JPS6219773A - 電気雑音の計測・再生装置 - Google Patents
電気雑音の計測・再生装置Info
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- JPS6219773A JPS6219773A JP15862985A JP15862985A JPS6219773A JP S6219773 A JPS6219773 A JP S6219773A JP 15862985 A JP15862985 A JP 15862985A JP 15862985 A JP15862985 A JP 15862985A JP S6219773 A JPS6219773 A JP S6219773A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、電気雑音の計測・発生装置に係り、特に、実
使用環境条件下、例えば車両に搭載された状態で各種の
ノイズ発生源から放出され、電子機器に印加される電気
雑音を計測し、その耐雑音性能を解析する際に用いるの
に好適な、電子機器に印加される電気雑音を計測し、再
生するための電気雑音の計測・発生装置に関する。
使用環境条件下、例えば車両に搭載された状態で各種の
ノイズ発生源から放出され、電子機器に印加される電気
雑音を計測し、その耐雑音性能を解析する際に用いるの
に好適な、電子機器に印加される電気雑音を計測し、再
生するための電気雑音の計測・発生装置に関する。
従来、電子機器に印加される電気雑音は、オシロスコー
プを用いて計測するのが一般的である。 又、電子機器の耐雑音性能を把握するために、ノイズシ
ミュレータを用いて、モデル化された波形の試験常圧を
印加することにより、電子機器の破損や誤作動の有無を
調査する方法が知られている。 （発明が解決しようとする問題点］ しかしながら、一般に各種の雑音源から発生する電気雑
音、例えば、インダクタンスや静電容量をスイッチング
する時に発生する電気雑音は、ノイズシミュレータから
発生されるモデル化された波形とは異なり、複雑且つ不
定形な波形を有している。一方、電子機器が電気雑音に
よって受ける影響は、その周波数、波高値、雑音の持続
時間等によって異なる。このため、電子機器の耐雑音性
能を評価する場合、ノイズシミュレータを用いてモデル
化された条件下での性能を調査するか、又は、種々のノ
イズ発生源を実際に用いて試験する従来の方法では、再
現性が悪く、電子機器の耐雑音性能を正確に解析するこ
とが困難であるという問題点を有していた。 このような問題点を解決するものとして、出願人は既に
特願昭６０−９６２６７で、電子機器に印加される電気
雑音を′計測し、再生するに際して、前記電気雑音を包
絡線検波し、その出力を高速でアナログ−デジタル変換
して記憶すると共に、前記記憶値に所定の演算をなした
結果を高速でデジタル−アナログ変換して、前記包絡線
に対応する波形をアナログ信号に再生し、前記電気雑音
の中心周波数を有するキャリア信号を前記アナログ信号
により振幅変調して電力増幅するようにした電気雑音の
計測・再生装置を提案している。 しかしながら、この特願昭６０−９６２６７で提案した
装置においては、電気雑音の基本周波数成分を他の計測
器を用いて測定する必要があり、計測や再生が必ずしも
容易ではなかった。
プを用いて計測するのが一般的である。 又、電子機器の耐雑音性能を把握するために、ノイズシ
ミュレータを用いて、モデル化された波形の試験常圧を
印加することにより、電子機器の破損や誤作動の有無を
調査する方法が知られている。 （発明が解決しようとする問題点］ しかしながら、一般に各種の雑音源から発生する電気雑
音、例えば、インダクタンスや静電容量をスイッチング
する時に発生する電気雑音は、ノイズシミュレータから
発生されるモデル化された波形とは異なり、複雑且つ不
定形な波形を有している。一方、電子機器が電気雑音に
よって受ける影響は、その周波数、波高値、雑音の持続
時間等によって異なる。このため、電子機器の耐雑音性
能を評価する場合、ノイズシミュレータを用いてモデル
化された条件下での性能を調査するか、又は、種々のノ
イズ発生源を実際に用いて試験する従来の方法では、再
現性が悪く、電子機器の耐雑音性能を正確に解析するこ
とが困難であるという問題点を有していた。 このような問題点を解決するものとして、出願人は既に
特願昭６０−９６２６７で、電子機器に印加される電気
雑音を′計測し、再生するに際して、前記電気雑音を包
絡線検波し、その出力を高速でアナログ−デジタル変換
して記憶すると共に、前記記憶値に所定の演算をなした
結果を高速でデジタル−アナログ変換して、前記包絡線
に対応する波形をアナログ信号に再生し、前記電気雑音
の中心周波数を有するキャリア信号を前記アナログ信号
により振幅変調して電力増幅するようにした電気雑音の
計測・再生装置を提案している。 しかしながら、この特願昭６０−９６２６７で提案した
装置においては、電気雑音の基本周波数成分を他の計測
器を用いて測定する必要があり、計測や再生が必ずしも
容易ではなかった。
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたも
ので、実使用環境条件下、例えば車両に搭載された状態
で各種のノイズ発生源から放出され、電子機器に印加さ
れる電気雑音を、その基本周波数成分を別途計測するこ
とな（、正確且つ容易に計測し、再生することができ、
従って、電子機器の耐雑音性能を正確且つ容易に解析す
ることができる電子雑音の計測・発生装置を提供づるこ
とを目的とする。
ので、実使用環境条件下、例えば車両に搭載された状態
で各種のノイズ発生源から放出され、電子機器に印加さ
れる電気雑音を、その基本周波数成分を別途計測するこ
とな（、正確且つ容易に計測し、再生することができ、
従って、電子機器の耐雑音性能を正確且つ容易に解析す
ることができる電子雑音の計測・発生装置を提供づるこ
とを目的とする。
本発明は、電子機器に印加される電気雑音を計測し、再
生するに際して、前記電気雑音を包絡線検波し、その出
力を高速でアナログ−デジタル変換して記憶するだけで
なく、前記電気雑音の繰返し周波数を計数して記憶する
ようにしている。従って、実使用環境条件下、例えば車
両に搭載された状態で各種のノイズ発生源から放出され
、電子機器に印加される電気雑音を、正確に計測・記憶
することができる。更に、電気雑音の基本周波数成分が
他の計測器を併用することなく計測でき、計測が容易で
ある。 又、記憶した前記包結線波形データに所定の演算をなし
た結果を高速でアナログ−デジタル変換して、前記包絡
線に対応する波形をアナログ信号に再生すると共に、同
じく記憶した前記周波数データを繰返し周波数とするキ
ャリア信号を前記アナログ信号により振幅変調して出力
するようにしている。従って、定量化された模擬的雑音
を正確且つ容易に発生することができ、該再生雑音を電
子機器に印加することによって、該電子機器の耐雑音性
能の限界値を求めて、前記計測値との差から、ノイズマ
ージンの解析が可能となる。 又、前記包絡線波形再生手段に、再生する包絡線波形を
任意に変換する機能を含めた場合には、任意の雑音波形
を発生させることができる。
生するに際して、前記電気雑音を包絡線検波し、その出
力を高速でアナログ−デジタル変換して記憶するだけで
なく、前記電気雑音の繰返し周波数を計数して記憶する
ようにしている。従って、実使用環境条件下、例えば車
両に搭載された状態で各種のノイズ発生源から放出され
、電子機器に印加される電気雑音を、正確に計測・記憶
することができる。更に、電気雑音の基本周波数成分が
他の計測器を併用することなく計測でき、計測が容易で
ある。 又、記憶した前記包結線波形データに所定の演算をなし
た結果を高速でアナログ−デジタル変換して、前記包絡
線に対応する波形をアナログ信号に再生すると共に、同
じく記憶した前記周波数データを繰返し周波数とするキ
ャリア信号を前記アナログ信号により振幅変調して出力
するようにしている。従って、定量化された模擬的雑音
を正確且つ容易に発生することができ、該再生雑音を電
子機器に印加することによって、該電子機器の耐雑音性
能の限界値を求めて、前記計測値との差から、ノイズマ
ージンの解析が可能となる。 又、前記包絡線波形再生手段に、再生する包絡線波形を
任意に変換する機能を含めた場合には、任意の雑音波形
を発生させることができる。
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する
。 本実施例は、第１図に示す如く、ノイズ発生源（図示省
略）から入力される電気雑音の入力レベルを調整するた
めの減衰器１０、増幅器１２及び切換スイッチ１４と、
前記減衰器１０又は増幅器１２でレベル調整された電気
雑音を包絡線検波する包絡線検波回路１６と、該包絡線
検波回路１６の出力を高速でアナログ−デジタル変換（
以下Ａ／Ｄ変換と称する）するＡ／Ｄ変換器１８と、該
Ａ／Ｄ変換器１８の出力を包絡線波形データとして記憶
するランダムアクセスメモリ（以下ＲＡＭと称する）２
０と、該ＲＡＭ２０に記憶した前記包絡線波形データに
所定の演算をなした結果を高速でデジタル−アナログ変
換く以下Ｄ／Ａ変換と称する）して、前記包絡線に対応
する波形をアナログ電圧信号に再生ずるＤ／Ａ変換器２
２と、前記減衰器１０又は増幅器１２でレベル調整され
た電気雑音の繰返し周波数を所定のゲート時間Ｔの量計
数する周波数カウンタ２４と、該周波数カウンタ２４の
出力を周波数データとして記憶するＲＡＭ２６と、該Ｒ
ＡＭ２６に記憶した前記周波数データを繰返し周波数と
するキャリア信号を発生するシンセサイザ２８と、前記
包絡線検波回路１６の出力レベルが設定値以上となった
時に、前記Ａ／Ｄ変換器１８及び周波数カウンタ２４を
起動し、前記ＲＡＭ２０及び２６に設定時間が経過する
までの包絡線波形データ及び周波数データをそれぞれ記
憶させると共に、外部から入力されるノイズ波形再生命
令により前記Ｄ／Ａ変換器２２及 （びシンセサ
イザ２８を作動させるコントローラ３０と、該コントロ
ーラ３０に管理されて、前記包絡線波形情報及び周波数
情報を表示する表示器３２と、前記Ｄ／Ａ変換器２２の
出力を増幅する、増幅率可変の増幅器３４と、前記シン
セサイザ２８から入力されるキャリア信号を前記アナロ
グ電圧信号により振幅変ＩＩ（以下ＡＭ変調と称する）
して出力するＡＭ変調器３６とから構成されている。 前記包絡線検波回路１６は、第２図に詳細に示ず如く、
ノイズ入力を増幅する増幅器１６Ａと、該増幅器１６Ａ
の出力を半波整流して包絡線波形に変換する検波回路１
６Ｂと、該検波回路１６Ｂ出力の包絡線波形信号を増幅
して前記Ａ／Ｄ変換器１８に入力する増幅器１６Ｇとか
ら構成されている。従って、この包絡線検波回路１６の
入出力波形は、例えば第３図（Ａ）乃至（Ｄ）に示す如
くとなる。 前記Ａ／Ｄ変換器１８、ＲＡＭ２０、Ｄ／Ａ変換器２２
及びコントローラ３０は、具体的には、第４図に詳細に
示す如く構成されており、前記Ａ／Ｄ変換器１８の出力
側とＲＡＭ２０の間及び該ＲＡＭ２０とＤ／Ａ変換器２
２の入力側の間には、共通のマルチプレクサ（以下ＭＰ
Ｘと称する）３８が設けられている。 この第４図の装置において、Ａ／Ｄ変換を行う際には、
第５図に示す如く、コントローラ３ｏのＭＰｘ出力はＬ
ｏとなり、Ｍ Ｐ Ｘ ３８ ハ、Ａ／Ｄ変換器１８と
、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５からなるＲＡＭ２０とを接続して
いる。この状態で、包絡線波形が予め決められたレベル
以上となると、コントローラ３０がＨＯＬＤ出力にＨｉ
を出力し、Ａ／Ｄ変換器１８は包絡線をＡ／Ｄ変換する
。これと同時にコントローラ３０は、出力ＡＯ〜Ａ９に
ア ニドレスを出力し、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５をア
クセスする。次のタイミングにおいて、コントローラ３
０は、ＨＯＬＤ出力にＬｏを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８
はＡ／Ｄ変換を停止して、出力Ｄｏ−Ｄ５をホールドす
る。これと同時にコントローラ３゜は読出し／ＩＩ込み
出力（以下Ｒ／Ｗ出力と称する）をＬｏとし、ホールド
されたＡ／Ｄ変換器１８のデータＤＯ〜Ｄ５をＲＡＭ０
〜ＲＡＭ５に書込む。 更に次のタイミングで、コントローラ３０はＨＯＬＤ出
力にＨｌを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８を再び起動すると
共に、次のアドレスをＡＯ〜Ａ９に出力し、次のデータ
Ｄｏ−Ｄ５をＲＡＭ０〜ＲＡＭ５に−込む操作を行う。 この繰返しによって、包絡線波形はＡ／Ｄ変換され、Ｒ
ＡＭ０〜ＲＡＭ５にストアされる。第５図は、データ（
Ｄｏ、Ｄｌ、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ５）が、それぞれ（
Ｏｌｏ、１．１．１．１）、（０、Ｏｌｏ、０．０．１
）、（１，１，１，１，１，１）、（１，０，０、Ｏｌ
ｌ、１）、（０，１，１、Ｏ，Ｏ，Ｏ）、（１，１，０
，０，１、Ｏ）、（０，１，０，１，０１１〉、（１、
Ｏ，Ｏ，Ｏｌｌ、０）の場合を示している。 一方、第４図の装置がＤ／Ａ変換を行う際には、第６図
に示す如く、コントローラ３０のＭＰＸ出力がＨｌとな
り、ＭＰＸ３８はＤ／Ａ変換器２２とＲＡＭ０−ＲＡＭ
５を接続する。この状態で外部からのノイズ波形再生命
令が入力されると、コントローラ３０は５ＴＡＲＴ出力
をＬｏとし、同時に、ＡＯ〜Ａ９にアドレスを出力づる
。これによって、ＲＡＭ０−ＲＡＭ５は、アクセスされ
たアドレスのデータをＤｏ〜Ｄ５に出力する。このＤＯ
〜Ｄ５の出力をＤ／Ａ変換器２２がＤ／Ａ変換し、アナ
ログ電圧を再生する。次のタイミングでコントローラ３
０は、ＳＴＡ、ＲＴ比出力Ｈｉとし、Ｄ／Ａ変換器２２
は以前の出力をホールドする。次のタイミングでコント
ローラ３０は、次のアドレスをＡＯ−Ａ９に出力し、５
ＴＡＲＴ出力をＡＯとする。この繰返しによって、ＲＡ
Ｍ０〜ＲＡＭ５内のデータはＤ／Ａ変換により再生され
、元の包Ｉ８Ｉ波形となる。第６図は、（Ｄｏ、Ｄｌ、
Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ５）がそれぞれ（Ｏ％Ｏ１１，１
，１，１）、（ｏｌｏ、０．０．０１１）、（１，１，
１，１，１，１）、（Ｌ Ｏ，Ｏ，Ｏｌｌ、１）、（０
，１，１，０，０，０）、（１，１，０，０，１、Ｏ）
、（０，１，０，１，０１１）の場合を示している。 前記コントローラ３０は、包絡線波形が所定のゲート時
闇Ｔ持続しないときに前記周波数カウンタ２４の計数値
をキャンセルし、ゲート時間下が長過ぎるという情報を
表示器３２に表示する機能を有する。 前記ＡＭ変調器３６は、第７図に詳細に示す如く、前記
Ｄ／Ａ変換器２２で再生された包絡線信＠（アナログ電
圧信号）を増幅器３４で増幅した信号によって、前記シ
ンセサイザ２８によって発生されたキャリア信号にＡＭ
変調をかけ、元の雑音波形を再生する。 以下実施例の作用を説明する。 今、ノイズの生波形が第８図（Ａ＞に示す如くであった
とすると、こめ生波形は、切換スイッチ１４で適宜選択
された減衰器１０又は増幅器１２によって減衰又は増幅
され、包絡線検波回路１６で包絡線検波されて、第８図
（Ｃ）に示すような包絡線検波波形となる。この包絡線
波形が予め設定したレベル以上となると、前記コントロ
ーラ３０がＡ／Ｄ変換器１８及び周波数カウンタ２４を
起動すると共に、ＲＡＭ２０及び２６をアクセスし、第
８図（Ｄ）に示すようなＡ／Ｄ変検変形波形ＡＭ２０に
ストアされる。コントローラ３０は、ＲＡＭ２０の記憶
容量で決定される一定の回数、前記操作を繰返し行い、
これによって、ＲＡＭ２０には包絡線があるレベル以上
となってから一定時間後までのノイズの包絡線波形が記
憶される。 一方、前記周波数カウンタ２４は、第８図（Ａ）に示す
ようなノイズ生波形の周波数を、例えば第８図（Ｂ）に
示すような所定のゲート時間Ｔ計数し、その結果をＲＡ
Ｍ２６に記憶する。なお、包絡線波形が前記ゲート時間
Ｔだけ持続しないときは、コントローラ３０によって周
波数カウンタ２４の測定値がキャンセルされ、表示器３
２に／７’−ト時間Ｔが長過ぎるという情報を表示する
。 一方、ノイズ波形の再生に際しては、外部からのノイズ
波形再生命令によってコントローラ３０がＲＡＭ２０及
び２６をアクセスすると共に、Ｄ／Ａ変換器２２及びシ
ンセサイザ２８を起動する。 これによって再生された包絡線波形は増幅器３４によっ
て増幅され、この増幅波形により、記憶した周波数デー
タを繰返し周波数とするキャリヤ信号がＡＭ変調され、
第８図（Ｅ）に示すようなノイズ波形が再生されて、雑
音特性を試験すべき電子機器に入力される。 本実施例においては、包結線検波回路１６の入力側に、
減衰器１０及び増幅器１２を設けているので、該減衰器
１０の減衰率又は増幅器１２の増幅率を変化させること
により、Ａ／Ｄ変換器１８のダイナミックレンジに対し
て適当な包絡線波形をＡ／Ｄ変換器１８に入力すること
ができ、Ａ／Ｄ変換を高精度で行うことができる。 又、本実施例においては、コントローラ２４により、包
絡線検波回路１６出力のレベルが設定値以上となってか
ら、設定時間が経過するまでの包絡線波形をＲＡＭ２０
に記憶するようにしているので、少ない記憶容最で包絡
線波形を正確に記憶することができる。 更に、本実施例においては、前記増幅器２６の増幅率を
可変としているので、電子機器の試験目的に合わせて任
意のレベルのノイズ波形を再生することができる。 ［発明の効果］ 以上説明した通り、本発明によれば、電気雑音の基本周
波数成分を別途測定することなく、一般の雑音源が発生
づ−る、複雑で再現性の低いノイズを正確且つ容易に計
測・記憶することができる。 従って、電子機器の耐雑音性能を定量的に把握すること
かでき、基本周波数成分の計測値により、電子機器に、
より、適切なノイズフィルタを設定することか可能とな
る。又、記憶された波形をもとに定量化されたシミュレ
ーションノイズを忠実に繰返して電子機器に注入するこ
とができ、電子機器の耐雑音性能の限界値を求め、前記
計測値との差からノイズマージンの解析を行うことが可
能となる。更に、記憶手段にデータを書込むことにより
、任意のノイズ波形を発生することができる等の優れた
効果を有づる。
。 本実施例は、第１図に示す如く、ノイズ発生源（図示省
略）から入力される電気雑音の入力レベルを調整するた
めの減衰器１０、増幅器１２及び切換スイッチ１４と、
前記減衰器１０又は増幅器１２でレベル調整された電気
雑音を包絡線検波する包絡線検波回路１６と、該包絡線
検波回路１６の出力を高速でアナログ−デジタル変換（
以下Ａ／Ｄ変換と称する）するＡ／Ｄ変換器１８と、該
Ａ／Ｄ変換器１８の出力を包絡線波形データとして記憶
するランダムアクセスメモリ（以下ＲＡＭと称する）２
０と、該ＲＡＭ２０に記憶した前記包絡線波形データに
所定の演算をなした結果を高速でデジタル−アナログ変
換く以下Ｄ／Ａ変換と称する）して、前記包絡線に対応
する波形をアナログ電圧信号に再生ずるＤ／Ａ変換器２
２と、前記減衰器１０又は増幅器１２でレベル調整され
た電気雑音の繰返し周波数を所定のゲート時間Ｔの量計
数する周波数カウンタ２４と、該周波数カウンタ２４の
出力を周波数データとして記憶するＲＡＭ２６と、該Ｒ
ＡＭ２６に記憶した前記周波数データを繰返し周波数と
するキャリア信号を発生するシンセサイザ２８と、前記
包絡線検波回路１６の出力レベルが設定値以上となった
時に、前記Ａ／Ｄ変換器１８及び周波数カウンタ２４を
起動し、前記ＲＡＭ２０及び２６に設定時間が経過する
までの包絡線波形データ及び周波数データをそれぞれ記
憶させると共に、外部から入力されるノイズ波形再生命
令により前記Ｄ／Ａ変換器２２及 （びシンセサ
イザ２８を作動させるコントローラ３０と、該コントロ
ーラ３０に管理されて、前記包絡線波形情報及び周波数
情報を表示する表示器３２と、前記Ｄ／Ａ変換器２２の
出力を増幅する、増幅率可変の増幅器３４と、前記シン
セサイザ２８から入力されるキャリア信号を前記アナロ
グ電圧信号により振幅変ＩＩ（以下ＡＭ変調と称する）
して出力するＡＭ変調器３６とから構成されている。 前記包絡線検波回路１６は、第２図に詳細に示ず如く、
ノイズ入力を増幅する増幅器１６Ａと、該増幅器１６Ａ
の出力を半波整流して包絡線波形に変換する検波回路１
６Ｂと、該検波回路１６Ｂ出力の包絡線波形信号を増幅
して前記Ａ／Ｄ変換器１８に入力する増幅器１６Ｇとか
ら構成されている。従って、この包絡線検波回路１６の
入出力波形は、例えば第３図（Ａ）乃至（Ｄ）に示す如
くとなる。 前記Ａ／Ｄ変換器１８、ＲＡＭ２０、Ｄ／Ａ変換器２２
及びコントローラ３０は、具体的には、第４図に詳細に
示す如く構成されており、前記Ａ／Ｄ変換器１８の出力
側とＲＡＭ２０の間及び該ＲＡＭ２０とＤ／Ａ変換器２
２の入力側の間には、共通のマルチプレクサ（以下ＭＰ
Ｘと称する）３８が設けられている。 この第４図の装置において、Ａ／Ｄ変換を行う際には、
第５図に示す如く、コントローラ３ｏのＭＰｘ出力はＬ
ｏとなり、Ｍ Ｐ Ｘ ３８ ハ、Ａ／Ｄ変換器１８と
、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５からなるＲＡＭ２０とを接続して
いる。この状態で、包絡線波形が予め決められたレベル
以上となると、コントローラ３０がＨＯＬＤ出力にＨｉ
を出力し、Ａ／Ｄ変換器１８は包絡線をＡ／Ｄ変換する
。これと同時にコントローラ３０は、出力ＡＯ〜Ａ９に
ア ニドレスを出力し、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５をア
クセスする。次のタイミングにおいて、コントローラ３
０は、ＨＯＬＤ出力にＬｏを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８
はＡ／Ｄ変換を停止して、出力Ｄｏ−Ｄ５をホールドす
る。これと同時にコントローラ３゜は読出し／ＩＩ込み
出力（以下Ｒ／Ｗ出力と称する）をＬｏとし、ホールド
されたＡ／Ｄ変換器１８のデータＤＯ〜Ｄ５をＲＡＭ０
〜ＲＡＭ５に書込む。 更に次のタイミングで、コントローラ３０はＨＯＬＤ出
力にＨｌを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８を再び起動すると
共に、次のアドレスをＡＯ〜Ａ９に出力し、次のデータ
Ｄｏ−Ｄ５をＲＡＭ０〜ＲＡＭ５に−込む操作を行う。 この繰返しによって、包絡線波形はＡ／Ｄ変換され、Ｒ
ＡＭ０〜ＲＡＭ５にストアされる。第５図は、データ（
Ｄｏ、Ｄｌ、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ５）が、それぞれ（
Ｏｌｏ、１．１．１．１）、（０、Ｏｌｏ、０．０．１
）、（１，１，１，１，１，１）、（１，０，０、Ｏｌ
ｌ、１）、（０，１，１、Ｏ，Ｏ，Ｏ）、（１，１，０
，０，１、Ｏ）、（０，１，０，１，０１１〉、（１、
Ｏ，Ｏ，Ｏｌｌ、０）の場合を示している。 一方、第４図の装置がＤ／Ａ変換を行う際には、第６図
に示す如く、コントローラ３０のＭＰＸ出力がＨｌとな
り、ＭＰＸ３８はＤ／Ａ変換器２２とＲＡＭ０−ＲＡＭ
５を接続する。この状態で外部からのノイズ波形再生命
令が入力されると、コントローラ３０は５ＴＡＲＴ出力
をＬｏとし、同時に、ＡＯ〜Ａ９にアドレスを出力づる
。これによって、ＲＡＭ０−ＲＡＭ５は、アクセスされ
たアドレスのデータをＤｏ〜Ｄ５に出力する。このＤＯ
〜Ｄ５の出力をＤ／Ａ変換器２２がＤ／Ａ変換し、アナ
ログ電圧を再生する。次のタイミングでコントローラ３
０は、ＳＴＡ、ＲＴ比出力Ｈｉとし、Ｄ／Ａ変換器２２
は以前の出力をホールドする。次のタイミングでコント
ローラ３０は、次のアドレスをＡＯ−Ａ９に出力し、５
ＴＡＲＴ出力をＡＯとする。この繰返しによって、ＲＡ
Ｍ０〜ＲＡＭ５内のデータはＤ／Ａ変換により再生され
、元の包Ｉ８Ｉ波形となる。第６図は、（Ｄｏ、Ｄｌ、
Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ５）がそれぞれ（Ｏ％Ｏ１１，１
，１，１）、（ｏｌｏ、０．０．０１１）、（１，１，
１，１，１，１）、（Ｌ Ｏ，Ｏ，Ｏｌｌ、１）、（０
，１，１，０，０，０）、（１，１，０，０，１、Ｏ）
、（０，１，０，１，０１１）の場合を示している。 前記コントローラ３０は、包絡線波形が所定のゲート時
闇Ｔ持続しないときに前記周波数カウンタ２４の計数値
をキャンセルし、ゲート時間下が長過ぎるという情報を
表示器３２に表示する機能を有する。 前記ＡＭ変調器３６は、第７図に詳細に示す如く、前記
Ｄ／Ａ変換器２２で再生された包絡線信＠（アナログ電
圧信号）を増幅器３４で増幅した信号によって、前記シ
ンセサイザ２８によって発生されたキャリア信号にＡＭ
変調をかけ、元の雑音波形を再生する。 以下実施例の作用を説明する。 今、ノイズの生波形が第８図（Ａ＞に示す如くであった
とすると、こめ生波形は、切換スイッチ１４で適宜選択
された減衰器１０又は増幅器１２によって減衰又は増幅
され、包絡線検波回路１６で包絡線検波されて、第８図
（Ｃ）に示すような包絡線検波波形となる。この包絡線
波形が予め設定したレベル以上となると、前記コントロ
ーラ３０がＡ／Ｄ変換器１８及び周波数カウンタ２４を
起動すると共に、ＲＡＭ２０及び２６をアクセスし、第
８図（Ｄ）に示すようなＡ／Ｄ変検変形波形ＡＭ２０に
ストアされる。コントローラ３０は、ＲＡＭ２０の記憶
容量で決定される一定の回数、前記操作を繰返し行い、
これによって、ＲＡＭ２０には包絡線があるレベル以上
となってから一定時間後までのノイズの包絡線波形が記
憶される。 一方、前記周波数カウンタ２４は、第８図（Ａ）に示す
ようなノイズ生波形の周波数を、例えば第８図（Ｂ）に
示すような所定のゲート時間Ｔ計数し、その結果をＲＡ
Ｍ２６に記憶する。なお、包絡線波形が前記ゲート時間
Ｔだけ持続しないときは、コントローラ３０によって周
波数カウンタ２４の測定値がキャンセルされ、表示器３
２に／７’−ト時間Ｔが長過ぎるという情報を表示する
。 一方、ノイズ波形の再生に際しては、外部からのノイズ
波形再生命令によってコントローラ３０がＲＡＭ２０及
び２６をアクセスすると共に、Ｄ／Ａ変換器２２及びシ
ンセサイザ２８を起動する。 これによって再生された包絡線波形は増幅器３４によっ
て増幅され、この増幅波形により、記憶した周波数デー
タを繰返し周波数とするキャリヤ信号がＡＭ変調され、
第８図（Ｅ）に示すようなノイズ波形が再生されて、雑
音特性を試験すべき電子機器に入力される。 本実施例においては、包結線検波回路１６の入力側に、
減衰器１０及び増幅器１２を設けているので、該減衰器
１０の減衰率又は増幅器１２の増幅率を変化させること
により、Ａ／Ｄ変換器１８のダイナミックレンジに対し
て適当な包絡線波形をＡ／Ｄ変換器１８に入力すること
ができ、Ａ／Ｄ変換を高精度で行うことができる。 又、本実施例においては、コントローラ２４により、包
絡線検波回路１６出力のレベルが設定値以上となってか
ら、設定時間が経過するまでの包絡線波形をＲＡＭ２０
に記憶するようにしているので、少ない記憶容最で包絡
線波形を正確に記憶することができる。 更に、本実施例においては、前記増幅器２６の増幅率を
可変としているので、電子機器の試験目的に合わせて任
意のレベルのノイズ波形を再生することができる。 ［発明の効果］ 以上説明した通り、本発明によれば、電気雑音の基本周
波数成分を別途測定することなく、一般の雑音源が発生
づ−る、複雑で再現性の低いノイズを正確且つ容易に計
測・記憶することができる。 従って、電子機器の耐雑音性能を定量的に把握すること
かでき、基本周波数成分の計測値により、電子機器に、
より、適切なノイズフィルタを設定することか可能とな
る。又、記憶された波形をもとに定量化されたシミュレ
ーションノイズを忠実に繰返して電子機器に注入するこ
とができ、電子機器の耐雑音性能の限界値を求め、前記
計測値との差からノイズマージンの解析を行うことが可
能となる。更に、記憶手段にデータを書込むことにより
、任意のノイズ波形を発生することができる等の優れた
効果を有づる。
第１図は、本発明に係る電気雑音の計測・発生
□装置の実施例の全体構成を示すブロック線図、第２図
は、前記実施例で用いられている包絡線検波回路の構成
を示１回路図、第３図（Ａ）乃至（Ｄ）は、前記包絡線
検波回路の入出力波形の例を示す縮図、第４図は、前記
実施例で用いられているＡ／Ｄ変換器、ＲＡＭ、Ｄ／Ａ
変換器及びコントローラの構成を示すブロック線図、第
５図は、前記実施例におけるＡ／Ｄ変換の状態を示すタ
イムチャート、第６図は、同じ＜Ｄ／Ａ変換の状態を示
すタイムチャート、第７図は、前記実施例で用いられて
いるＡＭ変調器の構成を示す回路図、第８図（Ａ）乃至
（Ｅ）は、前記実施例の各部動作波形を示す線図である
。 １６・・・包絡線検波回路、 １８・・・Ａ／Ｄ変換器
、２０．２６・・・ＲＡＭ１ ２２・・・Ｄ／Ａ変換器
、２４・・・周波数カウンタ、 ２８・・・シンセサイ
ザ、３０・・・コントローラ、 ３６・・・ＡＭ変調
器。
□装置の実施例の全体構成を示すブロック線図、第２図
は、前記実施例で用いられている包絡線検波回路の構成
を示１回路図、第３図（Ａ）乃至（Ｄ）は、前記包絡線
検波回路の入出力波形の例を示す縮図、第４図は、前記
実施例で用いられているＡ／Ｄ変換器、ＲＡＭ、Ｄ／Ａ
変換器及びコントローラの構成を示すブロック線図、第
５図は、前記実施例におけるＡ／Ｄ変換の状態を示すタ
イムチャート、第６図は、同じ＜Ｄ／Ａ変換の状態を示
すタイムチャート、第７図は、前記実施例で用いられて
いるＡＭ変調器の構成を示す回路図、第８図（Ａ）乃至
（Ｅ）は、前記実施例の各部動作波形を示す線図である
。 １６・・・包絡線検波回路、 １８・・・Ａ／Ｄ変換器
、２０．２６・・・ＲＡＭ１ ２２・・・Ｄ／Ａ変換器
、２４・・・周波数カウンタ、 ２８・・・シンセサイ
ザ、３０・・・コントローラ、 ３６・・・ＡＭ変調
器。
Claims (2)
- （１）電子機器に印加される電気雑音を計測し、再生す
るための電気雑音の計測・発生装置において、 前記電気雑音を包絡線検波する手段と、 該包絡線検波手段の出力を高速でアナログ−デジタル変
換する手段と、 前記電気雑音の繰返し周波数を計数する手段と、アナロ
グ−デジタル変換された前記包絡線波形データ及び前記
周波数データを記憶する手段と、記憶した前記包絡線波
形データに所定の演算をなした結果を高速でデジタル−
アナログ変換して、前記包絡線に対応する波形をアナロ
グ信号に再生する手段と、 記憶した前記周波数データを繰返し周波数とするキャリ
ア信号を発生する手段と、 該キャリア信号を前記アナログ信号により振幅変調して
出力する手段と、 を備えたことを特徴とする電気雑音の計測・発生装置。 - （２）前記包絡線波形再生手段が、再生する包絡線波形
を任意に変換する機能を有する特許請求の範囲第１項記
載の電気雑音の計測・発生装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15862985A JPS6219773A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | 電気雑音の計測・再生装置 |
| US06/859,991 US4806845A (en) | 1985-05-07 | 1986-05-05 | System for measuring and generating electric noise |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15862985A JPS6219773A (ja) | 1985-07-18 | 1985-07-18 | 電気雑音の計測・再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6219773A true JPS6219773A (ja) | 1987-01-28 |
| JPH0445109B2 JPH0445109B2 (ja) | 1992-07-23 |
Family
ID=15675884
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15862985A Granted JPS6219773A (ja) | 1985-05-07 | 1985-07-18 | 電気雑音の計測・再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6219773A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012127684A (ja) * | 2010-12-13 | 2012-07-05 | Mitsubishi Electric Corp | ノイズ分布測定装置 |
| JP2014240775A (ja) * | 2013-06-11 | 2014-12-25 | 三菱電機株式会社 | 電磁ノイズ検出装置 |
-
1985
- 1985-07-18 JP JP15862985A patent/JPS6219773A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012127684A (ja) * | 2010-12-13 | 2012-07-05 | Mitsubishi Electric Corp | ノイズ分布測定装置 |
| JP2014240775A (ja) * | 2013-06-11 | 2014-12-25 | 三菱電機株式会社 | 電磁ノイズ検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0445109B2 (ja) | 1992-07-23 |
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