JPS61254865A - 電気雑音の計測・再生装置 - Google Patents
電気雑音の計測・再生装置Info
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- JPS61254865A JPS61254865A JP9626785A JP9626785A JPS61254865A JP S61254865 A JPS61254865 A JP S61254865A JP 9626785 A JP9626785 A JP 9626785A JP 9626785 A JP9626785 A JP 9626785A JP S61254865 A JPS61254865 A JP S61254865A
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- waveform
- electrical noise
- noise
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、電気雑音の計測・再生装置に係り、特に、実
使用環境条件下、例えば車両に搭載された状態で各種の
ノイズ発生源から放出され、電子機器に印加される電気
雑音を計測し、その耐雑音性能を解析する際に用いるの
に好適な、電子機器に印加される電気雑音を計測し、再
生するための電気雑音の計測・再生装置に関する。
使用環境条件下、例えば車両に搭載された状態で各種の
ノイズ発生源から放出され、電子機器に印加される電気
雑音を計測し、その耐雑音性能を解析する際に用いるの
に好適な、電子機器に印加される電気雑音を計測し、再
生するための電気雑音の計測・再生装置に関する。
従来、電子機器に印加される電気雑音は、オシロスコー
プを用いて計測するのが一般的である。 又、電子機器の耐雑音性能を把握するために、ノイズシ
ミュレータを用いて、モデル化された波形の試験電圧を
印加することにより、電子機器の破損や誤作動の有無を
調査する方法が知られている。
プを用いて計測するのが一般的である。 又、電子機器の耐雑音性能を把握するために、ノイズシ
ミュレータを用いて、モデル化された波形の試験電圧を
印加することにより、電子機器の破損や誤作動の有無を
調査する方法が知られている。
しかしながら、一般に各種の雑音源から発生する電気雑
音、例えば、インダクタンスや静電容量をスイッチング
する時に発生する電気雑音は、ノイズシミュレータから
発生されるモデル化された波形とは異なり、複雑且つ不
定形な波形を有している。一方、電子機器が電気雑音に
よって受ける影響は、その周波数、波高値、雑音の持続
時間等によって異なる。このため、電子機器の耐雑音性
能を評価する場合、ノイズシミュレータを用いてモデル
化された条件下での性能を調査するか、又は、種々のノ
イズ発生源を実際に用いて試験する従来の方法では、再
現性が悪く、電子機器の耐雑音性能を正確に解析するこ
とが困難であるという問題点有していた。
音、例えば、インダクタンスや静電容量をスイッチング
する時に発生する電気雑音は、ノイズシミュレータから
発生されるモデル化された波形とは異なり、複雑且つ不
定形な波形を有している。一方、電子機器が電気雑音に
よって受ける影響は、その周波数、波高値、雑音の持続
時間等によって異なる。このため、電子機器の耐雑音性
能を評価する場合、ノイズシミュレータを用いてモデル
化された条件下での性能を調査するか、又は、種々のノ
イズ発生源を実際に用いて試験する従来の方法では、再
現性が悪く、電子機器の耐雑音性能を正確に解析するこ
とが困難であるという問題点有していた。
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたも
ので、実使用環境条件下、例えば車両に搭載された状態
で各種のノイズ発生源から放出される電気雑音を正確に
計測し、再生することができ、従って、電子機器の耐雑
音性能を正確に解析することができる電子雑音の計測・
再生装置を提供することを目的とする。
ので、実使用環境条件下、例えば車両に搭載された状態
で各種のノイズ発生源から放出される電気雑音を正確に
計測し、再生することができ、従って、電子機器の耐雑
音性能を正確に解析することができる電子雑音の計測・
再生装置を提供することを目的とする。
本発明は、電子機器に印加される電気雑音を計測し、再
生するための電気雑音の計測・再生装置において、前記
電気雑音を包絡線検波する手段と、該包絡線検波手段の
出力を高速でアナログ−デジタル変換して記憶する手段
と、該記憶値に所定の演算をなした結果を高速でデジタ
ル−アナログ変換して、前記包絡線に対応する波形をア
ナログ信号に再生する手段と、前記電気雑音の中心周波
数を有するキャリア信号を発生する手段と、該キャリア
信号を前記アナログ信号により振幅変調して電力増幅す
る手段とを備えることにより、前記目的を達成したもの
である。 又、本発明の実施態様は、前記包絡線検波手段の入力側
に、電気雑音の入力レベルを調整するための手段を設け
たものである。 又、本発明の他の実１１ｉ態様は、前記記憶手段が、前
記包絡線検波手段の出力レベルが設定値以上となってか
ら、設定時間が経過する迄の包絡線波形を記憶するよう
にしたものである。 又、本発明の他の実施態様は、前記振幅変調・電力増幅
手段の増幅率を可変としたものである。
生するための電気雑音の計測・再生装置において、前記
電気雑音を包絡線検波する手段と、該包絡線検波手段の
出力を高速でアナログ−デジタル変換して記憶する手段
と、該記憶値に所定の演算をなした結果を高速でデジタ
ル−アナログ変換して、前記包絡線に対応する波形をア
ナログ信号に再生する手段と、前記電気雑音の中心周波
数を有するキャリア信号を発生する手段と、該キャリア
信号を前記アナログ信号により振幅変調して電力増幅す
る手段とを備えることにより、前記目的を達成したもの
である。 又、本発明の実施態様は、前記包絡線検波手段の入力側
に、電気雑音の入力レベルを調整するための手段を設け
たものである。 又、本発明の他の実１１ｉ態様は、前記記憶手段が、前
記包絡線検波手段の出力レベルが設定値以上となってか
ら、設定時間が経過する迄の包絡線波形を記憶するよう
にしたものである。 又、本発明の他の実施態様は、前記振幅変調・電力増幅
手段の増幅率を可変としたものである。
【作用１
本発明は、電子機器に印加される電気雑音を計測し、再
生するに際して、前記電気雑音を包絡線検波し、その出
力を高速でアナログ−デジタル変換して記憶するように
している。従って、実使用環境条件下、例えば車両に搭
載された状態で各種のノイズ発生源から放出され、電子
機器に印加される電気雑音を、正確に計測・記憶するこ
とができる。又、前記記憶値に所定の演算をなした結果
を高速でデジタル−アナログ変換して、前記包絡線に対
応する波形をアナログ信号に再生し、前期電気雑音の中
心周波数を有するキャリア信号を前記アナログ信号によ
り振幅変調して電力増幅プるようにしている。従って、
定量化された模擬的雑音を正確に発生することができ、
該再生雑音を電子機器に印加することによって、該電子
機器の耐雑音性能の限界値を求めて、前記計測値との差
から、ノイズマージンの解析が可能となる。 又、前記包絡線検波手段の入力側に、電気雑音の入力レ
ベルを調整するための手段を設けることによって、アナ
ログ−デジタル変換のダイナミックレンジに対して適肖
な包絡線波形を入力することができ、アナログ−デジタ
ル変換を高稽度で行。 うことができるようにしたものである。 又、前記記憶手段が、前記包絡線検波手段の出力レベル
が設定値以上となってから、設定時間が経過する迄の包
絡線波形を記憶するようにして、少ない記憶容量で電気
雑音の波形を正確に計測し、再生できるようにしたもの
である。 又、前記振幅変調・電力増幅手段の増幅率を可変として
、任意のレベルの雑音波形を再生することができるよう
にしたものである。 【実施例】 以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する
。 本実施例は、第１図に示づ如く、ノイズ発生源（図示省
略）から入力される電気雑音の入力レベルを調整するた
めの減衰器１０、増幅器１２及び切換スイッチ１４と、
前記減衰器１０又は増幅器１２でレベル調整された電気
雑音を包絡線検波する包絡線検波回路１６と、該包絡線
検波回路１６の出力を高速でアナログ−デジタル変換（
以下Ａ／Ｄ変換と称する）するＡ／Ｄ変換器１８と、該
Ａ／Ｄ変換器１８の出力を記憶するランダムアクセスメ
モリ（以下ＲＡＭと称する）２０と、該ＲＡＭ２０の記
憶値に所定の演算をなした結果を高速でデジタル−アナ
ログ変換（以下Ｄ／Ａ変換と称する）して、前記包絡線
に対応する波形をアナログ電圧信号に再生するＤ／Ａ変
換器２２と、前記包絡線検波回路１６の出力レベルが設
定値以上となった時に、前記Ａ／Ｄ変換ｆｉ１８を起動
し、前記ＲＡＭ２０に設定時間が経過するまでの包絡線
波形を記憶させると共に、外部から入力されるノイズ波
形再生命令により前記Ｄ ／ Ａ変換器２２を作動させ
るコントローラ２４と、前記Ｄ／Ａ変換器２２の出力を
増幅する、増幅率可変の増幅器２６と、前記電気雑音の
中心周波数を有するキャリア信号を発生するシンセサイ
ザ２８と、該キャリア信号を前記アナログ電圧信号によ
る振幅変調（以下ＡＭＩ調と称する）して出力するＡＭ
変調器３０とから構成されている。 前記包絡線検波回路１６は、第２図に詳細に示す如く、
ノイズ入力を増幅する増幅！１６Ａと、該増幅器１６Ａ
の出力を半波整流して包絡線波形に変換する検波回路１
６Ｂと、該検波回路１６Ｂ出力の包絡線信号を増幅して
前記Ａ／Ｄ変換器１８に入力する増幅器１６Ｇとから構
成されている。 従って、この包絡線検波回路１６の入出力波形は、例え
ば第３図（Ａ）乃至（Ｄ）に示す如くとなる。 前記Ａ／Ｄ変換器１８、ＲＡＭ２０．Ｄ／Ａ変換８２２
及びコントローラ２４は、具体的には、第４図に詳細に
示す如く構成されており、前記Ａ／Ｄ変換器１８の出力
側とＲＡＭ２０の間及び該ＲＡＭ２０とＤ／Ａ変換器２
２の入力側の間には、共通のマルチプレクサ（以下ＭＰ
Ｘと称する）３２が設けられている。 この第４図の装置において、Ａ／Ｄ変換を行う際には、
第５図に示す如く、コントローラ２４のＭＰＸ出力ｉ、
ｔＬｏとなり、Ｍ Ｐ Ｘ ３２ Ｇｔ、Ａ／Ｄ変換器
１８と、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５からなるＲＡＭ２０とを接
続している。この状態で、包絡線波形が予め決められた
レベル以上となると、コントローラ２４が）−１ＯＬ［
）出力にＨｔを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８は包絡線をＡ
／Ｄ変換する。これと同時にコントローラ２４は、出力
ＡＯ−Ａ９にアドレスを出力し、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５を
アクセスする。次のタイミングにおいて、コントローラ
２４は、ＨＯＬＤ出力にＬｏを出力し、Ａ／Ｄ変換器１
８はＡ／Ｄ変換を停止して、出力Ｄｏ〜Ｄ５をホールド
する。これと同時にコントローラ２４は読出し／書込み
出力（以下Ｒ／Ｗ出力と称する）をＬｏとし、ホールド
されたＡ／Ｄ変換器１８のデータＤｏ−Ｄ５をＲＡＭ０
〜ＲＡＭ５に書込む。 更に次のタイミングで、コントローラ２４はＨＯＬＤ出
力にＨｌを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８を再び起動すると
共に、次のアドレスをＡＯ−Ａ９に出カシ、次のデータ
ＤＯ−Ｄ５をＲＡＭ０−ＲＡＭ５に書込む操作を行う。 この繰返しによって、包絡線波形はＡ／Ｄ変換され、Ｒ
ＡＭ０−ＲＡＭ５にストアされる。第５図は、データ（
ＤｏＳＤｌ、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４．０５）が、それぞれ（
０，０，１，１，１，１）、（０，０，０％０１０．７
ン 、 （１、１、１、１、１、１ン 、 （１
、０゜０．０．１．１）、（０１１，１，０，０１０）
、（１，１，０，０，１，０）、（０，１、ｏ、１．０
１１）、（１、ｏ、０．０．１．０）の場合を示してい
る。 一方、第４図の装置がＤ／Ａ変換を行う際には、第６図
に示す如く、コントローラ２４のＭＰＸ出力がＨｌとな
り、ＭＰＸ３２はＤ／Ａ変換器２２とＲＡＭ０〜ＲＡＭ
５を接続する。この状態で外部からのノイズ波形再生′
命令が入力されると、コントローラ２４は５ＴＡＲＴ出
力をＬｏとし、同時に、ＡＯ−Ａ９にアドレスを出力す
る。これによって、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５は、アクセスさ
れたアドレスのデータをＤｏ−Ｄ５に出力する。このＤ
Ｏ〜Ｄ５の出力をＤ／Ａ変換器２２がＤ／Ａ変換し、ア
ナログ電圧を再生する。次のタイミングでコントローラ
２４は、５ＴＡＲＴ出力をＨ＋とじ、Ｄ／Ａ変換！Ｉ２
２は以前の出力をホールドする。次のタイミングでコン
トローラ２４は、次のアドレスをＡＯ−Ａ９に出力し、
５ＴＡＲＴ出力をＡＯとする。この繰返しによって、Ｒ
ＡＭ０〜ＲＡＭ５内のデータはＤ／Ａ変換により再生さ
れ、元の包絡線波形となる。第６図は、（Ｄｏ、０１、
Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ５）がそれぞれ（０、Ｏｌｌ、１
．１．１）、（０，０，０１０，０１１）、（１，１，
１，１，１，１）、（１，０、ｏｌｏ、１．１ ） 、
（０，１，１、Ｏ，Ｏ，Ｏ） 、 （１，１，０１
０，１、Ｏ） 、 （０，１，０，１，０，１）の場合
を示している。 前記ＡＭ変調器３０は、第７図に詳細に示す如く、前記
Ｄ／Ａ変換器２２で再生された包絡線信号（アナログ電
圧信号）を増幅器２６で増幅した信号によって、前記シ
ンセサイザ２８によって発生されたキャリア信号にＡＭ
変調をかけ、元の雑音波形を再生する。 以下実施例の作用を説明する。 今、ノイズの生波形が第８図（Ａ＞に示す如くであった
とすると、この生波形は、切換スイッチ１４で適宜選択
された減衰器１０又は増幅器１２によって減衰又は増幅
され、包絡線検波回路１６で包絡線検波されて、第８図
（Ｂ）に示すような包絡線検波波形となる。この包絡線
波形が予め設定したレベル以上となると、前記コントロ
ーラ２４がＡ／Ｄ変換器１８を起動すると共に、ＲＡＭ
２０をアクセスし、第８図（Ｃ）に示すようなＡ／Ｄ変
換波形がＲＡＭ２０にストアされる。コントローラ２４
は、ＲＡＭ２０の記憶容量で決定される一定の回数、前
記操作を繰返し行い、これによって、ＲＡＭ２０には包
絡線があるレベル以上となってから一定時間後までのノ
イズの包絡線波形が記憶される。 一方、ノイズ波形の再生に際しては、外部からのノイズ
波形再生命令によってコントローラ２４がＲＡＭ２０を
アクセスすると共に、Ｄ／Ａ変換器２２を起動して包絡
線波形を再生する。再生された包絡線波形は増幅器２６
によって増幅され、この増幅波形により、ノイズの中心
周波数を有するキャリヤ信号を発生するシンセサイザ２
８の波形がＡＭ変調され、第８図（Ｄ）に示すようなノ
イズ波形が再生されて、雑音特性を試験すべき電子機器
に入力される。 本実施例においては、包絡線検波回路１６の入力側に、
減衰器１０及び増幅器１２を設けているので、該減衰器
１０の減衰率又は増幅器１２の増幅率を変化させること
により、Ａ／Ｄ変換器１８のダイナミックレンジに対し
て適当な包絡線波形をＡ／Ｄ変換器１８に入力すること
ができ、Ａ／Ｄ変換を高精度で行うことができる。 又、本実施例においては、コントローラ２４により、包
絡線検波回路１６出カのレベルが設定値以上となってか
ら、設定時間が経過するまでの包絡線波形をＲＡＭ２０
に記憶するようにしているので、少ない記憶容量で包絡
線波形を正確に記憶することができる。 更に、本実施例においては、前記増幅器２６の増幅率を
可変としているので、電子機器の試験目的に合わせて任
意のレベルのノイズ波形を再生することができる。
生するに際して、前記電気雑音を包絡線検波し、その出
力を高速でアナログ−デジタル変換して記憶するように
している。従って、実使用環境条件下、例えば車両に搭
載された状態で各種のノイズ発生源から放出され、電子
機器に印加される電気雑音を、正確に計測・記憶するこ
とができる。又、前記記憶値に所定の演算をなした結果
を高速でデジタル−アナログ変換して、前記包絡線に対
応する波形をアナログ信号に再生し、前期電気雑音の中
心周波数を有するキャリア信号を前記アナログ信号によ
り振幅変調して電力増幅プるようにしている。従って、
定量化された模擬的雑音を正確に発生することができ、
該再生雑音を電子機器に印加することによって、該電子
機器の耐雑音性能の限界値を求めて、前記計測値との差
から、ノイズマージンの解析が可能となる。 又、前記包絡線検波手段の入力側に、電気雑音の入力レ
ベルを調整するための手段を設けることによって、アナ
ログ−デジタル変換のダイナミックレンジに対して適肖
な包絡線波形を入力することができ、アナログ−デジタ
ル変換を高稽度で行。 うことができるようにしたものである。 又、前記記憶手段が、前記包絡線検波手段の出力レベル
が設定値以上となってから、設定時間が経過する迄の包
絡線波形を記憶するようにして、少ない記憶容量で電気
雑音の波形を正確に計測し、再生できるようにしたもの
である。 又、前記振幅変調・電力増幅手段の増幅率を可変として
、任意のレベルの雑音波形を再生することができるよう
にしたものである。 【実施例】 以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する
。 本実施例は、第１図に示づ如く、ノイズ発生源（図示省
略）から入力される電気雑音の入力レベルを調整するた
めの減衰器１０、増幅器１２及び切換スイッチ１４と、
前記減衰器１０又は増幅器１２でレベル調整された電気
雑音を包絡線検波する包絡線検波回路１６と、該包絡線
検波回路１６の出力を高速でアナログ−デジタル変換（
以下Ａ／Ｄ変換と称する）するＡ／Ｄ変換器１８と、該
Ａ／Ｄ変換器１８の出力を記憶するランダムアクセスメ
モリ（以下ＲＡＭと称する）２０と、該ＲＡＭ２０の記
憶値に所定の演算をなした結果を高速でデジタル−アナ
ログ変換（以下Ｄ／Ａ変換と称する）して、前記包絡線
に対応する波形をアナログ電圧信号に再生するＤ／Ａ変
換器２２と、前記包絡線検波回路１６の出力レベルが設
定値以上となった時に、前記Ａ／Ｄ変換ｆｉ１８を起動
し、前記ＲＡＭ２０に設定時間が経過するまでの包絡線
波形を記憶させると共に、外部から入力されるノイズ波
形再生命令により前記Ｄ ／ Ａ変換器２２を作動させ
るコントローラ２４と、前記Ｄ／Ａ変換器２２の出力を
増幅する、増幅率可変の増幅器２６と、前記電気雑音の
中心周波数を有するキャリア信号を発生するシンセサイ
ザ２８と、該キャリア信号を前記アナログ電圧信号によ
る振幅変調（以下ＡＭＩ調と称する）して出力するＡＭ
変調器３０とから構成されている。 前記包絡線検波回路１６は、第２図に詳細に示す如く、
ノイズ入力を増幅する増幅！１６Ａと、該増幅器１６Ａ
の出力を半波整流して包絡線波形に変換する検波回路１
６Ｂと、該検波回路１６Ｂ出力の包絡線信号を増幅して
前記Ａ／Ｄ変換器１８に入力する増幅器１６Ｇとから構
成されている。 従って、この包絡線検波回路１６の入出力波形は、例え
ば第３図（Ａ）乃至（Ｄ）に示す如くとなる。 前記Ａ／Ｄ変換器１８、ＲＡＭ２０．Ｄ／Ａ変換８２２
及びコントローラ２４は、具体的には、第４図に詳細に
示す如く構成されており、前記Ａ／Ｄ変換器１８の出力
側とＲＡＭ２０の間及び該ＲＡＭ２０とＤ／Ａ変換器２
２の入力側の間には、共通のマルチプレクサ（以下ＭＰ
Ｘと称する）３２が設けられている。 この第４図の装置において、Ａ／Ｄ変換を行う際には、
第５図に示す如く、コントローラ２４のＭＰＸ出力ｉ、
ｔＬｏとなり、Ｍ Ｐ Ｘ ３２ Ｇｔ、Ａ／Ｄ変換器
１８と、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５からなるＲＡＭ２０とを接
続している。この状態で、包絡線波形が予め決められた
レベル以上となると、コントローラ２４が）−１ＯＬ［
）出力にＨｔを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８は包絡線をＡ
／Ｄ変換する。これと同時にコントローラ２４は、出力
ＡＯ−Ａ９にアドレスを出力し、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５を
アクセスする。次のタイミングにおいて、コントローラ
２４は、ＨＯＬＤ出力にＬｏを出力し、Ａ／Ｄ変換器１
８はＡ／Ｄ変換を停止して、出力Ｄｏ〜Ｄ５をホールド
する。これと同時にコントローラ２４は読出し／書込み
出力（以下Ｒ／Ｗ出力と称する）をＬｏとし、ホールド
されたＡ／Ｄ変換器１８のデータＤｏ−Ｄ５をＲＡＭ０
〜ＲＡＭ５に書込む。 更に次のタイミングで、コントローラ２４はＨＯＬＤ出
力にＨｌを出力し、Ａ／Ｄ変換器１８を再び起動すると
共に、次のアドレスをＡＯ−Ａ９に出カシ、次のデータ
ＤＯ−Ｄ５をＲＡＭ０−ＲＡＭ５に書込む操作を行う。 この繰返しによって、包絡線波形はＡ／Ｄ変換され、Ｒ
ＡＭ０−ＲＡＭ５にストアされる。第５図は、データ（
ＤｏＳＤｌ、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４．０５）が、それぞれ（
０，０，１，１，１，１）、（０，０，０％０１０．７
ン 、 （１、１、１、１、１、１ン 、 （１
、０゜０．０．１．１）、（０１１，１，０，０１０）
、（１，１，０，０，１，０）、（０，１、ｏ、１．０
１１）、（１、ｏ、０．０．１．０）の場合を示してい
る。 一方、第４図の装置がＤ／Ａ変換を行う際には、第６図
に示す如く、コントローラ２４のＭＰＸ出力がＨｌとな
り、ＭＰＸ３２はＤ／Ａ変換器２２とＲＡＭ０〜ＲＡＭ
５を接続する。この状態で外部からのノイズ波形再生′
命令が入力されると、コントローラ２４は５ＴＡＲＴ出
力をＬｏとし、同時に、ＡＯ−Ａ９にアドレスを出力す
る。これによって、ＲＡＭ０〜ＲＡＭ５は、アクセスさ
れたアドレスのデータをＤｏ−Ｄ５に出力する。このＤ
Ｏ〜Ｄ５の出力をＤ／Ａ変換器２２がＤ／Ａ変換し、ア
ナログ電圧を再生する。次のタイミングでコントローラ
２４は、５ＴＡＲＴ出力をＨ＋とじ、Ｄ／Ａ変換！Ｉ２
２は以前の出力をホールドする。次のタイミングでコン
トローラ２４は、次のアドレスをＡＯ−Ａ９に出力し、
５ＴＡＲＴ出力をＡＯとする。この繰返しによって、Ｒ
ＡＭ０〜ＲＡＭ５内のデータはＤ／Ａ変換により再生さ
れ、元の包絡線波形となる。第６図は、（Ｄｏ、０１、
Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ５）がそれぞれ（０、Ｏｌｌ、１
．１．１）、（０，０，０１０，０１１）、（１，１，
１，１，１，１）、（１，０、ｏｌｏ、１．１ ） 、
（０，１，１、Ｏ，Ｏ，Ｏ） 、 （１，１，０１
０，１、Ｏ） 、 （０，１，０，１，０，１）の場合
を示している。 前記ＡＭ変調器３０は、第７図に詳細に示す如く、前記
Ｄ／Ａ変換器２２で再生された包絡線信号（アナログ電
圧信号）を増幅器２６で増幅した信号によって、前記シ
ンセサイザ２８によって発生されたキャリア信号にＡＭ
変調をかけ、元の雑音波形を再生する。 以下実施例の作用を説明する。 今、ノイズの生波形が第８図（Ａ＞に示す如くであった
とすると、この生波形は、切換スイッチ１４で適宜選択
された減衰器１０又は増幅器１２によって減衰又は増幅
され、包絡線検波回路１６で包絡線検波されて、第８図
（Ｂ）に示すような包絡線検波波形となる。この包絡線
波形が予め設定したレベル以上となると、前記コントロ
ーラ２４がＡ／Ｄ変換器１８を起動すると共に、ＲＡＭ
２０をアクセスし、第８図（Ｃ）に示すようなＡ／Ｄ変
換波形がＲＡＭ２０にストアされる。コントローラ２４
は、ＲＡＭ２０の記憶容量で決定される一定の回数、前
記操作を繰返し行い、これによって、ＲＡＭ２０には包
絡線があるレベル以上となってから一定時間後までのノ
イズの包絡線波形が記憶される。 一方、ノイズ波形の再生に際しては、外部からのノイズ
波形再生命令によってコントローラ２４がＲＡＭ２０を
アクセスすると共に、Ｄ／Ａ変換器２２を起動して包絡
線波形を再生する。再生された包絡線波形は増幅器２６
によって増幅され、この増幅波形により、ノイズの中心
周波数を有するキャリヤ信号を発生するシンセサイザ２
８の波形がＡＭ変調され、第８図（Ｄ）に示すようなノ
イズ波形が再生されて、雑音特性を試験すべき電子機器
に入力される。 本実施例においては、包絡線検波回路１６の入力側に、
減衰器１０及び増幅器１２を設けているので、該減衰器
１０の減衰率又は増幅器１２の増幅率を変化させること
により、Ａ／Ｄ変換器１８のダイナミックレンジに対し
て適当な包絡線波形をＡ／Ｄ変換器１８に入力すること
ができ、Ａ／Ｄ変換を高精度で行うことができる。 又、本実施例においては、コントローラ２４により、包
絡線検波回路１６出カのレベルが設定値以上となってか
ら、設定時間が経過するまでの包絡線波形をＲＡＭ２０
に記憶するようにしているので、少ない記憶容量で包絡
線波形を正確に記憶することができる。 更に、本実施例においては、前記増幅器２６の増幅率を
可変としているので、電子機器の試験目的に合わせて任
意のレベルのノイズ波形を再生することができる。
以上説明した通り、本発明によれば、一般の雑音源が発
生する複雑で再現性の低いノイズを正確に計測・記憶す
ることができる。従って、電子機器の耐雑音性能を定量
的に把握することができる。 又、記憶された波形をもとに定量化されたシミュレーシ
ョンノイズを忠実に繰返して電子機器に注入することが
でき、電子機器の耐雑音性能の限界値を求め、前記計測
値との差からノイズマージンの解析を行うことが可能と
なる。更に、記憶手段にデータを書込むことにより、任
意のノイズ波形を発生することができる等の優れた効果
を有する。
生する複雑で再現性の低いノイズを正確に計測・記憶す
ることができる。従って、電子機器の耐雑音性能を定量
的に把握することができる。 又、記憶された波形をもとに定量化されたシミュレーシ
ョンノイズを忠実に繰返して電子機器に注入することが
でき、電子機器の耐雑音性能の限界値を求め、前記計測
値との差からノイズマージンの解析を行うことが可能と
なる。更に、記憶手段にデータを書込むことにより、任
意のノイズ波形を発生することができる等の優れた効果
を有する。
第１図は、本発明に係る電気雑音の計測・再生装置の実
施例の全体構成を示すブロック線図、第２図は、前記実
施例で用いられている包絡線検波回路の構成を示す回路
図、第３図（Ａ）乃至（Ｄ）は、前記包絡線検波回路の
入出力波形の例を示す線図、第４図は、前記実施例で用
いられているＡ／Ｄ変換器、ＲＡＭ、Ｄ／Ａ変換器及び
コントローラの構成を示すブロック線図、第５図は、前
記実施例におけるＡ／Ｄ変換の状態を示すタイムチャー
ト、第６図は、同じ＜Ｄ／Ａ変換の状態を示すタイムチ
ャート、第７図は、前記実施例で用いられているＡＭ変
調器の構成を示す回路図、第８図（Ａ）乃至（Ｄ）は、
前記実施例の各部動作波形を示す線図である。 １０・・・減衰器、 １２・・・増幅器、１６
・・・包絡線検波回路、 １８・・・Ａ／Ｄ変換器、２
０・・・ＲＡＭ、 ２２・・・Ｄ／Ａ変換
器、２４・・・コントローラ、 ２６・・・増幅器、
２８・・・シンセサイザ、 ３０・・・ＡＭ変調器。
施例の全体構成を示すブロック線図、第２図は、前記実
施例で用いられている包絡線検波回路の構成を示す回路
図、第３図（Ａ）乃至（Ｄ）は、前記包絡線検波回路の
入出力波形の例を示す線図、第４図は、前記実施例で用
いられているＡ／Ｄ変換器、ＲＡＭ、Ｄ／Ａ変換器及び
コントローラの構成を示すブロック線図、第５図は、前
記実施例におけるＡ／Ｄ変換の状態を示すタイムチャー
ト、第６図は、同じ＜Ｄ／Ａ変換の状態を示すタイムチ
ャート、第７図は、前記実施例で用いられているＡＭ変
調器の構成を示す回路図、第８図（Ａ）乃至（Ｄ）は、
前記実施例の各部動作波形を示す線図である。 １０・・・減衰器、 １２・・・増幅器、１６
・・・包絡線検波回路、 １８・・・Ａ／Ｄ変換器、２
０・・・ＲＡＭ、 ２２・・・Ｄ／Ａ変換
器、２４・・・コントローラ、 ２６・・・増幅器、
２８・・・シンセサイザ、 ３０・・・ＡＭ変調器。
Claims (4)
- （１）電子機器に印加される電気雑音を計測し、再生す
るための電気雑音の計測・再生装置において、 前記電気雑音を包絡線検波する手段と、 該包絡線検波手段の出力を高速でアナログ−デジタル変
換して記憶する手段と、 該記憶値に所定の演算をなした結果を高速でデジタル−
アナログ変換して、前記包絡線に対応する波形をアナロ
グ信号に再生する手段と、 前記電気雑音の中心周波数を有するキャリア信号を発生
する手段と、 該キャリア信号を前記アナログ信号により振幅変調して
電力増幅する手段と、 を備えたことを特徴とする電気雑音の計測・再生装置。 - （２）前記包絡線検波手段の入力側に、電気雑音の入力
レベルを調整するための手段が設けられている特許請求
の範囲第１項記載の電気雑音の計測・再生装置。 - （３）前記記憶手段が、前記包絡線検波手段の出力レベ
ルが設定値以上となつてから、設定時間が経過する迄の
包絡線波形を記憶するようにされている特許請求の範囲
第１項記載の電気雑音の計測・再生装置。 - （４）前記振幅変調・電力増幅手段の増幅率が可変とさ
れている特許請求の範囲第１項記載の電気雑音の計測・
再生装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9626785A JPS61254865A (ja) | 1985-05-07 | 1985-05-07 | 電気雑音の計測・再生装置 |
| US06/859,991 US4806845A (en) | 1985-05-07 | 1986-05-05 | System for measuring and generating electric noise |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9626785A JPS61254865A (ja) | 1985-05-07 | 1985-05-07 | 電気雑音の計測・再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61254865A true JPS61254865A (ja) | 1986-11-12 |
| JPH0445074B2 JPH0445074B2 (ja) | 1992-07-23 |
Family
ID=14160378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9626785A Granted JPS61254865A (ja) | 1985-05-07 | 1985-05-07 | 電気雑音の計測・再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61254865A (ja) |
-
1985
- 1985-05-07 JP JP9626785A patent/JPS61254865A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0445074B2 (ja) | 1992-07-23 |
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