JPS62169410A - 気相成長装置 - Google Patents
気相成長装置Info
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- JPS62169410A JPS62169410A JP1236886A JP1236886A JPS62169410A JP S62169410 A JPS62169410 A JP S62169410A JP 1236886 A JP1236886 A JP 1236886A JP 1236886 A JP1236886 A JP 1236886A JP S62169410 A JPS62169410 A JP S62169410A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は気相成長装置に関し、特に原料ガスとして液体
の蒸発ガスを用いた気相成長装置の改良に関する。
の蒸発ガスを用いた気相成長装置の改良に関する。
この種の気相成長装置は1反応に寄与する原料をガス状
態にして反応炉に導入し膜を堆積させていた。液体原料
をガス化する手段としては1例えば反応炉外に液体原料
を入れた気化室を設け、当該気化室に気体を導入しバブ
リングすることにより原料を蒸発せしめ、反応炉内に導
入していた。
態にして反応炉に導入し膜を堆積させていた。液体原料
をガス化する手段としては1例えば反応炉外に液体原料
を入れた気化室を設け、当該気化室に気体を導入しバブ
リングすることにより原料を蒸発せしめ、反応炉内に導
入していた。
この−例を第3図に示す。同図の装置は、ウヱノ・−8
を入れる反応炉5、原料91が充てんされている気化室
52反応炉を加熱するヒータ6.02やAr等のガスの
導入管11,12、原料91を気化するためのA「ガス
等のキャリヤーガスの導入管13、気化室9を加熱する
ヒータ72、各配管に設けられたバルブ21,22,2
3,28、排気口16から成る。当該気相成長装置に8
いて、液体原料は蒸気圧が低いことからガス化した原料
の輸送量を高めるために気化室9をヒータ72により加
熱することが行われている。また、気化室9と反応炉と
を結ぶ配管が室温程度であると、当該配管の管壁に原料
ガスが凝結して配管の詰まりゃバルブ28の故障が起こ
る。これを防ぐために、通常は当該配管をヒーター等で
気化室より5〜10℃高温に加熱することが行われてい
る。
を入れる反応炉5、原料91が充てんされている気化室
52反応炉を加熱するヒータ6.02やAr等のガスの
導入管11,12、原料91を気化するためのA「ガス
等のキャリヤーガスの導入管13、気化室9を加熱する
ヒータ72、各配管に設けられたバルブ21,22,2
3,28、排気口16から成る。当該気相成長装置に8
いて、液体原料は蒸気圧が低いことからガス化した原料
の輸送量を高めるために気化室9をヒータ72により加
熱することが行われている。また、気化室9と反応炉と
を結ぶ配管が室温程度であると、当該配管の管壁に原料
ガスが凝結して配管の詰まりゃバルブ28の故障が起こ
る。これを防ぐために、通常は当該配管をヒーター等で
気化室より5〜10℃高温に加熱することが行われてい
る。
しかし当該気相成長装置のようlこ、反応炉5と気化室
9とを結ぶ配管が長くなると、バルブ28等の熱容量の
大きな部分での′&度が下がる等配管全体の温度を均一
に保つのが困難になる。局所的な温度の低下は配管の詰
まりゃバルブの故障の原因となり、気化室9から反応炉
5へ原料ガスを安定的に供給できない問題がある。さら
に、気化室9に原料を充てんする場合あるいは保守のた
めに気化室9を取りはずす限に、配管に巻かれたヒータ
をはずしたり、また再度巻くなど当該気相成長装置の保
守、整備が繁雑である欠点がある。
9とを結ぶ配管が長くなると、バルブ28等の熱容量の
大きな部分での′&度が下がる等配管全体の温度を均一
に保つのが困難になる。局所的な温度の低下は配管の詰
まりゃバルブの故障の原因となり、気化室9から反応炉
5へ原料ガスを安定的に供給できない問題がある。さら
に、気化室9に原料を充てんする場合あるいは保守のた
めに気化室9を取りはずす限に、配管に巻かれたヒータ
をはずしたり、また再度巻くなど当該気相成長装置の保
守、整備が繁雑である欠点がある。
これらを改善すべく、第4図に示すように気化室9を反
応炉5内に置く方法が提案されている。
応炉5内に置く方法が提案されている。
図に3いて、第3図と同じ記号は同一機能を有するもの
を示す。なjcf、バルブ28は反応炉用内lこ入れる
。
を示す。なjcf、バルブ28は反応炉用内lこ入れる
。
即ち、当該装置は原料91を充てんした気化室98反応
炉内に設けることで気化室9と反応炉5とを結ぶ配管を
なくしてしまうものである。当該装置によれば、気化室
9出O部tこはバルブ28が設けられるのみで良く、当
該バルブ部分の加熱は気化室9を加熱源72を共有でき
る。従って気化室9出O部分配管に特別なヒーターを設
ける必要が無い上tこ当該ガス配管の温度を気化室9と
ほぼ等しく保つことが容易になる。従って、第3図に示
すような気相成長装置にみられた配管の温度の不均一に
よる原料ガスの凝縮が起こらないので、配管の目詰まり
やバルブの故障が無くなり、原料ガスを反応炉5へ安定
iこ供給でき、安定な膜の堆積が可能となる。また、第
3図に示す気相成長装置にみられた気化室9出口部分の
配管にヒータを巻くことが必要なくなるので、第3図に
示す装置に比べ保守・整備が容易になる。
炉内に設けることで気化室9と反応炉5とを結ぶ配管を
なくしてしまうものである。当該装置によれば、気化室
9出O部tこはバルブ28が設けられるのみで良く、当
該バルブ部分の加熱は気化室9を加熱源72を共有でき
る。従って気化室9出O部分配管に特別なヒーターを設
ける必要が無い上tこ当該ガス配管の温度を気化室9と
ほぼ等しく保つことが容易になる。従って、第3図に示
すような気相成長装置にみられた配管の温度の不均一に
よる原料ガスの凝縮が起こらないので、配管の目詰まり
やバルブの故障が無くなり、原料ガスを反応炉5へ安定
iこ供給でき、安定な膜の堆積が可能となる。また、第
3図に示す気相成長装置にみられた気化室9出口部分の
配管にヒータを巻くことが必要なくなるので、第3図に
示す装置に比べ保守・整備が容易になる。
しかし、第4図に示すような気相成長装置は。
反応炉5内に気化室9を設ける部分だけ反応炉が大盤に
なる欠点がある。従って気化室8極力小さくする必要が
あるため、#!3図に示すような気相成長装置に比較し
て、少量の原料しか充てんできないという欠点がある。
なる欠点がある。従って気化室8極力小さくする必要が
あるため、#!3図に示すような気相成長装置に比較し
て、少量の原料しか充てんできないという欠点がある。
従って原料の補給を頻繁に行う必要がある場合気化室を
反応炉から取り出したり等のため時間がかかり1反応炉
内部や気化室が外気に長時間さらされるため安定で再現
性のある膜が堆積しにくいという欠点もある。
反応炉から取り出したり等のため時間がかかり1反応炉
内部や気化室が外気に長時間さらされるため安定で再現
性のある膜が堆積しにくいという欠点もある。
本発明の気相成長装置は、反応ガスとして液体原料の蒸
発ガスを用いた気相成長装置において。
発ガスを用いた気相成長装置において。
液体原料を充填した貯蔵室が反応炉外に設けられ。
液体原料を蒸発させる気化室が反応炉の内部に設けられ
、貯蔵室と気化室とがその上部および底部に設けられた
2本の配管を通じバルブを介して互いに接続されたこと
を特徴とする。
、貯蔵室と気化室とがその上部および底部に設けられた
2本の配管を通じバルブを介して互いに接続されたこと
を特徴とする。
以下、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の気相成長装置の概略構成図
である。図の装置は、ウェハー8を入れる反応炉5、液
体原料31の貯蔵室3.液体原料41の気化室41反応
炉を加熱するヒータ6、反応炉中のガス流速の調節の堆
積を促進させたりてるのに用いられるO2や人r等のガ
スのガス尋人’flle12.Arガス管等のキャリヤ
ーガスの導入管13.貯蔵室3の上部と気化室4の上部
とを結ぶ配管14、貯蔵室3の底部と気化室4の底部を
結ぶ配管15.貯ffi寛a:sよび気化室4を加熱す
るヒータ71,72jdよびバルブ21,22゜23.
24,25,26,27から成る。
である。図の装置は、ウェハー8を入れる反応炉5、液
体原料31の貯蔵室3.液体原料41の気化室41反応
炉を加熱するヒータ6、反応炉中のガス流速の調節の堆
積を促進させたりてるのに用いられるO2や人r等のガ
スのガス尋人’flle12.Arガス管等のキャリヤ
ーガスの導入管13.貯蔵室3の上部と気化室4の上部
とを結ぶ配管14、貯蔵室3の底部と気化室4の底部を
結ぶ配管15.貯ffi寛a:sよび気化室4を加熱す
るヒータ71,72jdよびバルブ21,22゜23.
24,25,26,27から成る。
本装置は液体原料31を充てんした貯蔵室3を反応炉5
外に設け、液体原料41を蒸発させる気化室4を反応炉
5内に設けである。貯蔵室3と反応炉4とを結ぶ配管は
2系統ある。配W14は、貯蔵室3において液体原料3
1の液面より上部の部分と気化室4にだいて液体原料4
1の液面より上部の部分とを結ぶ配管である。一方、配
管15は貯蔵室3および気化室4の底部を互いに結ぶ縮
管である。バルブ25と26を開くことで、液体原料が
貯蔵室3から気化室4へ移動し、補給が可能となる。室
温で液体原料の粘度が大きい場合や原料の凝固点が室温
は近iこある場合は、補給が容易に行えるよう貯蔵室3
をヒータ71で、気化室4をヒータ72でそれぞれ加熱
することで、液体原料の粘度を小さくしたり原通を完全
に液化し、液体原料の移動をスムーズに行なうことも一
法である。
外に設け、液体原料41を蒸発させる気化室4を反応炉
5内に設けである。貯蔵室3と反応炉4とを結ぶ配管は
2系統ある。配W14は、貯蔵室3において液体原料3
1の液面より上部の部分と気化室4にだいて液体原料4
1の液面より上部の部分とを結ぶ配管である。一方、配
管15は貯蔵室3および気化室4の底部を互いに結ぶ縮
管である。バルブ25と26を開くことで、液体原料が
貯蔵室3から気化室4へ移動し、補給が可能となる。室
温で液体原料の粘度が大きい場合や原料の凝固点が室温
は近iこある場合は、補給が容易に行えるよう貯蔵室3
をヒータ71で、気化室4をヒータ72でそれぞれ加熱
することで、液体原料の粘度を小さくしたり原通を完全
に液化し、液体原料の移動をスムーズに行なうことも一
法である。
なS、貯蔵室3の材質については特に制約がないが、ス
テンレス等の金属材料や石英等を用いるのが好ましい。
テンレス等の金属材料や石英等を用いるのが好ましい。
石英製の貯蔵室3の場合、貯蔵室3内の原料31の有無
の確認が容易にできる利点がある。この場合、貯蔵室3
を全部石英製にしても、もしくは1部を石英製にしても
自由である。
の確認が容易にできる利点がある。この場合、貯蔵室3
を全部石英製にしても、もしくは1部を石英製にしても
自由である。
次に本発明を用いた気相成長装置による気相成長の一実
施例として、TazOsgの気相成長法を説明する。ま
ず貯蔵室3に液体原料Ta(OCzHs)sを入れ、貯
蔵室3、気化室4及び配管15をヒータ71.72で5
0〜100℃に加熱する。ノ(ルプ25,26を開け、
貯蔵室3と気化室4とを同圧にすることで液体原料を貯
蔵室3から気化室4へ輸送する。この際、液体原料を加
熱するのは液体原料の粘度を小さくシ、輸送をスムーズ
にするためである。気相成長を行う手順としては、まず
バルブ25.26を閉じた後に気化室4を150〜20
0℃にヒータ72で加熱し、バルブ24を続いてバルブ
27を開けAr等のキャリヤーガスを気化室4へ導入し
、気化した原料ガスを反応炉5に輸送する。一方、反応
炉内ウェハー8はヒータ6で350〜600℃に加熱さ
れ、ウェハー上に膜が堆積される。この際1反応炉5の
圧力や原料ガスの流速をコントロールするために、ガス
の導入管11からArガスを入れることで調節する。
施例として、TazOsgの気相成長法を説明する。ま
ず貯蔵室3に液体原料Ta(OCzHs)sを入れ、貯
蔵室3、気化室4及び配管15をヒータ71.72で5
0〜100℃に加熱する。ノ(ルプ25,26を開け、
貯蔵室3と気化室4とを同圧にすることで液体原料を貯
蔵室3から気化室4へ輸送する。この際、液体原料を加
熱するのは液体原料の粘度を小さくシ、輸送をスムーズ
にするためである。気相成長を行う手順としては、まず
バルブ25.26を閉じた後に気化室4を150〜20
0℃にヒータ72で加熱し、バルブ24を続いてバルブ
27を開けAr等のキャリヤーガスを気化室4へ導入し
、気化した原料ガスを反応炉5に輸送する。一方、反応
炉内ウェハー8はヒータ6で350〜600℃に加熱さ
れ、ウェハー上に膜が堆積される。この際1反応炉5の
圧力や原料ガスの流速をコントロールするために、ガス
の導入管11からArガスを入れることで調節する。
ざらに膜質の改善を行うために02ガスを12から入れ
るのも自由である。気化室4内の原料41が減少すれば
、バルブ25.26を開けて、前記したと同様の手順で
、液体原料を貯蔵室3から気化室4へ輸送させればよい
。当該法は気化室4や反応炉5内を外気にさらす必要が
ないため、原料を高純度に保つ、炉内を清浄に保てるた
め、より安定で再現性のある膜を堆積できる。
るのも自由である。気化室4内の原料41が減少すれば
、バルブ25.26を開けて、前記したと同様の手順で
、液体原料を貯蔵室3から気化室4へ輸送させればよい
。当該法は気化室4や反応炉5内を外気にさらす必要が
ないため、原料を高純度に保つ、炉内を清浄に保てるた
め、より安定で再現性のある膜を堆積できる。
第2図は本発明の他の実施例で、横型の抵抗加熱式の気
相成長装置の概略構成図を示す。図において、第1図と
同じ記号は同一機能を有するもの’r 示Y、サセプタ
−81を通電することでサ−1=7”ター上のクエハー
8を加熱し、g8堆積するものである。また反応炉5は
、冷却水51で冷却されているcold−wal 1
gで、反応炉5の内壁に反応物が付着しにくいという利
点がある。当該気相成長装置に2いても、本発明の効果
は変わらない。
相成長装置の概略構成図を示す。図において、第1図と
同じ記号は同一機能を有するもの’r 示Y、サセプタ
−81を通電することでサ−1=7”ター上のクエハー
8を加熱し、g8堆積するものである。また反応炉5は
、冷却水51で冷却されているcold−wal 1
gで、反応炉5の内壁に反応物が付着しにくいという利
点がある。当該気相成長装置に2いても、本発明の効果
は変わらない。
なS、抵抗加熱式の変わりにランプ加熱等を用いる気相
成長装置や光反応を利用した気相成長装置に本発明を用
いても、その効果は変らない。
成長装置や光反応を利用した気相成長装置に本発明を用
いても、その効果は変らない。
以上説明したように本発明は、反応炉内に気化室を設け
、反応炉外に当該気化室に原料を補給すべく貯蔵室を設
けることで、従来の気相成長装置に比較して小型の気化
室でも多数回の堆積が可能になり、そのため反応炉全体
も小型化できる利点がある。さらに貯蔵室から気化室に
液体原料を安定に供給可能となり、原料が高純度に保つ
1反応炉内が清浄に保つため安定で再現性のよい堆積で
きる利点がある。
、反応炉外に当該気化室に原料を補給すべく貯蔵室を設
けることで、従来の気相成長装置に比較して小型の気化
室でも多数回の堆積が可能になり、そのため反応炉全体
も小型化できる利点がある。さらに貯蔵室から気化室に
液体原料を安定に供給可能となり、原料が高純度に保つ
1反応炉内が清浄に保つため安定で再現性のよい堆積で
きる利点がある。
また、貯蔵室を設けたことにより、液体原料の補給が従
来装置のように繁雑憂こ行なわなくていいという利点や
気化室を取りはずして原料を補給する必要がないため、
短時間で行えることから、保守が容易となる利点がある
。
来装置のように繁雑憂こ行なわなくていいという利点や
気化室を取りはずして原料を補給する必要がないため、
短時間で行えることから、保守が容易となる利点がある
。
前記した本発明の利点により、本気相成長装置により量
産性の高い気相成長が可能になるという効果がある。
産性の高い気相成長が可能になるという効果がある。
第1IiAは本発明の一実施例の気相成長装置を説明す
る概略構成図、第2図は本発明の他の実施例の気相成長
装置を説明する概略構成図、第3図は気化室が反応炉外
にある従来の気相成長装置の概略構成図、第4図は気化
室が反応炉内にある従来の気相成長装置の概略構成図で
ある。 図に3いて、l l 、 12−−−−−−ガ3の導入
管113・・・・・・キャリーガスの導入管、14・・
・・・・貯蔵室の上部と気化室の上部とを結ぶ配管、1
5・・・・・・貯蔵室の下部と気化室を結ぶ配管、16
・・・・・・排気口、21.22,23,24,25,
26,27゜28.29・・・・・・バルブ、3・・・
・・・貯蔵室、5・・・・・・反応炉、51は反応炉5
を冷却する冷却水、6゜71.72はヒータ、8・・・
・・・ウエノ〜−,81−−−−−−サセプター、9・
・・・・・原料91を充てんした気化室、31・・・・
・・貯蔵室内の原料、41・・・・・・気化室内の原料
である。
る概略構成図、第2図は本発明の他の実施例の気相成長
装置を説明する概略構成図、第3図は気化室が反応炉外
にある従来の気相成長装置の概略構成図、第4図は気化
室が反応炉内にある従来の気相成長装置の概略構成図で
ある。 図に3いて、l l 、 12−−−−−−ガ3の導入
管113・・・・・・キャリーガスの導入管、14・・
・・・・貯蔵室の上部と気化室の上部とを結ぶ配管、1
5・・・・・・貯蔵室の下部と気化室を結ぶ配管、16
・・・・・・排気口、21.22,23,24,25,
26,27゜28.29・・・・・・バルブ、3・・・
・・・貯蔵室、5・・・・・・反応炉、51は反応炉5
を冷却する冷却水、6゜71.72はヒータ、8・・・
・・・ウエノ〜−,81−−−−−−サセプター、9・
・・・・・原料91を充てんした気化室、31・・・・
・・貯蔵室内の原料、41・・・・・・気化室内の原料
である。
Claims (1)
- 反応ガスとして液体原料の蒸発ガスを用いた気相成長
装置において、液体原料を充填した貯蔵室が反応炉外に
設けられ、液体原料を蒸発させる気化室が反応炉の内部
に設けられ、貯蔵室と気化室とがその上部および底部に
設けられた配管を通じバルブを介して互いに接続された
ことを特徴とする気相成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1236886A JPS62169410A (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 | 気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1236886A JPS62169410A (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 | 気相成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62169410A true JPS62169410A (ja) | 1987-07-25 |
Family
ID=11803324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1236886A Pending JPS62169410A (ja) | 1986-01-22 | 1986-01-22 | 気相成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62169410A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6313323A (ja) * | 1986-07-04 | 1988-01-20 | Hitachi Ltd | 薄膜の製造方法およびその装置 |
JP2009016799A (ja) * | 2007-06-07 | 2009-01-22 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
-
1986
- 1986-01-22 JP JP1236886A patent/JPS62169410A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6313323A (ja) * | 1986-07-04 | 1988-01-20 | Hitachi Ltd | 薄膜の製造方法およびその装置 |
JP2009016799A (ja) * | 2007-06-07 | 2009-01-22 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
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