から出る照明光の軸に対して、垂直な面を
    有する反射板を、V溝の照明光側の辺に沿わせて照明光
    の軸上に移動させた時の反射光が同心円状の光検出器の
    中心で受光できるよう校正することを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の光ファイバ端面角度測定方法。 3、照明手段の出力光を断続変調し、光検出器からの電
    気的出力の変調周波数成分のみを増幅・検波装置により
    抽出することを特徴とする特許請求の範囲第1項または
    第2項記載の光ファイバ端面角度測定方法。
JP4022686A 1986-02-27 1986-02-27 光フアイバ端面角度測定方法 Pending JPS62198706A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06137377A (ja) * 1992-10-29 1994-05-17 Kajima Corp アクチュエータの傾き調整機構
US7242366B2 (en) 2004-09-03 2007-07-10 Murata Manufacturing Co., Ltd Antenna apparatus

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60183511A (ja) * 1984-03-01 1985-09-19 Asahi Optical Co Ltd 角度センサ−

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60183511A (ja) * 1984-03-01 1985-09-19 Asahi Optical Co Ltd 角度センサ−

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06137377A (ja) * 1992-10-29 1994-05-17 Kajima Corp アクチュエータの傾き調整機構
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