JPS62187943A - Data monitoring device - Google Patents
Data monitoring deviceInfo
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- JPS62187943A JPS62187943A JP61277122A JP27712286A JPS62187943A JP S62187943 A JPS62187943 A JP S62187943A JP 61277122 A JP61277122 A JP 61277122A JP 27712286 A JP27712286 A JP 27712286A JP S62187943 A JPS62187943 A JP S62187943A
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Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、メモリへのデータ操作を行うメモリ操作装置
のデータを監視するデータ監視装置に関し、特に、マイ
クロコンピュータ等のプログラムデバッグを行うための
評価装置に於いて、被デバツグ・プログラムが操作する
データを監視するデータ監視装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a data monitoring device that monitors data of a memory manipulation device that performs data manipulation to a memory, and in particular, to a data monitoring device for monitoring data of a memory manipulation device that performs data manipulation to a memory, and in particular, a data monitoring device for monitoring data of a memory manipulation device that manipulates data in a memory. The present invention relates to a data monitoring device for monitoring data manipulated by a program to be debugged in an evaluation device.
マイクロコンピュータ等のプログラムのノ(グのの原因
の一つに初期化していないメモリの内容の参照によるも
のがある。プログジムで参照されるメモリは、本米必ず
その以前にii+1らかのデータが書き込まれていなけ
ればならない。このためには、データ領域として使用す
るメモリの内容はプログラムの前処理として、すべて初
期化して8く事が望ましいが、特にマイクロコンビエー
タでは、プログラムのサイズによる制限や、または、初
期化不要なメモリをも初期化する事による時間の問題等
で、必要最小限のメモリのみを初期化する事が多い。こ
の様な場合、プ党グラマのミスのため初期化しなければ
ならないメモリの初期化をわすれる事がある。この様な
プログラムのバグは通常デバッグ工程では発見できない
場合がある。なぜなら初期化されていないメモリであっ
ても電源投入後は0“かまたは11”のいずれかの値に
なり、もしその時の値が初期化すべき値と一散した場合
は、プロゲラムシま正常に動作してしまうからである。One of the causes of failure in programs such as microcomputers is due to referencing the contents of uninitialized memory.The memory referenced by the program must have some data such as ii+1 beforehand. To do this, it is desirable to initialize and initialize all the contents of the memory used as the data area as preprocessing of the program, but especially in micro combinators, there are limitations due to the size of the program and , or because of the time issue of initializing memory that does not need to be initialized, only the minimum necessary memory is often initialized.In such cases, initialization is necessary due to a mistake in the programming grammar. Sometimes the required memory initialization is forgotten. Such program bugs are usually not discovered during the debugging process. This is because even uninitialized memory may be 0" or 11" after the power is turned on. This is because if the value at that time is different from the value to be initialized, the progerium will operate normally.
この様なバグは、デバ・ノブの工程が完了し、そのプロ
グラムをリリースした後に発見されるのが常である。し
かしながら従来のマイクロコンビエータのプログラム評
価装置は、この種のバグを事前に発見てる手段を備えて
いなかった。Such bugs are usually discovered after the Deva Nob process is completed and the program is released. However, conventional micro combinator program evaluation devices do not have a means to detect this type of bug in advance.
また1作成されたプログラムを評価(デバッグ)する工
程では、そのプログラムの丁べての仕様項目を評価しな
ければならない。Furthermore, in the process of evaluating (debugging) a created program, all specification items of the program must be evaluated.
たとえば、あるメモリのビットがそのプログラム中で7
ラグとして使用されている場合には、そのビットが1″
′と′01の両方の場合を評価しなければならないがこ
の種の7ラグを多数1吏用するプログラムに於いては評
価項目のもれによってそのうらのいくつかは、0“また
は1”の一方でしか評価しない場合がありうる。For example, if a bit of memory is set to 7 in the program.
If used as a lug, the bit should be 1″
It is necessary to evaluate both cases of '01' and '01', but in a program that uses many 7-lags of this type, some of them may be 0" or 1" due to omission of evaluation items. There may be cases where only one side is evaluated.
この様に評価項目もれにエリ評価時に′0”または′1
”しかセットされなかったフラグが実f史用時に評価時
と反対の値が格納された場合のプログラムの動作は、一
般的に正盾に動作する事が保証されない。この問題は、
評価が完了した時点で、すべての7ラグが少な(とも1
1g1は”l“と0”の両方の状輯になったかどうかを
矧る稟に1リ−かなり軽減される。しかしながら従来の
マイクロコンビエータ評価装置は評価時に0“または′
1“のデータしか書き込まれていないメモリのビットを
検出する手段を備えていなかった。In this way, when evaluation items are omitted, '0' or '1
In general, if a flag that has been set only with "" is stored as a value opposite to the value at the time of evaluation during actual f-history use, it is not guaranteed that the program will operate normally.
At the time the evaluation is completed, all 7 lags are low (both 1
1g1 is considerably reduced by 1 Li to determine whether the state is both "l" and 0. However, conventional micro combinator evaluation devices only evaluate whether the state is 0" or 0".
There was no means for detecting memory bits in which only data of 1" was written.
本発明は、以上説明した現状に鑑み、初期化していない
メモリを参照した事を検出し、かつ、もし必要があれば
、その時点でメモリ参照を行った装置の動作を停止させ
、かつ、評価終了後に丁べてのメモリに′1“と′θ″
の両方のデータが書き込まれたかどうかを検出する事が
可能なマイクロコンビエータ等のプログラム評価装置に
使用されるデータ監視装置を提供する事を目的とする。In view of the current situation described above, the present invention detects that uninitialized memory is referenced, and if necessary, stops the operation of the device that made the memory reference at that point, and evaluates the After completion, ’1” and ’θ” are stored in the memory of all
An object of the present invention is to provide a data monitoring device used in a program evaluation device such as a micro combinator, which is capable of detecting whether or not both data have been written.
本発明のデータ監視装置は、透視の対象となるメモリの
各ビートに一対一対応したビット構成で′″0”に初期
化されるメモリ(以下これをORメモリという)と、同
様に対象となるメモリの各ビットに一対一対応したビッ
ト構成で“1”に初期化されるメモリ(以下これをAN
Dメモリという)の2つのメモリを有し、対象となるメ
そりにデ−タが書き込まれる度毎に書き込み動作にあず
かった対象となるメモリの番地に対応するORメモリ及
びANDメモリの各ビットに以下の処理をほどこす。即
ち、ORメモリに対しては、対応するビットの内容と書
き込みデータの論理和演算を行いその結果を前記の対応
するORメモリへ一!!込み、また、ANDメモリに対
しては、対応するビットの内容と書き込みデータの論理
積演算を行い、その結果を前記の対応するANDメモリ
へ書き込む。The data monitoring device of the present invention can similarly target a memory that is initialized to ``0'' with a bit configuration that corresponds one-to-one to each beat of the memory to be transparently viewed (hereinafter referred to as OR memory). A memory that is initialized to “1” with a bit configuration that corresponds one-to-one to each bit of the memory (hereinafter referred to as AN
Each time data is written to the target memory, each bit of the OR memory and AND memory corresponding to the address of the target memory that participated in the write operation is Perform the following processing. That is, for the OR memory, the content of the corresponding bit and the write data are logically ORed, and the result is sent to the corresponding OR memory. ! Also, for the AND memory, a logical AND operation is performed between the contents of the corresponding bit and the write data, and the result is written to the corresponding AND memory.
もし、対象となるメモリに対して、読み出し操作が行わ
れた場合には、対応するORメモリの内容と、対応する
ANDメモリの内容を読み出し、そのORメモリの内容
が0″でかつ、ANDメモリの内容が1”の場合には、
その読み出し操作にあずかった対象となるメモリには一
度もデータの書き込みが行われていない、つまり、初期
化されていないメモリに対する参照が行われたと判断す
るものである。もし、必要ならば、初期化されていない
メモリ参照が行われた時点でメモリ参照を行った装置に
対して動作停止要求信号を出力する。If a read operation is performed on the target memory, the contents of the corresponding OR memory and the contents of the corresponding AND memory are read, and if the contents of the OR memory are 0'' and the AND memory If the content of is 1”, then
It is determined that no data has ever been written to the target memory that participated in the read operation, that is, a reference was made to uninitialized memory. If necessary, at the time when an uninitialized memory reference is made, an operation stop request signal is output to the device that made the memory reference.
また、本発明のデータ監視装置は、プログラムの評価終
了後に、0几メモリの内容が”1°゛でそれに対応する
ANDメモリの内容が1”であった場合、そ1らのメモ
リのビットに対応する対象となるメモリのビットが評価
時に”■“しか書き込まれなかったと判断する。同様に
、ANDメモリの内容がO”で対応する01メモリの内
容が@0”であった場合には、対応する対象となるメモ
リのビットにはO″しか書き込まれなかったと判断する
ものである。Further, the data monitoring device of the present invention, after the evaluation of the program is completed, if the content of the 0 memory is "1°" and the content of the corresponding AND memory is 1, the data monitoring device of the present invention changes the bits of that memory to It is determined that only "■" was written to the corresponding target memory bit at the time of evaluation. Similarly, if the content of the AND memory is O" and the content of the corresponding 01 memory is @0", it is determined that only O" was written to the bit of the corresponding target memory. .
次に、図面を参照しながら本発明を説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は、本発明の一実施例のブロック・ダイアダラム
である。FIG. 1 is a block diaphragm of one embodiment of the present invention.
対象となるメモリへ書き込み操作が行われた場合には、
そのアドレスは:!F@込みアドレス・バス1へ出力さ
れ、また読み出し操作が行われた場合は、読み出しアド
レス・バス2へ出力される。書き込みアドレス−バス1
及び読み出しアドレス・バス2は選択回路30入力とな
り、アドレス選択43号4に工9どちらか一方がアドレ
ス・バス5へ出力される。第1図の実施例では、対象と
なるメモリとして4ビツト巾のものを想定している。ア
ドレス・バス5は検査メモリ6のアドレス入力に接続さ
れる。検査メモリ6には8ビツト巾のメモリが使用され
、そのうちの上位4ビツトがANDメモリとして、また
下位4ビツトがO11メモリとして使用される。検査メ
モリ6へ対する読み出し及び書き込みは検査メモリ書き
込み信号7にLす行われ、このイざ号が活性化されると
、ANDデータ・バス8及びORデータ・バス9の内容
カアドレス・バス、5の内容で指定される検査メモリの
夫々下位4ビツト及び上位ビットに書き込まれる。When a write operation is performed to the target memory,
Its address is:! F@ is output to the incoming address bus 1, and if a read operation is performed, it is output to the read address bus 2. Write address - bus 1
The read address bus 2 is input to the selection circuit 30, and either address selection 43 or 9 is output to the address bus 5. In the embodiment shown in FIG. 1, it is assumed that the target memory is 4 bits wide. Address bus 5 is connected to address inputs of test memory 6. An 8-bit wide memory is used as the test memory 6, of which the upper 4 bits are used as an AND memory and the lower 4 bits are used as an O11 memory. Reading and writing to the test memory 6 is performed by keeping the test memory write signal 7 low, and when this signal is activated, the contents of the AND data bus 8 and the OR data bus 9 are read from and written to the test memory 6. are written to the lower 4 bits and upper bits of the test memory specified by the contents of .
また検査メモリ書き込み信号7が活性化されない時は、
アドレス・バス5の内容で指定される検査メモリ6の内
容が夫々ANDパス8及び0ルバス9へ読み出される。Furthermore, when the test memory write signal 7 is not activated,
The contents of the test memory 6 specified by the contents of the address bus 5 are read out to the AND path 8 and the 0 bus 9, respectively.
データ・バス11には、対象となるメモリへの書き込み
データが出力され、その各ビットは、誉き込みデーター
ユニット200〜230へ入力される。マスク・データ
・バス12は対象となるメモリの任意の番地が4ビット
単位でなく、特定のビットがマスクされ−Cアクセスさ
れた場合そりマスクされたビットに対応するマスク・デ
ータ・バス12の・店号線には“0”が出力され、その
他のビットに対応する48号線には1”が出力される。Data to be written to the target memory is output to the data bus 11, and each bit of the data is input to the write data units 200-230. When an arbitrary address of the target memory is accessed not in units of 4 bits, but when specific bits are masked and -C accessed, the mask data bus 12 corresponding to the masked bits is "0" is output to the store number line, and "1" is output to line 48 corresponding to the other bits.
書き込みデータ・ユニット200,210,220゜2
30 は同一の回路で構成されているので、ここでは
その最下位ビットの200を例にと9、その構成を説明
する。マスク・データ・バス12の最下位ビットは、イ
ンバータ24)1にエフ反転さfして、ORゲート20
2に入力される。01(、ゲート202のもう一方の入
力にはデータ・バスの最下位ビットが入力され、0几ゲ
ート202の出力はANDゲート204に入力される。Write data unit 200, 210, 220°2
30 are composed of the same circuit, so here, the configuration will be explained using the least significant bit 200 as an example. The least significant bit of the mask data bus 12 is inverted to an inverter 24)1 and output to an OR gate 20.
2 is input. The other input of gate 202 is the least significant bit of the data bus, and the output of gate 202 is input to AND gate 204.
)k i’J Dゲート204のもう一方の人力には、
ANDパス8の最下位ビット(検査メモリ60ビット−
a号4)の内容が入力される。ANDゲート203には
、データ・バス11の最下位ビットとマスク・データe
バス12に最下位ビットが入力される。ORゲート20
5には、ANDゲート203の出力とOR+バス9の最
下位ビットが入力される。) k i'J The other human power of D gate 204 is
The least significant bit of AND pass 8 (test memory 60 bits -
The contents of item a 4) are input. AND gate 203 contains the least significant bit of data bus 11 and mask data e.
The least significant bit is input to bus 12. OR gate 20
5, the output of the AND gate 203 and the least significant bit of the OR+ bus 9 are input.
データ・ラッチ300及び400は夫々4ビツト構成の
ラッチでデータ・ラッチ400には書き込みデータ・ユ
ニット200〜230のANDグー)204に相当する
ゲートの出力信号4本が、また、データーラッチ300
には書き込みデータ・ユニット200,210,220
,230のORゲート205の出力に相当するゲート出
力信号4本が入力され、夫々ラッチ・クロック13に工
ってラッチされる。データ・ラッチ300及び400は
、夫々4ビツト構成の3ステート・バッファー401及
び301を介して、夫々ANDデータ・パス8及びOR
データ・バス9へ接続される。The data latches 300 and 400 each have a 4-bit configuration, and the data latch 400 receives four gate output signals corresponding to the AND gate (AND gate) 204 of the write data units 200 to 230.
write data units 200, 210, 220
, 230 are input, and are latched using the latch clock 13, respectively. Data latches 300 and 400 are connected to AND data paths 8 and OR data paths, respectively, via 4-bit three-state buffers 401 and 301, respectively.
Connected to data bus 9.
リード・データ・ユニット100,110,120゜1
30 はすべて同一の回路で構成されているので、ここ
では最下位ビットであるリード・データ・ユニット10
0を例にと9説明する。ANDゲート102にはマスク
・データーパス12の最下位ビット及びANDデータ・
パス8の最下位ビット(検査メモリ6のビット番号4)
とORデータ・パス9の最下位ビットがインバータ10
1に工って反転された信号が入力され、その出力は読み
出しデータ・ユニット100の出力となる。Read data unit 100, 110, 120°1
30 are all composed of the same circuit, so here we use the read data unit 10, which is the least significant bit.
9 will be explained using 0 as an example. The AND gate 102 contains the least significant bit of the mask data path 12 and the AND data.
Least significant bit of pass 8 (bit number 4 of test memory 6)
and the least significant bit of data path 9 is inverter 10
A signal that is inverted and modified to 1 is input, and its output becomes the output of the read data unit 100.
読み出しデータ・ユニット100,110,120゜1
30 の出力は、0几ゲート140に入力されその出力
は、対象メモリ読み出しモード信号14とともにAND
ゲート15に入力される。Read data unit 100, 110, 120°1
The output of 30 is input to the 0 gate 140, and the output is ANDed with the target memory read mode signal 14.
It is input to gate 15.
次に第1図に示す実施例の動作について説明する。なお
、第2図に第1図の実施例の主な信号のタイミング・チ
ャートを示す。Next, the operation of the embodiment shown in FIG. 1 will be explained. Incidentally, FIG. 2 shows a timing chart of the main signals of the embodiment of FIG. 1.
第1図の実施例のデータ監視装置は、データの監視を行
う前に検査メモリ6のすべての番地のORメモリとして
用いられる下位4ビツトを′0“にまた、ANDメモリ
として用いられる上位4ビツトを@1”に初期化する。Before monitoring data, the data monitoring device of the embodiment shown in FIG. Initialize to @1”.
初期化の手段は、第1図には示してはいないが、このデ
ータ監視装置を制御するマイクロコンビ為−夕等の制御
装置により、この初期化を行えばよい。その時には、前
記制御装置は、書き込みアドレス・パス1に初期化する
検査メモリ6のアドレスを出力し、ANDバス8に11
11(2進)のデータを、またORパス9に0000(
2進)のデータを出力し、検査メモリ書き込み信号7を
活性化するという作業を検査メモリのすべての番地に対
して行う事で検査メモリのすべての番地の下位4ビツト
が0000(2進)に、また、上位4ビツトが1111
(2進)に初期化される。Although the means for initialization is not shown in FIG. 1, this initialization may be performed by a control device such as a microcombi controller that controls this data monitoring device. At that time, the control device outputs the address of the test memory 6 to be initialized on the write address path 1 and outputs the address of the test memory 6 to be initialized on the AND bus 8.
11 (binary) data and 0000 (
By outputting data in binary format and activating test memory write signal 7 for all addresses in the test memory, the lower 4 bits of all addresses in the test memory become 0000 (binary). , and the upper 4 bits are 1111
(binary).
上記初期化の完了後、第1図のデータ監視装置は、対象
となるメモリのデータの監視を行う。After the above initialization is completed, the data monitoring device shown in FIG. 1 monitors the data in the target memory.
対象となるメモリに対して読み出し操作が行われたとす
ると、第2図のタイミング図の■の期間ニアトレス・バ
ス5に読み出し、アドレスが出力され検査メモリ6から
はその時読み出し操作にあずかっている対象となるメモ
リに対応するアドレスのデータが出力される。もし、い
ま、その読み出し操作が指定されたアドレスのすべての
ビットに対して行われる場合にはマスク・データーバス
1’)Ill”Ip+−4−へ嗜一−1”uP山−kJ
PJA?J雷二1オみ出し操作が特定のビットに対して
のみ行われる場合は、その読み出されないマスクされる
べきビットに対応するマスク・データーバス120ビツ
トには′O”が出力される。Assuming that a read operation is performed on the target memory, the read operation is performed on the near address bus 5 during the period (■) in the timing diagram of FIG. The data at the address corresponding to the memory is output. If the read operation is now performed on all bits of the specified address, the mask data bus 1')
PJA? If the readout operation is performed only on a specific bit, an 'O' is output to the mask data bus 120 bit corresponding to the bit to be masked that is not read.
読み出しデータ・ユニット100,110,120゜1
30は、夫々のビットに対応する対象となるメモリのビ
ットがマスクされている時は、その出力を無条件に”0
“にするが、マスクされていない場合で、かつ、AND
データバスの対応するビットが@l”でORデータ・バ
スの対応するビットが10“である時のみその出力を“
1”にする。Read data unit 100, 110, 120°1
30 unconditionally sets the output to "0" when the target memory bit corresponding to each bit is masked.
“, but if not masked, and AND
Only when the corresponding bit of the data bus is @l” and the corresponding bit of the OR data bus is 10”, the output is “
Set it to 1”.
読み出しデータ・ユニットの出力が11”になるという
事は、検査メモリの対応するビットが初期値である事を
示す。もし、読み出しユニット100゜110.120
,130 のいずれから1″が出力されるとORゲー
ト140の出力は1”となる。The fact that the output of the read data unit is 11" indicates that the corresponding bit in the test memory is the initial value. If the read unit is 100°110.120
, 130, the output of the OR gate 140 becomes 1''.
いま対称となるメモリは、読み出しモードであるから、
読み出しモード信号14には1“が出力されるため、A
NDゲート15の出力には、0几ゲート140の出力値
;卆の薯嗜出″F1七杵入−東1ANDゲート15の出
力が”1”である場合にはまだ一度もデータが書き込ま
れていない対象となるメモリに対して読み出し操作が行
われた事を示す。Since the memory in question is in read mode,
Since 1" is output to the read mode signal 14, A
If the output of the ND gate 15 is "1", no data has been written yet. Indicates that a read operation was performed on target memory that does not exist.
対象となるメモリが書き込み操作をされる場合第2図の
タイミング図の■及び◎の期間にアドレス・パス5には
書き込みアドレス1の内容が出力される。検査メモリ6
は検査メモリ書き込み信号7が′″O”の時にはアドレ
ス−パス5の内容テ指定されるメモリ6の内容がAND
データ・パス8及びORデータ・パス9へ出力される。When a write operation is performed on the target memory, the contents of the write address 1 are output to the address path 5 during the periods marked ■ and ◎ in the timing diagram of FIG. Inspection memory 6
When the test memory write signal 7 is ``O'', the contents of the address-path 5 and the contents of the specified memory 6 are ANDed.
Output to data path 8 and OR data path 9.
第2図のタイミング図では■の期間には検査メモリ6の
内容が読み出される事を示している。この■の期間に対
象となるメモリへ書き込まれるデータは、マスク・デー
タ・パス12の対応−rるビットの内容に工って読み出
しデータ拳ユニットの時と同様にマスクされる。もし、
対応するビットがマスクされている場合には、ANDグ
ー) 204の出力にはANDメモリの対応するビット
の内容が、また、OfLゲート205の出力には、OR
メモリの対応するビットの内容が、いずれもそのまま出
力される。もし、マスクされていない場合は、ANDゲ
ート204には、データ・パス11とANDメモリの対
応するビットの論理積演算の結果が出力され、ORゲー
ト205には、データ・パス11とORメモリの対応す
るビットの論理和演算の結果が出力される。これらの演
算の結果は、第2図のタイミング図の■の期間の後半に
出力されるラッチ・クロック13にエフ、ラッチ300
及び400にラッチされる。次に期間Oではゲート信号
10が活性化されラッチ300及び400の内容は3ス
テート・バッファー301及び401を介してORデー
タ・パス9及びANDデータ・パス8に出力される。こ
のOの期間に検査メモリfFき込み信号7も活性化され
ORデータ・パス9及びANDデータ・パス8の内容は
検査データ・メモリ6の夫々下位4ビツト及び上位4ビ
ツトに書き込まれる。The timing chart in FIG. 2 shows that the contents of the test memory 6 are read out during the period (■). The data written to the target memory during this period (2) is masked in the same manner as in the read data unit by modifying the contents of the corresponding bit of the mask data path 12. if,
If the corresponding bit is masked, the output of the AND gate 204 contains the contents of the corresponding bit of the AND memory, and the output of the OfL gate 205 contains the OR gate.
The contents of the corresponding bits in memory are output as they are. If it is not masked, the AND gate 204 outputs the result of the AND operation of the corresponding bits of the data path 11 and the AND memory, and the OR gate 205 outputs the result of the AND operation of the corresponding bits of the data path 11 and the OR memory. The result of the logical OR operation of the corresponding bits is output. The results of these operations are applied to the latch clock 13, which is output in the second half of the period (■) in the timing diagram of FIG.
and latched to 400. Next, in period O, gate signal 10 is activated and the contents of latches 300 and 400 are output to OR data path 9 and AND data path 8 via three-state buffers 301 and 401. During this O period, the test memory fF write signal 7 is also activated, and the contents of the OR data path 9 and the AND data path 8 are written to the lower 4 bits and upper 4 bits of the test data memory 6, respectively.
この事から検査メモリ60ビツトの内容に工9、そのビ
ットに対応する対象となるメモリの状況がが判断できる
。即ちあるANDメモリのビットの内容が11″である
場合、対象となるメモリの対応するビットには、その時
までに@0”が書き込まれていないという事であり、ま
た、0几メモリのビットの内容が′″0”である場合、
対象となるメモリの対応するビットに対して′″1”が
1度も書き込まれていない事を示す。つまり、ANDメ
モリのあるビットの内容が′1”でかつORメモリの対
応するメモリのビットが10′″の場合には。From this, it is possible to determine the contents of the 60 bits of the test memory (9) and the status of the target memory corresponding to those bits. In other words, if the content of a bit in a certain AND memory is 11'', it means that @0'' has not been written to the corresponding bit in the target memory by that time, and If the content is ``0'',
Indicates that ``1'' has never been written to the corresponding bit in the target memory. In other words, if the content of a certain bit in the AND memory is ``1'' and the corresponding bit in the OR memory is 10''.
対象となるメモリの対応するビットには一度もデータじ
1“またはθ″)が書き込まれていない事になる。もし
、この様な一度もデータが書き込まれていないメモリが
読み出されると、ANDゲート15の出力である非初期
化メモリ読み出し検出信号16には“1”が出力される
。つまり、非初期化メモリ読み出し検出信号16に′1
″が出力されれば初期化していないメモリを読み出した
事になる。This means that data ``1'' or θ'') has never been written to the corresponding bit of the target memory. If such a memory in which data has never been written is read, "1" is output to the non-initialized memory read detection signal 16 which is the output of the AND gate 15. In other words, '1' is applied to the non-initialized memory read detection signal 16.
'' is output, it means that uninitialized memory was read.
次に初期化していないメモリを読み出した時点で対象と
なるメモリを操作している装置を停止させるには、非初
期化メモリ検出信号16を対象となるメモリを操作して
いる装置の動作停止要求信号入力に接続丁れば工い。た
とえば、対象となるメモリを換作する装置が米国インテ
ル社で開発された8080と呼ばれるマイクロプロセッ
サ−で制御されている場合は、非初期化メモリ読み出し
検出信号16を8080プロセツサーのHOLD端子に
接続丁ればぷい。こうする事により非初期化メモリ読み
出し検出信号16が出力されると8080プ四セツサー
は、そのプログラムの実行を中断する。In order to stop the device operating the target memory at the time when the uninitialized memory is read next, the non-initialized memory detection signal 16 is used as a request to stop the operation of the device operating the target memory. Just connect it to the signal input. For example, if the target memory is being modified by a microprocessor called 8080 developed by Intel, the non-initialized memory read detection signal 16 can be connected to the HOLD terminal of the 8080 processor. It's fine. By doing this, when the non-initialized memory read detection signal 16 is output, the 8080 processor interrupts the execution of the program.
また、その装置がハード−ワイヤード・ロジックで構成
されている場合には、非初期化メモリ読み出し検出信号
16が出力されると、その装置の動作クロックを停止さ
せる様な構成にしてもよい。Further, if the device is configured with hard-wired logic, the device may be configured to stop its operating clock when the non-initialized memory read detection signal 16 is output.
第3図は、本発明の目的の一つである。′1”または’
O”L、か書き込まれなかったメモリのビットを検出す
るための装置の一実施例のブロック・ダイアダラムであ
る。第3図で第1図と同一の信号には、同一の番号を付
しである。この第3図の実施例は、第1図の実施例のA
NDデータ・バス8及び0几データ・バス9に接続する
付属装置の形式で表現されている。また、@1″検出ユ
ニット500,510,520,530はすべて同一構
成でありその内部の構成を500を代表として示してい
る。同様に′″0“検出ユニット600,610゜62
0.630 も同一回路構成で600を代表として、
その内部構成を示している。FIG. 3 is one of the objects of the present invention. '1'or'
This is a block diagram of one embodiment of a device for detecting bits of memory that have not been written. Signals in FIG. 3 that are the same as in FIG. The embodiment shown in Fig. 3 is similar to A of the embodiment shown in Fig. 1.
It is represented in the form of an accessory device connected to the ND data bus 8 and the 0 data bus 9. Also, the @1'' detection units 500, 510, 520, and 530 all have the same configuration, and the internal configuration is shown with 500 as a representative.Similarly, the ``0'' detection units 600, 610゜62
0.630 also has the same circuit configuration, with 600 as a representative,
It shows its internal configuration.
11“検出ユニット500には%OBORデータス80
1つのビットとそれに対応するANDデータ・パスのビ
ットが入力され、それらは、ANDゲート502に入力
される。1”検出ユニット500の出力には、ANDゲ
ート502の出力がそのまま導出され、′l“検出ピッ
ト信号550となる。′″l″検出ユニット500,5
10,520゜530 の出力は、OR,ゲート540
に入力され、その出力は、″1″検出信号541として
出力される。11" The detection unit 500 has %OBOR data 80
One bit and the corresponding bit of the AND data path are input and they are input to AND gate 502. The output of the AND gate 502 is directly derived as the output of the 1" detection unit 500, and becomes the '1" detection pit signal 550. '''l'' detection unit 500,5
The output of 10,520°530 is OR, gate 540
, and its output is output as a "1" detection signal 541.
O”検出ユニット600には、ORデータ・パス801
つのビットとそれに対応するANDデータ・バスのビッ
トが入力されそれらは、夫々インバータ602及び60
1で位相を反転された後。O” detection unit 600 includes an OR data path 801
and the corresponding AND data bus bits are input to inverters 602 and 60, respectively.
After the phase is inverted by 1.
ANDゲート603へ入力される。ANDゲート603
の出力は″′θ″検出ビット信号650として導出され
る。10”検出ユニツ)600,610゜620.63
0 の出力は、ORゲート640に入力され、@O″
検出・信号641となる。It is input to AND gate 603. AND gate 603
The output of is derived as a ``'θ'' detection bit signal 650. 10” detection unit) 600,610°620.63
The output of 0 is input to the OR gate 640 and @O″
A detection signal 641 is obtained.
次に、第3図に示した実施例の具体的に利用方法を示す
。Next, a concrete usage method of the embodiment shown in FIG. 3 will be described.
第3図の実施例のブロック・ダイアグラムは。The block diagram of the embodiment shown in FIG.
第1図のブロックダイアグラムに接続されて使用される
。いや、たとえば、第1図のブロック・ダイアグラムが
マイクロコンピュータのプログラムの開発/評価装置に
接続されて使用されていると仮定すると、プログラム評
価が終了した時点で、対象となるメモリのすべての番地
の内容lt読み出す操作を行5うこのとき、もし、その
プログラムの評価中に1°しか設定されなかったメモリ
のビットがあるとそのビットに対応するOR,メモリの
ビット及びANDメモリのビットには′1”が書き込ま
れているはずである。この場合、そのビットに対する読
み出し操作を行うと、そのビットに対応する1”検出ユ
ニットの出力が′1”となりORゲート540の出力で
ある1”検出信号541が出力される。つまり、@l”
検出信号541を監視する事により、評価中に′1”し
か書き込まれなかったメモリの存在の有無を知る事がで
きる。It is used connected to the block diagram of FIG. For example, if we assume that the block diagram in Figure 1 is connected to a microcomputer program development/evaluation device, then when the program evaluation is completed, all addresses in the target memory will be When performing an operation to read the contents, if there is a memory bit that was set only by 1 degree during evaluation of the program, the OR, memory bit, and AND memory bit corresponding to that bit will be ''. 1" should have been written. In this case, when a read operation is performed on that bit, the output of the 1" detection unit corresponding to that bit becomes '1', and the 1" detection signal which is the output of the OR gate 540 541 is output. In other words, @l”
By monitoring the detection signal 541, it is possible to know whether there is a memory in which only '1' was written during evaluation.
もし、@1“しか書き込まれていないメモリのビットの
位置まで知る必要がある場合は、11”検出信号541
が出力された時に、@1”検出ビット信号550,55
1,552,553を判断すればよい。If you need to know the location of the bit in the memory where only @1" is written, use the 11" detection signal 541.
@1” detection bit signal 550, 55
1,552,553 should be determined.
同様に0”しか書き込まれていないメモリの左右の有無
を調べるには対象となるメモリを読み出しながら0”検
出信号640を判断する。Similarly, to check whether there is a left or right memory in which only 0" has been written, the 0" detection signal 640 is determined while reading the target memory.
以上説明した様に本発明によれば監視の対象となるメモ
リのデータの書き込みの履歴を知る事ができるため従来
のマイクロコンビエータ等の評価装置では不可能であっ
た「初期化していたいメモリに対するデータの参照」を
検出する事ができるばかりでな(、′″0“または1”
しか書き込まれていないメモリのビットを知る事ができ
る。このため本発明をマイクロコンビ為−夕の評価装置
に応用する事にエリプログラムのバグの検出に大きな効
果をもたらす。As explained above, according to the present invention, it is possible to know the data writing history of the memory to be monitored. It is possible to detect 'references' (, '0' or '1')
It is possible to know which bits of memory have only been written to. Therefore, the application of the present invention to a microcomputer evaluation device brings about a great effect in detecting bugs in Eri programs.
なS%第1図の実施例ではデータの巾を4ビツトとした
が、これは、単に対象となるメモリのビット巾として4
ビツトを相定したためであり、任意のビット長にする事
ができる事はいうまでもない。In the example shown in FIG. 1, the data width is 4 bits, but this is simply the bit width of the target memory of
This is because the bits are fixed, and it goes without saying that any bit length can be used.
第1図は、本発明の非初期化メモリ検出部のブロック図
、第2図はそのタイミング図、第3図は10“または″
1”しか書き込まれていないメモリの検出部のブロック
図で66゜
1・・・・・・−it込みアドレス、2・・・・・・a
み出しアドレス、3・・・・・・選択回路、4・・・・
・・アドレス選択信号、5・・・・・・アドレス−バス
、6・・・・・・検査メモリ、7・・・・・・検査メモ
リ書き込み信号、8・−・・・・ANDデーターバス、
9・・・・・・ORデータeバス、10・・・・・・ケ
ート信号、11・・・・・・データ・バス、12・・・
・・・マスク・データーパス、13・・・・・・ラフチ
ークロック、14・−・・・・読み出しモード信号、1
5・・・・・・ANDゲート、100,110,120
,130・・・・・・読み出しデータ・ユニツタ、10
1・・・・・・インバータ、102・・・・・・AND
ゲート、140・・・・・・ORゲート、200 。
210.220,230・・・・・・書き込みデータ・
ユニット、201・−・・・・インバータ、202・・
・・・・ORゲート、203・・・・・・ANDゲート
、204・・・・・・ANDゲート、300.400・
・・・・・ラッチ、301 、401 ・・・・・・
3ステートーバツフアー、500−.510,520゜
530・・・・・・1”検出ユニツ)、502・・・・
・・ANDゲート、 551,552,553,554
・・・・・・″1@検出ピットイg号、540・・・・
・・0几ゲート、541・・・・・・″1″検出信号、
600,610,620,630・・・″0″′検出ユ
ニット、601,6Q2・・・・・・インバータ、60
3・・・・・・ANDゲート、650,651゜653
・・・・−・′O”検出ビット信号、640・・・用0
凡ゲー)、641・・・・−・0”検出信号。
代理人 弁理士 内 原 晋
c5 、 WFIG. 1 is a block diagram of a non-initialized memory detector according to the present invention, FIG. 2 is a timing diagram thereof, and FIG.
A block diagram of the detection unit of a memory in which only 1" has been written is 66° 1......-it write address, 2......a
Extrusion address, 3... Selection circuit, 4...
... Address selection signal, 5 ... Address bus, 6 ... Test memory, 7 ... Test memory write signal, 8 ... AND data bus,
9...OR data e-bus, 10...gate signal, 11...data bus, 12...
...Mask data path, 13 ... Rough clock, 14 ... Read mode signal, 1
5...AND gate, 100, 110, 120
, 130... Read data unit, 10
1...Inverter, 102...AND
Gate, 140...OR gate, 200. 210.220,230...Write data
Unit, 201... Inverter, 202...
...OR gate, 203...AND gate, 204...AND gate, 300.400.
...Latch, 301, 401 ...
3-state buffer, 500-. 510, 520° 530...1" detection unit), 502...
・・AND gate, 551, 552, 553, 554
・・・・・・″1@Detection Pit Ig No. 540...
...0 gate, 541..."1" detection signal,
600, 610, 620, 630..."0"' detection unit, 601, 6Q2...Inverter, 60
3...AND gate, 650,651°653
...-'O" detection bit signal, 0 for 640...
641...-0" detection signal. Agent: Patent attorney Susumu Uchihara c5, W
Claims (4)
モリと、該第1のメモリを操作する制御装置から構成さ
れるメモリ操作装置のデータの監視する装置であって、
該第1のメモリの各ビットに一対一対応したビットで構
成され初期値が“0”である第2のメモリと、該第1の
メモリの各ビットに一対一対応したビットで構成され初
期値が“1”である第3のメモリを具備し、該第1のメ
モリに対して該制御装置がデータの書き込み操作を行っ
た場合、その書き込み操作にあずかったビットに対する
第2のメモリのビットには、第1のメモリへの書き込み
データと、第2のメモリの対応するビットの内容との間
で論理和演算を行った結果を格納し、第3のメモリに対
しては、書き込みデータと、第3のメモリの対応するビ
ットの内容との間で論理積演算を行い、その結果を第3
のメモリの対応するビットに書き込むという動作を行う
手段を具備し、該第1のメモリに対して該制御装置が読
み出し操作を行った場合、読み出しにあずかった該第1
のメモリのビットに対応する第2のメモリのビットの内
容が“0”で、かつ、対応する第3のメモリのビットの
内容が“1”であるかどうかを検出する非初期化メモリ
検出手段を具備した事を特徴とするデータ監視装置。(1) A device for monitoring data of a memory operation device comprising a first memory in which data can be written and read, and a control device that operates the first memory,
a second memory consisting of bits having a one-to-one correspondence with each bit of the first memory and having an initial value of “0”; and a second memory consisting of bits having a one-to-one correspondence with each bit of the first memory and having an initial value of “0”; is "1", and when the control device performs a data write operation to the first memory, the bit of the second memory corresponding to the bit that participated in the write operation is provided. stores the result of performing an OR operation between the write data to the first memory and the contents of the corresponding bit of the second memory, and stores the result of the logical sum operation between the write data to the first memory and the contents of the corresponding bit of the second memory, and stores the write data and the Performs an AND operation with the contents of the corresponding bit in the third memory, and stores the result in the third memory.
means for performing an operation of writing to a corresponding bit of the memory, and when the control device performs a read operation on the first memory, the first memory that participated in the read
non-initialized memory detection means for detecting whether the content of a bit in a second memory corresponding to the bit in the memory is "0" and the content in a bit in a corresponding third memory is "1"; A data monitoring device characterized by comprising:
作にあずかった第1のメモリのビットに対応する第2の
メモリのビットの内容が“0”で、かつ、対応する第3
のメモリのビットの内容が“1”である事が検出された
場合に、該メモリ操作装置の動作を停止させる手段を具
備した事を特徴とする特許請求の範囲第(1)項に記載
のデータ監視装置。(2) The non-initialized memory detecting means detects that the content of the bit of the second memory corresponding to the bit of the first memory that participated in the read operation is "0", and the content of the bit of the corresponding third memory is "0".
Claim (1) further comprising means for stopping the operation of the memory manipulation device when it is detected that the bit content of the memory is "1". Data monitoring equipment.
第3のメモリの内容が“0”であるかどうかを検出する
手段と具備した事を特徴とする特許請求の範囲第(1)
項に記載のデータ監視装置。(3) The scope of claim 1 is characterized in that it includes means for detecting whether or not the content of the third memory corresponding to the bit whose content is "0" in the second memory is "0". 1)
Data monitoring device as described in Section.
第2のメモリのビットの内容が“1”であるかどうかを
検出する手段を具備した事を特徴とする特許請求の範囲
第(1)項記載のデータ監視装置。(4) Claims characterized by comprising means for detecting whether the content of the bit in the second memory corresponding to the bit in the third memory is "1". The data monitoring device according to paragraph (1).
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60-262812 | 1985-11-21 | ||
JP26281285 | 1985-11-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62187943A true JPS62187943A (en) | 1987-08-17 |
Family
ID=17380952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61277122A Pending JPS62187943A (en) | 1985-11-21 | 1986-11-19 | Data monitoring device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62187943A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6461828A (en) * | 1987-09-01 | 1989-03-08 | Nec Corp | Register reference holding mechanism |
-
1986
- 1986-11-19 JP JP61277122A patent/JPS62187943A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6461828A (en) * | 1987-09-01 | 1989-03-08 | Nec Corp | Register reference holding mechanism |
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