JPS62195545A - 単結晶ｘ線回折装置の試料加熱炉 - Google Patents
単結晶ｘ線回折装置の試料加熱炉Info
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- JPS62195545A JPS62195545A JP61037286A JP3728686A JPS62195545A JP S62195545 A JPS62195545 A JP S62195545A JP 61037286 A JP61037286 A JP 61037286A JP 3728686 A JP3728686 A JP 3728686A JP S62195545 A JPS62195545 A JP S62195545A
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- JP
- Japan
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- sample
- outer frame
- axis
- furnace
- heat
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- Pending
Links
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims abstract description 10
- 238000004467 single crystal X-ray diffraction Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
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- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は単結晶のＸ線回折測定を行うための４軸ゴニオ
メータに取り付けて試料を加熱するための炉に関する。
メータに取り付けて試料を加熱するための炉に関する。
４軸ゴニオメータは試料を一点で交差するＷ軸、χ軸お
よびψ軸よって回転すると共に回折Ｘ線の検出器を２θ
軸によって回動させる必要がある。
よびψ軸よって回転すると共に回折Ｘ線の検出器を２θ
軸によって回動させる必要がある。
従って機構が複雑で可動部が多いために、試料を炉の中
に収容すると可動部の動作に支障を生じた。
に収容すると可動部の動作に支障を生じた。
このため従来は炉を用いることなく高温に加熱した気体
をノズルから試料に吹き付ける加熱装置が用いられてい
た。しかし試料における気体吹き付は面とその裏側とで
温度に差異を生ずるから、精密な測定を行うことが困難
であると共に試料を充分高温度に加熱し得ない等の欠点
があった。従って本発明はこのような欠点のない試料加
熱炉を提供しようとするものである。
をノズルから試料に吹き付ける加熱装置が用いられてい
た。しかし試料における気体吹き付は面とその裏側とで
温度に差異を生ずるから、精密な測定を行うことが困難
であると共に試料を充分高温度に加熱し得ない等の欠点
があった。従って本発明はこのような欠点のない試料加
熱炉を提供しようとするものである。
本発明は４軸ゴニオメータにおける円環状の外枠に耐熱
絶縁体よりなる円柱状の炉の基端を固定し、その炉の先
端を半球状に形成すると共にこの半球状の部分に軸を含
む割溝を設けて試料支持杆の先端を挿入する。この支持
杆を前記外枠の半径方向に配置し、その基端を上記外枠
に沿って移動しうるように上記外枠で保持して、かつ支
持杆を自転可能なように外枠に取り付ける。また上記外
枠は、これを１つの直径方向の軸によって回転自在に支
持し、更に前記円柱状の炉にその紬と直角なりｑ溝を設
けて、前記支持杆の先端に取り付けた試料に入射するＸ
線並びに試料で回折したＸ線の通路となし、上記試料を
囲むように前記耐熱絶縁体における割溝の内面に電熱線
を配設したものである。
絶縁体よりなる円柱状の炉の基端を固定し、その炉の先
端を半球状に形成すると共にこの半球状の部分に軸を含
む割溝を設けて試料支持杆の先端を挿入する。この支持
杆を前記外枠の半径方向に配置し、その基端を上記外枠
に沿って移動しうるように上記外枠で保持して、かつ支
持杆を自転可能なように外枠に取り付ける。また上記外
枠は、これを１つの直径方向の軸によって回転自在に支
持し、更に前記円柱状の炉にその紬と直角なりｑ溝を設
けて、前記支持杆の先端に取り付けた試料に入射するＸ
線並びに試料で回折したＸ線の通路となし、上記試料を
囲むように前記耐熱絶縁体における割溝の内面に電熱線
を配設したものである。
このように本発明の装置は、支持杆の先端に取り付けら
れる試料を耐熱絶縁体で囲んで、その内側に配置した電
熱線で直接加熱するから、十数百度以上に及ぶ高温度ま
で、しかも試料の各部に温度差を生ずることなく、均等
に加熱することができる。かつ試料支持杆の自転によっ
て試料Ｉこφ回転を行わせることができると共にその支
持杆の基端を外枠に沿って移動させることによりχ回転
が行われる。また外枠を、その１つの直径を軸として回
転することによって試料にＱ回転を与えることができる
。更にこれらの運動に際して試料支持杆は炉の半球状部
分における割溝中を移動すると共に試料に入射するＸ線
および試料で回折したＸ線は炉の軸と直角な割溝を通過
して回折角の測定が行われる。また上記割溝の開口面を
Ｘ線の透過材で塞ぐことによって試料の加熱温度を更に
上昇し得るが、この透過材によるＸ線の吸収は試料の前
記回転並びに回折角２θに関係なく一定に保たれるから
正確な測定が行われる。
れる試料を耐熱絶縁体で囲んで、その内側に配置した電
熱線で直接加熱するから、十数百度以上に及ぶ高温度ま
で、しかも試料の各部に温度差を生ずることなく、均等
に加熱することができる。かつ試料支持杆の自転によっ
て試料Ｉこφ回転を行わせることができると共にその支
持杆の基端を外枠に沿って移動させることによりχ回転
が行われる。また外枠を、その１つの直径を軸として回
転することによって試料にＱ回転を与えることができる
。更にこれらの運動に際して試料支持杆は炉の半球状部
分における割溝中を移動すると共に試料に入射するＸ線
および試料で回折したＸ線は炉の軸と直角な割溝を通過
して回折角の測定が行われる。また上記割溝の開口面を
Ｘ線の透過材で塞ぐことによって試料の加熱温度を更に
上昇し得るが、この透過材によるＸ線の吸収は試料の前
記回転並びに回折角２θに関係なく一定に保たれるから
正確な測定が行われる。
図面は本発明の一実施例で、先端が半球状をなした円柱
状の炉体１をアルミナのような耐熱絶縁体で形成しであ
る。第１図はその正面図、第２図、第３図および第４図
はそれぞれ第１図のＡ−Ａ。
状の炉体１をアルミナのような耐熱絶縁体で形成しであ
る。第１図はその正面図、第２図、第３図および第４図
はそれぞれ第１図のＡ−Ａ。
Ｂ−Ｂ、Ｃ−Ｃ断面図で、上記炉体■の先端にその軸を
含む１つの割？１ｌｆ２を設けると共に前記半球状部分
の中心点を含んで軸に直角な割Ｎ３を出来るだけ広範囲
に形成しである。かつ炉体ｌの内部には円柱状の空洞４
を設けて、先端部分には半円形のボビン５および６を前
記割溝２の両側に相対向するように嵌合し、また基部に
は円板形の１つのボビン７を嵌合して、ボビン５．６と
７との中間に割ＷＩｔ３が配置されるようにしである。
含む１つの割？１ｌｆ２を設けると共に前記半球状部分
の中心点を含んで軸に直角な割Ｎ３を出来るだけ広範囲
に形成しである。かつ炉体ｌの内部には円柱状の空洞４
を設けて、先端部分には半円形のボビン５および６を前
記割溝２の両側に相対向するように嵌合し、また基部に
は円板形の１つのボビン７を嵌合して、ボビン５．６と
７との中間に割ＷＩｔ３が配置されるようにしである。
上記ボビン５．６には割溝２および３と対向するように
電熱線８．９を巻回し、ボビン７には割溝３と対向する
ように電熱線１０を巻回しである。なお図示してないが
、試料加熱温度を高くするためには、割溝３の開口面を
適当なＸ線透過板で閉塞する。
電熱線８．９を巻回し、ボビン７には割溝３と対向する
ように電熱線１０を巻回しである。なお図示してないが
、試料加熱温度を高くするためには、割溝３の開口面を
適当なＸ線透過板で閉塞する。
第５図は上記炉体１を単結晶Ｘ線回折測定用の４軸ゴニ
オメータに取り付けた状態の斜視図で、円環状の外枠Ｉ
ｆは径方向の支柱１２によって回転自在に支持されてい
る。この外枠の中心に前記炉体Ｉを配置して、その軸線
が上記支柱１２の延長上にあり、かつその軸線が割溝３
内を通る点Ｏが外枠１１の中心点と一致すると共に割溝
２が外枠ＩＩを含む面と平行に配置されるように腕１３
で上記外枠と炉体とを固定しである。また外枠には半径
方向に配置した試料支持杆１４を設けて、その基端が上
記外枠１１上を移動し、先端が常に中心点上にあるよう
にしであるが、この支持杆の先端に試料を取り付けであ
る。従って第４図に示したように支持杆１４は割溝２内
に挿入されて、試料１５が点０に配置される。なお前記
支柱Ｉ２は基台１６に取り付けられているが、この基台
には支柱Ｉ２を軸として回転するように回折Ｘ線の検出
器１７を取り付けである。すなわち試料Ｉ５は外枠１１
の回転によってＷ回転を行い、支持杆１４の基端が外枠
Ｉｆに沿って移動することによりχ回転を行うと共に支
持杆１４自体の回転ｌこよってφ回転を行う。また炉体
の割溝３を通して試料にＸ１ｉｌｐを照射し、回折Ｘ線
Ｓを検出器１７で検出することによって、回折角２θを
求めることができる。
オメータに取り付けた状態の斜視図で、円環状の外枠Ｉ
ｆは径方向の支柱１２によって回転自在に支持されてい
る。この外枠の中心に前記炉体Ｉを配置して、その軸線
が上記支柱１２の延長上にあり、かつその軸線が割溝３
内を通る点Ｏが外枠１１の中心点と一致すると共に割溝
２が外枠ＩＩを含む面と平行に配置されるように腕１３
で上記外枠と炉体とを固定しである。また外枠には半径
方向に配置した試料支持杆１４を設けて、その基端が上
記外枠１１上を移動し、先端が常に中心点上にあるよう
にしであるが、この支持杆の先端に試料を取り付けであ
る。従って第４図に示したように支持杆１４は割溝２内
に挿入されて、試料１５が点０に配置される。なお前記
支柱Ｉ２は基台１６に取り付けられているが、この基台
には支柱Ｉ２を軸として回転するように回折Ｘ線の検出
器１７を取り付けである。すなわち試料Ｉ５は外枠１１
の回転によってＷ回転を行い、支持杆１４の基端が外枠
Ｉｆに沿って移動することによりχ回転を行うと共に支
持杆１４自体の回転ｌこよってφ回転を行う。また炉体
の割溝３を通して試料にＸ１ｉｌｐを照射し、回折Ｘ線
Ｓを検出器１７で検出することによって、回折角２θを
求めることができる。
図面は本発明の一実施例で、第１図は炉体の正面図、第
２図、第３図および第４図はそれぞれ第１図のＡ−Ａ、
Ｂ−ＢおよびＣ−Ｃ断面図、また第５図は第１図から第
４図に示した炉体を４軸ゴニオメータに取り付けた状態
の斜視図である。なお図において、！は炉体、２．３は
割溝、５．６．７はボビン８．９、ＩＯは電熱線、１】
は外枠、１４は試料支持杆、１５は試料、１７はＸ線検
出器、また４は空洞、１２は支柱、１３は腕、Ｉ６は基
台である。
２図、第３図および第４図はそれぞれ第１図のＡ−Ａ、
Ｂ−ＢおよびＣ−Ｃ断面図、また第５図は第１図から第
４図に示した炉体を４軸ゴニオメータに取り付けた状態
の斜視図である。なお図において、！は炉体、２．３は
割溝、５．６．７はボビン８．９、ＩＯは電熱線、１】
は外枠、１４は試料支持杆、１５は試料、１７はＸ線検
出器、また４は空洞、１２は支柱、１３は腕、Ｉ６は基
台である。
Claims (1)
- 径方向を軸として回転自在に支持された円環状の外枠に
基端を固定して先端を上記外枠と同心の半球状に形成し
た円柱状の耐熱絶縁体における上記先端部分にその軸を
含む１つの割溝と上記半球状部分の中心点を含みかつ上
記軸に直角な割溝とを形成して、基端が前記外枠に沿っ
て移動する自転自在な試料支持杆を上記外枠の半径方向
に配置し、その先端の試料取付部と上記外枠の中心並び
に前記耐熱絶縁体の先端における半球状部分の中心点と
を一致させて、前記２つの割溝の内面に上記試料支持杆
の先端部分を囲むように電熱線を配設したことを特徴と
する単結晶Ｘ線回折装置の試料加熱炉
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61037286A JPS62195545A (ja) | 1986-02-24 | 1986-02-24 | 単結晶ｘ線回折装置の試料加熱炉 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61037286A JPS62195545A (ja) | 1986-02-24 | 1986-02-24 | 単結晶ｘ線回折装置の試料加熱炉 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62195545A true JPS62195545A (ja) | 1987-08-28 |
Family
ID=12493461
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61037286A Pending JPS62195545A (ja) | 1986-02-24 | 1986-02-24 | 単結晶ｘ線回折装置の試料加熱炉 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62195545A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107966463A (zh) * | 2017-12-08 | 2018-04-27 | 中国科学院青海盐湖研究所 | 一种x射线衍射仪用测量液体样品的样品台 |
| CN112113983A (zh) * | 2020-08-03 | 2020-12-22 | 河南平高电气股份有限公司 | 一种三支柱绝缘子探伤用夹持装置及探伤设备 |
-
1986
- 1986-02-24 JP JP61037286A patent/JPS62195545A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107966463A (zh) * | 2017-12-08 | 2018-04-27 | 中国科学院青海盐湖研究所 | 一种x射线衍射仪用测量液体样品的样品台 |
| CN112113983A (zh) * | 2020-08-03 | 2020-12-22 | 河南平高电气股份有限公司 | 一种三支柱绝缘子探伤用夹持装置及探伤设备 |
| CN112113983B (zh) * | 2020-08-03 | 2024-03-29 | 河南平高电气股份有限公司 | 一种三支柱绝缘子探伤用夹持装置及探伤设备 |
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