JPS6219738A - 使い捨てコツプのカ−ル部不良検査装置 - Google Patents
使い捨てコツプのカ−ル部不良検査装置Info
- Publication number
- JPS6219738A JPS6219738A JP15828885A JP15828885A JPS6219738A JP S6219738 A JPS6219738 A JP S6219738A JP 15828885 A JP15828885 A JP 15828885A JP 15828885 A JP15828885 A JP 15828885A JP S6219738 A JPS6219738 A JP S6219738A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- beam spot
- cup
- curling part
- tip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は紙コツプあるいは合成樹脂製のコツプ等の使い
捨てコツプにおける口縁部に形成されたカール部の不良
、例えば割れ目、欠落、めくれ等の不良を検査するため
の装置に関する。
捨てコツプにおける口縁部に形成されたカール部の不良
、例えば割れ目、欠落、めくれ等の不良を検査するため
の装置に関する。
使い捨てコツプの製造は自動化され、１台の整形機によ
り毎秒数個のコツプが製造される。ところで、この製造
されたコツプの中には約１００万個に数個の割合でカー
ル部に不良が発生しているが、従来はこれを全て人間の
目で検査しているのが現状である。
り毎秒数個のコツプが製造される。ところで、この製造
されたコツプの中には約１００万個に数個の割合でカー
ル部に不良が発生しているが、従来はこれを全て人間の
目で検査しているのが現状である。
ところで、前記目視による検査にあっては、不良品の割
合が非常に少ないために見落として、良品の中に不良品
が混入して問題となる。そして、使い捨てコツプは価格
が非常に安価であり付加価値が低いために、非常に僅か
な不良品の混入も問題となり、企業イメージを落とすこ
とになる。そこで、多くの検査員を動員しなければなら
ず、それだけ利益が少なくなるという欠点があった。
合が非常に少ないために見落として、良品の中に不良品
が混入して問題となる。そして、使い捨てコツプは価格
が非常に安価であり付加価値が低いために、非常に僅か
な不良品の混入も問題となり、企業イメージを落とすこ
とになる。そこで、多くの検査員を動員しなければなら
ず、それだけ利益が少なくなるという欠点があった。
本発明は畝上の欠点を是正せんとするもので、矩形状に
絞った。レーザビームスポットをコツプのカール部の円
周に沿って照射すると共にレーザビームスポットあるい
はコツプの何れかを回転させ、その反射光量の変化を検
出することによりカール〔発明の実施例〕 本発明の一実施例を図面について説明するに、ａを直径
５寵φ程度のビーム平行光線すに拡大するビームエキス
パンダ、３はウェッジプリズム３なわち、ビーム平行光
線すの先端は直径５龍φ程度の円によるリングとなる。
絞った。レーザビームスポットをコツプのカール部の円
周に沿って照射すると共にレーザビームスポットあるい
はコツプの何れかを回転させ、その反射光量の変化を検
出することによりカール〔発明の実施例〕 本発明の一実施例を図面について説明するに、ａを直径
５寵φ程度のビーム平行光線すに拡大するビームエキス
パンダ、３はウェッジプリズム３なわち、ビーム平行光
線すの先端は直径５龍φ程度の円によるリングとなる。
そして、ウェッジプリズム３ａからのビーム平行光線す
は、次のシリンドリカルレンズ３ｂに入射され、ここで
ビーム平行光線すは第３図に示す如く焦点面上で円の中
心方向に向いた線状のビームスポットＣとなる。
は、次のシリンドリカルレンズ３ｂに入射され、ここで
ビーム平行光線すは第３図に示す如く焦点面上で円の中
心方向に向いた線状のビームスポットＣとなる。
すなわち、シリンドリカルレンズ３ｂは、ある直径のビ
ーム平行光線すを入射すると焦点面上で一方向のみ絞ら
れ、他方向はもとのビームのままとなるので線状のビー
ムスポットＣとなる。従って、第４図（ａ）に示す如く
回転円筒体３の回転に伴ってビームエキスパンダ２より
のレーザ光ｂｉ ａは、ウェッジプリズム３ａでリング
状のビーム平行光線すになり、かつシリンドリカルレン
ズ３ｂで線状のビームスポットＣとなるので、第４図（
ｂ）に示す如くリング状のビームｄとなる。
ーム平行光線すを入射すると焦点面上で一方向のみ絞ら
れ、他方向はもとのビームのままとなるので線状のビー
ムスポットＣとなる。従って、第４図（ａ）に示す如く
回転円筒体３の回転に伴ってビームエキスパンダ２より
のレーザ光ｂｉ ａは、ウェッジプリズム３ａでリング
状のビーム平行光線すになり、かつシリンドリカルレン
ズ３ｂで線状のビームスポットＣとなるので、第４図（
ｂ）に示す如くリング状のビームｄとなる。
４は前記リング状のビームｄの部分にカール部４ａが位
置するように固定配置される祇あるいは合成樹脂製の使
い捨てコツプ、５は前記回転円筒体３とコツプ４の夫々
の中心を結ぶ軸線上に固定配置される受光素子にして、
回転円筒体３からのビームｄがコツプ４のカール部４ａ
に照射サレ、ここで反射される反射光を受光するもので
ある。
置するように固定配置される祇あるいは合成樹脂製の使
い捨てコツプ、５は前記回転円筒体３とコツプ４の夫々
の中心を結ぶ軸線上に固定配置される受光素子にして、
回転円筒体３からのビームｄがコツプ４のカール部４ａ
に照射サレ、ここで反射される反射光を受光するもので
ある。
なお、線状のビー・ムスポットＣの長さはコツプ４のカ
ール部４ａの厚みより大きいものとする。
ール部４ａの厚みより大きいものとする。
また、受光素子５が前記中心線上に配置されて次に第７
図のブロック図について説明するに、うかを比較し、飛
び出しているときに出力を送出れ、比較器７で予め定め
られたある設定値７ａ。
図のブロック図について説明するに、うかを比較し、飛
び出しているときに出力を送出れ、比較器７で予め定め
られたある設定値７ａ。
７ｂと比較され、該設定値７ａ、７ｂで決定され１比較
器７は出力を送出する。そして、この出力によって出力
回路８は警報を発し不良品であることを報知する。
器７は出力を送出する。そして、この出力によって出力
回路８は警報を発し不良品であることを報知する。
−れる。なお、この場合の受光素子５よりの出力＝第９
図（ｂ）の如く出力の低下が長い時間となる。
図（ｂ）の如く出力の低下が長い時間となる。
さらに、コツプ４のカール部４ａに第１０図（ａｌの如
き巻き込みが外側に出ている、すなわち、めくれ部４ｄ
があるときには、受光素子５の出力は第１０図（ｂ）の
如く一部が増大した出力となる。従って、比較器７より
出力が送出されて警報が発せられる。
き巻き込みが外側に出ている、すなわち、めくれ部４ｄ
があるときには、受光素子５の出力は第１０図（ｂ）の
如く一部が増大した出力となる。従って、比較器７より
出力が送出されて警報が発せられる。
なお、前記した実施例は回転円筒体を回転することによ
りビームスポットを回転しコツプを固定したものを示し
たが、これはコツプを回転しビームスポットを固定して
も良いことは勿論のことである。しかし、前者の方法の
ほうが回転数を上げることができ、しかも被測定物であ
るコツプの交換が迅速に行えることから、検査時間を早
くすることができる。
りビームスポットを回転しコツプを固定したものを示し
たが、これはコツプを回転しビームスポットを固定して
も良いことは勿論のことである。しかし、前者の方法の
ほうが回転数を上げることができ、しかも被測定物であ
るコツプの交換が迅速に行えることから、検査時間を早
くすることができる。
本発明は前記したように、レーザ光源よりのレーザ光線
を線状のビームスポットとし、このビームスポットを使
い捨てコツプのカール部に照射すると共にビームスポッ
トあるいはコツプの何れかを回転させ、該カール部より
の反射光を受光素子にて検出し、その出力の変化によっ
てコツプの不良を判別するものであるから、ビームスポ
ットあるいはコツプの一回転で不良検査が行え、従って
検査時間が非常に短くなり、しかもレーザ光線を線状の
ビームスポットとし、細く絞ったので非常に細い割れ目
等も検出できる外、構造および回路も簡単で安価に製作
し得る等の効果を有するものである。
を線状のビームスポットとし、このビームスポットを使
い捨てコツプのカール部に照射すると共にビームスポッ
トあるいはコツプの何れかを回転させ、該カール部より
の反射光を受光素子にて検出し、その出力の変化によっ
てコツプの不良を判別するものであるから、ビームスポ
ットあるいはコツプの一回転で不良検査が行え、従って
検査時間が非常に短くなり、しかもレーザ光線を線状の
ビームスポットとし、細く絞ったので非常に細い割れ目
等も検出できる外、構造および回路も簡単で安価に製作
し得る等の効果を有するものである。
第１図は本発明に係る装置の一実施例をしめず原理図、
第２図（ａ） 、 （ｂ）は同上におけるウェッジプリ
ズムの説明図、第３図は第１図におけるシリンドリカル
レンズの説明図、第４図（ａ） 、 （ｂ）はウェッジ
プリズムとシリンドリカルレンズとを組合せた説明図と
ビームスポット図、第５図（ａｌ 、 （ｂｌおよび第
６図（ａｌ 、 ［１））は受光素子とビームスポット
との関係を示す図と受光素子の出力図、第７図はブロッ
ク図、第８図（ａ） 、 （ｂ）と第９図（ａ） 、
（ｂ）および第１０図（ａ） 、 （ｂ）はコツプの不
良状態を示すカール部の正面図と受光素子の出力図であ
る。 １１・・・レーザ光源
、４・・・使い捨てコツプ、５・・・受光素子。 特許出願人 東罐興業株式会社 同 名古屋電機工業株式会社 第１図
第２図（ａ） 、 （ｂ）は同上におけるウェッジプリ
ズムの説明図、第３図は第１図におけるシリンドリカル
レンズの説明図、第４図（ａ） 、 （ｂ）はウェッジ
プリズムとシリンドリカルレンズとを組合せた説明図と
ビームスポット図、第５図（ａｌ 、 （ｂｌおよび第
６図（ａｌ 、 ［１））は受光素子とビームスポット
との関係を示す図と受光素子の出力図、第７図はブロッ
ク図、第８図（ａ） 、 （ｂ）と第９図（ａ） 、
（ｂ）および第１０図（ａ） 、 （ｂ）はコツプの不
良状態を示すカール部の正面図と受光素子の出力図であ
る。 １１・・・レーザ光源
、４・・・使い捨てコツプ、５・・・受光素子。 特許出願人 東罐興業株式会社 同 名古屋電機工業株式会社 第１図
Claims (1)
- レーザ光源と、該レーザ光源よりのレーザ光線を線状の
ビームスポットに変換する手段と、該手段よりのビーム
スポットの焦点位置に配置される使い捨てコップと、該
コップあるいはビームスポットの何れかを回転させる手
段と、前記コップのカール部よりの前記ビームスポット
の反射光を検出する受光素子と、該受光素子よりの出力
変化を検出し警報を発する回路とより構成したことを特
徴とする使い捨てコップのカール部不良検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15828885A JPS6219738A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 使い捨てコツプのカ−ル部不良検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15828885A JPS6219738A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 使い捨てコツプのカ−ル部不良検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6219738A true JPS6219738A (ja) | 1987-01-28 |
Family
ID=15668320
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15828885A Pending JPS6219738A (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 使い捨てコツプのカ−ル部不良検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6219738A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5004347A (en) * | 1988-11-21 | 1991-04-02 | Heuft-Qualiplus B.V. | Method and an apparatus for inspecting the edge of a lid |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51108881A (ja) * | 1975-03-20 | 1976-09-27 | Yamamura Glass Co Ltd | Garasubinnochobukensahohoto sonosochi |
| JPS55110905A (en) * | 1979-02-20 | 1980-08-27 | Hajime Sangyo Kk | Defect detecting device |
| JPS57125305A (en) * | 1981-01-27 | 1982-08-04 | Fuji Electric Co Ltd | Device for checking surface of body |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP15828885A patent/JPS6219738A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51108881A (ja) * | 1975-03-20 | 1976-09-27 | Yamamura Glass Co Ltd | Garasubinnochobukensahohoto sonosochi |
| JPS55110905A (en) * | 1979-02-20 | 1980-08-27 | Hajime Sangyo Kk | Defect detecting device |
| JPS57125305A (en) * | 1981-01-27 | 1982-08-04 | Fuji Electric Co Ltd | Device for checking surface of body |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5004347A (en) * | 1988-11-21 | 1991-04-02 | Heuft-Qualiplus B.V. | Method and an apparatus for inspecting the edge of a lid |
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