JPS62167884A - 炭素被膜を有する複合体 - Google Patents

炭素被膜を有する複合体

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JPS62167884A
JPS62167884A JP61277516A JP27751686A JPS62167884A JP S62167884 A JPS62167884 A JP S62167884A JP 61277516 A JP61277516 A JP 61277516A JP 27751686 A JP27751686 A JP 27751686A JP S62167884 A JPS62167884 A JP S62167884A
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JP
Japan
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carbon
substrate
film
present
microcrystalline
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Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Publication date
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  • Cutting Tools, Boring Holders, And Turrets (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、微結晶性を有する炭素または炭素を主成分と
する被膜をガラス、金属またはセラミックの如き基板ま
たは基体の表面にコーティングすることにより、これら
の補強材、また機械的ストレスに対する保護材を得んと
している複合体に関する。
本発明は、アセチレン、メタンのような炭化水素気体を
プラズマ雰囲気中に導入し分解せしめることにより、C
−c結合を作り、結果としてグラファイトのような導電
性または不良導電性の炭素を作るのではな(、ダイヤモ
ンドに類似の絶縁性の炭素を形成することを特徴として
いる。さらに本発明の炭素は、その硬度も4500Kg
/mm”以上、代表的には6500Kg/mm”という
ダイヤモンド類似の硬さを有する。そしてその結晶学的
構造は5〜200人の大きさの微結晶性を有している。
またこの炭素は水素、ハロゲン元素が25モル%以下の
けを同時に含有している。
さらに本発明の炭素は珪素がSi/C≦0.25の濃度
に添加されたいわゆる炭素を主成分とする炭素をも意味
する。
本発明はこれらの炭素(以下本発明においては単に炭素
という)をガラス、金属またはセラミックス上に設けた
複合体を設けたものである。
本発明は、この炭素を形成させる際の基板に加える温度
を150〜450℃とし、従来より知られたCVD法に
おいて用いられる基板の温度に比べ500〜1500℃
も低い温度で形成したことを他の特徴とする。
また本発明はこの炭素に■価の不純物であるホウ素を0
.1〜5モル%の濃度に添加し、P型の炭素を設け、ま
たv価の不純物であるリンを同様に0.1〜5モル%の
濃度に添加し、N型の炭素を設けることにより、この基
板上面の炭素をグラファイト構造とは異なる価電子制御
による半導電性を有せしめたことを他の特徴としている
さらに本発明は、この基板上にPIN接合またはNIP
接合を有する炭素を設けることにより、ダイオード特性
を有する半導体的特性を有せしめることを特徴としてい
る。
また本発明は基板特にガラスまたはセラミックを用い、
その後この基板の一部を選択的に除去してインクジェッ
トノズル、光通信用石英ガラスの引き出し用ノズルとし
て設けるものである。
また本発明は、ガラス基板上に選択的に炭素被膜を設け
、電子ビーム露光装置または紫外線の露光装置のフォト
マスクとして用いることを他の特徴としている。
さらに本発明の複合体はバルブ、耐磨耗材料、またはP
IN型を有する半導体としての装置例えば受光または発
光素子への応用が可能である。
以下に図面に従って本発明に用いられた複合体またはそ
の複合体の作製方法を記す。
実施例1 第1図は本発明の炭素を形成するためのプラズマCVD
装置の概要を示す。
図面において反応性気体である炭化水素気体、例えばア
セチレンが(8)よりバルブ、流量計(5)をへて反応
系中の励起室(4)に導入される。さらに必要に応じて
、キャリアガスを水素またはヘリュームにより(7)よ
りバルブ、流量計(6)をへて同様に励起室に至る。こ
こに■価またはV価の不純物、例えばジボランまたはフ
ォスヒンを導入する場合はさらに同様にこの系に加えれ
ばよい。
これらの反応性気体は2.45GHzのマイクロ波によ
る電磁エネルギにより0.1〜5に−のエネルギを加え
られ、励起室にて活性化、分解または反応させられる。
さらにこの反応性気体は反応炉(1)にて加熱炉(9)
により150〜450℃に加熱させ、さらに13.56
M1lzの高周波エネルギ(2)により反応、重合され
、C−C結合を多数形成した炭素を生成する。この際、
加える電磁エネルギを強くした場合は5〜200人の大
きさのダイヤモンド形状の微結晶性を有する炭素を生成
させ得る。しかし、この電磁エネルギが小さい場合は、
アモルファス構造のみとなってしまった。この反応の際
、電tA(13)ニヨリヒータ(11)を加熱し、さら
にその上の基板(10)を加熱して行う。そしてこの基
板の上面に被膜として反応生成物の炭素被膜が形成され
る。反応後の不要物は排気口(12)よりロータリーポ
ンプを経て排気される。反応室(1)は0.001〜1
0 torr代表的には0.1〜Q、5torrに保持
されており、マイクロ波(3)および高周波(2)のエ
ネルギにより反応室(1)内はプラズマ状態が生成され
る。特にIGtlz以上の周波数にあっては、C−11
結合より水素を分離し、0.1〜50MHzの周波数に
あってはC=C結合、C=C結合を分解し、> C−C
<結合または−C−C−結合を作り、炭素の不対結合手
同志を互いに衝突させて共有結合させ、安定なダイヤモ
ンド構造を有せしめた。
かくしてガラス、金属、セラミックスよりなる被形成面
を有する基板上に炭素特に炭素中に水素を25モル%以
下含有する炭素またP、■またはN型の導電型を有する
炭素を形成させた。
実施例2 この実施例は実施例1を用いた本発明方法によってこの
炭素を基板の表面全面に形成したものである。かかる炭
素を板状の基板のみならず任意の形状を有する基体にも
形成して複合体とし得る。
更にこの複合体は、切さく機の歯、耐摩耗性表面を有せ
しめる金属またはセラミックの表面とし得る。
炭素被膜の選択的な除去方法として、基板全面に設けら
れた炭素に対し、酸化物雰囲気中にてレーザ光を選択的
にコンピュータ制御により行い、不要の部分の炭素を酸
化して炭酸ガスとして放出して除去する。このレーザ光
による選択エツチングは本発明を工業的に応用する場合
に任意に用いることができる。
以上の説明より明らかな如く、本発明はガラス、金属ま
たはセラミックの表面または内部に微結晶性を有する炭
素または炭素を主成分とした被膜をコーティングして設
けたものである。この複合体は他の多くの実施例にみら
れる如く、その応用は計り知れないものであり、特にこ
の炭素が450℃以下の低温で形成され、その硬度また
基板に対する密着性がきわめて優れているのが特徴であ
る。
本発明におけるセラミックはアルミナ、ジルコニア、ま
たはそれらに炭素またはランタン等の希土類元素が添加
された任意の材料を用いることができる。また金属にあ
っては、ステンレス、モリブデン、タングステン等の少
なくとも300〜450℃の温度に耐えられる材料なら
ばすべてに応用可能である。またガラスは石英のみなら
ずソーダガラス等に対しても被膜化が可能であり、その
応用はきわめて広い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の炭素を被形成面上に作製する製造装置
の概要を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、微結晶性を有する炭素または炭素を主成分とする被
    膜が、基板または基体の表面または内部に設けられたこ
    とを特徴とする炭素被膜を有する複合体。 2、特許請求の範囲第1項において、微結晶性は5〜2
    00Åの大きさを有するとともに、水素またはハロゲン
    元素が25モル%以下の量添加された炭素または炭素を
    主成分とする被膜が表面または内部に設けられたことを
    特徴とする炭素被膜を有する複合体。 3、特許請求の範囲第1項において、微結晶性はダイヤ
    モンド構造を有することを特徴とする炭素被膜を有する
    複合体。 4、特許請求の範囲第1項において、基板または基体は
    ガラス、金属またはセラミックスよりなることを特徴と
    する炭素被膜を有する複合体。
JP61277516A 1986-11-19 1986-11-19 炭素被膜を有する複合体 Granted JPS62167884A (ja)

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JPS62167884A true JPS62167884A (ja) 1987-07-24
JPH0530906B2 JPH0530906B2 (ja) 1993-05-11

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02104665A (ja) * 1988-10-11 1990-04-17 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 炭素膜で覆われた部材
JP2003534223A (ja) * 2000-05-24 2003-11-18 ガーディアン・インダストリーズ・コーポレーション 支持体のdlc含有親水性被覆
US6925439B1 (en) 1994-06-20 2005-08-02 C-Sam, Inc. Device, system and methods of conducting paperless transactions

Non-Patent Citations (1)

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Title
SOLID STATE COMMUN *

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