JPS6213160Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6213160Y2 JPS6213160Y2 JP1980099082U JP9908280U JPS6213160Y2 JP S6213160 Y2 JPS6213160 Y2 JP S6213160Y2 JP 1980099082 U JP1980099082 U JP 1980099082U JP 9908280 U JP9908280 U JP 9908280U JP S6213160 Y2 JPS6213160 Y2 JP S6213160Y2
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- JP
- Japan
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- optical
- optical card
- optical sensor
- hole
- sensor
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 62
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 16
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、任意のデータがこれを表わす複数個
のデータ孔として形成されている光学カードの読
取り装置に関するものである。
のデータ孔として形成されている光学カードの読
取り装置に関するものである。
従来、この種の光学カードの読取り装置におい
ては、光学カードを静止状態でデータ孔を読み取
る静止読取り方式のものと、光学カードを移動さ
せながらデータ孔を読み取る移動読取り方式のも
のとがあるが、前者の静止読取り方式のものは１
データを表現するためのデータ孔のビツト数に対
応して光学センサを多数設ける必要があるためセ
ンサ部分が大型化してしまう欠点がある。一方、
後者の移動読取り方式のものは、光学カードの自
動送りするものと手動送りするものとにさらに分
けられるが、自動送りするものは自動送り装置を
必要とし、装置全体が大型化してしまう欠点があ
る。また、手動送りのものは送り速度が変動する
ため、信頼性に乏しいという欠点がある。
ては、光学カードを静止状態でデータ孔を読み取
る静止読取り方式のものと、光学カードを移動さ
せながらデータ孔を読み取る移動読取り方式のも
のとがあるが、前者の静止読取り方式のものは１
データを表現するためのデータ孔のビツト数に対
応して光学センサを多数設ける必要があるためセ
ンサ部分が大型化してしまう欠点がある。一方、
後者の移動読取り方式のものは、光学カードの自
動送りするものと手動送りするものとにさらに分
けられるが、自動送りするものは自動送り装置を
必要とし、装置全体が大型化してしまう欠点があ
る。また、手動送りのものは送り速度が変動する
ため、信頼性に乏しいという欠点がある。
本考案は、このような欠点を解決するためにな
されたもので、その目的は簡単かつ小規模構成
で、信頼性の高い手動送り方式による光学カード
の読取り装置を提供することにある。
されたもので、その目的は簡単かつ小規模構成
で、信頼性の高い手動送り方式による光学カード
の読取り装置を提供することにある。
このような目的を達成するために本考案による
光学カードの手動読取り装置は光学カードにデー
タ孔とは別にクロツク孔を形成するものとし、こ
のクロツク孔を読取る第１の光学センサと、デー
タ孔を読取る第２の光学センサおよび光学カード
の正常位置までの差し込みを検出する第３のセン
サとを備え、かつ上記第２の光学センサ出力パル
スを第１の光学センサ出力パルスによつてサンプ
リングするとともに、第１の光学センサの最初の
出力パルス発生後所定時間内に第３のセンサ出力
パルスが発生するか否か、ならびに第１および第
２の光学センサ出力パルスのパルスチエツクの条
件に応じて上記サンプリング出力を正規の読取り
信号として送出するサンプリング装置を設けたも
のである。
光学カードの手動読取り装置は光学カードにデー
タ孔とは別にクロツク孔を形成するものとし、こ
のクロツク孔を読取る第１の光学センサと、デー
タ孔を読取る第２の光学センサおよび光学カード
の正常位置までの差し込みを検出する第３のセン
サとを備え、かつ上記第２の光学センサ出力パル
スを第１の光学センサ出力パルスによつてサンプ
リングするとともに、第１の光学センサの最初の
出力パルス発生後所定時間内に第３のセンサ出力
パルスが発生するか否か、ならびに第１および第
２の光学センサ出力パルスのパルスチエツクの条
件に応じて上記サンプリング出力を正規の読取り
信号として送出するサンプリング装置を設けたも
のである。
以下、図示する実施例に基づき本考案を詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本考案による光学カードの読取り装置
における光学センサの配置例を示す図であつて、
読取り部１の光学カード入口には第１光学センサ
S1および第２光学センサS2が設けられており、第
１光学センサS1によつて読取り部１に差し込まれ
た光学カード２のクロツク孔２０を読取り、第２
光学センサS2によつてデータ孔２１を読取るよう
に構成されている。この場合、クロツク孔２０は
例えば８個（８ビツト）からなり、データ孔２１
の各孔はこのクロツク孔の各孔に対応する位置に
形成されるものである。なお、２２は光学カード
２を読取り部１に差込み、かつ正常に手動送りす
るためのガイド溝である。
における光学センサの配置例を示す図であつて、
読取り部１の光学カード入口には第１光学センサ
S1および第２光学センサS2が設けられており、第
１光学センサS1によつて読取り部１に差し込まれ
た光学カード２のクロツク孔２０を読取り、第２
光学センサS2によつてデータ孔２１を読取るよう
に構成されている。この場合、クロツク孔２０は
例えば８個（８ビツト）からなり、データ孔２１
の各孔はこのクロツク孔の各孔に対応する位置に
形成されるものである。なお、２２は光学カード
２を読取り部１に差込み、かつ正常に手動送りす
るためのガイド溝である。
読取り部１には、光学カード２の正常位置まで
の差込みを検出する第３の光学センサS3が設けら
れている。この第３のセンサS3は、この実施例で
は光学センサが使用されているが、機械的なスイ
ツチ手段を使用してもよい。
の差込みを検出する第３の光学センサS3が設けら
れている。この第３のセンサS3は、この実施例で
は光学センサが使用されているが、機械的なスイ
ツチ手段を使用してもよい。
読取り部１を構成するこれらのセンサS1〜S3は
第２図にその一例を示すようにフオトトランジス
タPT1〜PT3およびフオトダイオードPD1〜PD3と
から構成されるものであり、このうち第３のセン
サS3の出力信号はインバータINVによつて反転し
た信号が出力されるように構成されている。
第２図にその一例を示すようにフオトトランジス
タPT1〜PT3およびフオトダイオードPD1〜PD3と
から構成されるものであり、このうち第３のセン
サS3の出力信号はインバータINVによつて反転し
た信号が出力されるように構成されている。
従つて、このような構成の読取り部１に対し、
第１図に示したようなデータ孔が形成されている
光学カード２を差込むと、第１光学センサS1から
は第３図ａに示すような出力パルス信号Ｓ１Ｐが
送出され、また第２光学センサS2からは第３図ｂ
に示すような出力パルス信号Ｓ２Ｐが送出され
る。なお、第３図の波形図において、〜で示
す記号はクロツク孔２０の各ビツトを示すもので
あり、が最下位ビツトLSBに相当し、が最上
位ビツトMSBに相当する。一方、第３のセンサ
S3からは光学カード２を正常位置まで差込んだ時
に、第３図ｃに示すような検出信号Ｓ３Ｐが出力
される。
第１図に示したようなデータ孔が形成されている
光学カード２を差込むと、第１光学センサS1から
は第３図ａに示すような出力パルス信号Ｓ１Ｐが
送出され、また第２光学センサS2からは第３図ｂ
に示すような出力パルス信号Ｓ２Ｐが送出され
る。なお、第３図の波形図において、〜で示
す記号はクロツク孔２０の各ビツトを示すもので
あり、が最下位ビツトLSBに相当し、が最上
位ビツトMSBに相当する。一方、第３のセンサ
S3からは光学カード２を正常位置まで差込んだ時
に、第３図ｃに示すような検出信号Ｓ３Ｐが出力
される。
このようにして得られる第１光学センサS1およ
び第２光学センサS2の出力パルス信号Ｓ１Ｐ，Ｓ
２Ｐと、第３のセンサS3の検出信号Ｓ３Ｐは、第
４図に示すように演算処理装置CPU、メモリ
Ｍ、表示器DP、リセツトスイツチＲ−SWとから
なるサンプリング装置３に供給される。
び第２光学センサS2の出力パルス信号Ｓ１Ｐ，Ｓ
２Ｐと、第３のセンサS3の検出信号Ｓ３Ｐは、第
４図に示すように演算処理装置CPU、メモリ
Ｍ、表示器DP、リセツトスイツチＲ−SWとから
なるサンプリング装置３に供給される。
サンプリング装置３は、３個のセンサS1〜S3の
出力パルス信号Ｓ１Ｐ〜Ｓ３Ｐに基づき、第５図
のフローチヤートに示すようなパルス信号Ｓ２Ｐ
のサンプリング処理および光学カード２が正常位
置まで所定時間内に差込まれたかどうかの監視処
理を行う。すなわち、サンプリング装置３におけ
る演算処理装置CPUは、出力パルス信号Ｓ１Ｐ
のうち最初の“Ｌ”レベル信号を検出すると、演
算処理装置CPU内部に設けられた３秒タイマを
スタートさせる。この３秒タイマのタイマ時間
は、光学カード２を正常移動速度で正常位置まで
差込むために要する時間を勘案して決められるも
のである。
出力パルス信号Ｓ１Ｐ〜Ｓ３Ｐに基づき、第５図
のフローチヤートに示すようなパルス信号Ｓ２Ｐ
のサンプリング処理および光学カード２が正常位
置まで所定時間内に差込まれたかどうかの監視処
理を行う。すなわち、サンプリング装置３におけ
る演算処理装置CPUは、出力パルス信号Ｓ１Ｐ
のうち最初の“Ｌ”レベル信号を検出すると、演
算処理装置CPU内部に設けられた３秒タイマを
スタートさせる。この３秒タイマのタイマ時間
は、光学カード２を正常移動速度で正常位置まで
差込むために要する時間を勘案して決められるも
のである。
演算処理装置CPUは、次に３秒タイマのタイ
マ時間値によりその後３秒経過したかどうかを判
断する。もし、３秒経過していなければ、次に第
３のセンサS3の出力信号Ｓ３Ｐが“Ｈ”レベルに
なつているかどうかを判断する。この時、信号Ｓ
３Ｐが“Ｈ”レベルになつていなければ、次に第
１光学センサS1の出力パルス信号Ｓ１Ｐが“Ｈ”
レベルであり、かつ第２光学センサS2の出力パル
ス信号Ｓ２Ｐが“Ｈ”レベルであることを条件
に、メモリＭの内部に設けられた第６図の等価回
路図に示すようなシフトレジスタSRの最上位ビ
ツトMSBに“１”をロードする。この場合、信
号Ｓ２Ｐが“Ｌ”レベルであれば、“０”をロー
ドする。
マ時間値によりその後３秒経過したかどうかを判
断する。もし、３秒経過していなければ、次に第
３のセンサS3の出力信号Ｓ３Ｐが“Ｈ”レベルに
なつているかどうかを判断する。この時、信号Ｓ
３Ｐが“Ｈ”レベルになつていなければ、次に第
１光学センサS1の出力パルス信号Ｓ１Ｐが“Ｈ”
レベルであり、かつ第２光学センサS2の出力パル
ス信号Ｓ２Ｐが“Ｈ”レベルであることを条件
に、メモリＭの内部に設けられた第６図の等価回
路図に示すようなシフトレジスタSRの最上位ビ
ツトMSBに“１”をロードする。この場合、信
号Ｓ２Ｐが“Ｌ”レベルであれば、“０”をロー
ドする。
すなわち、データ孔に関する信号Ｓ２Ｐをクロ
ツク孔に関する信号Ｓ１Ｐの“Ｈ”レベル信号で
サンプリングし、このサンプリング出力をシフト
レジスタSRの最上位ビツトMSBにロードする。
次に、演算処理装置CPUはシフトレジスタSRの
最上位ビツトMSBにロードした信号を下位ビツ
トLSB側へシフトし、再び３秒タイマのタイマ時
間値により３秒経過したかどうかを判断する。も
し、３秒経過していなければ、上述の場合と同様
にして信号Ｓ２Ｐのサンプリング処理を行う。そ
して、データ孔の最上位ビツトに関するサンプリ
ング処理を終了した後、３秒タイマのタイマ時間
値が３秒以下であり、かつ信号Ｓ３Ｐが“Ｈ”レ
ベルであれば、クロツク孔に関する信号Ｓ１Ｐの
パルス数が８個であり、かつデータ孔に関す信号
Ｓ２Ｐのパルス数が偶数個であることを条件にシ
フトレジスタSRにロードされた８ビツトの信号
のコード判別処理を行い、このコードで示される
数字または記号を表示器DPに表示させる。この
時、クロツク孔に関する信号Ｓ１Ｐのパルス数が
８個でない場合、あるいはデータ孔に関する信号
Ｓ２Ｐのパルス数が奇数個であれば、表示器DP
にエラー表示を行なわせる。すなわち、表示器
DPの７セグメントを利用して第７図に示すよう
な「ErrOr」の表示を行なわせる。
ツク孔に関する信号Ｓ１Ｐの“Ｈ”レベル信号で
サンプリングし、このサンプリング出力をシフト
レジスタSRの最上位ビツトMSBにロードする。
次に、演算処理装置CPUはシフトレジスタSRの
最上位ビツトMSBにロードした信号を下位ビツ
トLSB側へシフトし、再び３秒タイマのタイマ時
間値により３秒経過したかどうかを判断する。も
し、３秒経過していなければ、上述の場合と同様
にして信号Ｓ２Ｐのサンプリング処理を行う。そ
して、データ孔の最上位ビツトに関するサンプリ
ング処理を終了した後、３秒タイマのタイマ時間
値が３秒以下であり、かつ信号Ｓ３Ｐが“Ｈ”レ
ベルであれば、クロツク孔に関する信号Ｓ１Ｐの
パルス数が８個であり、かつデータ孔に関す信号
Ｓ２Ｐのパルス数が偶数個であることを条件にシ
フトレジスタSRにロードされた８ビツトの信号
のコード判別処理を行い、このコードで示される
数字または記号を表示器DPに表示させる。この
時、クロツク孔に関する信号Ｓ１Ｐのパルス数が
８個でない場合、あるいはデータ孔に関する信号
Ｓ２Ｐのパルス数が奇数個であれば、表示器DP
にエラー表示を行なわせる。すなわち、表示器
DPの７セグメントを利用して第７図に示すよう
な「ErrOr」の表示を行なわせる。
このようなサンプリング処理の途中において、
光学カード２の移動速度が遅いため、光学カード
２が正常位置まで達する時間が３秒以上経過して
いれば、３秒経過後のサンプリング処理は実施さ
れず、エラー表示が行なわれる。すなわち、正常
な移動速度の時のみデータ孔に関する読取りデー
タがシフトレジスタSRに得られる。従つて、こ
のような構成の読取り装置において得られる光学
カード２のデータ孔に関する読取りデータは、ク
ロツク孔によつてサンプリングされたものである
ためにその信頼性が高く、また所定時間以内に正
常な差込み位置まで移動させなければならないと
いう条件があるために送り速度の変動による読取
りミスをなくすることができる。これは光学カー
ド２の送り速度を故意に変動させて異なるデータ
として読取らせるような不正操作を防止する上で
極めて有効である。
光学カード２の移動速度が遅いため、光学カード
２が正常位置まで達する時間が３秒以上経過して
いれば、３秒経過後のサンプリング処理は実施さ
れず、エラー表示が行なわれる。すなわち、正常
な移動速度の時のみデータ孔に関する読取りデー
タがシフトレジスタSRに得られる。従つて、こ
のような構成の読取り装置において得られる光学
カード２のデータ孔に関する読取りデータは、ク
ロツク孔によつてサンプリングされたものである
ためにその信頼性が高く、また所定時間以内に正
常な差込み位置まで移動させなければならないと
いう条件があるために送り速度の変動による読取
りミスをなくすることができる。これは光学カー
ド２の送り速度を故意に変動させて異なるデータ
として読取らせるような不正操作を防止する上で
極めて有効である。
以上の説明から明らかなように本考案によれ
ば、信頼性が極めて高い読取りデータを得ること
ができると共に、読取り部は３個のセンサのみに
よつて構成されているため構成が極めて小規模と
なり、かつ処理装置との間の接続線路数を少くで
きるなどの優れた利点があり、安価な読取り装置
を提供できる効果がある。
ば、信頼性が極めて高い読取りデータを得ること
ができると共に、読取り部は３個のセンサのみに
よつて構成されているため構成が極めて小規模と
なり、かつ処理装置との間の接続線路数を少くで
きるなどの優れた利点があり、安価な読取り装置
を提供できる効果がある。
第１図は光学センサの配置例を示す図、第２図
は光学センサの詳細を示す電気回路図、第３図は
光学センサの出力信号波形図、第４図は本考案の
全体構成を示すブロツク図、第５図はサンプリン
グ装置の処理内容を示すフローチヤート、第６図
は読取りデータを記憶するシフトレジスタを示す
図、第７図はエラー表示の表示文字を示す図であ
る。 １……読取り部、２……光学カード、３……サ
ンプリング装置、２０……クロツク孔、２１……
データ孔、２２……ガイド溝、S1，S2，S3……光
学センサ。
は光学センサの詳細を示す電気回路図、第３図は
光学センサの出力信号波形図、第４図は本考案の
全体構成を示すブロツク図、第５図はサンプリン
グ装置の処理内容を示すフローチヤート、第６図
は読取りデータを記憶するシフトレジスタを示す
図、第７図はエラー表示の表示文字を示す図であ
る。 １……読取り部、２……光学カード、３……サ
ンプリング装置、２０……クロツク孔、２１……
データ孔、２２……ガイド溝、S1，S2，S3……光
学センサ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 光学カードを手動送りして光学カードに記録さ
れたデータを読取る光学カードの手動読取り装置
において、 光学カードのクロツク孔を読み取る第１の光学
センサと、光学カードのデータ孔を読み取る第２
の光学センサと、光学カードの正常位置までの差
し込みを検出する第３のセンサと、前記第２の光
学センサ出力パルスを前記第１の光学センサ出力
パルスによつてサンプリングするとともに、前記
第１の光学センサ出力パルスのうち最初の出力パ
ルスが発生してから所定時間内に前記第３のセン
サ出力パルスが発生するか否かの条件と前記第１
および第２の光学センサ出力パルスのパルスチエ
ツクの条件の成立によつてサンプリングした出力
を正規の読取り信号として送出するサンプリング
装置とから構成されてなる光学カードの手動読取
り装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980099082U JPS6213160Y2 (ja) | 1980-07-14 | 1980-07-14 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1980099082U JPS6213160Y2 (ja) | 1980-07-14 | 1980-07-14 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5724655U JPS5724655U (ja) | 1982-02-08 |
| JPS6213160Y2 true JPS6213160Y2 (ja) | 1987-04-04 |
Family
ID=29460766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1980099082U Expired JPS6213160Y2 (ja) | 1980-07-14 | 1980-07-14 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6213160Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60176777U (ja) * | 1984-05-04 | 1985-11-22 | 株式会社アシックス | 生産工程管理用端末機 |
| JPS6411917U (ja) * | 1987-07-09 | 1989-01-23 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5317027A (en) * | 1976-07-29 | 1978-02-16 | Ncr Co | Circuit for controlling code reader |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5342419Y2 (ja) * | 1973-07-09 | 1978-10-13 | ||
| JPS5328329Y2 (ja) * | 1974-06-04 | 1978-07-17 |
-
1980
- 1980-07-14 JP JP1980099082U patent/JPS6213160Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5317027A (en) * | 1976-07-29 | 1978-02-16 | Ncr Co | Circuit for controlling code reader |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5724655U (ja) | 1982-02-08 |
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