JPS62150102A - 球体の寸法測定方法 - Google Patents
球体の寸法測定方法Info
- Publication number
- JPS62150102A JPS62150102A JP29648985A JP29648985A JPS62150102A JP S62150102 A JPS62150102 A JP S62150102A JP 29648985 A JP29648985 A JP 29648985A JP 29648985 A JP29648985 A JP 29648985A JP S62150102 A JPS62150102 A JP S62150102A
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- elastic
- spherical
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- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は球体としてセラミック軸受に用いられる球体の
寸法測定装置に関する。
寸法測定装置に関する。
[発明の技術的青票とその問題点]
近年セラミックスの高剛性、耐摩耗性、耐食性等を利用
してセラミック軸やセラミック軸受の開発が進められて
いる。このセラミック軸受に用いられるセラミックボー
ルの寸法測定については鋼球の寸法測定の場合と異なり
、次のような問題点があった。
してセラミック軸やセラミック軸受の開発が進められて
いる。このセラミック軸受に用いられるセラミックボー
ルの寸法測定については鋼球の寸法測定の場合と異なり
、次のような問題点があった。
すなわち、一般に精密寸法測定の場合には測定系と被測
定物の弾性係数、被測定物と測定子の球状端面の直径、
測定力により弾性接近担が変化するので補正を行なうこ
とが必要であるが、鋼球についてはマスターポールによ
る比較測定法が確立しているので上記のような補正計算
をしなくとも比較的簡便に寸法測定することができる。
定物の弾性係数、被測定物と測定子の球状端面の直径、
測定力により弾性接近担が変化するので補正を行なうこ
とが必要であるが、鋼球についてはマスターポールによ
る比較測定法が確立しているので上記のような補正計算
をしなくとも比較的簡便に寸法測定することができる。
それに対し、セラミックボールの場合には、測定精度に
ついては鋼球の場合と同一レベル、例えば3級の基準で
直径9.525皿(378インチ)の球に対して最大直
径−最小直径([)maX−[)min)の許容誤差が
0.08μm以下という基準が要求されるにもかかわら
ず、セラミックについての精密測定の事例が少なく、ま
た測定系と被測定物との材質の相違によって弾性率が異
なるので補正が複雑になる等の問題点があった。
ついては鋼球の場合と同一レベル、例えば3級の基準で
直径9.525皿(378インチ)の球に対して最大直
径−最小直径([)maX−[)min)の許容誤差が
0.08μm以下という基準が要求されるにもかかわら
ず、セラミックについての精密測定の事例が少なく、ま
た測定系と被測定物との材質の相違によって弾性率が異
なるので補正が複雑になる等の問題点があった。
[発明の目的]
本発明者らは被測定物とほぼ同一の弾性係数および端部
形状を有する測定子を用いれば、寸法基準となるブロッ
クゲージと測定定盤とを同一弾性率とすることによって
弾性変形量がきわめて小さくなることに看目し本発明を
なすに至った。
形状を有する測定子を用いれば、寸法基準となるブロッ
クゲージと測定定盤とを同一弾性率とすることによって
弾性変形量がきわめて小さくなることに看目し本発明を
なすに至った。
本発明は以上のような知見にもとづいてなされたもので
複雑な測定値の補正を簡略化でき、しかもかたより誤差
の極めて小さな球体の寸法測定装置を提供することを目
的とする。
複雑な測定値の補正を簡略化でき、しかもかたより誤差
の極めて小さな球体の寸法測定装置を提供することを目
的とする。
[発明の概要]
すなわち本発明の球体の寸法測定装置は被測定物とほぼ
等しい外径の球状端面を有し、かつ被測定物と弾性係数
が近似する材質で形成された球状測定子を備えているこ
とを特徴とする。
等しい外径の球状端面を有し、かつ被測定物と弾性係数
が近似する材質で形成された球状測定子を備えているこ
とを特徴とする。
[発明の実施例コ
次に本発明の実施例を図面によって説明する。
実施例
第1図は本発明の精密寸法測定装置の一実施例であるダ
イヤルゲージを示している。
イヤルゲージを示している。
第1図において符@1は球状測定子、2はスピンドル、
3はステム、4は指針を示す。このダイヤルゲージを使
用したセラミックボールの測定の概略を第2〜3図によ
って説明する。
3はステム、4は指針を示す。このダイヤルゲージを使
用したセラミックボールの測定の概略を第2〜3図によ
って説明する。
第2図において符号1は球状測定子を示し、この測定子
1は曲率半径d/2の球状端面を有している。被測定物
の測定に際してはまず測定定盤5上に、この測定定盤5
とほぼ同一の弾性係数を有する材質の基準ブロックゲー
ジ6を配置する。この実施例では便宜的に基準ブロック
ゲージ6を測定定盤5のかわりに使用することとし、測
定力(N)で球状測定子1を接触させる。
1は曲率半径d/2の球状端面を有している。被測定物
の測定に際してはまず測定定盤5上に、この測定定盤5
とほぼ同一の弾性係数を有する材質の基準ブロックゲー
ジ6を配置する。この実施例では便宜的に基準ブロック
ゲージ6を測定定盤5のかわりに使用することとし、測
定力(N)で球状測定子1を接触させる。
ここで基準ブロックゲージ6の基準寸法しは後に述べる
被測定物7の直径りと比較測定が可能な節回で等しくす
る。
被測定物7の直径りと比較測定が可能な節回で等しくす
る。
次に基準ブロックゲージ6のかわりに第3図に示すよう
に被測定物7を配置して測定する。ここで被測定物7の
直径りと球状測定子1の球状端面の直径dとは弾性接近
量の値に影響を与えない範囲で等しいものとし、かつ球
状測定子1の球状端面の材質は被測定物7とほぼ同一の
弾性係数の材質、例えば同材質とする。
に被測定物7を配置して測定する。ここで被測定物7の
直径りと球状測定子1の球状端面の直径dとは弾性接近
量の値に影響を与えない範囲で等しいものとし、かつ球
状測定子1の球状端面の材質は被測定物7とほぼ同一の
弾性係数の材質、例えば同材質とする。
以上のような方法で測定すると弾性変形は球状測定子1
と基準ブロックゲージ6の接触面8、球状測定子1と被
測定物7の接触面9および被測定物7と測定定盤5の接
触面10の3ケ所で生じることとなる。それぞれの接触
面における弾性接近量を考えると、接触面8の弾性接近
量ε1と接触面10の弾性接近量ε2は弾性係数、形状
がほぼ同一のためε1=62とすることができ、測定系
からは相殺されることになる。従って接触面9の弾性接
近量ε3のみについて考えればよいこととなる。
と基準ブロックゲージ6の接触面8、球状測定子1と被
測定物7の接触面9および被測定物7と測定定盤5の接
触面10の3ケ所で生じることとなる。それぞれの接触
面における弾性接近量を考えると、接触面8の弾性接近
量ε1と接触面10の弾性接近量ε2は弾性係数、形状
がほぼ同一のためε1=62とすることができ、測定系
からは相殺されることになる。従って接触面9の弾性接
近量ε3のみについて考えればよいこととなる。
そこで次に本発明の球状測定子を用いた場合の接触面9
の弾性接近量を算出する。
の弾性接近量を算出する。
一般に弾性接近量εは式:
%式%(1)
で表わされる。ここでElおよびE2は相接する両物体
の弾性係数、vlおよび■2は両物体のポアソン比、r
lおよびr2は両物体の球状端面の半径、Pは測定力を
示す。
の弾性係数、vlおよび■2は両物体のポアソン比、r
lおよびr2は両物体の球状端面の半径、Pは測定力を
示す。
測定力を0.05yfとした時のセラミックボールの半
径r(mu)と弾性接近量(μm)との関係は、測定子
およびセラミックボールの材質として窒化ケイ素を用い
ると E I =62 = 3.2X10’ kgf/mイ、
rl=r2=rmlll。
径r(mu)と弾性接近量(μm)との関係は、測定子
およびセラミックボールの材質として窒化ケイ素を用い
ると E I =62 = 3.2X10’ kgf/mイ、
rl=r2=rmlll。
v=0.26
p=0.05驕f
となるので、この値を式(1)に代入すると第4図のA
に示すようなグラフとなる。
に示すようなグラフとなる。
一方、比較例として従来の半径2■の球状端面を有する
鋼球測定子を用いて前記と同一の測定力で前記と同材質
のセラミックボールを測定した場合、E 1= 2.1
2 xlO’ k8f/ゴ、E 2 = 3.2X10
’ k8f/lnf、r 1= 2mm、 v=0.3mm P= 0.05 kgf となり、式(1)に代入すると第4図の8に示すような
グラフとなる。
鋼球測定子を用いて前記と同一の測定力で前記と同材質
のセラミックボールを測定した場合、E 1= 2.1
2 xlO’ k8f/ゴ、E 2 = 3.2X10
’ k8f/lnf、r 1= 2mm、 v=0.3mm P= 0.05 kgf となり、式(1)に代入すると第4図の8に示すような
グラフとなる。
第4図かられかるように接触面9の弾性接近量ε3は従
来の鋼球測定子を用いた場合に比べて小さな値となり、
しかも本発明の球状測定子を用いた場合は弾性接近量に
ついてはこの接触面9についての弾性接近量のみを考え
ればよいので補正を簡略化することができる。
来の鋼球測定子を用いた場合に比べて小さな値となり、
しかも本発明の球状測定子を用いた場合は弾性接近量に
ついてはこの接触面9についての弾性接近量のみを考え
ればよいので補正を簡略化することができる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の球体の寸法測定装置によ
れば補正の複雑さと、かたより誤差を軽減することが可
能でおる。また高い精度を必要としないものについては
補正をせずに直読することもでき、寸法測定の迅速化を
図ることができる。
れば補正の複雑さと、かたより誤差を軽減することが可
能でおる。また高い精度を必要としないものについては
補正をせずに直読することもでき、寸法測定の迅速化を
図ることができる。
第1図は本発明の一実施例を示すダイヤルゲージの概略
図、第2図および第3図はこれを利用したセラミックボ
ールの測定の概略を示す説明図、第4図は被測定物の半
径と弾性接近量との関係を示す関係図である。 1・・・・・・・・・球状測定子 2・・・・・・・・・スピンドル 3・・・・・・・・・ステム 4・・・・・・・・・指針 5・・・・・・・・・測定定盤 6・・・・・・・・・基準ブロックゲージ7・・・・・
・・・・被測定物 8.9.10・・・・・・・・・接触面出願人
株式会社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第3図 JIE5すflグのLlll−(mrn)第4図
図、第2図および第3図はこれを利用したセラミックボ
ールの測定の概略を示す説明図、第4図は被測定物の半
径と弾性接近量との関係を示す関係図である。 1・・・・・・・・・球状測定子 2・・・・・・・・・スピンドル 3・・・・・・・・・ステム 4・・・・・・・・・指針 5・・・・・・・・・測定定盤 6・・・・・・・・・基準ブロックゲージ7・・・・・
・・・・被測定物 8.9.10・・・・・・・・・接触面出願人
株式会社 東芝 代理人 弁理士 須 山 佐 − 第3図 JIE5すflグのLlll−(mrn)第4図
Claims (3)
- (1)被測定物とほぼ等しい外径の球状端面を有し、か
つ被測定物と弾性係数が近似する材質で形成された球状
測定子を備えていることを特徴とする球体の寸法測定装
置。 - (2)寸法測定装置はダイヤルゲージである特許請求の
範囲第1項記載の球体の寸法測定装置。 - (3)球体はセラミックボールである特許請求の範囲第
1項または第2項記載の球体の寸法測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29648985A JPS62150102A (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 球体の寸法測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29648985A JPS62150102A (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 球体の寸法測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62150102A true JPS62150102A (ja) | 1987-07-04 |
JPH0422441B2 JPH0422441B2 (ja) | 1992-04-17 |
Family
ID=17834216
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP29648985A Granted JPS62150102A (ja) | 1985-12-24 | 1985-12-24 | 球体の寸法測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62150102A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02159501A (ja) * | 1988-12-14 | 1990-06-19 | Toshiba Corp | 球体寸法測定装置 |
JP2002257502A (ja) * | 2001-03-05 | 2002-09-11 | Junichi Kushibiki | 厚さ測定装置及び測定方法 |
JP2005192577A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-21 | Hitachi Ltd | 触知装置と触知指示装置、及び遠隔触知システム |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6153501A (ja) * | 1984-08-24 | 1986-03-17 | Toshiba Corp | 計測用測定子 |
-
1985
- 1985-12-24 JP JP29648985A patent/JPS62150102A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6153501A (ja) * | 1984-08-24 | 1986-03-17 | Toshiba Corp | 計測用測定子 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02159501A (ja) * | 1988-12-14 | 1990-06-19 | Toshiba Corp | 球体寸法測定装置 |
JP2002257502A (ja) * | 2001-03-05 | 2002-09-11 | Junichi Kushibiki | 厚さ測定装置及び測定方法 |
JP2005192577A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-21 | Hitachi Ltd | 触知装置と触知指示装置、及び遠隔触知システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0422441B2 (ja) | 1992-04-17 |
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