JPS62193209A - 電圧非直線性素子 - Google Patents
電圧非直線性素子Info
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- JPS62193209A JPS62193209A JP61035975A JP3597586A JPS62193209A JP S62193209 A JPS62193209 A JP S62193209A JP 61035975 A JP61035975 A JP 61035975A JP 3597586 A JP3597586 A JP 3597586A JP S62193209 A JPS62193209 A JP S62193209A
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- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は印加電圧によって抵抗値が変化する電圧非直線
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリックス、駆動の液晶、ELなどの表示デバ
イスのスイッチング素子などに利用されるものである。
性素子に関するもので、電圧安定化、異常電圧制御、さ
らにはマトリックス、駆動の液晶、ELなどの表示デバ
イスのスイッチング素子などに利用されるものである。
従来の技術
従来の電圧非直線性素子は、酸化亜鉛(ZnO)に酸化
ビスマス(Bi205 )、酸化コバルト(GozOs
)、酸化77ガy(Mn02)、酸化アンチ% 7 (
sb2o5)などの酸化物を添加して、1ooo〜13
60°Cで焼結したZnOバリスタなど、種々のものが
ある。
ビスマス(Bi205 )、酸化コバルト(GozOs
)、酸化77ガy(Mn02)、酸化アンチ% 7 (
sb2o5)などの酸化物を添加して、1ooo〜13
60°Cで焼結したZnOバリスタなど、種々のものが
ある。
その中で、ZnOバリスタは電圧非直線指数α、サージ
耐量が大きいことから、最も一般的に庚われている。(
特公昭46−19472号公報参照)発明が解決しよう
とする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mAを流した時の電圧VjmAで表される)を低くする
ことに限界があり、低電圧用ICの保護素子や低い電圧
における電圧安定化素子として吠えないものであった。
耐量が大きいことから、最も一般的に庚われている。(
特公昭46−19472号公報参照)発明が解決しよう
とする問題点 このような従来の電圧非直線性素子は、ZnOバリスタ
を初めとして、素子厚みを薄く(数十μm以下)するこ
とに限界があるため、バリスタ電圧(バリスタに電流1
mAを流した時の電圧VjmAで表される)を低くする
ことに限界があり、低電圧用ICの保護素子や低い電圧
における電圧安定化素子として吠えないものであった。
また、上述したように1QoQ′C以上の高温プロセス
を必要とするため、ガラス基板上あるいは回路基板上に
電圧非直線性素子を直接形成できないという問題があっ
た。さらに、従来のものは並列静電害毒が大きく、例え
ば液晶などのスイッチング素子としては不適当なもので
あるなどの問題点を有していた。
を必要とするため、ガラス基板上あるいは回路基板上に
電圧非直線性素子を直接形成できないという問題があっ
た。さらに、従来のものは並列静電害毒が大きく、例え
ば液晶などのスイッチング素子としては不適当なもので
あるなどの問題点を有していた。
問題点を解決するだめの手段
この問題点を解決するために本発明は、Bi205金主
成分とする薄い絶縁被膜を施した微粉末状の半導体物質
を低融点ガラスで固め、電極を備えてなるものである。
成分とする薄い絶縁被膜を施した微粉末状の半導体物質
を低融点ガラスで固め、電極を備えてなるものである。
作用
この構成によれば、低電流域においても電圧非直線指数
αの大きなものが得られ、かつ電極間距離を狭く(数十
μm以下)して素子を形成することができ、低電圧化に
適した素子がきわめて容易に得られることとなる。また
、低融点ガラスで固めて素子形成を行うために高山プロ
セスを必要とすることなく作ることができるため、回路
基板上に素子を直接形成することができ、znoバリス
タなどでは考えられない暢広い用途が期待できるもので
ある。さらに、微粉末状の半導体物質を低融点ガラスで
固めたものであるため、それぞれの半導体物質の微粉末
間は点接触となり、接触面積が小さいことから並列静電
容量の小さなものが得られ、液晶などのデバイスのスイ
ッチング素子として最適な素子が提供できることとなる
。
αの大きなものが得られ、かつ電極間距離を狭く(数十
μm以下)して素子を形成することができ、低電圧化に
適した素子がきわめて容易に得られることとなる。また
、低融点ガラスで固めて素子形成を行うために高山プロ
セスを必要とすることなく作ることができるため、回路
基板上に素子を直接形成することができ、znoバリス
タなどでは考えられない暢広い用途が期待できるもので
ある。さらに、微粉末状の半導体物質を低融点ガラスで
固めたものであるため、それぞれの半導体物質の微粉末
間は点接触となり、接触面積が小さいことから並列静電
容量の小さなものが得られ、液晶などのデバイスのスイ
ッチング素子として最適な素子が提供できることとなる
。
実施例
以下、本発明全実施例にもとづいて詳細に説明する。
まず、粒子径が0.06〜1μmの微粒子状の酸化亜鉛
を700〜1300’Cで焼成した後、その焼結された
Zn0(zo、5〜50μmの粒子径(平均粒子径1〜
10μm)に粉砕し、そのZnO微粉末に酸化ビス2
スf 0.05〜10 mo1%添加し、Bo。
を700〜1300’Cで焼成した後、その焼結された
Zn0(zo、5〜50μmの粒子径(平均粒子径1〜
10μm)に粉砕し、そのZnO微粉末に酸化ビス2
スf 0.05〜10 mo1%添加し、Bo。
〜1350’Cで1Q〜60分間、熱処理し、そのZn
O微粉末表面に酸化ビスマスの絶縁被膜を形成した。こ
こで、微粉末状のZnOの表面にはBi2O3絶縁被膜
がほぼ数十〜数百人の厚さで薄く形成されていることが
認められた。次いで、このようにして作成したBi2O
5絶縁被膜が表面についたZnO倣粉末群は弱い力で互
いに接着しているので、これを乳鉢あるいはボットミル
でほぐし、微粉末状とした。
O微粉末表面に酸化ビスマスの絶縁被膜を形成した。こ
こで、微粉末状のZnOの表面にはBi2O3絶縁被膜
がほぼ数十〜数百人の厚さで薄く形成されていることが
認められた。次いで、このようにして作成したBi2O
5絶縁被膜が表面についたZnO倣粉末群は弱い力で互
いに接着しているので、これを乳鉢あるいはボットミル
でほぐし、微粉末状とした。
次に、上記のようにして得られたBi2O5絶縁被膜が
表面に形成された微粉末状のZnOに、微粉末間の結合
を図る絶縁性の結合剤として低膚点ガラス粉末と有機バ
インダーを添加し、混合した。ここで、結合剤としては
低融点ガラス粉末分が微粉末状のZnOに対して6〜2
Owt%となるようにしたものとし、それを有機バイ
ンダーと例えば等重量で混合し、ペイント状とした。こ
こで、有機バインダーとしてはエチルセルロースを顛用
し、その固形分が溶剤(たとえばターピネオール)に対
して10wt%になるように薄めたものとした。
表面に形成された微粉末状のZnOに、微粉末間の結合
を図る絶縁性の結合剤として低膚点ガラス粉末と有機バ
インダーを添加し、混合した。ここで、結合剤としては
低融点ガラス粉末分が微粉末状のZnOに対して6〜2
Owt%となるようにしたものとし、それを有機バイ
ンダーと例えば等重量で混合し、ペイント状とした。こ
こで、有機バインダーとしてはエチルセルロースを顛用
し、その固形分が溶剤(たとえばターピネオール)に対
して10wt%になるように薄めたものとした。
次いで、上記のようにして得られたペイントを第2図に
示すようにZTO(インジウム・スズ酸化物)電極1の
設けられたガラス基板3上に例えばスクリーン印刷で塗
布し、その上に同じ<’ ITO電極2の設けられたガ
ラス基板4金載置し、3oO〜6tso′cで10〜3
0分間、大気中で熱処理し、電極1,2間に電圧非直線
性素子6を設けた。第1図は、電圧非直線性素子6の拡
大断面図であり、6はZnO微粉末、7はZnO微粉末
6の表面に施されたBi2O3絶縁被膜、8はそれらZ
nO微粉末6間を機械的に結合している絶縁性結合剤の
低融点ガラスであり、この低融点ガラス8でもってZn
O微粉末60間は互いに固められている。第3図はIT
O電極1a、1bが設けられたガラス基板3!L上に電
圧非直線性素子6を構成した場合を示している。
示すようにZTO(インジウム・スズ酸化物)電極1の
設けられたガラス基板3上に例えばスクリーン印刷で塗
布し、その上に同じ<’ ITO電極2の設けられたガ
ラス基板4金載置し、3oO〜6tso′cで10〜3
0分間、大気中で熱処理し、電極1,2間に電圧非直線
性素子6を設けた。第1図は、電圧非直線性素子6の拡
大断面図であり、6はZnO微粉末、7はZnO微粉末
6の表面に施されたBi2O3絶縁被膜、8はそれらZ
nO微粉末6間を機械的に結合している絶縁性結合剤の
低融点ガラスであり、この低融点ガラス8でもってZn
O微粉末60間は互いに固められている。第3図はIT
O電極1a、1bが設けられたガラス基板3!L上に電
圧非直線性素子6を構成した場合を示している。
次に、上記のようにして作成された電圧非直線性素子の
電圧−電流特性について説明する。まず、第4図は第2
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。
電圧−電流特性について説明する。まず、第4図は第2
図の構成における電圧−電流特性を従来のZnOバリス
タのそれと比較して示している。
本発明の素子は、まず酸化亜鉛を700°Cで焼成し、
これにB1403を0.511101%添加したものを
900°C,60分間熱処理した後、この平均粒子径6
〜10μmのZnO微粉末と奥野製薬■製の低融点ガラ
ス微粉末(ZnO@粉下に対して20wt%)に上記有
機バインダーを等重量で混合したものにおいて、素子面
積を1−1電極間距離を30μmとした場合における特
性を示している。さて、電圧非直線性素子の電圧−を光
特性は、よく知られているように近似的に次式で示され
ている。
これにB1403を0.511101%添加したものを
900°C,60分間熱処理した後、この平均粒子径6
〜10μmのZnO微粉末と奥野製薬■製の低融点ガラ
ス微粉末(ZnO@粉下に対して20wt%)に上記有
機バインダーを等重量で混合したものにおいて、素子面
積を1−1電極間距離を30μmとした場合における特
性を示している。さて、電圧非直線性素子の電圧−を光
特性は、よく知られているように近似的に次式で示され
ている。
I=KV“
ここで、工は素子に流れる電流、Vは素子の電極間の電
圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述し
た電圧非直線特性の指数を示しており、この電圧非直線
指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることにな
る。
圧、Kは固有抵抗の抵抗値に相当する定数、αは上述し
た電圧非直線特性の指数を示しており、この電圧非直線
指数αは大きい程、電圧非直線性が優れていることにな
る。
第4図の特性に示されるように、特性Bで示される従来
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、10 五以下の電流では良好な電圧非直線性
素子としての機能を発揮し得ない。−万、特性ムで示さ
れる本発明の素子では低電流域においても電圧非直線指
数αが大きく、1Oto A程度の電流域でも十分に電
圧非直線性素子としての機能を発揮することができるこ
とを示している。また、通常、ZnOバリスタにおいて
はバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1111ム
の電流を流した時の電極間に現れる電圧全バリスタ電圧
’l’1lllAと呼び、このバリスタ電圧v111I
Aと上記電圧非直線指数αとを朗用している。本発明の
素子では、上述したように、低電流域においても電圧非
直線指数αが大きく、バリスタ電圧を第4図に示すよう
に例えばv1μAで表わすことができる。
のZnOバリスタは低電流域において電圧非直線指数α
が小さく、10 五以下の電流では良好な電圧非直線性
素子としての機能を発揮し得ない。−万、特性ムで示さ
れる本発明の素子では低電流域においても電圧非直線指
数αが大きく、1Oto A程度の電流域でも十分に電
圧非直線性素子としての機能を発揮することができるこ
とを示している。また、通常、ZnOバリスタにおいて
はバリスタ特性を表わすのに、例えば素子に1111ム
の電流を流した時の電極間に現れる電圧全バリスタ電圧
’l’1lllAと呼び、このバリスタ電圧v111I
Aと上記電圧非直線指数αとを朗用している。本発明の
素子では、上述したように、低電流域においても電圧非
直線指数αが大きく、バリスタ電圧を第4図に示すよう
に例えばv1μAで表わすことができる。
このように本発明において、バリスタ電圧を低いものと
することができるのは、電極間距離を狭くして素子を形
成することができるためである。
することができるのは、電極間距離を狭くして素子を形
成することができるためである。
また、本発明素子において低電流域でも電圧非直線指数
αが大きい理由は、現在のところ理由は明確とはなって
いないが、微粉末状の半導体物質(zno ) ’1絶
縁性結合剤の低融点ガラスでもって固めたものであるた
め、それぞれの半導体物質の間は点接触となり、接触面
積が小さいこと、また結合剤が絶縁性のため、漏れ電流
が小さくなっていることによるものと考えられる。
αが大きい理由は、現在のところ理由は明確とはなって
いないが、微粉末状の半導体物質(zno ) ’1絶
縁性結合剤の低融点ガラスでもって固めたものであるた
め、それぞれの半導体物質の間は点接触となり、接触面
積が小さいこと、また結合剤が絶縁性のため、漏れ電流
が小さくなっていることによるものと考えられる。
ここで、第4図の特性は上述したように電極間距離を3
0μmとした素子についてのものであるが、これはZn
O微粉末の平均粒子径が6〜10μmという比較的大き
な粒子径のためにこれ以上狭くすることができないから
である。すなわち、ZnO微粉末の平均粒子径が0.3
〜3μmのものを醍えは、電極間距離が10μm程度も
しくはそれ以下の素子を作成することができるのであり
、その場合においても第4図に示すような良好な特性が
得られることを本発明者らは実験により確認した。
0μmとした素子についてのものであるが、これはZn
O微粉末の平均粒子径が6〜10μmという比較的大き
な粒子径のためにこれ以上狭くすることができないから
である。すなわち、ZnO微粉末の平均粒子径が0.3
〜3μmのものを醍えは、電極間距離が10μm程度も
しくはそれ以下の素子を作成することができるのであり
、その場合においても第4図に示すような良好な特性が
得られることを本発明者らは実験により確認した。
第6図は本発明において、酸化ビスマスの添加tk変え
た場合のバリスタ電圧v1AtA、電圧非直線指数αお
よび並列静電容量Cの変化する様子を示している。ここ
で、酸化亜鉛の焼成温度など、その他の条件は第4図の
場合の条件と同一とした。
た場合のバリスタ電圧v1AtA、電圧非直線指数αお
よび並列静電容量Cの変化する様子を示している。ここ
で、酸化亜鉛の焼成温度など、その他の条件は第4図の
場合の条件と同一とした。
第6図に示されるように、本発明素子においては並列静
電容量が従来のZnOバリスタが1000〜20000
PFであるのに対して非常に小さいものとなっている。
電容量が従来のZnOバリスタが1000〜20000
PFであるのに対して非常に小さいものとなっている。
この並列静電容量が本発明素子において小さい理由は、
上述したように半導体物質間の接触面積が小さいことに
よるものである。
上述したように半導体物質間の接触面積が小さいことに
よるものである。
なお、上記の実施例においては、半導体物質としては、
ZnO全例にとり説明したが、それ以外の半導体物質で
あっても差支えないことはもちろんである。また、同様
に絶縁被膜を構成する材料としては、Bi2O5単独に
限られることはな(、Bi2O3を主成分として、Al
、 Ti、 Sr 、 Mg 、 N工。
ZnO全例にとり説明したが、それ以外の半導体物質で
あっても差支えないことはもちろんである。また、同様
に絶縁被膜を構成する材料としては、Bi2O5単独に
限られることはな(、Bi2O3を主成分として、Al
、 Ti、 Sr 、 Mg 、 N工。
Or 、 S工 などの金属酸化物またはこれらの金属
の有機金属化合物を単独または組合せて匣用することが
できるものである。
の有機金属化合物を単独または組合せて匣用することが
できるものである。
発明の効果
以上の説明より明らかなように本発明の電圧非直線性素
子は、低電流域における電圧非直線指数αが大きく、ま
た並列静電容量の小さな素子が得られることから、消費
電流の小さい液晶、KLなどのデバイスのスイッチング
素子として最適な素子を提供できるものである。また電
極間距離を狭くして素子を形成することができるため、
バリスタ電圧の低いものが得られ、上記電圧非l?fm
指数αが大きいことと相まって従来のZnOバリスタで
は対応することのできなかった低電圧用ICの保護素子
や低い電圧における電圧安定化素子として醍用すること
ができる。さらに、低融点ガラスで固めて素子形成を行
うために高温プロセスを必要とすることなく簡単にして
作ることができるため、回路基板上やガラス基板上に素
子を直接形成することができるものである。このように
種々の特徴を有する本発明の電圧非直線性素子は、今ま
でのZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用途が
期待できるものであり、その産業性は大なるものである
。
子は、低電流域における電圧非直線指数αが大きく、ま
た並列静電容量の小さな素子が得られることから、消費
電流の小さい液晶、KLなどのデバイスのスイッチング
素子として最適な素子を提供できるものである。また電
極間距離を狭くして素子を形成することができるため、
バリスタ電圧の低いものが得られ、上記電圧非l?fm
指数αが大きいことと相まって従来のZnOバリスタで
は対応することのできなかった低電圧用ICの保護素子
や低い電圧における電圧安定化素子として醍用すること
ができる。さらに、低融点ガラスで固めて素子形成を行
うために高温プロセスを必要とすることなく簡単にして
作ることができるため、回路基板上やガラス基板上に素
子を直接形成することができるものである。このように
種々の特徴を有する本発明の電圧非直線性素子は、今ま
でのZnOバリスタなどでは考えられない幅広い用途が
期待できるものであり、その産業性は大なるものである
。
第1図は本発明に係わる電圧非直線性素子の−・実施例
を示す拡大断面図、第2図および第3図はそれぞれ本発
明の素子をガラス基板上に設けた実施例を示す断面図、
第4図は本発明素子と従来のZnOバリスタの電圧−電
流特性を示す図、第5図は本発明素子においてBi2O
5の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α、バリスタ
電圧v1ユAおよび並列静電容量Cの変化する様子を示
す図である。 1−1&、1b、2−川−ITO電極、3−3 J4・
・・・・・ガラス基板、6・・・・・・電圧非直線性素
子、6・・・・・・ZnO微粉末、7・・・・・・Bi
2O3絶縁被膜、8・・・・・・低融点ガラス。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第3図 第 4 ロ ー士 電FC(V) 第5図
を示す拡大断面図、第2図および第3図はそれぞれ本発
明の素子をガラス基板上に設けた実施例を示す断面図、
第4図は本発明素子と従来のZnOバリスタの電圧−電
流特性を示す図、第5図は本発明素子においてBi2O
5の添加量を変えた場合の電圧非直線指数α、バリスタ
電圧v1ユAおよび並列静電容量Cの変化する様子を示
す図である。 1−1&、1b、2−川−ITO電極、3−3 J4・
・・・・・ガラス基板、6・・・・・・電圧非直線性素
子、6・・・・・・ZnO微粉末、7・・・・・・Bi
2O3絶縁被膜、8・・・・・・低融点ガラス。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 第3図 第 4 ロ ー士 電FC(V) 第5図
Claims (1)
- Bi_2O_3を主成分とする薄い絶縁被膜を施した
微粉末状の半導体物質を低融点ガラスで固め、電極を備
えてなることを特徴とする電圧非直線性素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61035975A JPS62193209A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61035975A JPS62193209A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62193209A true JPS62193209A (ja) | 1987-08-25 |
Family
ID=12456908
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61035975A Pending JPS62193209A (ja) | 1986-02-20 | 1986-02-20 | 電圧非直線性素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62193209A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5163109A (en) * | 1988-10-27 | 1992-11-10 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Optical connector assembly |
US9025917B2 (en) | 2011-09-15 | 2015-05-05 | Fujitsu Limited | Optical connector |
-
1986
- 1986-02-20 JP JP61035975A patent/JPS62193209A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5163109A (en) * | 1988-10-27 | 1992-11-10 | Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho | Optical connector assembly |
US9025917B2 (en) | 2011-09-15 | 2015-05-05 | Fujitsu Limited | Optical connector |
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