JPS62178379U - - Google Patents

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JPS62178379U
JPS62178379U JP6732586U JP6732586U JPS62178379U JP S62178379 U JPS62178379 U JP S62178379U JP 6732586 U JP6732586 U JP 6732586U JP 6732586 U JP6732586 U JP 6732586U JP S62178379 U JPS62178379 U JP S62178379U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の一実施例を説明するための
接続図、第２図及び第３図はＩＣの直流特性試験
の方法を説明するための接続図、第４図は従来の
マトリツクススイツチ回路を説明するための接続
図、第５図は従来のマトリツクススイツチ回路の
各交点の接続構造を説明するための接続図である
。 １２：被試験ＩＣ、２００：微少電流電圧発生
回路群、３００：大電流電圧発生器群、４００：
マトリツクススイツチ回路、ＭＡ〜ＭＯ：マトリ
ツクスブロツク、Ｘ：マトリツクスブロツクの行
線、Ｙ：マトリツクスブロツクの列線、Ｋｘ：マ
トリツクスブロツクの行線を複数の装置に接続す
るスイツチ、Ｋｙ：マトリツクスブロツクの列線
を複数の装置に接続するスイツチ、４０２：被接
続端子。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ マトリツクススイツチ回路を構成するスイツ
    チ群を複数のブロツクに分割して構成したマトリ
    ツクスブロツクと、 Ｂ このマトリツクスブロツクの行線及び列線を
    複数の装置に選択的に接続するスイツチと、 Ｃ 各マトリツクスブロツクの行線及び列線の何
    れか一方に接続した複数の被接続端子と、 から成るマトリツクススイツチ。
JP1986067325U 1986-05-02 1986-05-02 マトリツクススイツチ回路 Expired - Lifetime JPH0611509Y2 (ja)

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JPH0611509Y2 JPH0611509Y2 (ja) 1994-03-23

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003057270A (ja) * 2001-08-10 2003-02-26 Advantest Corp 電圧印加電流測定装置及び半導体試験装置

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