JPS62167886A - 炭素被膜を有する複合体 - Google Patents
炭素被膜を有する複合体Info
- Publication number
- JPS62167886A JPS62167886A JP27751986A JP27751986A JPS62167886A JP S62167886 A JPS62167886 A JP S62167886A JP 27751986 A JP27751986 A JP 27751986A JP 27751986 A JP27751986 A JP 27751986A JP S62167886 A JPS62167886 A JP S62167886A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carbon
- film
- substrate
- composite
- composite body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 63
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 59
- 239000002131 composite material Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 22
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 12
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims abstract description 7
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 150000001721 carbon Chemical class 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N Zirconium dioxide Chemical compound O=[Zr]=O MCMNRKCIXSYSNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 graphite Chemical compound 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ガラス、金属またはセラミックス上に炭素被
膜をコーティングし、その機械的強度を補強しようとす
るものであり、特にアセチレン、メタンのような炭化水
素気体をプラズマ雰囲気中に導入し分解せしめることに
より、c−c結合を作り、結果としてグラファイトのよ
うな導電性または不良導電性の炭素を作るのではなく、
光学的エネルギバンド中(Egという)が2.OeV以
上、好ましくは2.6〜4.5eVを有するダイヤモン
ドに類似の絶縁性の炭素を形成することを特徴としてい
る。さらにこの本発明の炭素は、その硬度も4500K
g/mm”以上、代表的には6500Kg/mm”とい
うダイヤモンド類似の硬さを有する。そしてその結晶学
的構造はアモルファス(非晶質)または5〜200人の
大きさの微結晶性を有している。またこの炭素は水素、
ハロゲン元素が25モル%以下の量を同時に含有してい
る。
膜をコーティングし、その機械的強度を補強しようとす
るものであり、特にアセチレン、メタンのような炭化水
素気体をプラズマ雰囲気中に導入し分解せしめることに
より、c−c結合を作り、結果としてグラファイトのよ
うな導電性または不良導電性の炭素を作るのではなく、
光学的エネルギバンド中(Egという)が2.OeV以
上、好ましくは2.6〜4.5eVを有するダイヤモン
ドに類似の絶縁性の炭素を形成することを特徴としてい
る。さらにこの本発明の炭素は、その硬度も4500K
g/mm”以上、代表的には6500Kg/mm”とい
うダイヤモンド類似の硬さを有する。そしてその結晶学
的構造はアモルファス(非晶質)または5〜200人の
大きさの微結晶性を有している。またこの炭素は水素、
ハロゲン元素が25モル%以下の量を同時に含有してい
る。
さらに本発明の炭素は珪素がSi/C≦0.25の濃度
に添加されたいわゆる炭素を主成分とする炭素をも意味
する。
に添加されたいわゆる炭素を主成分とする炭素をも意味
する。
本発明はこれらの炭素(以下本発明においては単に炭素
という)をガラス、金属またはセラミックス上に設けた
複合体を設けたものである。
という)をガラス、金属またはセラミックス上に設けた
複合体を設けたものである。
本発明は、この炭素を形成させる際の基板に加える温度
を150〜450℃とし、従来より知られたCvD法に
おいて用いられる基板の温度に比べ500〜1500℃
も低い温度で形成したことを他の特徴とする。
を150〜450℃とし、従来より知られたCvD法に
おいて用いられる基板の温度に比べ500〜1500℃
も低い温度で形成したことを他の特徴とする。
また本発明は基板特にガラスまたはセラミックを用い、
その後この基板の一部を選択的に除去してインクジェッ
トノズル、光通信用石英ガラスの引き出し用ノズルとし
て設けるものである。
その後この基板の一部を選択的に除去してインクジェッ
トノズル、光通信用石英ガラスの引き出し用ノズルとし
て設けるものである。
以下に図面に従って本発明に用いられた複合体またはそ
の複合体の作製方法を記す。
の複合体の作製方法を記す。
実施例1
第1図は本発明の炭素を形成するためのプラズマCVO
装置の概要を示す。
装置の概要を示す。
図面において反応性気体である炭化水素気体、例えばア
セチレンが(8)よりパルプ、流量計(5)をへて反応
系中の励起室(4)に導入される。さらに必要に応じて
、キャリアガスを水素またはヘリュームにより(7)よ
りバルブ、流量計(6)をへて同様に励起室に至る。こ
こに■価または7価の不純物、例えばジボランまたはフ
ォスヒンを4人する場合はさらに同様にこの系に加えれ
ばよい。
セチレンが(8)よりパルプ、流量計(5)をへて反応
系中の励起室(4)に導入される。さらに必要に応じて
、キャリアガスを水素またはヘリュームにより(7)よ
りバルブ、流量計(6)をへて同様に励起室に至る。こ
こに■価または7価の不純物、例えばジボランまたはフ
ォスヒンを4人する場合はさらに同様にこの系に加えれ
ばよい。
これらの反応性気体は2.45GHzのマイクロ波によ
る電磁エネルギにより0.1〜5に−のエネルギを加え
られ、励起室にて活性化、分解または反応させられる。
る電磁エネルギにより0.1〜5に−のエネルギを加え
られ、励起室にて活性化、分解または反応させられる。
さらにこの反応性気体は反応炉(1)にて加熱炉(9)
により150〜450℃に加熱させ、さらに13.56
MHzの高周波エネルギ(2)により反応、重合され、
C−C結合を多数形成した炭素を生成する。この際、加
える電磁エネルギが小さい場合はアモルファス構造の炭
素が生成される。他方、この電磁エネルギを強く加えた
場合は5〜200人の大きさのダイヤモンド形状の微結
晶性を有する炭素を生成させ得る。この反応は電源(1
3)によりヒータ(11)を加熱し、さらにその上の基
板(10)を加熱して行う。そしてこの基板の上面に被
膜として反応生成物の炭素被膜が形成される。反応後の
不要物は排気口(12)よりロータリーポンプを経て排
気される。反応室(1)は0.001〜10torr代
表的には0.1〜0.5torrに保持されており、マ
イクロ波(3)、高周波(2)のエネルギにより反応室
(1)内はプラズマ状態が生成される。特にIGHz以
上の周波数にあっては、C−11結合より水素を分離し
、0.1〜50MHzの周波数にあってはC=C結合、
C=C結合を分解し、> C−C<結合または−C−C
−結合を作り、炭素の不対結合手同志を互いに衝突させ
て共有結合させ、安定なダイヤモンド構造を有せしめた
。
により150〜450℃に加熱させ、さらに13.56
MHzの高周波エネルギ(2)により反応、重合され、
C−C結合を多数形成した炭素を生成する。この際、加
える電磁エネルギが小さい場合はアモルファス構造の炭
素が生成される。他方、この電磁エネルギを強く加えた
場合は5〜200人の大きさのダイヤモンド形状の微結
晶性を有する炭素を生成させ得る。この反応は電源(1
3)によりヒータ(11)を加熱し、さらにその上の基
板(10)を加熱して行う。そしてこの基板の上面に被
膜として反応生成物の炭素被膜が形成される。反応後の
不要物は排気口(12)よりロータリーポンプを経て排
気される。反応室(1)は0.001〜10torr代
表的には0.1〜0.5torrに保持されており、マ
イクロ波(3)、高周波(2)のエネルギにより反応室
(1)内はプラズマ状態が生成される。特にIGHz以
上の周波数にあっては、C−11結合より水素を分離し
、0.1〜50MHzの周波数にあってはC=C結合、
C=C結合を分解し、> C−C<結合または−C−C
−結合を作り、炭素の不対結合手同志を互いに衝突させ
て共有結合させ、安定なダイヤモンド構造を有せしめた
。
かくしてガラス、金属、セラミックスよりなる被形成面
を有する基板上に炭素特に炭素中に水素を25モル%以
下含有する炭素またP、lまたはN型の導電型を有する
炭素を形成させた。
を有する基板上に炭素特に炭素中に水素を25モル%以
下含有する炭素またP、lまたはN型の導電型を有する
炭素を形成させた。
実施例2
第2図(八)は第1図の製造装置により作られた複合体
の一例である。第2図(八)はガラスの上にPまたはN
型の導電型を有する炭素膜を形成させた。この電気伝導
率は10−5〜104(0cm) −’を有し、自動車
の窓の内表面に設けて、ここに電流を0.01〜l^流
すことにより発熱せしめ、雨等の環境による云どめを実
施せしめた。
の一例である。第2図(八)はガラスの上にPまたはN
型の導電型を有する炭素膜を形成させた。この電気伝導
率は10−5〜104(0cm) −’を有し、自動車
の窓の内表面に設けて、ここに電流を0.01〜l^流
すことにより発熱せしめ、雨等の環境による云どめを実
施せしめた。
これは自動車のみならず、多(の分野においてその応用
が可能である。
が可能である。
実施例3
第2図(B)は実施例1を用いた本発明方法によってこ
の炭素(22)を基板(20)の表面全面に形成したも
のである。かかる炭素を板状の基板のみならず任意の形
状を有する基体(20)にも形成して、複合体とし得る
。更にこの複合体は切さく機の歯、耐摩耗性表面を有せ
しめる金属またはセラミックの表面とし得る。
の炭素(22)を基板(20)の表面全面に形成したも
のである。かかる炭素を板状の基板のみならず任意の形
状を有する基体(20)にも形成して、複合体とし得る
。更にこの複合体は切さく機の歯、耐摩耗性表面を有せ
しめる金属またはセラミックの表面とし得る。
実施例4
第2図(C)は実施例1の作製方法によって得られた炭
素を用いた複合体の例である。即ち円錐状の穴があけら
れた被形成面を有するセラミックまたは金属の基板の表
面に炭素(22)を0.1〜3μの厚さに設けである。
素を用いた複合体の例である。即ち円錐状の穴があけら
れた被形成面を有するセラミックまたは金属の基板の表
面に炭素(22)を0.1〜3μの厚さに設けである。
穴(23) 、 (23’ ”)をインクジェット又は
光通信用の石英の紡錘ジグに用いる場合、0.05〜5
μの大きさを有し、かつこの穴が耐摩耗性を必要とする
ため、かかる複合体はきわめて好都合であった。この炭
素をコーティングしないものに比べて、102〜10’
倍もの耐久性を有していた。
光通信用の石英の紡錘ジグに用いる場合、0.05〜5
μの大きさを有し、かつこの穴が耐摩耗性を必要とする
ため、かかる複合体はきわめて好都合であった。この炭
素をコーティングしないものに比べて、102〜10’
倍もの耐久性を有していた。
実施例5
第2図CD)は実施例1に示される方法で形成される炭
素を用いた本発明の他の複合体の実施例を示す。即ち基
板(20)上にPIN接合をまたはNIP接合を有する
価電子制御用の炭素を設けたものである。即ちPまたは
N型の炭素半導体(25)、■型の炭素、NまたはP型
の炭素半導体(27)よりなる炭素半導体(24)であ
る。このPまたはN型の炭素層は0.01〜5モル%例
えば1〜3モル%の濃度にホウ素またはリンを添加した
。これは(28)の部分にリフトオフ用の材料を選択的
に設け、全面に形成した後、リフトオフを第3図の製造
方法と同様の方法を用いて得たものである。本発明は基
板の全面に炭素を形成してもまたPN接合またはその他
の構造を設けてもよい。
素を用いた本発明の他の複合体の実施例を示す。即ち基
板(20)上にPIN接合をまたはNIP接合を有する
価電子制御用の炭素を設けたものである。即ちPまたは
N型の炭素半導体(25)、■型の炭素、NまたはP型
の炭素半導体(27)よりなる炭素半導体(24)であ
る。このPまたはN型の炭素層は0.01〜5モル%例
えば1〜3モル%の濃度にホウ素またはリンを添加した
。これは(28)の部分にリフトオフ用の材料を選択的
に設け、全面に形成した後、リフトオフを第3図の製造
方法と同様の方法を用いて得たものである。本発明は基
板の全面に炭素を形成してもまたPN接合またはその他
の構造を設けてもよい。
この半導体のうち、炭素層(26)のエネルギバンド中
は他の炭素層(25) 、 (27)に比べて小さく、
珪素またはゲルマニュームを添加して形成し、ここに電
極(29)を設け、縦方向に電流を基板との間に流すこ
とにより炭素の発光素子を基板上に集積化して設けるこ
とができた。かかる発光素子とする複合体にあっては、
基板はステンレス等の導体であることが必要である。こ
の場合、炭素層(25)、炭素層(27)はエネルギバ
ンド中が2.6〜4.5eVであり、また炭素層(26
)は2〜3eVとすることによって白色または緑、青等
の色の発光素子を基板上に設けることができた。
は他の炭素層(25) 、 (27)に比べて小さく、
珪素またはゲルマニュームを添加して形成し、ここに電
極(29)を設け、縦方向に電流を基板との間に流すこ
とにより炭素の発光素子を基板上に集積化して設けるこ
とができた。かかる発光素子とする複合体にあっては、
基板はステンレス等の導体であることが必要である。こ
の場合、炭素層(25)、炭素層(27)はエネルギバ
ンド中が2.6〜4.5eVであり、また炭素層(26
)は2〜3eVとすることによって白色または緑、青等
の色の発光素子を基板上に設けることができた。
炭素被膜の選択的な除去方法として、基板全面に設けら
れた炭素に対し、酸化物雰囲気中にてレーザ光を選択的
にコンピュータ制御により行い、不要の部分の炭素を酸
化して炭酸ガスとして放出して除去する。その結果、こ
のレーザ光による選択エツチングは実施例2〜5に対し
ても、その工業的応用に関して任意に用いることができ
る。
れた炭素に対し、酸化物雰囲気中にてレーザ光を選択的
にコンピュータ制御により行い、不要の部分の炭素を酸
化して炭酸ガスとして放出して除去する。その結果、こ
のレーザ光による選択エツチングは実施例2〜5に対し
ても、その工業的応用に関して任意に用いることができ
る。
以上の説明より明らかな如く、本発明はガラス、金属ま
たはセラミックの表面または内部に炭素または炭素を主
成分とした被膜をコーティングして設けたものである。
たはセラミックの表面または内部に炭素または炭素を主
成分とした被膜をコーティングして設けたものである。
この複合体は他の多くの実施例にみられる如く、その応
用は計り知れないものであり、特にこの炭素が450℃
以下の低温で形成され、その硬度また基板に対する密着
性がきわめて優れているのが特徴である。
用は計り知れないものであり、特にこの炭素が450℃
以下の低温で形成され、その硬度また基板に対する密着
性がきわめて優れているのが特徴である。
本発明におけるセラミックはアルミナ、ジルコニア、ま
たはそれらに炭素またはランタン等の希土類元素が添加
された任意の材料を用いることができる。また金属にあ
っては、ステンレス、モリブデン、タングステン等の少
なくとも300〜450”Cの温度に耐えられる材料な
らばすべてに応用可能である。またガラスは石英のみな
らずソーダガラス等に対しても被膜化が可能であり、そ
の応用はきわめて広い。
たはそれらに炭素またはランタン等の希土類元素が添加
された任意の材料を用いることができる。また金属にあ
っては、ステンレス、モリブデン、タングステン等の少
なくとも300〜450”Cの温度に耐えられる材料な
らばすべてに応用可能である。またガラスは石英のみな
らずソーダガラス等に対しても被膜化が可能であり、そ
の応用はきわめて広い。
第1図は本発明の炭素を被形成面上に作製する製造装置
の概要を示す。 第2図(八)〜(D)は本発明の複合体の実施例を示す
。
の概要を示す。 第2図(八)〜(D)は本発明の複合体の実施例を示す
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、任意の形状を有せしめる基体又は板状の基板の表面
に炭素を形成せしめ、切さく機の歯、耐摩耗性表面を有
せしめる金属またはセラミックスの複合体よりなること
を特徴とする炭素被膜を有する複合体。 2、特許請求の範囲第1項において、炭素はダイヤモン
ド構造の微結晶線を有する被膜よりなることを特徴とす
る炭素被膜を有する複合体。 3、穴が開けられたセラミックスまたは金属の穴に炭素
または炭素を主成分とする被膜が設けられたことを特徴
とする炭素被膜を有する複合体。 4、特許請求の範囲第3項において、穴は円錐状の穴が
開けられたことを特徴とする炭素被膜を有する複合体。 5、特許請求の範囲第3項において、炭素はダイヤモン
ド構造の微結晶性を有する被膜よりなることを特徴とす
る炭素被膜を有する複合体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27751986A JPS62167886A (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 | 炭素被膜を有する複合体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27751986A JPS62167886A (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 | 炭素被膜を有する複合体 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56146930A Division JPS5848428A (ja) | 1981-09-17 | 1981-09-17 | 炭素被膜を有する複合体およびその作製方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62167886A true JPS62167886A (ja) | 1987-07-24 |
Family
ID=17584724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27751986A Pending JPS62167886A (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 | 炭素被膜を有する複合体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62167886A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01259172A (ja) * | 1988-04-09 | 1989-10-16 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | 粉砕機 |
GB2486778A (en) * | 2010-12-23 | 2012-06-27 | Element Six Ltd | A method of making a doped diamond by CVD and doped diamonds made by CVD |
US8859058B2 (en) | 2010-12-23 | 2014-10-14 | Element Six Limited | Microwave plasma reactors and substrates for synthetic diamond manufacture |
US8955456B2 (en) | 2010-12-23 | 2015-02-17 | Element Six Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
US9142389B2 (en) | 2010-12-23 | 2015-09-22 | Element Six Technologies Limited | Microwave power delivery system for plasma reactors |
US9410242B2 (en) | 2010-12-23 | 2016-08-09 | Element Six Technologies Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
US10403477B2 (en) | 2010-12-23 | 2019-09-03 | Element Six Technologies Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
US11371147B2 (en) | 2010-12-23 | 2022-06-28 | Element Six Technologies Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5328576A (en) * | 1976-08-13 | 1978-03-16 | Nat Res Dev | Surface coating process with cargonaceous material and apparatus therefor |
-
1986
- 1986-11-19 JP JP27751986A patent/JPS62167886A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5328576A (en) * | 1976-08-13 | 1978-03-16 | Nat Res Dev | Surface coating process with cargonaceous material and apparatus therefor |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01259172A (ja) * | 1988-04-09 | 1989-10-16 | Idemitsu Petrochem Co Ltd | 粉砕機 |
GB2486778A (en) * | 2010-12-23 | 2012-06-27 | Element Six Ltd | A method of making a doped diamond by CVD and doped diamonds made by CVD |
GB2486778B (en) * | 2010-12-23 | 2013-10-23 | Element Six Ltd | Controlling doping of synthetic diamond material |
US8859058B2 (en) | 2010-12-23 | 2014-10-14 | Element Six Limited | Microwave plasma reactors and substrates for synthetic diamond manufacture |
US8955456B2 (en) | 2010-12-23 | 2015-02-17 | Element Six Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
US9142389B2 (en) | 2010-12-23 | 2015-09-22 | Element Six Technologies Limited | Microwave power delivery system for plasma reactors |
US9410242B2 (en) | 2010-12-23 | 2016-08-09 | Element Six Technologies Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
US9637838B2 (en) | 2010-12-23 | 2017-05-02 | Element Six Limited | Methods of manufacturing synthetic diamond material by microwave plasma enhanced chemical vapor deposition from a microwave generator and gas inlet(s) disposed opposite the growth surface area |
US9738970B2 (en) | 2010-12-23 | 2017-08-22 | Element Six Limited | Microwave plasma reactors and substrates for synthetic diamond manufacture |
US10403477B2 (en) | 2010-12-23 | 2019-09-03 | Element Six Technologies Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
US11371147B2 (en) | 2010-12-23 | 2022-06-28 | Element Six Technologies Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
US11488805B2 (en) | 2010-12-23 | 2022-11-01 | Element Six Technologies Limited | Microwave plasma reactor for manufacturing synthetic diamond material |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6221154B1 (en) | Method for growing beta-silicon carbide nanorods, and preparation of patterned field-emitters by chemical vapor depositon (CVD) | |
EP0946959B1 (en) | Diamond fim deposition method | |
EP1149932A2 (en) | Thermal chemical vapor deposition apparatus and method of synthesizing carbon nanotubes using the same | |
JPH05109625A (ja) | 半導体の単結晶をエピタキシヤル成長させるための多結晶質cvdダイヤモンド基体 | |
WO1996030557A1 (en) | Enhanced adherence of diamond coatings employing pretreatment process | |
KR20060047705A (ko) | 카본 나노 튜브의 제작 방법 및 그 방법을 실시하는플라즈마 화학기상증착 장치 | |
JPS5848428A (ja) | 炭素被膜を有する複合体およびその作製方法 | |
JPS62167886A (ja) | 炭素被膜を有する複合体 | |
JP2005516766A (ja) | プラズマを使用する均一な及び不均一な化学反応を行うための方法 | |
JPS62162366A (ja) | 炭素被膜を有する複合体 | |
JP4416402B2 (ja) | 機能層を形成するためのプラズマ装置及び機能層の形成方法 | |
RU2032765C1 (ru) | Способ нанесения алмазного покрытия из паровой фазы и устройство для его осуществления | |
KR20040018182A (ko) | 산소 또는 질소로 종단된 실리콘 나노 결정 구조체의형성방법과 이것에 의해 형성된 산소 또는 질소로 종단된실리콘 나노 결정 구조체 | |
JPS62167884A (ja) | 炭素被膜を有する複合体 | |
JPH0427691B2 (ja) | ||
JPS62162367A (ja) | 炭素被膜を有する複合体 | |
JPH0427690B2 (ja) | ||
JPH02244045A (ja) | フォトマスク | |
JPH0757472B2 (ja) | 炭素膜がコートされた研磨用具およびその作製方法 | |
JPH0237087B2 (ja) | ||
JPH02283078A (ja) | 発光素子 | |
KR20010049297A (ko) | 저온 열 화학기상증착 장치 및 이를 이용한탄소나노튜브의 저온 합성 방법 | |
JPH01157411A (ja) | 炭素の除去方法 | |
JPS60137898A (ja) | ダイヤモンド薄膜の製造方法 | |
JPS62161960A (ja) | 炭素被膜を有する複合体の作成方法 |