JPS62133307A - 曲面測定装置 - Google Patents

曲面測定装置

Info

Publication number
JPS62133307A
JPS62133307A JP27448585A JP27448585A JPS62133307A JP S62133307 A JPS62133307 A JP S62133307A JP 27448585 A JP27448585 A JP 27448585A JP 27448585 A JP27448585 A JP 27448585A JP S62133307 A JPS62133307 A JP S62133307A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mold
detector
measuring instrument
curved surface
metallic mold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27448585A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuo Nagamitsu
永光 達夫
Shigehiko Itou
慈彦 伊藤
Akira Kodama
彰 児玉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Honda Motor Co Ltd
HTK Engineering Co Ltd
Original Assignee
Honda Motor Co Ltd
Honda Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Honda Motor Co Ltd, Honda Engineering Co Ltd filed Critical Honda Motor Co Ltd
Priority to JP27448585A priority Critical patent/JPS62133307A/ja
Publication of JPS62133307A publication Critical patent/JPS62133307A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は曲面測定装置に関し、一層詳細には、二つの異
なる方向に変位する検出手段によって曲面を有するワー
クの第1の方向、すなわち、水平方向の移動距離を測定
すると共に、第2の方向、すなわち、垂直方向への移動
距離を測定し、夫々の信号によって得られる二つの情報
を既に記憶されている原型の基準情報と比較してその偏
差を求め、前記ワークに対して原型に可及的に近づける
ように修正処理を行うための情報を得る曲面測定装置に
関する。
同一の製品を大量に生産するために、例えば、基準金型
から倣い加工あるいはNC加工等の手段を用いて同一の
多数の金型を製作することが一般的に行われている。こ
の場合、特に、倣い加工等によって製作された多数個の
金型が基準金型と同一寸法、同一形状に作られているか
否かを確認しなければならない。蓋し、同一寸法、同一
形状でなければ大量生産によって同一製品を多数製作す
るという所期の目的が達成されないからである。
従来、倣い加工、NC加工等の手段を用いて製作された
金型が基準金型と同一の寸法、同一の形状であるか否か
を判別するために次の二つの方法が採用されてきた。
■ 当該製作された金型を用いて薄板をプレス成形し、
この薄板の曲面形状を視認することによって間接的に当
該金型が基準金型と同一の寸法形状をしているか否かを
判断する。
■ 例えば、スキャンニングマシンを用い、この製作さ
れたプレス用金型を基準台上に載置して前記スキャンニ
ングマシンをx、、Y、、Z方向に変位させ、それによ
って得られる位置情報によりその金型が基準金型と同一
であるか否かを判断する。
然しなから、■の前記の方法によれば、基準金型と比較
する際に、あくまでも肉眼に依存した視認動作によって
行われるために、正確にこの新たに製作されたプレス金
型が当該基準金型と同一かどうかを判断することは極め
て困難であるという不都合がある。また、■の後者の方
法においては、比較的重量のある金型をさらに大型のス
キャンニングマシンまで移動させなければならず、一方
、スキャンニングマシン自体も相当大掛かりになるため
に、それに対応する広面積の占有空間を必要とし、また
、コストも極めて高価であるという難点がある。
そこで、本発明者はこれらの欠点を克服すべく、製品の
曲面形状に沿ってその変位を測定することが可能な第1
の測定手段と、製品の高さ方向の変位を測定することが
可能な第2の測定手段とを一体的に組み込んだ曲面測定
装置を開発し、特願昭第59−264141号として特
許出願を行った。すなわち、この装置を使用して予め基
準金型の二点間の曲面に沿った距離と当該二点間の距離
内における高さとを測定し、これを記憶装置に情報とし
て蓄積しておき、さらに、この基準金型に則して新たに
金型が製作された場合には、前記基準金型の二点間の曲
面に沿った距離に対応させて前記装置を移動させ、当該
二点間の距離とその間における高さとを測定し、既に記
憶されている基準金型の対応情報と比較してその偏差を
求め、許容値内であるならば同一寸法、同一形状である
と判定すると共に、その偏差が許容値の範囲外にある場
合にはその偏差に対応して当該製作された金型に肉盛り
あるいは切削等の修正処理を行って可及的に基準金型に
その寸法、形状を近づけるようにしたものである。この
曲面測定装置は、特に、簡単な構成であるために廉価に
製造出来、しかも小型であるために操作が極めて容易で
あるという利点をもたらしている。
ところで、製品、すなわち、金型の形状情報を求めよう
とする際に、操作者は予め製作された金型に引かれた線
に沿って測定装置を移動させなければならない。従って
、その線引きが不正確であると、基準金型に関する情報
を得た際の位置とのずれが生じ、結局、正確な面歪情報
が得られないという懸念が発生する。さらにまた、曲面
形状を呈する金型表面を測定器を利用して変位動作させ
る時、この測定器自体も金型表面の曲面に対応して変位
することになり、正確には水平方向の移動距離を基準と
して金型の高さ方向の情報を求めることが出来ない。結
局、基準金型との形状を比較するための水平方向におけ
る位置を基準とした情報が得られない場合もあり得る。
本発明は該る認識に鑑みなされたものであって、予め金
型の曲面に載置される少なくとも一以上のガイドレール
に移動台を摺動自在に配置し、この移動台に前記測定装
置を係着してこの測定装置を前記ガイドレールに沿って
変位させ、曲面に沿って得られる製品の高さ位置情報と
共に装置全体が変位した水平方向の位置情報を得て、こ
れを形状情報として活用するよう構成した曲面測定装置
を提供することを目的とする。
前記の目的を達成するために、本発明は少なくとも移動
することによって高さ方向に変位する第1の検出子を備
える測定器と、前記測定器を保持し且つ前記検出子の水
平方向への移動量を検出する第2の検出子を備える移動
体と、前記移動体を被検出体上にあって水平方向に変位
自在に支承する案内部材とから構成されることを特徴と
する。
次に、本発明に係る曲面測定装置について好適な実施例
を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に説明する
先ず、倣い加工によって製造される金型が基準金型と等
しく製作されているか否かを判定するために好適に前記
曲面測定装置に組み込まれる曲面測定器について説明す
る。
第1図乃至第4図において、参照符号10はこの曲面測
定器を示し、この曲面測定器10は水平方向に延在する
ボディ12と前記ボディ12の途上から一旦立ち上がっ
て垂直方向に延在する把持部14を含む。前記ボディ1
2並びに把持部14は好ましくは合成樹脂製の一体成形
品で構成され、特に、前記ボディ12の内部には水平方
向に延在する第1の基板16と、この基板16に当接す
る第2の基板1日とを有する(第2図参照)。図から容
易に諒解されるように、前記ボディ12の側壁部12a
と前記第2基板18との間にはロータリエンコーダ20
が装着保持される。このロータリエンコーダ20の出力
信号は主として被検査体の曲面方向に沿った移動距離情
報を得るのに役立つ。
すなわち、ロータリエンコーダ20の回転軸22は前記
第2基板18を貫通し、その先端部にロータ24をディ
スク25で挟持するように軸着している。
この場合、ロータ24の終縁部には等間隔に刃26を刻
設しておくとロータ24を転勤させた時、金型表面を滑
動することが効果的に阻止される。
前記ロータリエンコーダ20によって発生するパルスを
導出するための導線28は前記ロータリエンコーダ20
から把持部14の内部を通りその頂部から外部へ露呈し
て図示しない制御機構に接続されている。
次に、前記把持部14の直下において前記第1基板16
には貫通孔30が画成され、この貫通孔30を挟んでボ
ス32a、32bがボルト34.36により固着される
。一方、把持部14を構成する筐体の内部にはポテンシ
ョメータ40が配置′される。前記ポテンショメータ4
0を構成する滑り接触子42の先端部にはロッド44を
連結し、このロフト44の先端部にはさらにロッド46
を介して先端部が先鋭化された検出子48を固着してお
く。この場合、前記滑り接触子42に連結されるロッド
46および検出子48は図示しないコイルスプリングに
よって常時図において下方へと付勢されている。
なお、前記ロッド44はボス32aの孔部を貫通して第
1基板16の貫通孔30に到達し、従って、ロッド46
はボス32bを貫通して検出子48はその下方に延在し
ている。この場合、ボス32aにはロッド44を固定す
るためのボルト47を嵌合させておくと好適である。さ
らに、前記測定器10では前記検出子48を挟んでロー
タ24の反対側にローラ50が回転自在に軸支されてい
る。ローラ50は軸52を介して脚部54によって保持
され、前記脚部54は支持部材56を介してボディ12
に保持される。なお、前記ポテンショメータ40によっ
て得られた垂直方向の位置の変位情報は導線58により
前記図示しない制御機構へと送給されるよう構成してお
く。
次に、把持部14の側壁部に一対の取付部60a、60
bが配設される。第3図並びに第4図から容易に諒解さ
れるように、前記取付部60a、60bは実質的に断面
コ字状を呈し、その内部に嵌合溝62a、62bが夫々
設けられる。この嵌合溝62a、62bは後述する移動
台の取付アームが係合して測定器10を保持するための
ものである。
そこで、前記測定器lOを所定方向へと変位させるため
の保持機構について説明する。保持機構70は、実質的
に一対の取付台72a、72bと移動台74とからなる
。取付台72a、?2bの底部には夫々一対の永久磁石
76.76が固着され、前記取付台72a、 ?2b間
には一対のガイドレール78a178bが互いに平行に
橋架される。そこで、このガイドレール78a、78b
に移動台74が係着される。移動台74は略矩形状のボ
ディ80を含み、このボディ80には前記ガイドレール
78a、78bが貫通するための孔部82a、82bが
穿設されている。ボディ80の一端部からは平行に゛取
付アーム34a、84bが延在し、この取付アーム84
a、84bの間に空間部86が画成される。この空間部
86は測定器10を収納するためのものである(第5図
参照)。
そこで、夫々の取付アーム34a、84bの先端部には
孔部88が穿設され、この孔部88には夫々カラー90
a、90bが嵌合する。カラー90a、 90bにはそ
の中心部を軸線方向に貫通する孔部92.92を利用し
て取付プレート94a、94bが係着される。すなわち
、取付プレート94a、94bの中央部から延在する螺
子96a、96bは前記カラー9Qa、90bの孔部9
2.92を夫々外方へと指向して貫通し、前記取付アー
ム84a、84bの外部に露呈する。この螺子9(ia
、96bの先端部には締付ナツト98a、98bが螺着
される。
次に、移動台74のボディ80にはガイドレール78b
の直上部分に孔部100が穿設され、この孔部100に
ロータリエンコーダ102のロータ104を臨ませる。
ロータリエンコーダ本体106から延在する軸10Bは
前記ロータ104を回転自在に保持する。なお、図中、
参照符号110は前記ロータリエンコーダ102の出力
を外部に導出するための導線を示す。
次に、前記のように構成される曲面測定器10から得ら
れる信号を処理してこの曲面測定器10によって測定さ
れる金型が基準金型と同一であるか否かを水平方向の距
離を基準として判別するための電気回路について第6図
に沿って説明する。
ロータリエンコーダ102の出力側はカウンタ120に
接続し、このカウンタ120の出力側は遅延回路122
を介して第1のアドレスカウンタ124に接続する。前
記アドレスカウンタ124の出力側は第1の切換スイッ
チ126を介して第1の記憶回路128と第2の記憶回
路130とに接続する。
パルス発生器132の出力側はカウンタ134、第2の
切換スイッチ136を介して夫々前記第1記憶回路12
8と第2記憶回路130に接続される。
一方、ポテンショメータ40の出力側はA/D変換器1
38、第3の切換スイッチ14αを介して夫々前記第1
記憶回路128と第2記憶回路130に接続しておく。
なお、第1記憶回路12B、第2記憶回路130の出力
側はディスプレイ装置142に接続される。
本発明に係る曲面測定装置は基本的には以上のように構
成されるものであり、次にその作用並びに効果について
説明する。
先ず、測定器10を移動台74に保持させる。すなわち
、移動台74の取付プレー)94a、94bを取付部5
Qa、60bの嵌合溝62a、62bに挿入し、締付ナ
ツト98a、98bを回転させれば、螺子96a、96
bは取付プレー1−943.94bを外方へと延長し、
従って、取付部60a、60bの口字状の先端部が前記
取付プレート94a、94bと取付アーム84a、84
bとの間で挟持されるに至る。このような操作によって
測定器10は移動台74に固着される。そこで、保持機
構70を取付台?2a、72bに固着された磁石76.
76を利用して基準金型200上に位置決めする。
先ず、第7図ASBに示す基準金型200において測定
原位置0点をX軸方向の距MbとY軸方向の距離aとに
よって特定する。そして、前記0点を測定原位置として
点イ、口、ハに対して曲面測定器10を使用して高さ方
向の距離と、さらに水平方向の情報を信号として得る。
すなわち、曲面測定器10に組み込まれるロータリエン
コーダ20の出力は金型の曲面形状に沿った情報を提供
するものであるためにこの場合には利用されない。
そこで、保持機構70の磁石76.76を利用して金型
200に磁着せしめ、測定原位WO点から前記測定器l
Oを移動台74を介して走らせる。この結果、ロータ2
4、ローラ50が回転し、また、図示しないコイルスプ
リングによって常時下方に押圧されている検出子48は
基準金型200の表面の湾曲形状または凹凸形状に従っ
て変位する。
同時に、ガイドレール78b上を転勤するロータ104
は移動台74の水平方向の変位量を検出する。
そこで、ロータ104の回転によってロータリエンコー
ダ102からは所定の数のパルスが発生し、これは導線
28を介してカウンタ120に導入され、カウンタ12
0は、例えば、lOOパルス毎にそのカウント数を遅延
回路122に出力する。遅延回路122により所定時間
遅延した状態でこのカウント数に係る信号はアドレスカ
ウンタ124に導入され、前記アドレスカウンタ124
はこれをアドレス信号として第1の記憶回路128に導
出し、メモリ128aにおけるアドレスP+ 、Pz 
、B3・・・・・・を決定する。一方、この間に前記ロ
ータ24、ローラ50の転勤によって上下方向に変位す
る検出子48は自らの動きに対応してロッド44を変位
させ、さらにこのロッド44の変位は滑り接触子42を
変位させる。すなわち、滑り接触子42の変位によって
ポテンショメータ40はそれに対応するアナログ出力を
導出する。この出力信号はA/D変換器138によって
デジタル信号に変換される。そこで、前記のようにアド
レスカウンタ124からのアドレス信号によりポテンシ
ョメータ40の位置信号H+ 、Hz 、H3、H4等
は切換スイッチ140を介して第1記憶回路128に記
憶される。すなわち、アドレスカウンタ124が特定す
る位置P1、B2)B3、B4・・・・・・において検
出子48が検出する高さに係る情IIHI、Hz、Hl
、H4・・・・・・がメモリ128aに順次蓄えられる
ことになる。このようにして基準金型200の湾曲形状
に沿った距離を基準とする垂直方向の位置情報が得られ
ることになる。
次いで、この基準金型200を基準として倣い加工によ
って新たに多くの金型が製造されると、これらの金型3
00が前記基準金型200と同一形状に製作されたか否
かが確認される。この場合も前記基準金型200におい
て測定した方法と同一の方法が採用される。すなわち、
磁石76を介して保持機構70が前記金型300に載置
される。
その際、基準金型200の測定原位置0点が新たに製作
された金型300において特定され、この0点から点イ
、口およびハに対して曲面測定器10を走らせる。この
時、予め切換スイッチ126.140を前回と異なる接
点に切り替えておく。そこで、前記と同様に、ロータリ
エンコーダ102の出力信号はカウンタ120、遅延回
路122)アドレスカウンタ124を介して切換スイッ
チ126からアドレス信号Bl、Bz 、B3 、Ba
・・・・・・として第2記憶回路130に導出され、こ
のアドレス信号に従ってボテンシシメータ40の垂直方
向の信号り、 、h2)h、 、h、・・・・・・がメ
モリ130aに高さに係る信号として順次記憶される。
次に、このように記憶された信号を読み出しディスプレ
イ装置142に表示する場合につき説明する。
先ず、パルス発生器132から所定の時間間隔でパルス
をカウンタ134に導出し、前記カウンタ134は、例
えば、100パルス毎にメモリ128aのアドレスP1
、B2)B3、B4・・・・・・に従ってポテンショメ
ータ40により検出された高さ情報に係る信号H+ 、
Hz 、H3、)In・・・・・・をディスプレイ装置
142に出力し、波形情報として表示させる。次いで、
切換スイッチ136を切り替えて、同様に高さ信号り、
 、h2)h、、h4・・・・・・をアドレスB8、B
2)B1、B4に沿って重畳的に前記ディスプレイ装置
142に表示させれば、基準金型200に対する高さ信
号Hと倣い加工によって製作された金型300に係る高
さ信号りとの変位差が視認される。従って、ディスプレ
イ装置142には基準金型200と倣い加工によって製
作された金型300との間において水平方向に沿った高
さの偏差が表示されることになる。そこで、この偏差信
号に基づき倣い加工によって製作された金型300のそ
の部分を許容値の範囲内であるならば、例えば、第9図
a並びにbに示すように、al、22間、b、 、b2
間、CI、C2間の夫々の測定点A、B、Cにおける変
化IRに応じて削り取りあるいは肉盛りを施すことによ
って基準金型200に可及的に近づけるよう修正するこ
とが出来る。
一方、前記偏差信号によって表される位置情報が金型2
00の位置情報の許容値の範囲内にある時、これはその
まま基準金型200と略同−の形状を有するものとして
成形品の大量生産に供されることが可能となる。
以上のように、本発明によれば極めて簡単な構成で基準
金型と測定される新たに製作された金型の歪みの有無を
電気的情報として得ることが可能となり、それを比較す
ることによって新たに製作された金型を可及的に前記基
準金型に近づけることが出来る。このために、最終的に
大量生産される製品の品質の同一性が確保されるばかり
か、極めて簡単な構成であるために廉価に製造出来る利
点が得られる。しかも、操作もし易く、加えて測定自体
が一層正確に行われるために精緻な金型を多数製作出来
るという利点がある。なお、金型の曲面形状に沿った偏
差を求めようとする時、測定器10に組み込まれるロー
タリエンコータ20の出力ヲロータリエンコーダ102
の出力に代えて記憶回路に導入すればよいことは謂うま
でもない。すなわち、測定器10は保持機構70に組み
込むことによって水平方向を基準とした位置情報を提供
するが、この保持機構70から取り外せば、製品の曲面
形状に沿った位置情報を提供することが可能である。
以上、本発明について好適な実施例を挙げて説明したが
、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、例え
ば、ポテンショメータに代えてリニアスケールを用いる
ことも可能である等、本発明の要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の改良並びに設計の変更が可能なことは勿論
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を構成する曲面測定器の一部切欠縦断正
面図、 第2図は第1図に示す曲面測定器の一部省略縦断側面図
、 第3図は前記曲面測定器とこれを保持する保持機構との
相関関係を示す斜視説明図、第4図は曲面測定器に装着
された取付ガイドの構造を示す斜視説明図、 第5図は保持機構を構成する移動台の一部切欠平面説明
図、 第6図は前記曲面測定器から得られる信号を処理して表
示するためのブロック回路図、第7図は金型の基準点か
ら所定の点までの距離とその間の高さを測定するための
説明図、第8図は基準金型と測定される金型との偏差を
示すグラフ、 第9図a、bは夫々測定点と変位量との相関関係を示す
グラフである。 lO・・・曲面測定器     12・・・ボディ14
・・・把持部 20・・・ロータリエンコータ24・・・ロータ25・
・・ディスク 40・・・ポテンショメータ  42・・・滑り接触子
48・・・検出子       50・・・ローラ70
・・・保持機構      74・・・移動台78a、
78b・・・ガイドレール 80・・・ボディ 102・・・ロータリエンコーダ 104・・・ロータ      108・・・軸120
・・・カウンタ     122・・・遅延回路124
・・・アドレスカウンタ 12B 、130・・・記憶回路  132・・・パル
ス発生器134・・・カウンタ     138・・・
A/D変換器142・・・ディスプレイ装置 200・
・・基準金型300・・・金型 特許出願人本田技研工業株式会社 手続補正1(自発) 昭和61年 8月18日 1、事件の表示  昭和60年特許願第274485号
2)発明の名称  曲面測定装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 4、代理人 5、補正命令の日付  自発 1、 明細書第8頁第15行目の 「・・・の終縁部・・・」とあるを 「・・・の周縁部・・・」と補正します。 2) 同、第12頁第4行目の 「78b・・・」とあるを 「78a・・・」と補正します。 3、同、第15頁第4行目の 「・・・ガイドレール78b・・・」とあるを「・・・
ガイドレール78a・・・」と補正します。 4、同、第15頁第8行目の 「・・・導線28・・・」とあるを 「・・・導線110・・・」と補正します。 5、 同、第18頁第20行目の 「・・・変化IR・・・」とあるを 「・・・変位量R・・・」と補正します。 6、同、第21頁第1行乃至第2行目の「とこれを保持
する保持機構との相関関係」とあるを削除します。 7、同、第21頁第3行乃至第4行目の[・・・に装着
された取付ガイドの構造・・・」とあるを 「・・・とこれを保持する保持機構との関係・・・」と
補正します。 8、同、第21頁第7行目の 「測定器」の後に 「および前記移動台」を挿入しまず。 9、 同、第21頁第9行目の 「第7図」の後に rA、BJを挿入します。 FIG、1

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)少なくとも移動することによって高さ方向に変位
    する第1の検出子を備える測定器と、前記測定器を保持
    し且つ前記検出子の水平方向への移動量を検出する第2
    の検出子を備える移動体と、前記移動体を被検出体上に
    あって水平方向に変位自在に支承する案内部材とから構
    成されることを特徴とする曲面測定装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項記載の装置において、第2
    検出子は移動体に組み込まれたロータリエンコーダのロ
    ータを含み、前記ロータの周面は案内部材の面部に当接
    するよう構成されてなる曲面測定装置。
  3. (3)特許請求の範囲第1項または第2項記載の装置に
    おいて、案内部材には磁石が配設され、前記磁石によっ
    てこの案内部材を被検出体上に位置決めするよう構成し
    てなる曲面測定装置。
  4. (4)特許請求の範囲第1項乃至第3項のいずれかに記
    載の装置において、被検出体は金型からなる曲面測定装
    置。
JP27448585A 1985-12-05 1985-12-05 曲面測定装置 Pending JPS62133307A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27448585A JPS62133307A (ja) 1985-12-05 1985-12-05 曲面測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27448585A JPS62133307A (ja) 1985-12-05 1985-12-05 曲面測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62133307A true JPS62133307A (ja) 1987-06-16

Family

ID=17542343

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27448585A Pending JPS62133307A (ja) 1985-12-05 1985-12-05 曲面測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62133307A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6415106U (ja) * 1987-07-17 1989-01-25

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58169017A (ja) * 1982-03-29 1983-10-05 インタ−ナシヨナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−シヨン きり穴ロボットの教習方法
JPS6055004A (ja) * 1983-09-05 1985-03-29 Ube Ind Ltd 親水性ポリマ−の製法
JPS6056212A (ja) * 1983-09-07 1985-04-01 Fuotoron:Kk デイジタイザにおける読取座標の補正方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58169017A (ja) * 1982-03-29 1983-10-05 インタ−ナシヨナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−シヨン きり穴ロボットの教習方法
JPS6055004A (ja) * 1983-09-05 1985-03-29 Ube Ind Ltd 親水性ポリマ−の製法
JPS6056212A (ja) * 1983-09-07 1985-04-01 Fuotoron:Kk デイジタイザにおける読取座標の補正方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6415106U (ja) * 1987-07-17 1989-01-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5276974A (en) Unit for continuously measuring shape defects of a part, and measuring process used in this unit.
US5778551A (en) Coordinate measuring apparatus having a device for profile measurements and method for making said profile measurements
EP1233376A3 (en) Information processing apparatus and method
JPH02215457A (ja) 歯の表面をデジタル化するための、とくに歯冠を作成するための装置
HUP0302634A2 (hu) Szerszámgép
JP2784225B2 (ja) 相対移動量測定装置
EP0113691B1 (en) Improvements relating to profile imaging techniques
CN210221043U (zh) 一种tpe软胶产品的尺寸测量治具
JPS62133307A (ja) 曲面測定装置
KR20030055082A (ko) 직각도 검사 시스템
US4840564A (en) Dental measuring apparatus
JPS6483103A (en) Method for correcting position coordinates of workpiece
JPS61140816A (ja) 曲面測定方法
JP2987607B2 (ja) 三次元座標測定機
CN210664195U (zh) 一种软胶产品位置度测量检具
CN109654993B (zh) 一种马达端子形位公差检测设备和方法
JPS61140817A (ja) 曲面測定装置
US5799406A (en) Coordinate measuring machine certification apparatus
CN207730141U (zh) 自动检具系统
JP2000111305A (ja) 内測測定器の基準器
CN220961035U (zh) 一种牙刷刷头压力分布测试设备
CN214893044U (zh) 一种直角检测工装
CN219078316U (zh) 头部清扫器的定位工装
CN212721301U (zh) 一种带有定位功能的影像测量仪
CN212320661U (zh) 一种三坐标测量机的测量台