JPS62174710A - 焦点検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば、自動的にフォーカシングを行う自動
焦点調節機能を有するカメラ等に用いられる焦点検出装
置に関する。

さらに詳述すると、焦点検出用測定光の焦点検出用光学
系による結像状態に応じた出力信号を出力する焦点検出
用受光部、及び、この出力信号に基づいて撮影レンズの
合焦位置からの偏差を検出する焦点検出部を備え、前記
焦点検出用測定光の分光エネルギー分布を検出するため
の分光感度特性の異なる一対の補正用受光部を前記焦点
検出用受光部に隣接して設けるとともに、前記焦点検出
部による検出偏差がこの一対の補正用受光部によって検
出された焦点検出用測定光の分光エネルギー分布に見合
ったものになるように補正する補正手段を設けた焦点検
出装置に関する。

〔従来の技術〕

上述した焦点検出装置は、焦点検出用測定光が、可視光
の場合と非可視光、例えば、赤外光の場合とでは色収差
に起因して焦点検出用光学系による結像位置が異なるた
め、非可視光成分が多い場合には、焦点検出部による検
出結果に誤差が生じることから、焦点検出用測定光の分
光エネルギー分布がどのようなものであっても、常に正
確な焦点検出が行えるように、補正するようにしたもの
である。

この種の焦点検出装置において、従来、一対の補正用受
光部の分光感度特性を異ならせるために、例えば、補正
用受光部としてのシリコンフォトダイオードの前面に、
分光透過率の異なる一対のフィルターを設けたものが知
られている（例えば、特開昭５８−５９４１３号公報参
照）。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、上述した従来構成による場合には、補正用受光
部としてのフォトダイオード等の他にフィルター等の光
学素子が必要になり、コストアップや組付工程の増加、
或いは、占有部分の増加を招来する虞れがあった。

本発明の目的は、上記実情に鑑み、焦点検出用測定光の
種類の拘らず常に正確な焦点検出を行えるようにするた
めの構成を、コンパクトでコスト的に有利なものにする
ことにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明による焦点検出装置の特徴構成は、焦点検出用測
定光の分光エネルギー分布を検出するための分光感度特
性の異なる一対の補正用受光部のうち、一方の補正用受
光部の分光感度特性を他方の補正用受光部の分光感度特
性に包含されるように構成したことにある。

〔作　用〕

つまり、一対の補正用受光部の、一方の分光感度特性が
他方のそれを包含するものであるから、例えば、補正用
受光部としてフォトダイオードを用いた場合には、Ｐ層
の厚みを変えることにより、フィルタ等の補助的な光学
素子を用。

いることなく、簡単に分光感度特性の違いを実現できる
。また、一方の補正用受光部からの出力信号を２￥準に
して他方の補正用受光部の動作を制御し、それにより、
焦点検出用測定光の分光エネルギー分布を検出できる。

このとき、何れか一方の補正用受光部の分光感度特性が
焦点検出用受光部のそれと一致するようにすれば、焦点
検出用受光部がＣＯＤの如き蓄積自己走査型ラインセン
サから構成された場合に、その電荷蓄積時間を決定する
ために用いられるモニター用受光部とこの補正用受光部
とを兼用することもできる。

〔実施例〕

以下に、図面に基づいて、本発明の詳細な説明する。

第２図に示すように、カメラの焦点検出装置を構成する
焦点検出用光学系（ＯＦ）は、撮影レンズ（１）の後方
の予定焦点面（Ｆ）よりも後方に設けられたコンデンサ
レンズ（２）、さらにその後方に位置する絞りマスク（
３）を配した一対の再結像レンズ（４ａ）　、　（４ｂ
）、それら両回結像レンズ（４ａ）　、　（４ｂ）の結
像面に設けられた電荷結合素子（ＣＣＤ）を受光素子と
して有する、焦点検出用受光部（１２Ｆ）の構成要素と
してのＡＦ用フォトセンサアレイ（６）　、　（７）等
から構成される装置上記ＡＦ用フォトセンサアレイ（６
）　、　（７）　として、例えばシリコンのように赤外
光（Ｒ）　　と可視光（Ｖ）の両方に対して感度を有す
るものを用いた場合には、撮影レンズ（１）による赤外
光（Ｒ）の結像点が、撮影レンズ（１）のもつ軸上色収
差に起因して予定焦点面（Ｆ）よりも後方に移動するの
で、一般に、赤外光（Ｒ）に対応する像間隔（１，ｌ）
は可視光（Ｖ）に対応する像間隔（Ｉ　Ｖ）　（焦点位
置検出信号に相当する）より大きくなる。

第３図に、上述した焦点検出装置を一体化したＡＦセン
サモジュール（ＭＰ）の構成を示す。このＡＦセンサモ
ジュール（ＭＰ）は、光路変換用ミラー（８）を内蔵し
、このミラー（８）の上方に前述したコンデンサレンズ
（２）、視野マスク（９）、及び、はぼ９００ｎｍ以上
の波長域の赤外光をカットする赤外光カットフィルタ（
１０）を配している。

ここで、赤外光カットフィルタ（１０）は、単に不要な
赤外光を除去して色収差の悪影響を最小限におさえるだ
けではなり、ＣＣＤなどの半導体ラインセンサに見られ
る、長波長入射光に対する各画素の光感度バラツキの増
大による金魚信号の信頼性の劣化をも防ぐものである。

そして、それら各構成要素は、レンズホルダ（１１）に
支持′されるとともに、光路変換用ミラー（８）で変換
された光軸に対して垂直に、絞りマスク（３）、一対の
再結像レンズ（４ａ）　、　（４ｂ）を有する基板（５
）、及び、前述したフォトセンサアレイ（６）　、　（
７）を内蔵する光電変換部（１２）が支持された基本構
造を有している。

第４図にＡＦセンサモジュール（ＭＦ）のうちの光電交
換部（１２）の構成を示す。

光電変換部（１２）において、焦点検出用受光部（ＲＦ
）を構成するのフォトセンサアレイ　（第４図において
は、第２図の原理図で示した２つのフォトセンサアレイ
（６）　、　（７）と同じ機能を有するものを、連続し
たものとして示しである）（Ｓ）に、一対のモニターフ
ォトダイオード（１３）　、　（１４）がほぼ平行に隣
接されて並んでいる。このうちフォトセンサアレイ（Ｓ
）の分光感度特性は可視光領域から赤外光領域にまで亘
っている。そして、２つの再結像レンズ（４ａ）　、　
（４ｂ）によって、フォトセンサアレイ（Ｓ）上に被写
体像が形成されるようになっている。

一対のモニタフォトダイオード（１３）　、　（１４）
の分光感度特性は、一方（１３）が可視光領域のみに亘
り、他方（１４）がフォトセンサアレイ（Ｓ）　と同一
の可視光領域から赤外光領域に亘っている。

また、両モニタフォトダイオード（１３）　、　（１４
）は、各別の再結像レンズ（４ａ）　、　（４ｂ）によ
って、同一の被写体をみている。

上述した所定の分光感度特性を得るために、第５図（イ
）及び（ロ）に示すように、それら両モニタフォトダイ
オード（１３）　、　（１４）のｐｎ接合部を構成する
ｐ層（ｐ）の厚みを異ならせである。即ち、ｐ　ｍ　（
ｐ）は長波長側を、ｎ層（ｎ）は短波長側をよ（吸収す
るので、第５図（０）示すように、ｐｉ（ｐ）を厚くす
ることで、可視光領域から赤外光領域までの分光感度特
性が得られるのである。

なお、図中（ａ）　、　（ｂ）　、　（ｃ）は夫々端子
である。そして、第６図に示すのがその等価回路図であ
る。

この関係を、各種光源からの光の分光エネルギー分布と
ともに描いたのが、第７図のグラフである。横軸は波長
、縦軸は相対感度又は相対エネルギーである。

図中（Ａ）　、　（Ｂ）　、　（Ｃ）の曲線は、夫々、
タングステンランプ等の標準光源Ａからの光、太陽光、
白色の螢光灯からの光の分布エネルギー分布を示してい
る。また、図中（１）、（ｎ）の曲線が、夫々、一対の
モニタフォトダイオード（１３）　、　（１４）の分光
感度特性を示している。なお、図中、９００ｎｍの位置
の一点鎖線は、前述した赤外光カットフィルタ（１０）
によるカット波長を示している。

そして、後述するが、この一対の補正用受光部であるモ
ニタフォトダイオード（１３）　、　（１４）からの出
力電流に基づいて、具体的には、その比に基づいて、焦
点検出用測定光の分光エネルギー分布を検出するように
なっている。

ＩｌＵち、両モニタフォトダイオード（１３）　、　（
１４）からの出力差が顕著にあられれるのは、グラフか
ら分かるように、およそ６００ｎｍ以上の領域であるか
ら、白色螢光灯からの光に対して、両モニタフォトダイ
オード（１３）　、　（１４）からの出力はほぼ同一で
あり、その比はほぼ［１，０］である。

また、標準光源Ａの光の下では、光のエネルギーが６０
０ｎｍ以上で顕著になるから、両モニタフォトダイオー
ド（１３）　、　（１４）からの出力は、その比が大き
く、約［２，０］である。さらに、太陽光は、赤外光領
域の光のエネルギーの分布が、白色の螢光灯からの光、
及び、標準光ａｌＡからの光のほぼ中間であり、両モニ
タフォトダイオード（１３）　、　（１４）からの出力
の比は約［１，５１である。

また、第１の補正用受光部である第１のモニタフォトダ
イオード（１３）と、第２の補正用受光部である第２の
モニタフォトダイオード（１４）とは、それぞれ、フォ
トセンサアレイ（Ｓ）のうちの、第２図の原理図に示す
２分割形式のフォトセンサアレイ（６）　、　（７）に
相当する部分に隣接して同一チップ上に設けられており
、フォトセンサアレイ（Ｓ）とほぼ同じ被写体を見てい
る。

次に、この光電変換部（１２）の回路構成及びその動作
について説明する。第８図が光電変換部（１２）の回路
を示している。

フォトセンサアレイ（Ｓ）からの出力は、シフトレジス
タ（１５）を通して出力端子（ＰＤ）に出力される。ま
た、一対のモニタフォトダイオード（１３）　、　（１
４）からの出力は、夫々、出力端子（Ｍｌ）。

（Ｍ２）に出力される。

第１図に示すカメラの制御装置を構成するマイクロコン
ピュータ（ＭＣ）からの積分クリア信号（ＩＣＧ）が入
力されると、積分クリアゲートが閉じられ、各出力端子
（ＰＤ）　、　（Ｍｌ）　、　（Ｍ２）の電位は第１の
基準電位［Ｂｏｌになる。また、第１の基準出力端子（
Ｒ３）の電位も同じ電位［Ｂｏｌになり、さらに、第２
の基準出力端子（ＴＩ）の電位は、第１の基準電位［１
！ｏ］より低い第２の基準電位［Ｅｔｈｌになる。

積分クリア信号ＣＩＣＧ）が立ち下がり、第１のモニタ
フォトダイオード（１３）の受光量に応じて出力端子（
Ｍｌ）の電位が第１の基準電位［ＥＯ］から序々に下が
って第２の基準電位［Ｅｔｈｌになったときに、マイク
ロコンピュータ（ＭＣ）に信号（ＴＩＮＴ）が出力され
る。これにより、積分時間が決定され、フォトセンサア
レイ（Ｓ）の各画素による光電流の積分が終わる。また
、この信号（ＴＩＮＴ）は、同時に第１図に示すＳ　Ｒ
パルス発生回路（２５）にも入力され、この回路（２５
）からシフトパルス（Ｓ１１）が発生される。このシフ
トパルス（Ｓｉ）に応じて、各画素の信号はシフトレジ
スタ（１５）に送られる。

一方、出力端子（Ｍ２）の電位は、第２のモニタフォト
ダイオード（１４）の受ける、可視光領域と赤外光領域
とのエネルギーをその分光エネルギー分布に応じた割合
に応じて有する光に対応して低下した電位［ＩＥＭ］に
なる０例えば、この出力端子（Ｍ２）の電位は、典型的
な光の下では、第１０図に示すように、上記積分時間（
τ１ｎｔ）経過したときに、白色の螢光灯からの光の場
合には電位［Ｂｓｃコに、太陽光の場合には電位［ＥＭ
ｌｌ］に、そして、標準光源Ａからの光の場合には電位
［ＥＮＡ］に、夫々低下する。

次に、第９図に示すマイクロコンピュータ（ＭＣ）のフ
ローチャートに基づいて、第１図及び第８図のブロック
図を参照しながら、カメラの・動作を説明する。

レリーズボタン（図示せず）の手段押しでへＦスイッチ
（図示せず）が閉成され、これがマイクロコンピュータ
（ＭＯ）によって検知されると、マイクロコンピュータ
（ＭＣ）は焦点調節の動作を開始する（Ｉｌｌ　、　１
１２）。

まず、マイクロコンピュータ（Ｍｃ）から光電変換部（
１２）にパルス状の積分クリア信号（ＩＣＧ）が出力さ
れる（＃３）。これにより、光電変換部（１２）内のフ
ォトセンサアレイ（Ｓ）の各画素が初期状態にリセット
されるとともに、光電変換部（１２）の出力端子（Ｍｌ
）　、　（Ｍ２）からの出力信号（ｖｔ）　、　（ＶＭ
）が略電源電圧レベルまで回復する。

その後、積分クリア信号（ＩＣＧ）が立ち下がると、光
電変換部（１２）内のフォトセンサアレイ（Ｓ）の各画
素では光電流の積分が開始され、同時に、出力端子（Ｍ
ｌ）からの出力信号（Ｖ　ｔ）が被写体輝度に応じた速
度で低下し始める。一方、２つの基準出力端子（Ｒ３）
　、　（Ｔｏ）からの基準信号（Ｖｏ）　、　（Ｖｔｈ
）は、夫々、前述した一定の基準電位［ＩＥｏ］　＋［
Ｅｔｈｌに保たれている。

比較回路（１６）は信号（Ｖｔ）を基準信号（Ｖｔｈ）
と比較する。そして、比較回路（１６）は積分クリア信
号（ＩＣＧ）の立ち下がり後、所定時間内に信号（Ｖ　
ｔ”）が第２の基準電位［Ｅｔｈｌに対して所定レベル
以上低下したことを検出すると、′Ｈ”レベルの信号（
ＴＩＮＴ）を出力する。この信号（ＴＩＮＴ）はＳＨパ
ルス発生回路（２５）に入力され、これに応答してシフ
トパルス（ＳＨ）が出力される。

このシフトパルス（ＳＨ）が光電変換部（１２）に入力
されると、フォトセンサアレイ（Ｓ）の各画素による光
電流の積分が終わり、この積分値に応じた電荷がシフト
レジスタ（１５）の対応するセルに並列的に転送される
。なお、シフトパルス（ＳＨ）を発生させる信号のレベ
ルは、フォトセンサアレイ（Ｓ）の各画素の情報が大き
すぎて飽和したりあるいは小さすぎたりすることのない
ように調整されている。

一方、マイクロコンピュータ（ＭＣ）からのクロックパ
ルス（ＣＬ）に基づいて、センサ駆動パルス発生回路（
１７）からは位相が１８０　”ずれた２つのセンサ駆動
パルス（φ１）、（φ２）が出力され、光電変換部（１
２）に入力されている。光電変換部（１２）はこれらの
センサ駆動パルス（φ１）、（φ２）のうち、第１のセ
ンサ駆動パルス（φｌ）の立上りに同期して、シフトレ
ジスタ（１５）の各画素の電荷を１つずつ端から直列的
に排出し、出力端子（ＰＤ）から映像信号を形成する電
圧信号（Ｏ５）を順次出力する。この電圧信号（Ｏ３）
は、対応する画素への入射光強度が強い程、第１の基準
電位［Ｅｏ］からの降下量の大きな信号となっている。

比較回路（１６）からの信号（ＴＩＮＴ）の入力が検知
されると（１１４）、マイクロコンピュータ（ＭＣ）か
ら“００、）”のデータセレクト信号（ＤＳＳ）が出力
される（１５）。この信号（ＤＳＳ）がマルチプレクサ
（１８）に入力されると、減算回路（１９）がこの電圧
信号（Ｏ５）を上述の基準信号（Ｖｏ）から差し引いて
、（Ｖｏ　−ＯＳ）を画素信号として順次出力する（Ｒ
６゜Ｒ７）。

また、信号（ＴＩＮＴ）は、２つのサンプルホールド回
路（２０）　、　（２１）にも入力され、これに応じて
第２モニタフオトダイオード（１４）による積分時間が
決められる。即ち、減算回路（２２）には、出力端子（
Ｍ２）から出力される、第２のモニタフォトダイオード
（１４）からの電荷の排出によるその光源下の低下電圧
信号（ＶＮ）と、第１の基準出力端子（ＲＳ）からの基
準信号（Ｖｏ）とが入力されている。そして、信号（Ｔ
ＩＮＴ）が入力されると、第１のサンプルホールド回路
（２０）には、そのときの、即ち、第１０図に示す所定
積分時間（τ１ｎｔ）経過時の低下電圧信号（ｖ８）と
基準信号（ｖＯ）との差の信号（Ｖｏ　　ＶＭ）が保持
される。同様に、第２のサンプルホールド回路（２１）
には、減算回路（２３）で演算された、第２の基準出力
端子（ＴＩＥ）からの基準信号（Ｖ　ｔｈ）と第１の基
準出力端子（ＲＳ）からの基準信号（Ｖｏ）との差の、
一定値になる信号（Ｖ。

−Ｖｔｈ）が保持される。

マイクロコンピュータ（ＭＣ）は、マルチプレクサ（１
８）及びＡＤ変換回路（２４）を介して、デジタル化さ
れた画素信号（Ｖｏ　−ＯＳ）をすべてとり込んだこと
を検知した後（１６，１１７）、”０１１１）’のデー
タセレクト信号（ＤＳＳ）をマルチプレクサ（１８）に
出力する（Ｒ８）。これにより、まず、第１のサンプル
ホールド回路（２０）からの信号（Ｖｏ　−Ｖ工）が取
り込まれ、ＡＤ変換回路（２４）によってディジタル化
された後、マイクロコンピュータ（ＭＣ）に入力される
（１９）。続いて、マイクロコンピュータ（ＭＣ）から
“ＩＬＩ）”のデータセレクト信号（ＤＳＳ）が出力さ
れる（１１０）。これにより、第２のサンプルホールド
回路（２１）からの信号（Ｖｏ　−Ｖ　ｔｈ）が取り込
まれ、ＡＤ変換回路（２４）によってディジタル化され
た後、マイクロコンピュータ（ＭＣ）に入力される（１
１１１）。

以上で、光電変換部（１２）からのデータの取込みが完
了する。

続いて、撮影レンズ（図示せず）のレンズデータ出力部
（２６）に、Ｈ”レベルのデータ読取開始信号（Ｄｉｓ
）を出力しくｔｌ１２）、レンズデータ出力部（２６）
から色温度補正データ（ΔＣＴ）等、種々のデータを取
り込む（１１１３）。

なお、この色温度補正データ（ΔＣＴ）は、撮影レンズ
（１）毎に異なる補正すべき色収差（例えば、第１１図
に夫々（Ｌａ）　、　（Ｌｂ）の曲線で示されている）
に応じて、レンズデータ出力部（２６）にストアされて
いるものである。

続いて、合焦演算を行った後（＃１４）、各種光源下の
補正演算を行い（１１１５）、その結果に基づいて、（
１１１４）のステップで求められた合焦演算結果に対す
る合焦値補正演算を行う（＃１６）。

次に、その演算について説明する。

まず、（＋１１４）のステップでは、可視光領域から赤
外光領域に亘る分光感度特性を有する、フォトセンサア
レイ＜Ｓ）からの、そのときの焦点検出用測定光の分光
エネルギー分布に応じた出力電圧信号（Ｏ３）に基づく
信号（Ｖｏ　−Ｏ５）を用いて、現在の撮影レンズ（１
）の位置に対応する演算値（ＺＬ）の、合焦状態に対応
する演算値（Ｚｏ）からの偏差（ΔＺ）を求める。即ち
、 ΔＺ＝Ｚｔ、−Ｚｏ　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　＜　　１　　＞この演算を行うのが、焦点検出部
（ＦＤ）である。

続いて、（＃１５）のステップでは、前述した２つの信
号（ＶＯＶＭ）、　（ＶＯ−Ｖｔｈ）を用イテ、焦点検
出用測定光の分光エネルギー分布に基づく補正値（Ｚｃ
ｏｎ＋ｐ、）を求める。この補正値（Ｚｃｏｍｐ）は次
式で求められる。

Ｚｃｏｍｐ　＝　　ΔＣＴ　　・　（（ｋ、４−ｋｏ）
／ｋｏ）　　　−＜２＞（ΔＣＴ＞Ｏ） ここで、 ただし、 Ｅｏ：第１の基準電位 Ｅｔｈ　　：第２の基準電位 Ｅ、４二分光エネルギー分布の異なる焦点検出用測定光
毎に異なる低下電位 （第１０図参照） ＥＨｍ　　：太陽光の下での低下電位 （第１０図参照） さらに、（＃１６）のステップでは、〈１〉式とく２）
式を用いて、補正済偏差（ΔＺＣＯＩ１１９）を求める
。即ち、 ΔＺｃｏｍｐ　＝ΔＺ　＋　Ｚｃｏｍｐ＝ＺＬ−Ｚｏ−
ΔＣＴ　　・　（（ｋｓ　−ｋｏ）　八。ｌ−＜５＞上
述した（１１１５）のステップと（１１１６）のステ・
ノブでの演算を行うのが補正手段の一例である補正演算
部（ＣＣ）である。

なお、補正済偏差（ΔＺｃｏｍｐ）と偏差（Δ２）との
関係は、焦点検出用測定光の分光エネルギー分布に応じ
て次のようになる。

まず、焦点検出用測定光が太陽光の場合には、ΔＺｃｏ
ｍｐ＝Δ２ 次に、焦点検出用測定光が標準光？ＴＸＡのフラッドラ
ンプの場合には、第１０図から分かるように、 ＥＭＡＧＥにＢ であり、く３〉式に ＥＭ　＝　ＥＸＡ を代入して〈４〉式と比較すると、 ｋＨ＞ｋ。

であるから、 ΔＺｃｏｍｐ　＜Δ２ である。即ち、焦点検出部（ＦＤ）でく１〉式の演算を
するだけでは前ビンになるところを、く５ン式の補正を
行う″ことによって誤差をゼロに近づけている。

さらに、焦点検出用測定光が螢光灯の場合には、第１０
図から分かるように、同様に、［ＥＭＣ＞Ｅ１４Ｉｌ であり、 ｋＷ＜ｋ。

であるから、 ΔＺｃｏｍｐ　＞ΔＺ である。即ち、く１〉式の演算のみでは後ビンになると
ころを、〈５〉式の補正を行うことによって誤差をゼロ
に近づけている。

また、上述した典型的な光源の他、それらが同時に用い
られたりしたときのように、さらに別の分光エネルギー
分布を持った焦点検出用測定光の場合には、低下電圧（
［ＥＭ）がそれぞれ異なる。そして、それに応じてく２
〉式の補正演算が行われ、誤差をゼロに近づけるように
構成されている。

（＃１４）〜（＃１６）のステップで前述した補正・演
算を行った後、補正済偏差（ΔＺｃｏｍｐ）をレンズ駆
動用モータ（Ｍ）の回転数に変換しく１１１７）、合焦
判断を行う（１１１Ｂ）。合焦であれば、その旨を表示
回路（２７）に表示させる（＋１１９）。一方、合焦で
なければ、その旨を表示回路（２７）に表示させるとと
もに（＃２０）、求められた焦点のズレ量及びその方向
に応じて、レンズ駆動回路（２８）によりモータ（Ｍ）
を駆動して自動合焦を行う（＃２１）。

その後、（＃３）のステップに戻り、上述した動作を繰
り返す。

〔発明の効果〕

以上述べてきたように、本発明による焦点検出装置は、
フィルタ等の補助的な光学素子を用いることなく簡単に
、補正用受光部の分光感度特性の違いを実現して、焦点
検出用測定光の分光エネルギー分布に応じた補正ができ
るものであり、コンパクト化を達成できるとともに、組
付工程を簡素にでき、さらに、コストダウンを計れるよ
うになった。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明に係る焦点検出装置の実施例を示し、第１
図はカメラの制御装置のブロック図、第２図は焦点検出
の原理図、第３図はＡＦセンサモジュールの分解斜視図
、第４図は光電変換部の斜視図、第５図（イ）及び（＋
１）はモニタフォトダイオードの断面図、第６図はモニ
タフォトダイオードの等価回路図、第７図は焦点検出用
測定光の分光エネルギー分布とモニタフォトダイオード
の分光感度特性のグラフ、第８図は光電変換部のブロッ
ク図、第９図は焦点検出動作のフローチャート、第１Ｏ
図は光電変換部からの出力信号のグラフ、第１Ｉ図は憑
影レンズの色収差を示すグラフである。 （１）・・・・・・撮影レンズ、（１３）　、　（１４
）・・・・・・補正用受光部、（ＲＦ）・・・・・・焦
点検出用受光部、（ＯＦ）・・・・・・焦点検出用光学
系、（ＦＤ）・・・・・・焦点検出部、（ＣＣ）・・・
・・・補正手段。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）焦点検出用測定光の焦点検出用光学系による結像
   状態に応じた出力信号を出力する焦点検出用受光部、及
   び、この出力信号に基づいて撮影レンズの合焦位置から
   の偏差を検出する焦点検出部を備え、前記焦点検出用測
   定光の分光エネルギー分布を検出するための分光感度特
   性の異なる一対の補正用受光部を前記焦点検出用受光部
   に隣接して設けるとともに前記焦点検出部による検出偏
   差がこの一対の補正用受光部によって検出された焦点検
   出用測定光の分光エネルギー分布に見合ったものになる
   ように補正する補正手段を設けた焦点検出装置において
   、前記一対の補正用受光部のうち、一方の補正用受光部
   の分光感度特性を他方の補正用受光部の分光感度特性に
   包含されるように構成した焦点検出装置。
2. （２）前記一対の補正用受光部が、互いに光学的に共役
   な位置に配設され、同一の被写体から入射した光線束を
   受光するものである特許請求の範囲第（１）項に記載の
   焦点検出装置。
3. （３）前記一対の補正用受光部と焦点検出用受光部とが
   同一の半導体チップ上に形成されたものである特許請求
   の範囲第（１）項に記載の焦点検出装置。
4. （４）前記焦点検出用受光部が蓄積自己走査型ラインセ
   ンサで構成されるとともに、前記一対の補正用受光部の
   何れか一方の分光感度特性が前記焦点検出用受光部の分
   光感度特性と一致したものであり、上記一方の補正用受
   光部が、前記焦点検出用受光部による電荷蓄積時間を決
   定するべくこの焦点検出用受光部の受光量を測定するモ
   ニタ用受光部を兼ねるものである特許請求の範囲第（１
   ）項に記載の焦点検出装置。