JPH01260353A - 単結晶x線回折用高温炉 - Google Patents

単結晶x線回折用高温炉

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Publication number
JPH01260353A
JPH01260353A JP63088210A JP8821088A JPH01260353A JP H01260353 A JPH01260353 A JP H01260353A JP 63088210 A JP63088210 A JP 63088210A JP 8821088 A JP8821088 A JP 8821088A JP H01260353 A JPH01260353 A JP H01260353A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
single crystal
temperature furnace
high temperature
axis
Prior art date
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Pending
Application number
JP63088210A
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English (en)
Inventor
Junichiro Mizuki
純一郎 水木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH01260353A publication Critical patent/JPH01260353A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は単結晶X線回折用高温炉に関するものである。
[従来の技術] 従来、X線回折用高温炉は、試料が粉末もしくは多結晶
体のものが多く、このため熱源は電熱線または電熱線に
よって熱せられた金属板が使用されていた。またハロゲ
ンランプを利用した多結晶体用高温炉も、[ジャーナル
・オブ・アプライド・クリスタログラフイJ 1976
年刊行、9巻、466頁に報告されている。単結晶用の
ものとしては、検出器がX線カメラのものが、[ミネラ
ロジカル・ジャーナルJ 1983年刊行、11巻、5
号、232頁に報告されている。
[発明が解決しようとする課題] 上記従来のX線回折用高温炉のうち、多結晶体用のもの
は、結晶の方位を調整する機能を持たないため、単結晶
体用のものに利用することができず、従って詳しい正確
な構造解析に用いることはできない。また単結晶体用の
ものは、検出器が高温炉内部に設置され、かつカメラフ
ィルムが用いられているために定量的解析はできず、こ
れもまた詳しい構造解析には不向きである。
本発明の目的は、このような従来の課題を解決し、単結
晶体の方位を自由に調整することができ、かつシンチレ
ーション検出器を使用でき、高角度に回折X線を検出す
ることができる単結晶X線回折用高温炉を提供すること
におる。
[課題を解決するための手段] 本発明は、楕円球状の長軸上に2つの焦点を有゛する反
射鏡が中空内面に形成され、その中空内へX線を通過さ
せる開口部分を備えた箱体と、前記焦点の1つに単結晶
試料を位置決めし、単結晶方位を所望の回折角に設定す
る3軸ゴニオメータと、前記焦点の別な1つに配設され
たハロゲンランプとで構成されることを特徴とする単結
晶X線回折用高温炉である。
し作用1 楕円が長軸上に2つの円中心を持ち得ることは公知であ
る。球体は当然これに準じ、本発明は箱体の内部を中空
の楕円球状にし、その内面を反射鏡に形成することによ
り、2つの焦点を得る。
方位調整、軸立て可能なゴニオメータに、セラミックス
試料ホルダに取り付けられた単結晶をセットする。この
試料位置が箱体の内面反射鏡の焦点になるように、反射
鏡を形成し、もう一方の焦点位置にハロゲンランプをセ
ットする。この箱体は上下2つに分れており、これらは
2本の細い柱で連結されてあり、この柱以外は開口部分
に形成されている。また単結晶方位はゴニオメータによ
って自由に調整することができ、大きく広角度に開いた
開口部分によりシンチレーション検出器の検出範囲を広
く設定することができる。
[実施例] 以下、第1図から第4図を参照して、本発明の実施例に
ついて詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例の縦断面図であって、三軸
ゴニオメータ1にセットされた試料2の様子を示してい
る。試料2は、円筒状セラミックス棒で形成された試料
ホルダ3に接着材で固定され、この試料ホルダ3はゴニ
オメータ1の中心軸上に取りつけられる。温度測定のた
めの熱電対4がセラミックス棒の中空内部を貫通し、そ
の先端は試料下部に直接接触するようにセットされる。
第2図は、試料2をセットされた三軸ゴニオメータ1が
高温炉内にセットされた様子を示す縦断面図である。同
図において、ハロゲンランプ5は、内面が反射鏡に形成
された箱体6および7の焦点位置に配設されている。ま
た試料2はもう一方の焦点位置にセットされている。試
料2の単結晶の方位出し、軸立てのために三軸ゴニオメ
ータ1を動作させても、高温炉全体は動かず、常に同一
場所にセットされたままで、入射X線、回折入射をさえ
ぎることはない。箱体6および7の全体は、水冷パイプ
8により冷却されている。箱体の上部6と下部7とは、
分離しているが側面に付設された2本の柱9で連結され
ていて、この柱9以外の部分がオープンになっているこ
とによりX線は何ものにもさえぎられない。第3図は前
記応用例の平面図で2本の柱9、水冷パイプ8およびハ
ロゲンランプ5の取り付は位置が示されている。第4図
はX線の波長がi、o入、試料がYBa2Cu3O7,
Bの単結晶の場合に、この高温炉によって得られた80
0°Cと、室温での回折ピークの変化を示す比較グラフ
である。
同図かられかるように、試料は室温では2つのピークが
認められるが(第4図(a))、800℃では結晶構造
が変化してシフトし、1つのピークとなっている(第4
図(b))。このようにして単結晶試料の回折X線の温
度変化を定量的に測定することができた。
[発明の効果] 本発明によれば、単結晶を試料とした高温での構造研究
をする場合に、炉を動かすことなく、高角度に回折X線
を定量的に測定することが可能なX線回折用高温炉を提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に用いられる三軸ゴニオメー
タに設置された試料の縦断面図、第2図は本発明の一実
施例の縦断面図、第3図は本発明の一実施例の平面図、
第4図は回折ピーク変化の比較グラフである。 1・・・ゴニオメータ 2・・・試料 3・・・試料ホルダ 4・・・熱電対 5・・・ハロゲンランプ 6.7・・・箱体 8・・・水冷パイプ 9・・・柱

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)楕円球状の長軸上に2つの焦点を有する反射鏡が
    中空内面に形成され、その中空内へX線を通過させる開
    口部分を備えた箱体と、前記焦点の1つに単結晶試料を
    位置決めし、単結晶方位を所望の回折角に設定する3軸
    ゴニオメータと、前記焦点の別な1つに配設されたハロ
    ゲンランプとで構成されることを特徴とする単結晶X線
    回折用高温炉。
JP63088210A 1988-04-12 1988-04-12 単結晶x線回折用高温炉 Pending JPH01260353A (ja)

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JP63088210A JPH01260353A (ja) 1988-04-12 1988-04-12 単結晶x線回折用高温炉

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JP63088210A JPH01260353A (ja) 1988-04-12 1988-04-12 単結晶x線回折用高温炉

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JPH01260353A true JPH01260353A (ja) 1989-10-17

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JP63088210A Pending JPH01260353A (ja) 1988-04-12 1988-04-12 単結晶x線回折用高温炉

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102778468A (zh) * 2012-08-03 2012-11-14 丹东浩元仪器有限公司 X射线衍射仪用低温附件
CN104458780A (zh) * 2014-12-09 2015-03-25 中国科学院上海应用物理研究所 一种原位测试样品平台
JP2019090672A (ja) * 2017-11-14 2019-06-13 大学共同利用機関法人 高エネルギー加速器研究機構 X線解析用セル、及びx線解析装置

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CN104458780A (zh) * 2014-12-09 2015-03-25 中国科学院上海应用物理研究所 一种原位测试样品平台
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