JPS62192612A - 光位置検出型傾斜計 - Google Patents

光位置検出型傾斜計

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JPS62192612A
JPS62192612A JP3374686A JP3374686A JPS62192612A JP S62192612 A JPS62192612 A JP S62192612A JP 3374686 A JP3374686 A JP 3374686A JP 3374686 A JP3374686 A JP 3374686A JP S62192612 A JPS62192612 A JP S62192612A
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JP
Japan
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light
position detection
optical position
detection device
light emitting
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JP3374686A
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English (en)
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Naoya Tsurumaki
直哉 鶴巻
Akira Okamoto
晃 岡本
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Komatsu Ltd
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Komatsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、斜面等の傾斜角及び物体の水平方向に対する
傾きを測定する傾斜計に関するもので、特に、光学的に
傾斜角を測定する装置に関する。
従来の技術 従来から、傾斜角を測定する装置としては、円形気泡管
を用いて気泡の位置によって傾斜角を測定する方式のも
のやジャイロや振子を用いて傾斜角を測定するものがあ
った。
例えば、ジャイロを用いた傾斜計で傾斜角を測定する場
合、回転軸の水平時の方向からのずれ、すなわち、傾斜
角に対応するこのずれをポテンショメータ等で測定して
いるが、これは構成が複雑で耐久性が悪く、また、ポテ
ンショメータも高価で、トータルコストに占める割合も
高いので高価なものにしていた。
また、振子を用いるものは、振子が静止するのに時間が
かかるため、連続変化する傾斜角を測定することは難し
いという問題があった。
発明が解決しようとする問題点 本発明の目的は、上記従来技術を改善し、機械的接触部
を少なくして耐久性を良くし、構成を簡単にすると共に
安価な傾斜計を得ることにある。
問題点を解決するための手段 第1図は本発明が上記問題点を解決するために採用した
手段のブロック図で、本発明は、常に垂直方向を検出し
検出姿勢を保持する垂直方向検出手段Aと、該垂直方向
検出手段Aに設けられた発光手段Bと、該発光手段Bか
らの光を受光し受光位置信号を出力する光位置検出装置
Cと、該光位置検出装置Cの光検出部と上記発光手段B
が対面するように上記垂直方向検出手段Aと受光手段C
を一定位置関係に保持する保持手段りと、上記光位置検
出装置Cからの受光位置信号により傾斜角算出する傾斜
角算出手段Eと、該傾斜角算出手段Eで算出された傾斜
角を表示する表示手段Fとを設けることによって、上記
問題点を解決した。
作  用 該光位置検出型傾斜計を斜面にM、置すると、上記垂直
方向検出手段Aはi置された斜面に関係なく常に垂直方
向に向いた姿勢をとるから、該垂直方向検出手段Aに設
けられた発光手段Bからの光は該垂直方向検出手段Aの
移動と共に移動する。
一方、上記光位置検出装置Cの光検出部は上記垂直方向
検出手段Aに対し保持手段りで一定位置に保持されてい
るから、該光位置検出型傾斜計を水平面に載置したとき
上記光検出部が上記発光手段Bから受ける光の位置を原
点とすれば、該傾斜計を斜面に載置したとき、光検出部
が受ける光の位置は該傾斜計が載置された斜面の傾斜角
に応じて原点からずれ、そのずれた位置信号を光位置検
出装置Cは出力するから、上記傾斜角算出手段Eは光位
置検出装置Cからの位置信号に基づいて傾斜角を算出し
、その傾斜角を表示手段Fによって表示する。
実施例 第2図は、本発明の第1の実施例の要部斜視図で、1は
垂直方向検出手段としての2軸自由度ジャイロで、2は
2次元光位置検出装置の光検出部で、該ジャイロ1及び
光検出部2は両者が一定な位置関係を保持するよう保持
手段としての筐体3に固着され、本実施例では、ジャイ
ロ1は底板に、光検出部2は筺体3の天井に固着されて
いる。4はジャイロ1の固定台で、ジンバル5の軸を第
2図矢印イ方向に回転自在に枢着しており、また、ジン
バル5にはジンバル6が矢印口方向に回転自在に軸支さ
れている。そして、ジンバル6にはロータ7が回転自在
に軸支されている。また、ジンバル6には上記光検出部
2と対面するように発光手段としての発光素子8が固定
されている。
2次元光位置検出装置として、本実施例では、半導体装
置検出器を用いており、半導体装置検出器の光検出部2
は複数の半導体層で形成された正方形の平面で、該平面
に光を受けると正方形の平面の各辺に設けられた電極に
電流が流れ、光を受けた位置と各辺の電極間の距離によ
って抵抗値が異なることから、各電極に流れる電流値が
異なることを利用して受光した位置を検出するもので、
例えば特開昭59−50579号公報等に記載された半
導体装置検出器を使用している。なお、この半導体装置
検出器はすでに公知であるのでその詳細は省略する。
このような2次元で光の位置を検出する光検出部2の上
記筐体3の天井への固着は、本光位置検出型傾斜計を水
平面に載置したとぎ、すなわち、上記筐体3の底面を水
平面に載置したとき、上記発光素子の光が該光検出部2
の中心点を位置するように固着されている。
そこで、ジャイロ1のロータ7が回転すると、該ロータ
7の軸及び本実施例においてはジンバル6は常に垂直方
向を向くことになり、ジンバル6に固定された発光素子
8からの光は、筐体3が水平面に載置されていれば光検
出部2の中心に当たり、傾斜面に載置されるとその光の
受光位置はずれることとなる。このときの受光位置と筐
体3が載置された傾斜面との関係を第3図の原理図で説
明する。
光検出部2の中心点を座標軸の原点0とし、光検出部2
の辺と平行な2つの該原点を通る線をX軸、Y軸とする
。すなわち、原点Oは、筐体3が水平面に載置されたと
き、光素子8からの光を受光する点である。今、筐体3
が傾斜面に載置され、光検出部2のa点で光を受光した
と仮定する。a点のX軸、Y軸の座標点をそれぞれx、
yとし、原点Oとa点間をr (すなわち原点0からa
点までの移動点)とし、ロータ7の中心点、ずなわちジ
ンバル5,6の回転中心線が交差する点をPとし、該点
Pと原点0間の距離をLとし、線分P0と線分Pa間の
角度をθ、線分POと線分Px間の角度をα、線分PO
と線分Py間の角度をβ、線分QaとX軸との角度をφ
とすると、これらの関係は次のようになる。
r =J”’f;コア   ・・・・・・(1)tan
θ=  r/ L    −・−(2)tanφ=V/
X    ・・・・・・(3)tanα=x/L   
 ・・・・・・(4)tanβ=y/L    ・・・
・・・(5)そして、上記θは水平面に対する垂線と傾
斜面に対する垂線間の角度であるから、筺体3を載置し
た傾斜角を表わづことになり、また、上記φは、傾斜の
方向がX軸からこの角度φの方向であること、すなわち
傾斜の方向を表わす。さらに、上記αは傾斜がX軸方向
に角度αだけ傾いていることを表わし、上記βはY軸方
向に角度βだけ傾いていることを表わしている。一方、
受光点aのX軸。
Y軸の座標位置は2次元光位置検出装置によって検出さ
れるものであり、上記しはロータ7の中心と光検出部2
の中心間の距離であるから、固定された一定値であり既
知の値である。
そこで、上記rは第(1)式より2次元光位置検出装置
からの出力x、yによって算出でき、また、傾斜角θは
第(2)式より求められたrと既知のLより求められ、
以下同様に傾きの方向φは第(3)式で、X軸方向の傾
きαは第(4)式で、Y軸方向の傾きβは第(5)式で
求めることができる。
第4図は、2次元光位置検出装置で検出された受光位1
aの座標x、yから傾斜角θ、傾きの方向φ、X軸方向
の傾きβを算出し求め表示する制御回路のブロック図で
、本実施例では、これら傾斜角等の算出手段にマイクロ
プロセッサ(以下CPUという)14を使用している。
第4図において、10は2次元光位置検出装置、11.
12は2次元光位置検出装置からの受光点のX、Y軸座
標位置を示すアナログ信号をデジタル信号に各々変換す
るA/D変換器、13は入力回路、14はCPU、15
は制御プログラムを記憶するROMやデータの一時記憶
のためのRAM等で構成されるメモリ、16はCRT表
示装置付手動データ入力装置(以下MDI/CRTとい
う)である。
次に、本実施例の動作について、第5図の動作処理フロ
ーチャートと共に説明する。
本領斜計を作動させ、筺体3を傾斜面に載置するとジャ
イロ1の発光素子8からの光は載置された傾斜面の傾斜
角に応じて移動し、光検出部2でこの移動位置を検出し
、2次元光位置検出装置10から移動座標位置(x 、
 y )が出力され、座標位置x、yは各々A/D変換
器11.12によりアナログ信号からデジタル信号に変
換され、入力回路13に入力される。そこで、MDI/
CRT16より表示指令を入力すると(ステップSl)
、CPU14は入力回路13を介してこの座標位置x、
yを読取り(ステップS2)、第(1)式で示す演算を
行い、原点0と移動点すなりら受光点8間の距離rをの
出し、CRT表示装置16に表示する(ステップ83)
。次に、この求められたrの値とすでに設定されている
ロータ7の中心と原点0間の距!IIILの値より第(
2)式で示す演算を行い、傾斜角θのtanθを求め、
表示装置16に表示する(ステップ84)。以下、同様
に座標位ax 、yの値とLの値により傾きの方向φ、
X軸方向の傾きα、Y軸方向の傾ぎβの各々のタンジェ
ントのIaを求め表示する(ステップ85〜S7)。そ
して、再びステップS1に戻り、表示指令が持続してい
れば連続的にステップ82以下の処理を行い連続的に表
示する。すなわち、筐体3が戎冒された傾斜角が変動し
ている場合、その変動を順次表示することとなる。
なお、上記実施例では傾清角θ等をタンジェントの値で
表示させたが、メモリ15内にタンジェントの値とその
値に対応する角度のテーブルを記憶させておき、タンジ
ェントの値ではなく角度によって上記各角度θ、φ、α
、βを表示させるようにしてもにい。また、A/D変換
器11.12をX軸座標位置用とY軸座、a!位置用に
2つ設けたが、A/D変換器を1つにし、切換スイッチ
を設け、CPU14からの指令で、該切換スイッチを切
換えて順次座標位置×、yを入力するようにしてもよい
。また、2次元光位置検出装置10の光検出部2は、本
実施例では筺体3の天井に設けたが、底面に設けてもよ
いことは勿論である。
さらに、本実施例では、2次元光位置検出装首10とし
て、半導体積層された平面の光検出部2を有する半導体
装置検出器を用いたが、この代りに光検出部として受光
素子をマトリックス状に配置した受光素子アレイを用い
てもよい。この場合には、受光素子の座標位値が決まっ
ているから発光素子8からの光を受けた受光素子からの
信号は1対1の対応で、傾斜面の傾斜角θ、傾きの方向
φ、x、y軸方向の傾きα、βを示すから受光した受光
素子からの信号でこれらのデータを表示するようにすれ
ばよい。
以上述べたように、本実施例では傾斜面の傾斜角θ、傾
斜の方向φ、x軸、■@方向への各々の傾きα、βを瞬
時に安定して求めることができ、かつ、傾斜が変動して
もその変動に応じて各データが求められるものである。
第6図は本発明の第2の実施例の要部斜視図で、20は
1自由度ジャイロ、21は1次元光位置検出装置の光検
出部で、第1の実施例と同様、この1次元光位置検出装
置は半導体装置検出器を使用している。23はこれら光
検出部21.ジャイロ20を固定保持する筐体で、光検
出部21は該筐体23の側面に設けられており、ジャイ
ロ20はその固定台28が筐体23の底面に固着されて
いる。ジャイロ20のジンバル24.25は互いに直交
し、軸受部材2つに第6図中矢印ハ方向に回転自在に軸
受されている。ジンバル25には〇−タ26の軸が回転
自在に枢着され、ロータ26の周面には発光素子27が
固定されており、少なくともジンバル24は光透過性の
材料で作られ、発光素子27からの光が光検出部21に
達するように構成されている。
そこで、ロータ26が回転し゛筐体23を傾斜面に載置
すると、発光素子27からの光はI、1511目的に光
検出部21に当たり、載置された傾斜面の傾斜角に応じ
て、光検出部21で受光する位置は変動する。そこで、
この傾斜面の傾斜角と受光位置の関係を第7図の原理図
で説明すると、今、傾斜面の傾斜角をθとし、ジャイロ
20の〇−タ26の中心点から光検出部21に下した垂
線の長さ、すなわち筐体23に固着した光検出部21の
底面位置とジャイロ20の固定台28の中心間の距離を
Lとし、ジャイロ26のロータ26の中心点の底面から
の高さをHとし、光検出部21が受光した位置と底面か
らの距離をXとすると、次の第(6)式の関係式が成立
する。
(X−H)/L−tanθ  ・・・・・・(6)ここ
で、Xは1次元光位置検出装置によって検出される値で
あり、L、Hは固有値であり既知な値であるので、傾斜
角θのタンジェントの値は、1次元光位置検出装置から
検出される値Xによって第(6)式から算出されること
となる。
そこで、第1の実施例で説明したように、第4図で示す
ような演算制御回路によって傾斜角θを求めることがで
きる。なお、この実施例においては1次元であるので、
1次元光位置検出装置からは1つの信号Xのみが出力さ
れるので、D/Af換器は1つでよく、CPIJはこの
信号Xより第(6)式の演算を行い傾斜角を算出し、表
示装置に表示することとなる。また、CPUを用いて演
算処理を行わず、1次元光位置検出装置からの信号X(
電圧)を減算回路を用いて高さH分だけ減算し、減算回
路からの出力電圧を割算回路によって[に対応する電圧
で割り、tanθの値を算出しそれを表示するようにし
てもよい。
以上が第2の実施例の構成であるが、この第2の実施例
は1次元であるため、傾斜角のみしか検出できない。そ
のため、筐体23の載置方向を変えて、光検出部21で
受光する位fatXが最大になる位置を求め、傾斜角θ
、傾斜方向を求めねばならない。
なお、上記第2の実施例では、発光素子をロータ26の
周面に固定したが、ジンバル24またはジンバル25に
固定してもよい。ジンバル24に固定した場合には、発
光素子27からの光は第6図中傾斜角に応じて上下に同
一線上を移動することになるため、光検出部21の配置
位置は筐体の側板に光を検出し得る上下に長い光検出部
21となる。また、ジンバル25の天井に対面する位置
に固定した場合は、発光素子27からの光は傾斜角に応
じて第6図中天井の一辺と平行な線上を移動することと
なるから、光検出部21の位置は筐体23の天井に、か
つ光を検出し得る位置の天井の一辺と平行な長い光検出
部21となる。さらに、ジンバル25の底面と対面する
位置に発光素子を固定しても良いが、この場合、固定台
28や軸、軸受部29を透明にする必要があり、また、
光検出部21も底面に設ける必要がある。
さらに、第1の実施例と同様に1次元光位置検出装置の
光検出部を受光素子とし、光の当たる線上へ受光素子を
多数配置することによって傾斜角を求めるようにするこ
ともできる。
第8図は本発明の第3の実施例で、水弟3の実施例と第
1.第2の実施例と相違する点は、第1゜第2の実施例
は垂直方向を検出する垂直方向検出手段にジャイロを使
用したが、水弟3の実施例においてはジャイロに変えて
振子を用いる点である。
第8図において、30は振子で、糸や鎖のような柔軟性
のあるものや玉継手等で360度振動できるように天井
に固着されたもので、該振子30の先端には発光素子3
2が固着され、底面に向けて光を出すようになっている
。筐体31の底面には第1の実施例と同様2次元光位置
検出装置の光検出部33が配置され、発光素子32から
の光を受光するようになっており、振子30の天lキへ
の取り付は位置から底面に垂線を下した位置に光検出部
33の中心がくるように配置されている。
そこで、本実施例の原理を第9図の原理図によって説明
する。
振子30の取り付番プ位置Pから筒体31の底面の光検
出部33の面に下した垂直線の長さをLとし、この垂直
線と光検出部33の交点を原点Oとし、正方形の光検出
部33の各辺と平行で原点Oを通る線をX軸、Y軸とダ
る。今、筺体31が水平面に載置されていると、発光素
子32からの光は原点0の位置に当り、筐体31が傾斜
面に載置されると振子30は揺動し垂直方向を指す。そ
して、振子30の先端に設けられた発光素子32からの
光も移動し、光検出部33で検出されるが、今、発光素
子32からの光が第9図a点で検出されたとすると、線
分Paは垂直方向を指しており、p o I、を筐体3
1が水平面に載置されたときの垂直方向であるから、角
aPoは傾斜面の傾斜角θを示すこととなる。一方、a
点のX、Y軸の位置をx、yとすると、線分OPと線分
xpの角度をα、線分OPと線分yPの角度をβ、線分
Qaの長さをr、線分QaとX軸の角度をφとすると、
これらの関係は第1の実施例で述べた第(1)式から第
(5)式の関係と同じである。
そして、第1の実施例と同じく、θは筐体31が載置さ
れた傾斜面の傾斜角θを意味し、φは傾斜方向、αはX
軸方向への傾き度、βはY軸方向への傾き度を表わして
おり、第1の実施例とまったく同一である。なお、第1
の実施例と本実施例においては、X軸、Y軸のプラス方
向が異なるだけであり、筐体31をI! i?Jする向
きを変えれば良いだけの問題である。
この第3の実施例においても、Lは固有値で既知の値で
あり、a点の座標値もx、yの値は2次元光位置検出器
によって検出できるから、上記第(1)弐〜第(5)式
によって傾斜面の傾斜角θ、傾き方向φ、X、Y軸方向
への各々の傾き度α。
βは算出することができ、そして、このときの演算制御
回路は第1の実施例に記載した第4図と同一の制御回路
で良く、また、CPU14の動作処理も第1の実施例で
述べた第5図の動作処理フローでよいこととなる。
なお、この第3の実施例においては、振子30の撮動が
停止したとぎに傾斜角等を求めねばならないから、傾斜
角が連続的に変動するものに対しては使用することが困
難であり、第5図において、ステップS1からステップ
S7まで順次繰り返して処1!I! iJ’るものでな
く、表示指令がある毎にステップS2からステップS7
の処理を行うこととなる。また、2次元光位置検出器の
光検出部を受光素子をマトリックス状に多数配置した受
光素子アレイを用いてし良いこと、または、傾斜角θ等
をタンジェントの値ではなく角度に変換して表示装置に
表示するようにする点も第1の実施例と同(革である。
発明の効果 以上述べたように、本発明は、ジャイロや振子等の垂直
方向を検出し、検出姿勢を保持する垂直方向検出手段に
固定された発光手段からの光を光位置検出装置によって
検出し、これにより傾斜角等を求め表示するようにした
から、構成が簡単で、機械的接触部が少なく耐久性が良
く、また、安圃な傾斜計を1gることができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明が従来技術の問題点を解決するために採
用した手段のブロック図、第2図は本発明の第1の実施
例の要部斜視図、第3図は第1の実施例の原理説明図、
第4図は第1の実施例の制御回路のブロック図、第5図
は第1の実施例の動作処理フローチャート、第6図は本
発明の第2の実施例の要部説明図、第7図は第2の実施
例の原理説明図、第8図は本発明の第3の実−流側の要
部斜視図、第9図は第3の実施例の原理説明図である。 1・・・2自由度ジャイロ、2,21.33・・・光位
置検出装置の光検出部、3,23.31・・・筐体、8
.27.32・・・発光素子、20・・・1自由度ジャ
イロ、30・・・振子。 ト 第4区 第2図 第5図 第7図 第9図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)常に垂直方向を検出し検出姿勢を保持する垂直方
    向検出手段と、該垂直方向検出手段に設けられた発光手
    段と、該発光手段からの光を受光し受光位置信号を出力
    する光位置検出装置と、該光位置検出装置の光検出部と
    上記発光手段が対面するように上記垂直方向検出手段と
    光検出部を一定位置関係に保持する保持手段と、上記光
    位置検出装置からの受光位置信号により傾斜角を算出す
    る傾斜角算出手段と、該傾斜角算出手段で算出された傾
    斜角を表示する表示手段とを有することを特徴とする光
    位置検出型傾斜計。
  2. (2)上記垂直方向検出手段はジャイロである特許請求
    の範囲第1項記載の光位置検出型傾斜計。
  3. (3)上記ジャイロは2軸自由度ジャイロで、上記発光
    手段は該ジャイロの常に垂直方向の姿勢をとる部材に固
    定され、上記光位置検出装置は2次元光位置検出装置で
    ある特許請求の範囲第2項記載の光位置検出型傾斜計。
  4. (4)上記ジャイロは1軸自由度で上記光位置検出装置
    は1次元光位置検出装置である特許請求の範囲第2項記
    載の光位置検出型傾斜計。
  5. (5)上記垂直方向検出手段は振子で、該振子の先端に
    上記発光手段が固定され、上記光位置検出装置は2次元
    光位置検出装置である特許請求の範囲第1項記載の光位
    置検出型傾斜計。
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