JPS62171186A - Hybrid ic - Google Patents

Hybrid ic

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JPS62171186A
JPS62171186A JP1324686A JP1324686A JPS62171186A JP S62171186 A JPS62171186 A JP S62171186A JP 1324686 A JP1324686 A JP 1324686A JP 1324686 A JP1324686 A JP 1324686A JP S62171186 A JPS62171186 A JP S62171186A
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JP
Japan
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paste
ratio
conductive
pattern film
conductive pattern
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Application number
JP1324686A
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Japanese (ja)
Inventor
河津 成之
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
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Publication of JPS62171186A publication Critical patent/JPS62171186A/en
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は各種電気機器や自動車の各種制御装置などに
使用されるハイブリッドIC(混成集積回路)に関し、
特に基板上にACt/Pd系の導体ペーストを用いて所
定のパターンの導体膜を形成したバイブリドICに関す
るものでめる。
[Detailed Description of the Invention] Industrial Application Field This invention relates to a hybrid IC (hybrid integrated circuit) used in various electrical equipment and various control devices for automobiles, etc.
In particular, it relates to a hybrid IC in which a conductive film with a predetermined pattern is formed on a substrate using an ACt/Pd-based conductive paste.

従来の技術 ハイブリッドIC(以下゛HIC”と略記する〉の製造
にあたっては、例えば第4図に示すように、アルミナ、
S I C,iるいはAj2Nなどからなる基板1の上
に、導体ペーストをスクリーン印刷等によって予め定め
られたパターンに従って印刷した後、その導体ペースト
を焼成して所定のパターンの導電パターン膜2を形成し
、その後はんだペーストを所定のはんだ付け位置に印刷
してから機能部品3を実装し、基板1を例えば200〜
250’C程度に2〜10秒間程秒間熱してはんだペー
ストを溶融させ、そのはんだ4によって機能部品と導電
パターン膜2とを接合することが行なわれている。
Conventional technology When manufacturing a hybrid IC (hereinafter abbreviated as "HIC"), for example, as shown in Fig. 4, alumina,
After printing a conductive paste according to a predetermined pattern by screen printing or the like on a substrate 1 made of S I C, i or Aj2N, the conductive paste is fired to form a conductive pattern film 2 in a predetermined pattern. After that, a solder paste is printed at a predetermined soldering position, and then the functional component 3 is mounted, and the board 1 is, for example, 200~
The solder paste is melted by heating to about 250'C for about 2 to 10 seconds, and the functional component and the conductive pattern film 2 are bonded using the solder 4.

このようなHICの製造において導電パターン膜を形成
するための導体ペーストは、樹脂を有微溶媒に溶かした
分散媒に貴金属もしくは卑金属の導電成分粉末を分散混
練したものであって、貴金属系の導体ペーストとしては
Ag系、Ag/Pd系、Ag/Pt系、へ〇/Pd/P
t系、Au系などがあり、また卑金属系導体ペーストと
してはNi系、Cu系、W系などがある。そしてこれら
のうちから使用条件や製造条件、コストなどの点から最
適な導体ペーストを選択して使用するのが通常でおるが
、現状ではこれらのうちでも特にAQ/Pd系の導体ペ
ーストが最も広く使用されている。
The conductive paste used to form the conductive pattern film in the manufacture of such HICs is made by dispersing and kneading noble metal or base metal conductive component powder in a dispersion medium in which a resin is dissolved in a fine solvent. Pastes include Ag-based, Ag/Pd-based, Ag/Pt-based, and 〇/Pd/P.
There are t-based, Au-based, etc., and base metal-based conductor pastes include Ni-based, Cu-based, W-based, etc. From these, it is normal to select and use the most suitable conductor paste in terms of usage conditions, manufacturing conditions, cost, etc., but at present, AQ/Pd-based conductor pastes are the most widely used. It is used.

発明が解決すぺぎ問題点 前述のようなAg/Pd系導体ペーストとしては、導電
成分としてのAQ、Pdの成分比が重量比でAQ90:
Pd1O程度の高Ag/Pd比のものからAg65:P
d35程度の低Ag/Pd比のものまでかなり広範囲の
成分比のものが市販されている。
Problems Solved by the Invention In the Ag/Pd-based conductor paste as described above, the component ratio of AQ and Pd as conductive components is AQ90:
From those with a high Ag/Pd ratio of about Pd1O to Ag65:P
Products with a wide range of component ratios are commercially available, including products with Ag/Pd ratios as low as d35.

このようなAg/Pd系導電ペーストを使用する上にお
いては、はんだぬれ性と耐マイグレーション性の2点が
極めて重要な問題となっている。
When using such an Ag/Pd-based conductive paste, there are two extremely important issues: solder wettability and migration resistance.

すなわち、先ずはんだぬれ性は、所定のパターンの導電
パターン膜上にリード線や各種機能部品をはんだ付けす
る際のはんだの付き易さを示すものであり−1はんだは
Agにははんだ付けしやすいが、Pdにははんだ付けし
にくいため、 Ag/Pd系導体ペース1〜としてはPdが少ないほど
、すなわちAg/Pd比が高いほどそのAQ/Pd系導
体ペーストにより形成された導電パターン膜のはんだぬ
れ性が優れることになる。そしてまたこのようにはんだ
ぬれ性が優れていることは、より短時間でより高い信頼
性を有するはんだ付けが可能となることを意味している
。逆にAQ/Pd系導体ペーストでPdが多ければ、づ
なわちAg/Pd比が低ければ、はんだ付けがしにくく
なるとともに信頼性も低下する。したがってHIC製造
にあけるはんだ付けの観点からは、Pdの少ない、すな
わちAQ/Pd比の高い導体ペーストを用いることが有
利である。
That is, first of all, solderability indicates the ease with which solder adheres when lead wires and various functional components are soldered onto a conductive pattern film of a predetermined pattern.-1 Solder is easy to solder to Ag. However, since it is difficult to solder to Pd, the less Pd there is in the Ag/Pd-based conductor paste 1~, that is, the higher the Ag/Pd ratio, the more difficult it is to solder the conductive pattern film formed by the AQ/Pd-based conductor paste. This results in excellent wettability. Furthermore, such excellent solderability means that soldering can be performed in a shorter time and with higher reliability. Conversely, if the AQ/Pd-based conductor paste contains a large amount of Pd, that is, if the Ag/Pd ratio is low, it becomes difficult to solder and the reliability decreases. Therefore, from the viewpoint of soldering in HIC manufacturing, it is advantageous to use a conductor paste with a low Pd content, that is, a high AQ/Pd ratio.

一方、耐マイグレーション性とは、使用時(電圧印加時
)における基板表面での導電パターン膜の導体金属の電
気化学的な溶解→析出による導体金属の移行現象(マイ
グレーション)によって基板上の回路間がショートする
現象に対する耐久性能を意味するものであり、Agはマ
イグレーションを起こし易く、一方Pdはマイグレーシ
ョンを起こしにくい傾向におる。したがってAg/Pd
系ペーストを用いた導電パターン膜においてはPdが多
いほど、すなわちAg/Pd比が低いほどマイグレーシ
ョンが起こりにくく、HICの回路として高い信頼性を
得ることが可能となる。これに対しPdの割合か少ない
ほど、すなわちAQ/Pd比か高いほどマイグレーショ
ンが生じ易くなってHIC使用時の信頼性に欠けること
になる。
On the other hand, migration resistance refers to the migration phenomenon (migration) of conductive metal caused by electrochemical dissolution and precipitation of the conductive metal of the conductive pattern film on the surface of the substrate during use (when voltage is applied). This refers to durability against short-circuit phenomena, and Ag tends to cause migration, while Pd tends to be less likely to cause migration. Therefore Ag/Pd
In a conductive pattern film using a system paste, the more Pd there is, that is, the lower the Ag/Pd ratio, the less migration occurs, and it becomes possible to obtain high reliability as an HIC circuit. On the other hand, the lower the Pd ratio, that is, the higher the AQ/Pd ratio, the more likely migration will occur, resulting in a lack of reliability when using HIC.

以上のように、Ag/Pd系導体ペーストを用いた場合
のはんだぬれ性と耐マイグレーション性とは、Ag/P
d系導体のペースト中の導電成分で必るAOとPdとの
成分比(△Ω/Pd比)に関して相反するものでおり、
はんだぬれ性を良好にするぺ<Ag/Pd比を高くすれ
ば耐マイグレーション性か低下し、逆に耐マイグレーシ
ョンを良好にするべくAQ/Pd比を低くすればはんだ
ぬれ性が低下する問題か生じる。そこで従来は装造条件
や使用条件を考慮して、いずれか一方を儀牲にするか、
あるいは両性能をある程度のところで妥協せざるを得な
かったのが実情である。
As mentioned above, the solderability and migration resistance when using Ag/Pd-based conductor paste are
There is a conflict with the component ratio (△Ω/Pd ratio) of AO and Pd, which are necessary conductive components in the paste of the d-based conductor.
To improve solderability, increasing the Ag/Pd ratio will lower migration resistance, and conversely, lowering the AQ/Pd ratio to improve migration resistance will result in decreased solderability. . Therefore, in the past, one or the other was sacrificed, considering the installation conditions and usage conditions, or
The reality is that we had no choice but to compromise on both performances to some extent.

この発明は以上の事情を背景としてなされたもので、A
g/Pd系の導体ペーストを使用したHICにおいて、
上述の相反する問題を同時に屏決し、導電パターン膜に
対する信頼性の高いはんだ付けを容易になし得るように
すると同時に、耐マイグレーション性をも良好とし、こ
れによって生産性が高くかつ信頼性も高いHICを提供
することを目的とするものである。
This invention was made against the background of the above circumstances, and
In HIC using g/Pd-based conductor paste,
By simultaneously resolving the conflicting issues mentioned above, we have made it possible to easily perform highly reliable soldering on conductive pattern films, while at the same time achieving good migration resistance, thereby achieving high productivity and high reliability HIC. The purpose is to provide the following.

問題点を解決するための手段 この発明においては、導電パターン膜を形成するための
Aにl/Pd系導体ペーストとして、AOとPdとの成
分比(AQ/Pd比)か異なる2種のものを使い分けし
、これによって前述の相反する問題を同時に解決してい
る。
Means for Solving the Problems In this invention, two types of l/Pd-based conductor pastes with different component ratios of AO and Pd (AQ/Pd ratio) are used for A to form a conductive pattern film. This method solves the contradictory problems mentioned above at the same time.

すなわちこの発明は、基板上にAg/Pd系の導体ペー
ストを用いて所定のパターンの導電パターン膜か形成さ
れたハイブリッドICにおいて、前記へ〇/Pd系の導
体ペーストとして、ペースト甲の導電成分のAg/Pd
比が異なる2種の導体ペーストが使用されており、前記
導電パターン膜のうち、はんだ付け部はAg/Pq比が
高いAg/Pd系導体ペーストにより形成され、その他
の部分はAg/Pd比が低いA Cl / P d光導
体ペーストによって形成されていることを特徴とするも
のである。
That is, the present invention provides a hybrid IC in which a conductive pattern film of a predetermined pattern is formed on a substrate using an Ag/Pd-based conductive paste, in which the conductive component of the paste A is Ag/Pd
Two types of conductor pastes with different ratios are used, and among the conductive pattern films, the soldering part is formed with an Ag/Pd-based conductor paste with a high Ag/Pq ratio, and the other parts are formed with an Ag/Pd-based conductor paste with a high Ag/Pd ratio. It is characterized by being formed by a low A Cl / P d photoconductor paste.

作  用 この発明のHICにおいては基板上に形成される導電パ
ターン膜のうち、機能部品がはんだ付けされる部分や外
部リード線がはんだ付けされる外部電極部分など、導電
パターン膜上にはんだ付けがなされる部分(はんだ付け
部)は、Ag/Pd比が高いAg/Pd系導体ペースト
を用いて形成される。一方導電パターン膜のうちはんだ
付けがされない部分、すなわちいわゆる回路パターン部
分は、AQ/Pd比が低いAg/Pd系導体ペーストを
用いて形成される。
Function: In the HIC of the present invention, soldering is not performed on the conductive pattern film formed on the substrate, such as the part to which functional components are soldered or the external electrode part to which an external lead wire is soldered. The soldered portion (soldered portion) is formed using an Ag/Pd based conductor paste with a high Ag/Pd ratio. On the other hand, the portion of the conductive pattern film that is not soldered, that is, the so-called circuit pattern portion, is formed using an Ag/Pd based conductive paste with a low AQ/Pd ratio.

既に述べたようにAgははんだぬれ性が優れているのに
対しPdははんだぬれ性が悪い。したがってAg/Pd
比の高いAg/Pd系導体ペーストはAg/Pd比の低
いものに比べてはんだ付け性は良好となる。このように
はんだ付け性が良好なAQ/Pd比の高いAg/Pd系
導体ペース1〜をはんだ付け部の導電パターン膜に使用
しているため、機能部品や外部リード線等をはんだ付け
する際には容易に短時間ではんだ付けすることができ、
高い生産性、信頼性を得ることができる。
As already mentioned, Ag has excellent solderability, whereas Pd has poor solderability. Therefore Ag/Pd
An Ag/Pd based conductor paste with a high ratio has better solderability than one with a low Ag/Pd ratio. Since Ag/Pd conductor paste 1~ with good solderability and a high AQ/Pd ratio is used in the conductive pattern film of the soldering part, it is easy to use when soldering functional parts, external lead wires, etc. can be easily soldered in a short time,
High productivity and reliability can be obtained.

一方Agは耐マイグレーション性が劣るがPdは耐マイ
グレーション性が優れ、したがってAg/Pd比の低い
Ag/Pd系導体ペーストは、Ag/Pd比の高いもの
と比較して耐マイグレーション性が良好となる。このよ
うにAg/Pd比の低い耐マイグレーション性の良好な
Ag/Pd系導体ペーストをはんだ付け部以外の回路パ
ターン部分に使用しているため、その回路パターン部分
の耐マイグレーション性が優れることになる。
On the other hand, Ag has poor migration resistance, but Pd has excellent migration resistance. Therefore, Ag/Pd-based conductor pastes with a low Ag/Pd ratio have better migration resistance than those with a high Ag/Pd ratio. . Since Ag/Pd-based conductor paste with a low Ag/Pd ratio and good migration resistance is used in the circuit pattern parts other than the soldered parts, the migration resistance of the circuit pattern parts is excellent. .

ここで、はんだ付け部はAg/Pd比の高い耐マイグレ
ーション性の劣る導体ペーストが使用されているが、そ
のはんだ付け部は、はんだにより覆われてしまうため、
マイグレーションの問題はほとんど生ぜず、そのためH
ICとしての耐マイグレーション性は、はんだ付け部以
外の回路パターン部分の導体ペーストの性能によって決
定される。
Here, a conductive paste with a high Ag/Pd ratio and poor migration resistance is used for the soldering part, but since the soldering part is covered with solder,
There are almost no migration problems, so H
Migration resistance as an IC is determined by the performance of the conductive paste in the circuit pattern portions other than the soldered portions.

したがって前述のようにこの発明でははんだ付け部分以
外の回路パターン部分の耐マイグレーション性が良好で
あることから、HIC全体としての耐マイグレーション
性も良好となるのである。そしてこのように耐マイグレ
ーション性が優れることから、使用時に回路間の短絡が
生じるおそれが少なく、耐久性能の優れたHICが得ら
れる。
Therefore, as described above, in the present invention, since the migration resistance of the circuit pattern portion other than the soldered portion is good, the migration resistance of the HIC as a whole is also good. Since the migration resistance is excellent in this way, there is little risk of short circuits occurring between circuits during use, and an HIC with excellent durability can be obtained.

以上のように、基板上に形成される導電パターン膜のう
ち、はんだ付け部分とそれ以外の回路パターン部分に応
じて、Ag/Pd比の異なる2種類の成分比のAg/P
d系導体ペーストを使−・)分けることによって、はん
だ付けの問題とマイクレージョンによる問題とを同時に
解決することができるのである。
As described above, among the conductive pattern films formed on the substrate, two types of Ag/P with different Ag/Pd ratios are used depending on the soldering part and the other circuit pattern parts.
By using d-type conductor paste separately, it is possible to solve both the soldering problem and the problem caused by microclision at the same time.

ここで、上述のようなAg/Pd比の異なる2種類のA
g/Pd系導体ペーストの使い分けに必たっては、その
2種類のペーストにあけるPd/(ACl+Pd)の割
合が重量%で5%以上の差があることが好ましい。その
差が5%未満ではペースト使い分けによる上述のような
効果が顕著に得られないからである。
Here, two types of A with different Ag/Pd ratios as described above are used.
When using different g/Pd based conductor pastes, it is preferable that the proportions of Pd/(ACl+Pd) in the two types of pastes differ by 5% or more in weight percent. This is because if the difference is less than 5%, the above-mentioned effect of using different pastes cannot be obtained significantly.

またはんだ付け部に使用するAg/Pd比の高いAg/
Pd系導体ペーストとしては、Pd/(AQ+Pd)の
割合が重量%で20%以下のものを用いることが好まし
い。一方はんだ付け部以外の回路パターン部分に使用す
るAg/Pd比の低いAg/Pd系導体ペーストとして
は、Pd/(ACl+Pd)の割合が、重量%で15%
以上のものを用いることが好ましい。
Or Ag/Pd with a high Ag/Pd ratio used in the soldering part.
As the Pd-based conductor paste, it is preferable to use one in which the ratio of Pd/(AQ+Pd) is 20% or less by weight. On the other hand, as for Ag/Pd-based conductor paste with a low Ag/Pd ratio used for circuit pattern parts other than soldered parts, the ratio of Pd/(ACl+Pd) is 15% by weight.
It is preferable to use the above.

実施例 第1図にこの発明によるHICの一例を概略的に示す。Example FIG. 1 schematically shows an example of an HIC according to the present invention.

第1図において、基板1は例えば厚さ0.635ma〜
1 /al/j程度の96%アルミナからなるもので必
り、この基板1の上には、導電パターン膜2として、は
んだ付け部を構成する導電パターン膜21およびはんだ
付け部以外の回路パターン部分を構成する導電パターン
膜22が形成されており、後者の導電パターン+15!
22の端部は前者の導電パターン膜21の端部の上にオ
ーバーラツプしている。前者のはんだ付け部を構成する
導電パターン膜21はAg/Pd比の高いAQ/Pd系
導体ペース1〜例えばAg90重量部、pd10重量部
の導電成分からなる導体ペーストを用いて形成され、後
者の回路パターン部分を構成する導電パターンII!2
2はAg/Pd比の低いAg/Pd系導体ペースト、例
えばAg75重量部、Pd25重量部の導電成分からな
る導体ペーストを用いて構成されている。そして前者の
はんだ付け部を構成する導電パターン膜21の付近には
、例えば機能部品3が実装され、その機能部品3がはん
だ4によって導電パターン膜21にはんだ付けされてい
る。
In FIG. 1, the substrate 1 has a thickness of, for example, 0.635 m~
It must be made of 96% alumina of about 1 /al/j, and on this substrate 1, there is a conductive pattern film 21 as a conductive pattern film 2 constituting the soldering part and a circuit pattern part other than the soldering part. A conductive pattern film 22 is formed which constitutes the latter conductive pattern +15!
The end of the conductive pattern film 22 overlaps the end of the former conductive pattern film 21. The conductive pattern film 21 constituting the soldering part of the former is formed using a conductive paste consisting of AQ/Pd-based conductor paste 1 with a high Ag/Pd ratio to conductive components of, for example, 90 parts by weight of Ag and 10 parts by weight of PD; Conductive pattern II that constitutes the circuit pattern part! 2
2 is constructed using an Ag/Pd based conductive paste with a low Ag/Pd ratio, for example a conductive paste consisting of conductive components of 75 parts by weight of Ag and 25 parts by weight of Pd. For example, a functional component 3 is mounted near the conductive pattern film 21 constituting the former soldering portion, and the functional component 3 is soldered to the conductive pattern film 21 with solder 4.

なお基板1としては、アルミナのはかS i C。Note that the substrate 1 is made of alumina SiC.

AJ2Nなどのセラミックや、ホーローなどを用いても
良いことは勿論でおる。
Of course, ceramic such as AJ2N or enamel may also be used.

次に第1図に示すようなHICを製造する方法の一例に
ついて第2図(A)〜(E)にしたがって説明する。
Next, an example of a method for manufacturing the HIC shown in FIG. 1 will be described with reference to FIGS. 2(A) to 2(E).

先ず第2図(A>に示すようなアルミナ、SiC,Al
N1あるいはホーロー板等からなる基板1を用意してあ
く。次いでその基板1の上面の、機能部品をはんだ付け
すべぎ部分に、Ag/Pd系導体ペーストであってAg
/Pd比の高いペーストをスクリーン印刷して焼成し、
第2図(B)に示すようにはんだ付け部導体パターン膜
21を形成する。その後、基板1の上面のはんだ付けさ
れない部分、すなわち回路パターン部分に、Ag/Pd
系導体ペーストであってAg/Pd比の低いペーストを
スクリーン印刷して焼成し、第2図(C)に示すように
回路パターン部導体パターン膜22を形成する。次いで
第2図<D>に示すように、はんだ付け部導体パターン
膜21の上のはんだ付けされるべき部分に、はんだペー
スト4aをスクリーン印刷する。その後第2図(E)に
示すように機能部品3を実装した後、基板1を適宜加熱
すれば、はんだペースト4aが溶融し、はんだ4によっ
て機能部品3がはんだ付け部導体パターン膜21にはん
だ付けされる。
First, alumina, SiC, Al as shown in Figure 2 (A>
A substrate 1 made of N1 or a hollow plate is prepared. Next, apply Ag/Pd based conductor paste to the upper surface of the board 1 where the functional components are to be soldered.
A paste with a high /Pd ratio is screen printed and fired,
A soldering portion conductor pattern film 21 is formed as shown in FIG. 2(B). After that, Ag/Pd
A system conductor paste having a low Ag/Pd ratio is screen printed and fired to form a circuit pattern part conductor pattern film 22 as shown in FIG. 2(C). Next, as shown in FIG. 2<D>, a solder paste 4a is screen printed on the portion of the soldering portion conductor pattern film 21 to be soldered. After that, after mounting the functional component 3 as shown in FIG. be attached.

なお実際のHICの製造にあたっては、上述の工程のほ
か、抵抗体ペーストの印刷・焼成による厚膜抵抗体の形
成や、オーバーガラス、クロスオーバーガラスの形成、
封止用樹脂による封止などを行なうが、これらの工程は
従来の技術による工程と同様に実施することができる。
In addition to the above-mentioned steps, the actual manufacturing of HICs involves forming a thick film resistor by printing and baking a resistor paste, forming an over glass, a crossover glass,
Although sealing with a sealing resin is performed, these steps can be carried out in the same manner as those using conventional techniques.

    −なおまた、上述の製造方法例では、はんだ付
け部用のAQ/Pd比の高いAg/Pd系導体ペースト
を印刷し、焼成してから回路パターン部分用のAg/P
d比の低いAg/Pd系導体ペーストを印刷・焼成して
いるが、はんだ付け部分のAg、/ p d比の高いA
g/Pd系導体ペーストを印刷後、120°c−c−i
o分程度乾燥させた後であれば、その導体ペーストを焼
成する前に、回路パターン部分用のAg/Pd比の低い
Ag/Pd系導体ペーストの印刷を行なっても良い。
- Furthermore, in the above-mentioned manufacturing method example, an Ag/Pd-based conductor paste with a high AQ/Pd ratio for the soldering part is printed, baked, and then the Ag/Pd-based conductor paste for the circuit pattern part is printed.
Although Ag/Pd-based conductor paste with a low d ratio is printed and fired, the soldering part has a high Ag/Pd ratio.
After printing g/Pd based conductor paste, 120°c-c-i
After drying for approximately 0 minutes, an Ag/Pd based conductive paste with a low Ag/Pd ratio for the circuit pattern portion may be printed before firing the conductive paste.

第3図にこの発明によるHICの他の例を示す。FIG. 3 shows another example of the HIC according to the present invention.

この例は、Ag/Pd比の低いAg/Pd系導体ペース
トからなる回路パターン部導電パターン膜22の端部の
上に、Ag/Pd比の高いAg/Pd系導体ペーストか
らなるはんだ付け部導電パターン膜21の端部がオーバ
ーラツプしている。
In this example, a soldering part made of an Ag/Pd based conductive paste with a high Ag/Pd ratio is placed on the edge of a circuit pattern part conductive pattern film 22 made of an Ag/Pd based conductive paste with a low Ag/Pd ratio. The ends of the pattern film 21 overlap.

この場合は、前述の製造方法例とは逆に、塞板1上にA
g/Pd比の低いAc+/Pd系導体ペーストを印刷・
焼成して回路パターン部導体パターン膜22を形成した
後、Ag/Pd比の高いAg/Pd系導体ペーストを印
刷・焼成し、はんだ付け部導体パターン11*21を形
成すれば艮い。
In this case, contrary to the above-mentioned manufacturing method example, A
Printing/printing Ac+/Pd based conductor paste with low g/Pd ratio
After baking to form the circuit pattern portion conductor pattern film 22, an Ag/Pd based conductor paste with a high Ag/Pd ratio is printed and baked to form the soldering portion conductor pattern 11*21.

なお、第3図のようなHICを製造する場合も、回路パ
ターン部用のAg/Pd比の低いAg/Pd系導体ペー
ストを印刷した後、焼成することなく屹燥のみを行なっ
てから、はんだ付け部用のAg/Pd比の高いAg/P
d系導体ペーストを印刷しても良い。
Note that when manufacturing a HIC as shown in Figure 3, after printing an Ag/Pd-based conductor paste with a low Ag/Pd ratio for the circuit pattern portion, only drying is performed without baking, and then soldering is performed. Ag/P with high Ag/Pd ratio for attachment parts
A d-type conductor paste may be printed.

なおこの発明のHICを製造するにあたっては、従来技
術と比較して導体ペーストの印刷工程が1回多くなるが
、通常HICの全製造過程においては、導体ペース1〜
、抵抗体ペース1−、ガラスペースト、誘電体ペースト
、はんだペース1〜等を5〜20回程度印刷する多数の
工程を必要としているから、この発明による印刷工程数
の増加がトータルとしての生産性の低下に及ぼす影響は
極めて少ない。
In manufacturing the HIC of this invention, the printing process of conductor paste is increased by one step compared to the conventional technology, but normally in the entire manufacturing process of HIC, conductor paste 1~
, resistor paste 1-, glass paste, dielectric paste, solder paste 1-, etc., are required to be printed 5 to 20 times, so the increase in the number of printing processes by this invention improves overall productivity. It has very little effect on the decrease in

発明の効果 この発明のHICにおいては、その基板上の導電パター
ン膜のうち、部品や外部リード線などとはんだ付けされ
る部分は、Ag/Pd系導体ペーストのうちでも特にA
g/Pd比の高いはんだぬれ性の優れた導体ペーストを
用いているため、はんだ付け性か良好であって、短時間
で信頼性の高いはんだ付けを行なうことができ、一方は
んだ付け部以外の回路パターン部分などは、Ag/Pd
系導体ペーストのうちでも特にAg/Pd比の低い耐マ
イグレーションの優れた導体ペーストを用いているため
、HICとしての耐マイグレーション性も優れている。
Effects of the Invention In the HIC of the present invention, the part of the conductive pattern film on the substrate that is soldered to components, external lead wires, etc. is made of Ag/Pd-based conductive paste, especially A.
Since a conductive paste with excellent solderability and high g/Pd ratio is used, it has good solderability and can perform highly reliable soldering in a short time. Circuit pattern parts etc. are made of Ag/Pd.
Among the system conductor pastes, a conductor paste with particularly low Ag/Pd ratio and excellent migration resistance is used, so that the HIC has excellent migration resistance.

したがってこの発明のHICは、製造上において高い生
産性を得ることができるとともに製品使用上において高
い信頼性、耐久性能を得ることができる。
Therefore, the HIC of the present invention can achieve high productivity in manufacturing, as well as high reliability and durability in product use.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はこの発明のハイブリッドICの製造方法の一例
を示す略解的な断面図、第2図(A)〜(E)は第1図
のハイブリッドICの製造方法の一例を段階的に示す略
解的な断面図、第3図はこの発明のハイブリッドICの
他の例を示す略解的な断面図、第4図は従来のハイブリ
ッドICの一例を示す略解的な断面図である。 1・・・基板、 2・・・導電パターン膜、 21・・
・はんだ付け部導電パターン膜、 22・・・回路パタ
ーン部導電パターン膜、 3・・・殿能部品、 4・・
・はんだ。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of the method for manufacturing the hybrid IC of the present invention, and FIGS. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing another example of the hybrid IC of the present invention, and FIG. 4 is a schematic cross-sectional view showing an example of a conventional hybrid IC. 1... Substrate, 2... Conductive pattern film, 21...
・Soldering part conductive pattern film, 22... Circuit pattern part conductive pattern film, 3... Functional parts, 4...
・Solder.

Claims (1)

【特許請求の範囲】  基板上にAg/Pd系の導体ペーストを用いて所定の
パターンの導電パターン膜が形成されたハイブリッドI
Cにおいて、 前記Ag/Pd系の導体ペーストとして、ペースト中の
導電成分のAg/Pd比が異なる2種の導体ペーストが
使用されており、前記導電パターン膜のうち、はんだ付
け部はAg/Pd比が高いAg/Pd系導体ペーストに
より形成され、その他の部分はAg/Pd比が低いAg
/Pd系導体ペーストによつて形成されていることを特
徴とするハイブリッドIC。
[Claims] Hybrid I in which a conductive pattern film with a predetermined pattern is formed on a substrate using an Ag/Pd-based conductive paste.
In C, two types of conductor pastes having different Ag/Pd ratios of conductive components in the paste are used as the Ag/Pd-based conductor paste, and the soldering portion of the conductive pattern film is Ag/Pd. Formed with Ag/Pd based conductor paste with a high ratio, other parts are made of Ag with a low Ag/Pd ratio.
/A hybrid IC characterized in that it is formed of a Pd-based conductor paste.
JP1324686A 1986-01-24 1986-01-24 Hybrid ic Pending JPS62171186A (en)

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