JPS62150102A - 球体の寸法測定方法 - Google Patents

球体の寸法測定方法

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JPS62150102A
JPS62150102A JP29648985A JP29648985A JPS62150102A JP S62150102 A JPS62150102 A JP S62150102A JP 29648985 A JP29648985 A JP 29648985A JP 29648985 A JP29648985 A JP 29648985A JP S62150102 A JPS62150102 A JP S62150102A
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JP
Japan
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measured
elastic
spherical
contact surface
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JP29648985A
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Hideki Kobayashi
小林 英喜
Seiji Yoshikawa
好川 清治
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の技術分野] 本発明は球体としてセラミック軸受に用いられる球体の
寸法測定装置に関する。
[発明の技術的青票とその問題点] 近年セラミックスの高剛性、耐摩耗性、耐食性等を利用
してセラミック軸やセラミック軸受の開発が進められて
いる。このセラミック軸受に用いられるセラミックボー
ルの寸法測定については鋼球の寸法測定の場合と異なり
、次のような問題点があった。
すなわち、一般に精密寸法測定の場合には測定系と被測
定物の弾性係数、被測定物と測定子の球状端面の直径、
測定力により弾性接近担が変化するので補正を行なうこ
とが必要であるが、鋼球についてはマスターポールによ
る比較測定法が確立しているので上記のような補正計算
をしなくとも比較的簡便に寸法測定することができる。
それに対し、セラミックボールの場合には、測定精度に
ついては鋼球の場合と同一レベル、例えば3級の基準で
直径9.525皿(378インチ)の球に対して最大直
径−最小直径([)maX−[)min)の許容誤差が
0.08μm以下という基準が要求されるにもかかわら
ず、セラミックについての精密測定の事例が少なく、ま
た測定系と被測定物との材質の相違によって弾性率が異
なるので補正が複雑になる等の問題点があった。
[発明の目的] 本発明者らは被測定物とほぼ同一の弾性係数および端部
形状を有する測定子を用いれば、寸法基準となるブロッ
クゲージと測定定盤とを同一弾性率とすることによって
弾性変形量がきわめて小さくなることに看目し本発明を
なすに至った。
本発明は以上のような知見にもとづいてなされたもので
複雑な測定値の補正を簡略化でき、しかもかたより誤差
の極めて小さな球体の寸法測定装置を提供することを目
的とする。
[発明の概要] すなわち本発明の球体の寸法測定装置は被測定物とほぼ
等しい外径の球状端面を有し、かつ被測定物と弾性係数
が近似する材質で形成された球状測定子を備えているこ
とを特徴とする。
[発明の実施例コ 次に本発明の実施例を図面によって説明する。
実施例 第1図は本発明の精密寸法測定装置の一実施例であるダ
イヤルゲージを示している。
第1図において符@1は球状測定子、2はスピンドル、
3はステム、4は指針を示す。このダイヤルゲージを使
用したセラミックボールの測定の概略を第2〜3図によ
って説明する。
第2図において符号1は球状測定子を示し、この測定子
1は曲率半径d/2の球状端面を有している。被測定物
の測定に際してはまず測定定盤5上に、この測定定盤5
とほぼ同一の弾性係数を有する材質の基準ブロックゲー
ジ6を配置する。この実施例では便宜的に基準ブロック
ゲージ6を測定定盤5のかわりに使用することとし、測
定力(N)で球状測定子1を接触させる。
ここで基準ブロックゲージ6の基準寸法しは後に述べる
被測定物7の直径りと比較測定が可能な節回で等しくす
る。
次に基準ブロックゲージ6のかわりに第3図に示すよう
に被測定物7を配置して測定する。ここで被測定物7の
直径りと球状測定子1の球状端面の直径dとは弾性接近
量の値に影響を与えない範囲で等しいものとし、かつ球
状測定子1の球状端面の材質は被測定物7とほぼ同一の
弾性係数の材質、例えば同材質とする。
以上のような方法で測定すると弾性変形は球状測定子1
と基準ブロックゲージ6の接触面8、球状測定子1と被
測定物7の接触面9および被測定物7と測定定盤5の接
触面10の3ケ所で生じることとなる。それぞれの接触
面における弾性接近量を考えると、接触面8の弾性接近
量ε1と接触面10の弾性接近量ε2は弾性係数、形状
がほぼ同一のためε1=62とすることができ、測定系
からは相殺されることになる。従って接触面9の弾性接
近量ε3のみについて考えればよいこととなる。
そこで次に本発明の球状測定子を用いた場合の接触面9
の弾性接近量を算出する。
一般に弾性接近量εは式: %式%(1) で表わされる。ここでElおよびE2は相接する両物体
の弾性係数、vlおよび■2は両物体のポアソン比、r
lおよびr2は両物体の球状端面の半径、Pは測定力を
示す。
測定力を0.05yfとした時のセラミックボールの半
径r(mu)と弾性接近量(μm)との関係は、測定子
およびセラミックボールの材質として窒化ケイ素を用い
ると E I =62 = 3.2X10’ kgf/mイ、
rl=r2=rmlll。
v=0.26 p=0.05驕f となるので、この値を式(1)に代入すると第4図のA
に示すようなグラフとなる。
一方、比較例として従来の半径2■の球状端面を有する
鋼球測定子を用いて前記と同一の測定力で前記と同材質
のセラミックボールを測定した場合、E 1= 2.1
2 xlO’ k8f/ゴ、E 2 = 3.2X10
’ k8f/lnf、r 1= 2mm、 v=0.3mm P= 0.05 kgf となり、式(1)に代入すると第4図の8に示すような
グラフとなる。
第4図かられかるように接触面9の弾性接近量ε3は従
来の鋼球測定子を用いた場合に比べて小さな値となり、
しかも本発明の球状測定子を用いた場合は弾性接近量に
ついてはこの接触面9についての弾性接近量のみを考え
ればよいので補正を簡略化することができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の球体の寸法測定装置によ
れば補正の複雑さと、かたより誤差を軽減することが可
能でおる。また高い精度を必要としないものについては
補正をせずに直読することもでき、寸法測定の迅速化を
図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すダイヤルゲージの概略
図、第2図および第3図はこれを利用したセラミックボ
ールの測定の概略を示す説明図、第4図は被測定物の半
径と弾性接近量との関係を示す関係図である。 1・・・・・・・・・球状測定子 2・・・・・・・・・スピンドル 3・・・・・・・・・ステム 4・・・・・・・・・指針 5・・・・・・・・・測定定盤 6・・・・・・・・・基準ブロックゲージ7・・・・・
・・・・被測定物 8.9.10・・・・・・・・・接触面出願人    
  株式会社 東芝 代理人 弁理士  須 山 佐 − 第3図 JIE5すflグのLlll−(mrn)第4図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被測定物とほぼ等しい外径の球状端面を有し、か
    つ被測定物と弾性係数が近似する材質で形成された球状
    測定子を備えていることを特徴とする球体の寸法測定装
    置。
  2. (2)寸法測定装置はダイヤルゲージである特許請求の
    範囲第1項記載の球体の寸法測定装置。
  3. (3)球体はセラミックボールである特許請求の範囲第
    1項または第2項記載の球体の寸法測定装置。
JP29648985A 1985-12-24 1985-12-24 球体の寸法測定方法 Granted JPS62150102A (ja)

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JPH0422441B2 JPH0422441B2 (ja) 1992-04-17

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02159501A (ja) * 1988-12-14 1990-06-19 Toshiba Corp 球体寸法測定装置
JP2002257502A (ja) * 2001-03-05 2002-09-11 Junichi Kushibiki 厚さ測定装置及び測定方法
JP2005192577A (ja) * 2003-12-26 2005-07-21 Hitachi Ltd 触知装置と触知指示装置、及び遠隔触知システム

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6153501A (ja) * 1984-08-24 1986-03-17 Toshiba Corp 計測用測定子

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