JPH01260353A - 単結晶x線回折用高温炉 - Google Patents
単結晶x線回折用高温炉Info
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- JPH01260353A JPH01260353A JP63088210A JP8821088A JPH01260353A JP H01260353 A JPH01260353 A JP H01260353A JP 63088210 A JP63088210 A JP 63088210A JP 8821088 A JP8821088 A JP 8821088A JP H01260353 A JPH01260353 A JP H01260353A
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- Japan
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- single crystal
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は単結晶X線回折用高温炉に関するものである。
[従来の技術]
従来、X線回折用高温炉は、試料が粉末もしくは多結晶
体のものが多く、このため熱源は電熱線または電熱線に
よって熱せられた金属板が使用されていた。またハロゲ
ンランプを利用した多結晶体用高温炉も、[ジャーナル
・オブ・アプライド・クリスタログラフイJ 1976
年刊行、9巻、466頁に報告されている。単結晶用の
ものとしては、検出器がX線カメラのものが、[ミネラ
ロジカル・ジャーナルJ 1983年刊行、11巻、5
号、232頁に報告されている。
体のものが多く、このため熱源は電熱線または電熱線に
よって熱せられた金属板が使用されていた。またハロゲ
ンランプを利用した多結晶体用高温炉も、[ジャーナル
・オブ・アプライド・クリスタログラフイJ 1976
年刊行、9巻、466頁に報告されている。単結晶用の
ものとしては、検出器がX線カメラのものが、[ミネラ
ロジカル・ジャーナルJ 1983年刊行、11巻、5
号、232頁に報告されている。
[発明が解決しようとする課題]
上記従来のX線回折用高温炉のうち、多結晶体用のもの
は、結晶の方位を調整する機能を持たないため、単結晶
体用のものに利用することができず、従って詳しい正確
な構造解析に用いることはできない。また単結晶体用の
ものは、検出器が高温炉内部に設置され、かつカメラフ
ィルムが用いられているために定量的解析はできず、こ
れもまた詳しい構造解析には不向きである。
は、結晶の方位を調整する機能を持たないため、単結晶
体用のものに利用することができず、従って詳しい正確
な構造解析に用いることはできない。また単結晶体用の
ものは、検出器が高温炉内部に設置され、かつカメラフ
ィルムが用いられているために定量的解析はできず、こ
れもまた詳しい構造解析には不向きである。
本発明の目的は、このような従来の課題を解決し、単結
晶体の方位を自由に調整することができ、かつシンチレ
ーション検出器を使用でき、高角度に回折X線を検出す
ることができる単結晶X線回折用高温炉を提供すること
におる。
晶体の方位を自由に調整することができ、かつシンチレ
ーション検出器を使用でき、高角度に回折X線を検出す
ることができる単結晶X線回折用高温炉を提供すること
におる。
[課題を解決するための手段]
本発明は、楕円球状の長軸上に2つの焦点を有゛する反
射鏡が中空内面に形成され、その中空内へX線を通過さ
せる開口部分を備えた箱体と、前記焦点の1つに単結晶
試料を位置決めし、単結晶方位を所望の回折角に設定す
る3軸ゴニオメータと、前記焦点の別な1つに配設され
たハロゲンランプとで構成されることを特徴とする単結
晶X線回折用高温炉である。
射鏡が中空内面に形成され、その中空内へX線を通過さ
せる開口部分を備えた箱体と、前記焦点の1つに単結晶
試料を位置決めし、単結晶方位を所望の回折角に設定す
る3軸ゴニオメータと、前記焦点の別な1つに配設され
たハロゲンランプとで構成されることを特徴とする単結
晶X線回折用高温炉である。
し作用1
楕円が長軸上に2つの円中心を持ち得ることは公知であ
る。球体は当然これに準じ、本発明は箱体の内部を中空
の楕円球状にし、その内面を反射鏡に形成することによ
り、2つの焦点を得る。
る。球体は当然これに準じ、本発明は箱体の内部を中空
の楕円球状にし、その内面を反射鏡に形成することによ
り、2つの焦点を得る。
方位調整、軸立て可能なゴニオメータに、セラミックス
試料ホルダに取り付けられた単結晶をセットする。この
試料位置が箱体の内面反射鏡の焦点になるように、反射
鏡を形成し、もう一方の焦点位置にハロゲンランプをセ
ットする。この箱体は上下2つに分れており、これらは
2本の細い柱で連結されてあり、この柱以外は開口部分
に形成されている。また単結晶方位はゴニオメータによ
って自由に調整することができ、大きく広角度に開いた
開口部分によりシンチレーション検出器の検出範囲を広
く設定することができる。
試料ホルダに取り付けられた単結晶をセットする。この
試料位置が箱体の内面反射鏡の焦点になるように、反射
鏡を形成し、もう一方の焦点位置にハロゲンランプをセ
ットする。この箱体は上下2つに分れており、これらは
2本の細い柱で連結されてあり、この柱以外は開口部分
に形成されている。また単結晶方位はゴニオメータによ
って自由に調整することができ、大きく広角度に開いた
開口部分によりシンチレーション検出器の検出範囲を広
く設定することができる。
[実施例]
以下、第1図から第4図を参照して、本発明の実施例に
ついて詳細に説明する。
ついて詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例の縦断面図であって、三軸
ゴニオメータ1にセットされた試料2の様子を示してい
る。試料2は、円筒状セラミックス棒で形成された試料
ホルダ3に接着材で固定され、この試料ホルダ3はゴニ
オメータ1の中心軸上に取りつけられる。温度測定のた
めの熱電対4がセラミックス棒の中空内部を貫通し、そ
の先端は試料下部に直接接触するようにセットされる。
ゴニオメータ1にセットされた試料2の様子を示してい
る。試料2は、円筒状セラミックス棒で形成された試料
ホルダ3に接着材で固定され、この試料ホルダ3はゴニ
オメータ1の中心軸上に取りつけられる。温度測定のた
めの熱電対4がセラミックス棒の中空内部を貫通し、そ
の先端は試料下部に直接接触するようにセットされる。
第2図は、試料2をセットされた三軸ゴニオメータ1が
高温炉内にセットされた様子を示す縦断面図である。同
図において、ハロゲンランプ5は、内面が反射鏡に形成
された箱体6および7の焦点位置に配設されている。ま
た試料2はもう一方の焦点位置にセットされている。試
料2の単結晶の方位出し、軸立てのために三軸ゴニオメ
ータ1を動作させても、高温炉全体は動かず、常に同一
場所にセットされたままで、入射X線、回折入射をさえ
ぎることはない。箱体6および7の全体は、水冷パイプ
8により冷却されている。箱体の上部6と下部7とは、
分離しているが側面に付設された2本の柱9で連結され
ていて、この柱9以外の部分がオープンになっているこ
とによりX線は何ものにもさえぎられない。第3図は前
記応用例の平面図で2本の柱9、水冷パイプ8およびハ
ロゲンランプ5の取り付は位置が示されている。第4図
はX線の波長がi、o入、試料がYBa2Cu3O7,
Bの単結晶の場合に、この高温炉によって得られた80
0°Cと、室温での回折ピークの変化を示す比較グラフ
である。
高温炉内にセットされた様子を示す縦断面図である。同
図において、ハロゲンランプ5は、内面が反射鏡に形成
された箱体6および7の焦点位置に配設されている。ま
た試料2はもう一方の焦点位置にセットされている。試
料2の単結晶の方位出し、軸立てのために三軸ゴニオメ
ータ1を動作させても、高温炉全体は動かず、常に同一
場所にセットされたままで、入射X線、回折入射をさえ
ぎることはない。箱体6および7の全体は、水冷パイプ
8により冷却されている。箱体の上部6と下部7とは、
分離しているが側面に付設された2本の柱9で連結され
ていて、この柱9以外の部分がオープンになっているこ
とによりX線は何ものにもさえぎられない。第3図は前
記応用例の平面図で2本の柱9、水冷パイプ8およびハ
ロゲンランプ5の取り付は位置が示されている。第4図
はX線の波長がi、o入、試料がYBa2Cu3O7,
Bの単結晶の場合に、この高温炉によって得られた80
0°Cと、室温での回折ピークの変化を示す比較グラフ
である。
同図かられかるように、試料は室温では2つのピークが
認められるが(第4図(a))、800℃では結晶構造
が変化してシフトし、1つのピークとなっている(第4
図(b))。このようにして単結晶試料の回折X線の温
度変化を定量的に測定することができた。
認められるが(第4図(a))、800℃では結晶構造
が変化してシフトし、1つのピークとなっている(第4
図(b))。このようにして単結晶試料の回折X線の温
度変化を定量的に測定することができた。
[発明の効果]
本発明によれば、単結晶を試料とした高温での構造研究
をする場合に、炉を動かすことなく、高角度に回折X線
を定量的に測定することが可能なX線回折用高温炉を提
供することができる。
をする場合に、炉を動かすことなく、高角度に回折X線
を定量的に測定することが可能なX線回折用高温炉を提
供することができる。
第1図は本発明の一実施例に用いられる三軸ゴニオメー
タに設置された試料の縦断面図、第2図は本発明の一実
施例の縦断面図、第3図は本発明の一実施例の平面図、
第4図は回折ピーク変化の比較グラフである。 1・・・ゴニオメータ 2・・・試料 3・・・試料ホルダ 4・・・熱電対 5・・・ハロゲンランプ 6.7・・・箱体 8・・・水冷パイプ 9・・・柱
タに設置された試料の縦断面図、第2図は本発明の一実
施例の縦断面図、第3図は本発明の一実施例の平面図、
第4図は回折ピーク変化の比較グラフである。 1・・・ゴニオメータ 2・・・試料 3・・・試料ホルダ 4・・・熱電対 5・・・ハロゲンランプ 6.7・・・箱体 8・・・水冷パイプ 9・・・柱
Claims (1)
- (1)楕円球状の長軸上に2つの焦点を有する反射鏡が
中空内面に形成され、その中空内へX線を通過させる開
口部分を備えた箱体と、前記焦点の1つに単結晶試料を
位置決めし、単結晶方位を所望の回折角に設定する3軸
ゴニオメータと、前記焦点の別な1つに配設されたハロ
ゲンランプとで構成されることを特徴とする単結晶X線
回折用高温炉。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63088210A JPH01260353A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 単結晶x線回折用高温炉 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63088210A JPH01260353A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 単結晶x線回折用高温炉 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01260353A true JPH01260353A (ja) | 1989-10-17 |
Family
ID=13936541
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63088210A Pending JPH01260353A (ja) | 1988-04-12 | 1988-04-12 | 単結晶x線回折用高温炉 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01260353A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102778468A (zh) * | 2012-08-03 | 2012-11-14 | 丹东浩元仪器有限公司 | X射线衍射仪用低温附件 |
CN104458780A (zh) * | 2014-12-09 | 2015-03-25 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 一种原位测试样品平台 |
JP2019090672A (ja) * | 2017-11-14 | 2019-06-13 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | X線解析用セル、及びx線解析装置 |
-
1988
- 1988-04-12 JP JP63088210A patent/JPH01260353A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102778468A (zh) * | 2012-08-03 | 2012-11-14 | 丹东浩元仪器有限公司 | X射线衍射仪用低温附件 |
CN104458780A (zh) * | 2014-12-09 | 2015-03-25 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 一种原位测试样品平台 |
JP2019090672A (ja) * | 2017-11-14 | 2019-06-13 | 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 | X線解析用セル、及びx線解析装置 |
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