JPS6215339A - 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 - Google Patents
巻糸パツケ−ジの巻形検査装置Info
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- JPS6215339A JPS6215339A JP14736985A JP14736985A JPS6215339A JP S6215339 A JPS6215339 A JP S6215339A JP 14736985 A JP14736985 A JP 14736985A JP 14736985 A JP14736985 A JP 14736985A JP S6215339 A JPS6215339 A JP S6215339A
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- JP
- Japan
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- light
- package
- image sensor
- rays
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- Pending
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H63/00—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package
- B65H63/006—Warning or safety devices, e.g. automatic fault detectors, stop-motions ; Quality control of the package quality control of the package
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65H—HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
- B65H2701/00—Handled material; Storage means
- B65H2701/30—Handled filamentary material
- B65H2701/31—Textiles threads or artificial strands of filaments
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
- Filamentary Materials, Packages, And Safety Devices Therefor (AREA)
- Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は巻糸パッケージの巻形検査装置に関する。
自動ワインダー、撚糸機において、巻上げられたパッケ
ージには種々の原因によって巻形不良のパッケージが混
在している。
ージには種々の原因によって巻形不良のパッケージが混
在している。
例えば、自動ワインダーで巻上げられたコーンパッケー
ジの巻形不良の代表的なものとして、第９図（Ｉｌに示
すパッケージ端面ｍにおいて糸（Ｙｌ ） （Ｙ２ ）
（Ｙ３ ）が糸ビンの糸がな（なったり、糸切れが生
じた時に糸端（Ｙ４）がパッケージ端面より落ちて巻取
管口に巻付いたり、糸層の中に入った端面落ちパッケー
ジ（Ｐ２）、第９図（至）に示す巻始めにおけるトラバ
ース短縮、スリップによる張力低下あるいはバルジによ
って生じる菊巻き（０と称するパッケージ（Ｐ３）、あ
るりは第９回置に示すノーテンション、またはリボン巻
きによって生じる端面にふくれた段状部Ｎを有するふく
れ玉と称するパッケージ（Ｐ４）、さらには給−光測精
紡ボビンの形状不良による解じょテンションの変動によ
って生じる年輪巻きパッケージ（Ｐ５）等、種々の巻形
不良のパッケージがある。
ジの巻形不良の代表的なものとして、第９図（Ｉｌに示
すパッケージ端面ｍにおいて糸（Ｙｌ ） （Ｙ２ ）
（Ｙ３ ）が糸ビンの糸がな（なったり、糸切れが生
じた時に糸端（Ｙ４）がパッケージ端面より落ちて巻取
管口に巻付いたり、糸層の中に入った端面落ちパッケー
ジ（Ｐ２）、第９図（至）に示す巻始めにおけるトラバ
ース短縮、スリップによる張力低下あるいはバルジによ
って生じる菊巻き（０と称するパッケージ（Ｐ３）、あ
るりは第９回置に示すノーテンション、またはリボン巻
きによって生じる端面にふくれた段状部Ｎを有するふく
れ玉と称するパッケージ（Ｐ４）、さらには給−光測精
紡ボビンの形状不良による解じょテンションの変動によ
って生じる年輪巻きパッケージ（Ｐ５）等、種々の巻形
不良のパッケージがある。
このような不良パッケージはそのま＼編機、織機に使用
すると、スムーズな糸群じょが行われず、大きな張力変
動を生じたり、輪液は等が生じ糸切れの原因となる。
すると、スムーズな糸群じょが行われず、大きな張力変
動を生じたり、輪液は等が生じ糸切れの原因となる。
従って、一般にワイングーにおいて玉揚された巻糸パッ
ケージは、後工程へ搬送されるのに先立って巻形の検査
が作業者の目視により行われている。
ケージは、後工程へ搬送されるのに先立って巻形の検査
が作業者の目視により行われている。
上記検査方法では、微少な不良部分は見逃すことがあり
、また見る角度によっても巻形不良をチェックミスする
ことがある。
、また見る角度によっても巻形不良をチェックミスする
ことがある。
のである。
本発明は、パッケージ表面に光を照射する光源と、反射
光を受光する単一のイメージセンサと、上記パッケージ
の特定測定位置とイメージセンサ間に配置される複数方
向の反射光を上記単一のイメージセンサへ入射させるた
めの複数の反射鏡および複数の受光レンズとからなるも
のである。
光を受光する単一のイメージセンサと、上記パッケージ
の特定測定位置とイメージセンサ間に配置される複数方
向の反射光を上記単一のイメージセンサへ入射させるた
めの複数の反射鏡および複数の受光レンズとからなるも
のである。
パッケージ表面の特定の測定位置の複数方向の反射光が
、複数の反射鏡およびレンズによって単一のイメージセ
ンサへ焦点がずれることな（入射され、得られるレベル
信号波形の巻形不良箇所部分が顕著となる。
、複数の反射鏡およびレンズによって単一のイメージセ
ンサへ焦点がずれることな（入射され、得られるレベル
信号波形の巻形不良箇所部分が顕著となる。
第１図、第２図に本発明の実施例装置を示す。
検査装置（１）は、検査対象となる巻糸パッケージＰ）
の糸層表面（Ｔ′）に光を照射する光源（２）、レンズ
（３）等の投光部（４）と糸層表面で反射した光（ＰＨ
１）（ＰＨ２）を受光するレンズ（５１（６）、イメー
ジセンサ（７）および、複数方向の反射光（ＰＨ１）（
ＰＨ２）を各レンズ（５１（６１に入射させるための反
射鏡（８１（９１（１０）（１１）からなる受光部（１
２）、さらに、上記受光した光情報を分析する分析装置
（１３）とから構成される。
の糸層表面（Ｔ′）に光を照射する光源（２）、レンズ
（３）等の投光部（４）と糸層表面で反射した光（ＰＨ
１）（ＰＨ２）を受光するレンズ（５１（６）、イメー
ジセンサ（７）および、複数方向の反射光（ＰＨ１）（
ＰＨ２）を各レンズ（５１（６１に入射させるための反
射鏡（８１（９１（１０）（１１）からなる受光部（１
２）、さらに、上記受光した光情報を分析する分析装置
（１３）とから構成される。
上記受光部（１２）のレンズ（５１（６１は各反射鏡（
９） （１１）で反射した光の光軸（ＰＨＩ ａ ）（
ＰＨ２１”）とＬｉ２ズ（５） （６） （７）光軸と
が平行となる位置にある角度をもって設けられ、各レン
ズ（５１（６１は支持ブラケッ１−（１４）のガイド面
（１５）（１６）に沿って光軸（ＰＨＩ ａ ）（ＰＨ
２８）に沿ってスライド、固定自在とされ、両しンズ合
わせが可能である。レンズ（５１（６１の位置固定は締
付ネジ等の適宜固定手段で行われる。
９） （１１）で反射した光の光軸（ＰＨＩ ａ ）（
ＰＨ２１”）とＬｉ２ズ（５） （６） （７）光軸と
が平行となる位置にある角度をもって設けられ、各レン
ズ（５１（６１は支持ブラケッ１−（１４）のガイド面
（１５）（１６）に沿って光軸（ＰＨＩ ａ ）（ＰＨ
２８）に沿ってスライド、固定自在とされ、両しンズ合
わせが可能である。レンズ（５１（６１の位置固定は締
付ネジ等の適宜固定手段で行われる。
上記イメージセンサ（７）で得られた光情報は、光電変
換されて、第１．３図の分析装置（１３）へ入力される
。即ち、イメージセンサ（７）からの信号（ＬＩＣ）は
雑音除去器（１７）を経て増巾器（１８）により処理に
適した大きさの信号とされ、さら（こアナログデジタル
変換器（１９）を介してデジタル信号化される。該信号
は設定レベルと比較するのに適したレベル信号とするた
め正規化回路（２０）に入力され、場合によってはメモ
！ｊ（２１）に入力し、一時待機させることも可能であ
る。正規化された制汗や 信号はレベル比較器（２２）に入 いる設定レベルと演算装置（２３）により比較演算され
る。比較の結果、設定レベルを越える適正なレベル信号
が存在する場合は、不良パッケージ信号が出力され、赤
ランプを点灯させるとか、正常パッケージとは別の搬送
路へ排出する等の指令信号が出力される。
換されて、第１．３図の分析装置（１３）へ入力される
。即ち、イメージセンサ（７）からの信号（ＬＩＣ）は
雑音除去器（１７）を経て増巾器（１８）により処理に
適した大きさの信号とされ、さら（こアナログデジタル
変換器（１９）を介してデジタル信号化される。該信号
は設定レベルと比較するのに適したレベル信号とするた
め正規化回路（２０）に入力され、場合によってはメモ
！ｊ（２１）に入力し、一時待機させることも可能であ
る。正規化された制汗や 信号はレベル比較器（２２）に入 いる設定レベルと演算装置（２３）により比較演算され
る。比較の結果、設定レベルを越える適正なレベル信号
が存在する場合は、不良パッケージ信号が出力され、赤
ランプを点灯させるとか、正常パッケージとは別の搬送
路へ排出する等の指令信号が出力される。
次に、例えば第９図（Ｉ）に示すパッケージ表面（Ｔ′
ｌの検査方法について説明する。即ち、合とする。パッ
ケージ（Ｐｌ）は矢印 （２４）方向に巻取管ｆＫ）を中心に１回転させて検査
するが、ある時点で測定位置 （２５）を読み取った場合、該位置（２５）における反
射方向を第１図に示す二方向（ＰＨ１）（ＰＨ２）とす
る。一方の反射光（ＰＨ１）は鏡（８１（９１およびレ
ンズ（５）を介してイメージセンサ（７）に入射し、他
の反射光（ＰＨ２）は鏡（１０）（Ｉｆ）およびレンズ
（６）ヲ介して上記イメージセンサ（７）に入射する。
ｌの検査方法について説明する。即ち、合とする。パッ
ケージ（Ｐｌ）は矢印 （２４）方向に巻取管ｆＫ）を中心に１回転させて検査
するが、ある時点で測定位置 （２５）を読み取った場合、該位置（２５）における反
射方向を第１図に示す二方向（ＰＨ１）（ＰＨ２）とす
る。一方の反射光（ＰＨ１）は鏡（８１（９１およびレ
ンズ（５）を介してイメージセンサ（７）に入射し、他
の反射光（ＰＨ２）は鏡（１０）（Ｉｆ）およびレンズ
（６）ヲ介して上記イメージセンサ（７）に入射する。
従って、パッケージ上の一つの読取点、即ち、一つの反
射点は２方向の反射光（ＰＨ１）（Ｐ、Ｈ２）によって
イメージセンサ（７）の同一の撮像素子上に入射される
のである。
射点は２方向の反射光（ＰＨ１）（Ｐ、Ｈ２）によって
イメージセンサ（７）の同一の撮像素子上に入射される
のである。
従って、一方向のみの反射光（ＰＨ１）による光情報が
第４図のような線図 （Ｌｌａ）となったとする。ピーク点 （Ｑｌ）（Ｑ２）（Ｑ３）は糸層表面の異常点であるが
、他の反射光量との差が小さく、従って比較する基準レ
ベルの設定可能範囲（Ｓｌ）が小さく、設定の仕方によ
っては、異常点を見逃したり、あるいは正常点までも異
常であると判別ミスを生じる恐れがある。
第４図のような線図 （Ｌｌａ）となったとする。ピーク点 （Ｑｌ）（Ｑ２）（Ｑ３）は糸層表面の異常点であるが
、他の反射光量との差が小さく、従って比較する基準レ
ベルの設定可能範囲（Ｓｌ）が小さく、設定の仕方によ
っては、異常点を見逃したり、あるいは正常点までも異
常であると判別ミスを生じる恐れがある。
また、他の方向における反射光（ＰＨ２）のみの光情報
が第５図の線図（Ｌｌｂ）であったとすると、この場合
もやはり上記判別ミスの恐れがある。
が第５図の線図（Ｌｌｂ）であったとすると、この場合
もやはり上記判別ミスの恐れがある。
しかしながら、上記二方向の反射光
（ＰＨ１）（ＰＨ２）を同一のイメージセンサ（７）で
同時に読み取る場合は、得られる光情報は第６図の線図
（ＬＩＣ）の如くなる。即ち、上記第４．５図の線図が
合成された状態となり、異常点（Ｑｌ ） （Ｑ２ ）
（Ｑ３）のみが他の部分より拡大されて表わ１れ、突出
部分が顕著となるのである。
同時に読み取る場合は、得られる光情報は第６図の線図
（ＬＩＣ）の如くなる。即ち、上記第４．５図の線図が
合成された状態となり、異常点（Ｑｌ ） （Ｑ２ ）
（Ｑ３）のみが他の部分より拡大されて表わ１れ、突出
部分が顕著となるのである。
従って、イメージセンサによる読み取り方向を上記実施
例では２方向としたが、さらに多くの方向から読取るこ
とにより、光情報の波が合成され、パッケージ表面の正
常部分の反射光レベルが平滑化され異常部分の反射光レ
ベルのみが突出した状態となり、さらに基準設定レベル
の設定可能範囲が大きくなり設定、判別を容易にかつ正
確に行うことが可能となる。
例では２方向としたが、さらに多くの方向から読取るこ
とにより、光情報の波が合成され、パッケージ表面の正
常部分の反射光レベルが平滑化され異常部分の反射光レ
ベルのみが突出した状態となり、さらに基準設定レベル
の設定可能範囲が大きくなり設定、判別を容易にかつ正
確に行うことが可能となる。
このようにして得られたレベル信号
（Ｌ Ｉ Ｃ）ハ直接オシロスコープによって目視する
こともできるが、自動判別の場合は、上記レベル信号（
ＬＩ Ｃ）は第３図の分析装置（１３）に入力され、正
規化回路（２０）を経て第７図の如くレベル信号（Ｌ２
）となり、レベル比較器（２２）に入力され、予め設定
している基準レベル■と比較され、該基準レベル■より
突出したレベル部分（Ｚｌ ） （Ｚ２ ） （Ｚ３
）が存在する時は、第８図示の矩形波（Ｌ３）を発して
不良巻形パッケージ信号とされる。
こともできるが、自動判別の場合は、上記レベル信号（
ＬＩ Ｃ）は第３図の分析装置（１３）に入力され、正
規化回路（２０）を経て第７図の如くレベル信号（Ｌ２
）となり、レベル比較器（２２）に入力され、予め設定
している基準レベル■と比較され、該基準レベル■より
突出したレベル部分（Ｚｌ ） （Ｚ２ ） （Ｚ３
）が存在する時は、第８図示の矩形波（Ｌ３）を発して
不良巻形パッケージ信号とされる。
なお、上記基準レベル■の設定は、糸の太さ、色、イメ
ージセンサの精度等により適宜変更することが好ましい
。
ージセンサの精度等により適宜変更することが好ましい
。
なお、上記実施例では、基準レベル■をレベル信号（Ｌ
２）の標準レベル（Ｖ）よりも上側に設定したが、下側
あるいは両側に設定することも可能で、巻形不良の種類
によっては突出したレベル（Ｚｌ）（Ｚ２）（Ｚ３）の
位置が標準レベルの下側あるいは両側に生じることもあ
り、いずれの場合にも判別ミスを防止するように設定す
る必要がある。
２）の標準レベル（Ｖ）よりも上側に設定したが、下側
あるいは両側に設定することも可能で、巻形不良の種類
によっては突出したレベル（Ｚｌ）（Ｚ２）（Ｚ３）の
位置が標準レベルの下側あるいは両側に生じることもあ
り、いずれの場合にも判別ミスを防止するように設定す
る必要がある。
、〔発明の効果〕
以上のように、本発明ではパッケージ表面に光を照射し
て、複数方向の反射光を１つのイメージセンサによって
読取ることにより、正常な糸層表面の反射光から得られ
る光量レベルが平滑化され、異常部分の反射光から得ら
れる光量レベルとの差を大きくすることができ、巻形不
良の判別を行い与くでき、チェックミスを防止すること
ができる。
て、複数方向の反射光を１つのイメージセンサによって
読取ることにより、正常な糸層表面の反射光から得られ
る光量レベルが平滑化され、異常部分の反射光から得ら
れる光量レベルとの差を大きくすることができ、巻形不
良の判別を行い与くでき、チェックミスを防止すること
ができる。
第１図は本発明装置の実施例を示す一部断面平面図、第
２図は同正面図、第３図は分析装置の一例を示すブロッ
ク図、第４図は一方向の反射光量線図、第５図は他の方
向の反射光量線図、第６図はレベル線図（Ｌｌａ）（Ｌ
ｌｂ）を合成Ｌ ｆ、−線図、第７図は正規化された線
図、第８図は判別後の矩形波を示す線図、第９図（１１
〜■は巻形不良パッケージの代表例を示す斜視図である
。 （１） ・・・ 検査装置 （２）・・・光 源 （５）（６） ・・・ 受光レンズ （７） ・・・ イメージセンサ （８）（９）、（１０）（１１） ・・・反射鏡 （Ｐ） ・・・ パッケージ （Ｔ） ・・・ パッケージ表面 （ＰＨ１）（ＰＨ２） ・・・ 反射光第８図
２図は同正面図、第３図は分析装置の一例を示すブロッ
ク図、第４図は一方向の反射光量線図、第５図は他の方
向の反射光量線図、第６図はレベル線図（Ｌｌａ）（Ｌ
ｌｂ）を合成Ｌ ｆ、−線図、第７図は正規化された線
図、第８図は判別後の矩形波を示す線図、第９図（１１
〜■は巻形不良パッケージの代表例を示す斜視図である
。 （１） ・・・ 検査装置 （２）・・・光 源 （５）（６） ・・・ 受光レンズ （７） ・・・ イメージセンサ （８）（９）、（１０）（１１） ・・・反射鏡 （Ｐ） ・・・ パッケージ （Ｔ） ・・・ パッケージ表面 （ＰＨ１）（ＰＨ２） ・・・ 反射光第８図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 パッケージ表面に光を照射する光源と、 反射光を受光する単一のイメージセンサと、上記パッケ
ージとイメージセンサ間に配置 される複数方向の反射光を上記単一のイメ ージセンサへ入射さするための複数の反射 鏡および受光レンズとからなることを特徴 とする巻糸パッケージの巻形検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14736985A JPS6215339A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14736985A JPS6215339A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6215339A true JPS6215339A (ja) | 1987-01-23 |
Family
ID=15428666
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14736985A Pending JPS6215339A (ja) | 1985-07-04 | 1985-07-04 | 巻糸パツケ−ジの巻形検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6215339A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5636803A (en) * | 1993-10-29 | 1997-06-10 | Zellweger Luwa Ag | Apparatus for checking the winding quality of yarn bobbins and use of the apparatus on a winding or spinning machine |
-
1985
- 1985-07-04 JP JP14736985A patent/JPS6215339A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5636803A (en) * | 1993-10-29 | 1997-06-10 | Zellweger Luwa Ag | Apparatus for checking the winding quality of yarn bobbins and use of the apparatus on a winding or spinning machine |
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