JPS62195780U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62195780U JPS62195780U JP8422986U JP8422986U JPS62195780U JP S62195780 U JPS62195780 U JP S62195780U JP 8422986 U JP8422986 U JP 8422986U JP 8422986 U JP8422986 U JP 8422986U JP S62195780 U JPS62195780 U JP S62195780U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- dielectric strength
- semiconductor devices
- test device
- strength test
- power source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案による絶縁耐圧試験装置の実施
例を示すブロツク図である。第２図、第３図は従
来の絶縁耐圧試験装置を示すブロツク図である。 １……電極接触子、２……印加電源、３……電
流検出器、４……開閉器、５……試験テーブル、
６……供給部、７……収納部。
例を示すブロツク図である。第２図、第３図は従
来の絶縁耐圧試験装置を示すブロツク図である。 １……電極接触子、２……印加電源、３……電
流検出器、４……開閉器、５……試験テーブル、
６……供給部、７……収納部。
Claims (1)
- 半導体素子の絶縁耐圧試験装置の試験装置にお
いて、単一の印加電源と複数の検出回路を有する
絶縁耐圧試験器に、供給、収納、試験テーブル等
の機構部をもち、１度に複数の半導体素子を個別
判定出来ることを特徴とする絶縁耐圧試験装置で
ある。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8422986U JPS62195780U (ja) | 1986-06-02 | 1986-06-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8422986U JPS62195780U (ja) | 1986-06-02 | 1986-06-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62195780U true JPS62195780U (ja) | 1987-12-12 |
Family
ID=30938536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8422986U Pending JPS62195780U (ja) | 1986-06-02 | 1986-06-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62195780U (ja) |
-
1986
- 1986-06-02 JP JP8422986U patent/JPS62195780U/ja active Pending
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