JPS61139481U - - Google Patents
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- JPS61139481U JPS61139481U JP2240985U JP2240985U JPS61139481U JP S61139481 U JPS61139481 U JP S61139481U JP 2240985 U JP2240985 U JP 2240985U JP 2240985 U JP2240985 U JP 2240985U JP S61139481 U JPS61139481 U JP S61139481U
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- JP
- Japan
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- semiconductor devices
- multiple semiconductor
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- testing
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 8
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案による多連半導体素子試験装置
の一実施例を示すブロツク図、第２図、第３図は
従来の半導体素子試験装置を示すブロツク図。 １……直流特性試験装置、２……切り替え装置
、３……表示装置、４……半導体素子測定治具、
５……ステーシヨンターミナル。
の一実施例を示すブロツク図、第２図、第３図は
従来の半導体素子試験装置を示すブロツク図。 １……直流特性試験装置、２……切り替え装置
、３……表示装置、４……半導体素子測定治具、
５……ステーシヨンターミナル。
Claims (1)
- 多連半導体素子を試験する装置において、直流
特性試験装置と多連半導体素子の１素子を接続（
測定ライン）し、直流特性試験装置で試験し、そ
の結果を表示装置に表示し、次々と自動的に切り
替えて行く装置で、直流特性試験装置１台で多連
の半導体素子を自動的に試験出来ることを特徴と
する多連半導体素子試験装置である。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2240985U JPS61139481U (ja) | 1985-02-19 | 1985-02-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2240985U JPS61139481U (ja) | 1985-02-19 | 1985-02-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61139481U true JPS61139481U (ja) | 1986-08-29 |
Family
ID=30514676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2240985U Pending JPS61139481U (ja) | 1985-02-19 | 1985-02-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61139481U (ja) |
-
1985
- 1985-02-19 JP JP2240985U patent/JPS61139481U/ja active Pending
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