JPS62136899A - Inspecting apparatus of soldered parts - Google Patents

Inspecting apparatus of soldered parts

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Publication number
JPS62136899A
JPS62136899A JP27704685A JP27704685A JPS62136899A JP S62136899 A JPS62136899 A JP S62136899A JP 27704685 A JP27704685 A JP 27704685A JP 27704685 A JP27704685 A JP 27704685A JP S62136899 A JPS62136899 A JP S62136899A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
soldering
lens
printed circuit
pinhole
Prior art date
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Pending
Application number
JP27704685A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
静雄 中村
竹中 泰雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP27704685A priority Critical patent/JPS62136899A/en
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野コ この発明は、プリント基板において、取り付けられた回
路素子の端子のはんだ付けの良否を検査する、はんだ付
け検査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] This invention relates to a soldering inspection device for inspecting the quality of soldering of terminals of circuit elements attached to a printed circuit board.

[従来の技術] 従来から、プリント基板における回路素rのはんだ付け
には、ディップ椿中の溶融したはんだに基板を浸漬する
ディップ方式がおこなわれているが、最近においては、
プリント基板の回路素子のバタンか微細化して来たため
、このディップ方式ではブリッジと呼ばれるはんだ付け
不良が増加している。
[Prior Art] Conventionally, the dip method has been used to solder circuit elements on printed circuit boards, in which the board is immersed in molten solder in a dip bath.
Due to the miniaturization of circuit elements on printed circuit boards, soldering defects called bridges are increasing in this dip method.

このブリッジ不良とは、独\χすべき隣接した端r・が
はんだにより短絡するもので、その形状は正規のはんだ
付けに比べて、短絡した部分が盛り!〕がっているもの
である。このようなブリッジは明らかに回路の故障であ
り、検査を行って摘出し除去するなどの処置をとらなけ
ればならない。
This bridge defect is a short-circuit between adjacent ends R due to solder, and the shape of the bridge is larger than that of regular soldering, with the short-circuited part being larger than normal soldering. ]. Such a bridge is clearly a circuit failure and must be inspected, extracted, and removed.

はんだ付けの良否の検査装置として、上述のブリッジの
ほか、断線などを含め各種の不良を対象として、レーザ
光を利用した蛍光検出方式と称される検査装置の開発が
進められているが、大型で高価格である。これに対して
、ディップ方式によるはんだ付け不良は殆どのものが、
ブリッジで占められているのが実情であるので、ブリッ
ジを検出する簡易でjp能の検査装置の存在価値が十分
あり、その開発が望まれている。
As an inspection device for inspecting the quality of soldering, in addition to the above-mentioned bridges, an inspection device called a fluorescence detection method that uses laser light is being developed to detect various defects including disconnections. It is expensive. On the other hand, most soldering defects caused by the dip method are
Since the current situation is that bridges are the most common, there is great value in the existence of a simple and high-performance inspection device for detecting bridges, and the development of such a device is desired.

[発明の「1的コ この発明は上述に鑑み、ディップ方式による、はんだ付
けに発生するブリッジを光学的に検出する、而易なはん
だ付け検査装置を提供することを目的とするものである
[Objective of the Invention] In view of the above, an object of the present invention is to provide a simple soldering inspection device that optically detects bridges that occur during soldering using a dip method.

[問題点を解決するための手段]と[作用コこの発明に
おいては、ブリッジの部分においては、+I’、現のは
んだ付けに比べて、はんだが高く盛り1ユがっているこ
とに着目し、これを光学的で簡易な方法で検出するもの
である。すなわち、はんだ付け而の凹凸を検出すること
を[1標とし、このための光学系として次の方式をとる
[Means for Solving Problems] and [Operations] In this invention, we focused on the fact that in the bridge part, +I', the solder is raised 1 unit higher than in the current soldering. , which is detected by an optical and simple method. That is, one target is to detect the unevenness of the soldering joint, and the following optical system is used for this purpose.

投光レンズ&ミより結像された、点光源に対する実像が
被検面の付近に結ばれるようになし、投光レンズ而を前
後方向に振動する。当然、焦点にある実像も振動するが
、いま焦点が丁度被検面に一致したとき、被検面よりの
反射光の強度が最大となる。そこで、このような実像、
すなわち光スポ、トを振動させた状態で被検面を走査し
、反射光が最大の強度を示すレンズの振動位置と、その
走査位置をともに知れば、容易に被検面の凹凸を2次元
的に検出することができるものである。
The real image of the point light source formed by the light projection lens &mi is focused near the surface to be inspected, and the light projection lens is vibrated in the front and rear directions. Naturally, the real image at the focal point also vibrates, but when the focal point just matches the surface to be inspected, the intensity of the reflected light from the surface to be inspected reaches its maximum. Therefore, such a real image,
In other words, if you scan the surface to be inspected while vibrating the light spot and know both the vibration position of the lens where the reflected light has the maximum intensity and the scanning position, you can easily detect the unevenness of the surface to be inspected in two dimensions. It is something that can be detected.

第1図(a)は、この発明にかかわる光スポットの振動
による物体表面の凹凸の検出り段を説明するもので、凹
凸のある物体1に対して、レンズ2が矢印の方向にSを
中心として、p、mの間を振動し、光スポットはS′を
中心として、p′。
FIG. 1(a) explains the stage of detecting unevenness on the surface of an object by vibration of a light spot according to the present invention. , the light spot oscillates between p and m, with the light spot centered at S' and p'.

m゛の間を振動する。1−述したように、物体lの表面
における反射光の強度は、光スポットの焦点が表面に一
致したときに最大となる。
It vibrates between m゛. 1- As mentioned above, the intensity of reflected light at the surface of object l is maximum when the focus of the light spot coincides with the surface.

そこで、レンズ2を矢印Bのように移動して、物体1の
表面を走査する。第1図(a)の横軸に対応して、同図
(b)に示すように、各走査の位置において、最大の強
度を示すレンズ2の、p#−m”間の位置を知ることが
できれば、それらの点を結んだ波形1″がすなわち、物
体1の表面の形状を相似的にあられして−いる。反射光
が最大の強度をノ1りすレンズ2の位置は、光学系およ
び回路の構成ならびに信号処理技術により知ることがで
き、以下の実施例において説明する。
Therefore, the lens 2 is moved in the direction of arrow B to scan the surface of the object 1. Corresponding to the horizontal axis in FIG. 1(a), as shown in FIG. 1(b), the position of the lens 2 showing the maximum intensity at each scanning position is known between p#-m''. If possible, the waveform 1'' connecting these points will represent the shape of the surface of the object 1 in a similar manner. The position of the lens 2 at which the reflected light has the maximum intensity can be determined by the configuration of the optical system and circuit, as well as signal processing technology, and will be explained in the following examples.

[実施例コ 第2図はこの発明によるはんだ付け検査装置の構成を示
すもので、被検のプリント基板3には回路素J′−4が
取り付けられ、基板の裏面で、端rがディップ方式によ
り、はんだ付けがなされ、はんだ付け部分6が形成され
る。ここで、6′に示す部分がブリッジで、隣接の端子
がはんだで盛り七がって短絡している。
[Example 2] Fig. 2 shows the configuration of a soldering inspection device according to the present invention, in which a circuit element J'-4 is attached to a printed circuit board 3 to be tested, and the end r is connected to the dip type on the back side of the board. As a result, soldering is performed and a soldered portion 6 is formed. Here, the part shown at 6' is a bridge, and adjacent terminals are short-circuited with solder.

検出ヘッド7においては、点光源8よりの光はハーフミ
ラ−9を経て、レンズ2で集束されてプリント基板3を
照射する。一方、レンズ駆動回路11の電流により、コ
イル10とともにレンズ2が振動する。プリント基板3
よりの反射光は、投光のときより拡散しているが、光軸
に近くレンズ2に集光された部分は、ハーフミラ−9に
より右方に進み、ピンホール12を通過して光電素7−
13に入力する。ここで、ピンホール12はハーフミラ
−9に関して点光源8と同じ距離にあり、もし基板3.
の反射面が投光スポットの焦点の位置に一致していると
きは、受光光線による像は最小の径で、その位置はピン
ホール12に一致する。このときは光電素f’13の受
光【11は最大である。これに対して、反射面がずれる
と、ピンホールにおける受光スポットが拡大し、ピンホ
ール12に遮られる分が増して、受光けが減少する。こ
のように、ピンホールの効果により、光電素子13の受
光1dは反射光の強度にほぼ比例するものである。
In the detection head 7, light from a point light source 8 passes through a half mirror 9, is focused by a lens 2, and illuminates a printed circuit board 3. On the other hand, the current from the lens drive circuit 11 causes the lens 2 to vibrate together with the coil 10. Printed circuit board 3
The reflected light is more diffused than when it is projected, but the part near the optical axis and focused on the lens 2 travels to the right by the half mirror 9, passes through the pinhole 12, and enters the photoelectric element 7. −
13. Here, the pinhole 12 is at the same distance as the point light source 8 with respect to the half mirror 9, and if the substrate 3.
When the reflecting surface coincides with the focal point of the projected light spot, the image of the received light beam has a minimum diameter and its position coincides with the pinhole 12. At this time, the light received by the photoelement f'13 [11] is maximum. On the other hand, if the reflective surface is shifted, the light receiving spot at the pinhole will expand, the amount of light blocked by the pinhole 12 will increase, and the light reception will be reduced. In this way, due to the pinhole effect, the light received by the photoelectric element 13 1d is approximately proportional to the intensity of the reflected light.

次に、第2図の電子回路について述べる。充電素子13
で得られた信号の波形より、ピーク検出回路14でピー
ク値の時点が検出され、これと、レンズ駆動回路11の
駆動電流の位相とにより、形状認識回路15において、
反射面の凹凸の情報かえられる。また、マイクロコンピ
ュータ16の指令により、検出ヘッド駆動部17が動作
し、検出ヘッド7を走査させるとともに、走査位置の情
報を形状認識回路15に渡して、これらにより2次元の
・表面形状のデータかえられる。この場合、走査として
、被検面の面走査を行えば3次元の形状のデータかえら
れるのであるが、プリント基板のブリッジを検出するた
めには、全面の走査をすることなく、端r・の配列に沿
ったライン的な走査を行うことで−1−分である。
Next, the electronic circuit shown in FIG. 2 will be described. Charging element 13
From the waveform of the signal obtained in , the peak detection circuit 14 detects the time of the peak value, and based on this and the phase of the drive current of the lens drive circuit 11, the shape recognition circuit 15
Information about the unevenness of the reflective surface can be changed. In addition, the detection head drive unit 17 operates according to the command from the microcomputer 16, causes the detection head 7 to scan, and passes information on the scanning position to the shape recognition circuit 15, which converts data on the two-dimensional surface shape. It will be done. In this case, data on the three-dimensional shape can be changed by performing a surface scan of the surface to be inspected, but in order to detect bridges on a printed circuit board, it is necessary to scan the entire surface. By performing line-like scanning along the array, it takes -1- minutes.

一方、マイクロコンピュータ16においては、pめ1[
:、シ<、はんだ付けされているプリント基板の凹凸の
データを記憶しておき、」−記の検出によるデータと比
較して、ブリッジの有無を検出し、もってはんだ付けの
良否を判定するものである。
On the other hand, in the microcomputer 16, page 1 [
:, shi<, A device that stores the data of the unevenness of the printed circuit board being soldered and compares it with the data obtained by the detection described in ``-'' to detect the presence or absence of bridges, thereby determining the quality of the soldering. It is.

以−にに述べた信号およびデータ処理の技術は通常のも
のであるから、詳細には述べない。
The signal and data processing techniques described above are conventional and will not be described in detail.

[発明の効果] 以東の説明で明らかなように、この発明によるはんだ付
け検査装置によれば、ディップ方式によるプリント基板
のはんだ付けに発生するブリッジが確実に検出されるも
ので、検出原理、機器の構成がともに簡単であるので、
実用性が高くプリント基板の生産技術に貢献するところ
が大きい。
[Effects of the Invention] As is clear from the following explanation, the soldering inspection device according to the present invention reliably detects bridges that occur during soldering of printed circuit boards by the dip method. Both equipment configurations are simple, so
It is highly practical and will greatly contribute to the production technology of printed circuit boards.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)および第1図(b)はこの発明による、物
体表面の形状を検出する光学方式の原理を説明する図、
第2図はこの発明による、はんだ付け検査装置の実施例
のブロック構成図である。 1・・・物体、       2・・・レンズ、3・・
・プリントノ、(板、  4・・・回路素子、5・・・
端r1      6・・・はんだ付け部分、6・00
.ブリッジ、    7・・・検出へラド)8・・・点
光源、      9・・・ハーフミラ−1IO・・・
コイル、11・・・レンズの駆動回路、12・・・ピン
ホール、13・・・光電J7−114・・・ピーク検出
回路、 15・・・形状認識回路、1B・・・マイクロ
コンピュータ、 I7・・・検出ヘッド駆動部。
FIG. 1(a) and FIG. 1(b) are diagrams explaining the principle of an optical method for detecting the shape of an object surface according to the present invention;
FIG. 2 is a block diagram of an embodiment of the soldering inspection apparatus according to the present invention. 1...Object, 2...Lens, 3...
・Print, (board, 4... circuit element, 5...
End r1 6...Soldering part, 6.00
.. Bridge, 7...Detection head) 8...Point light source, 9...Half mirror-1IO...
Coil, 11... Lens drive circuit, 12... Pinhole, 13... Photoelectric J7-114... Peak detection circuit, 15... Shape recognition circuit, 1B... Microcomputer, I7. ...Detection head drive unit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)プリント基板のはんだ付け部の表面に投光する点
光源と、光軸方向に振動する振動レンズと、該はんだ付
け部の表面の反射光を該振動レンズを介して受けるピン
ホールとにより構成された検出ヘッドを有し、上記受光
によりえられる受光信号がピーク値を示す上記振動レン
ズの振動位置と、上記検出ヘッドの走査位置とにより、
上記物体の表面の形状を認識する形状認識回路を有する
ことを特徴とする、はんだ付け検査装置。
(1) A point light source that emits light onto the surface of the soldered part of the printed circuit board, a vibrating lens that vibrates in the optical axis direction, and a pinhole that receives reflected light from the surface of the soldered part via the vibrating lens. According to the vibration position of the vibrating lens at which the light reception signal obtained by the light reception shows a peak value, and the scanning position of the detection head,
A soldering inspection device characterized by having a shape recognition circuit that recognizes the shape of the surface of the object.
JP27704685A 1985-12-11 1985-12-11 Inspecting apparatus of soldered parts Pending JPS62136899A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0325997A (en) * 1989-06-23 1991-02-04 Fujitsu General Ltd Soldering method for printed circuit board

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0325997A (en) * 1989-06-23 1991-02-04 Fujitsu General Ltd Soldering method for printed circuit board

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